DE2744219C3 - Vorrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von Lichtwellenleitern - Google Patents

Vorrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von Lichtwellenleitern

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DE2744219C3
DE2744219C3 DE19772744219 DE2744219A DE2744219C3 DE 2744219 C3 DE2744219 C3 DE 2744219C3 DE 19772744219 DE19772744219 DE 19772744219 DE 2744219 A DE2744219 A DE 2744219A DE 2744219 C3 DE2744219 C3 DE 2744219C3
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optical waveguide
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light
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Heinrich Dr.-Ing. 8000 Muenchen Liertz
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    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von Lichtwcllenleitern auf Risse oder Ungleichmäßigkeiten auf deren Oberfläche mittels der Slreulichtmeßmethode, nach welcher von dem Licht, das von einer Lichtquelle in den Lichtwellenleiter zunächst eingestrahlt wird, das aus dem Lichtwellenleiter austretende Streulicht mittels einer Meßeinrichtung gemessen wird. Aus Glas bestehende Lichtwellenleiter sind bekanntlich sehr empfindlich gegenüber mechanischer Belastung. Dies rührt zum Beispiel daher, daß die Oberfläche der Glasfasern Unregelmäßigkeiten, zum Beispiel Risse, aufweisen kann, die zur Faserunterbrechung führen können. Dies machte von jeher besondere Maßnahmen bezüglich der Behandlung der Glasfasern erforderlich; beispielsweise hat man die Oberfläche der Glasfasern mit besonderen Überzügen versehen. Da nun die Anzahl und Größe der Risse unter bestimmter Belastung ein Maß für die Lebensdauer des Lichtwellenleiters darstellen, ist man besonders daran interessiert, diese Größen zu ermitteln.
Es ist bekannt, mit Hilfe der Streulichtmeßmethode Risse in den Lichtwellenleitern zu orten. Zu diesem Zweck wird der zu untersuchende Lichtwellenleiter ortsfest angeordnet, an dessen einem Ende Licht eingespeist und entlang dem Lichtwellenleiler eine Meßeinrichtung geführt, die das aus dem Lichtwellenleiter austretende Streulicht erfaßt. Diese Einrichtung ist nicht für eine kontinuierliche Untersuchung von Lichtwellenleitern geeignet.
Es ist ferner eine Vorrichtung zum Messen von Störstellen und/oder Längen von Glasfasern bekannt, die aus einem Impulslaser und einem lichtempfindlichen Empfänger besteht. Ferner weist sie eine erste Fokussierungsoptik vor dem Laser, einen Strahlteiler, eine zweite Fokussierungsoptik vor der zu untersuchenden Glasfaser, eine dritte Fokussierungsoplik vor dem Empfänger sowie ein Dämpfungsfilter und eine Ansteuerelektronik für den Laser auf. Mittels der zweiten Fokussierungsoptik wird das Licht auf die zu untersuchende Glasfaser fokussiert Um Reflexe am Glasfaseranfang zu vermeiden, isi es vorteilhaft, eine Irnmersionsflüssigkeit zu verwenden (vgl. DE-OS 24 51 654).
Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht nun darin, eine Vorrichtung anzugeben, welche eine kontinuierliche Untersuchung von Lichtwellenleitern ermöglicht
Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Vorrichtung der eingangs geschilderten Art, welche gekennzeichnet ist durch ein mit Immersionsflüssigkeit gefülltes Gefäß, durch welches der zu prüfende Lichtwellenleiter kontinuierlich gezogen und dabei derart umgelenkt wird, daß die in diesem Gefäß angeordnete Lichtquelle Licht parallel zur Lichtwellenleiterachse in den Lichtwellenleiler einstrahlt, und ferner dadurch, daß die Streulichtmeßeinrichtung in Bewegungsrichtung des Lichtwellenleiters nach dem mit Immersionsflüssigkeit gefüllten Gefäß stationär angeordnet ist.
In vorteilhafter Weise weist die Vorrichtung eine in Bewegungsrichtung des Lichtwellenleiters vor der Streulichtnießeinrichtung angeordnete, gebremste und eine nach dieser Streulichtmeßeinrichtung angeordnete angetriebene Rolle auf, über welche der Lichtwellenleiter durch das Gefäß und durch die Streulichuneßeinrichtung geführ« wird.
Gegenüber bekannten Meßvorrichtungen wird bei der Vorrichtung nach der Erfindung das für die Messung erforderliche Licht nicht in das Ende eines fest angeordneten, sondern über den Mantel von außen in den sich fortbewegenden Lichtwellenleiler eingekoppelt, während die Einkoppelstelle und die Streulichlmeßcinrichtung stationär angeordnet sind. Es ist so in einfacher Weise eine kontinuierliche Messung möglich. Da die Meßvorrichtung für das Streulicht nicht bewegt wird, sind Meßfehler ζ. B. infolge beweglicher Zuführungslcitungen, nicht möglich.
Die Erfindung wird anhand eines in der Figur dargestellten Ausführungsbeispiels erläutert. Der Lichtwellenleiler J läuft über eine Umlenkrolle 2, die sich entweder in Luft oder in einer Flüssigkeit 3 befindet, die den Brechungsindex des Lichtwellenleitermantels besitzt Diese Immersionsflüssigkeit ist in dem Gefäß 4 untergebracht. An der Umlenkrolle 2 wird parallel zur auslaufenden Lichlwellenleiler-Achse Licht mittels der gepulsten Lichtquelle 5 in den Lichtwellenleiler eingestrahlt, das teils im Lichtwellenlciler-Kern und teils im Mantel weitergeführt wird. Nach einer weiteren Umlenkung durch die Rolle 6 in kurzer Entfernung vom Einstrahlpunkt und über einer Lichtwellenleiter-Strecke 7, die unter geringer Zugspannung steht, sitzt das Instrument 8 zur Streulichtmessung. Dieses erfaßt das infolge Ungleichmäßigkeiten aus dem Lichtwellenleiter austretende Licht. Die Menge des Streulichts wird, wie an sich bekannt, in einer besonderen Einrichtung 9 aufgezeichnet. Aus den Aufzeichnungen kann die Rißgröße bestimmt werden. Die Umlenkstelle an der Rolle 6 ist vorzugsweise abgeschirmt vom in den Lichtwellenleiter hineingestrahlten Licht. Die auf den Lichtwellenleiter in der Zugstrecke 7 wirkende Zugspannung soll dem unteren Grenzwert der Reißkraft entsprechen, bei der mit Sicherheit ein Bruch und eine Alterung des Lichtwellenleiters nicht auftreten. Die Rolle 10 wird angetrieben und setzt den Lichtwellenleiter unter Zug.
Die Vorrichtung nach der Erfindung kann mit großem
Vorteil in den Lichtwellenleiter-Herstellungsprozeß einbezogen werden. In Kenntnis der Anzahl und Größe der Anrisse können die Lichtwellenleiter-Längen nach der Prüfung klassifiziert werden. Lichtwellenleiter mit groben Fehlstellen können an diesen gebrochen und neu zusammengeschweißt werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (2)

Patentansprüche:
1. Vorrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von Lichtwellenleitern auf Risse oder Ungleichmaßigkeiten auf deren Oberfläche mittels der Streulichtmeßmethode, nach welcher von dem Licht, das von einer Lichtquelle in den Lichtwellenleiter zunächst eingestrahlt wird, das aus dem Lichtwellenleiter austretende Streulicht mittels einer Meßeinrichtung gemessen wird, gekennzeichnet durch ein mit Immersionsflüssigkeit gefülltes Gefäß, durch welches der zu prüfende Lichtwellenleiter kontinuierlich gezogen und dabei derart umgelenkt wird, daß die in diesem Gefäß angeordnete Lichtquelle Licht parallel zur Lichtwellenleiterachse in den Lichtwellenleiter eingestrahlt und feiner dadurch, daß die Streulichtineßeinrichtung in Bewegungsrichtung dea Lichtwellenieiters nach dem mit Immersionsflüssigkeit gefüllten Gefäß stationär angeordnet ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine in Bewegungsrichtung des Lichtwellenleilers vor der Streulichimeßeinrichlung angeordnete, gebremste und eine nach dieser Slreulichtmeßeinrichtung angeordnete angetriebene Rolle, über welche der Lichtwellenleiter durch das Gefäß und durch die Streulichtmeßeinrichtung geführt wird.
DE19772744219 1977-09-30 1977-09-30 Vorrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von Lichtwellenleitern Expired DE2744219C3 (de)

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DE2744219A1 DE2744219A1 (de) 1979-04-05
DE2744219B2 DE2744219B2 (de) 1979-12-13
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DE3104076A1 (de) * 1981-02-06 1982-10-21 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg "vorrichtung zur kontinuierlichen untersuchung von lichtleitfasern"
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