DE2744219A1

DE2744219A1 - Verfahren zur kontinuierlichen und zerstoerungsfreien rissuntersuchung an lichtwellenleitern

Info

Publication number: DE2744219A1
Application number: DE19772744219
Authority: DE
Inventors: Heinrich Dr Ing Liertz
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1977-09-30
Filing date: 1977-09-30
Publication date: 1979-04-05
Also published as: DE2744219B2; DE2744219C3

Description

Verfahren zur kontinuierlichen und zerstörungsfreien Rißun-
tersuchung an Lichtwellenleitern Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur kontinuierlichen und zerstörungsfreien Untersuchung von Lichtwellenleitern auf Risse oder Ungleichmäßigkeiten auf deren Oberfläche.
Aus Glas bestehende Lichtwellenleiter sind bekanntlich sehr empfindlich gegenüber mechanischer Belastung. Dies rührt zum Beispiel daher, daß die Oberfläche der Glasfasern Unregelmäßigkeiten, zum Beispiel Risse, aufweisen kann, die zur Faserunterbrechung fUhren können. Dies machte von Jeher besondere Maßnahmen bezüglich der Behandlung der Glasfasern erforderlich; beispielsweise hat man die Oberfläche der Glasfasern mit besonderen Überzügen versehen. Da nun die Anzahl und Größe der Risse unter'bestimmter Belastung ein Maß für die Lebensdauer des Lichtwellenleiters darstellen, ist man besonders daran interessiert, diese Größen zu ermitteln.
Es ist bekannt, mit Hilfe der Streulichtmeßmethode Risse in den Lichtwellenleitern zu orten. Ferner ist es bekannt, den Lichtwellenleiter ortsfest anzuordnen, an dessen einem Ende Licht einzuspeisen und entlang dem Lichtwellenleiter eine Meßeinrichtung zu führen, die das aus dem Lichtwellenleiter austretende Streulicht erfaßt. Diese Einrichtung ist nicht für eine kontinuierliche Untersuchung von Lichtwellenleitern geeignet.
Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht nun darin, ein Verfahren anzugeben, welches eine kontinuierliche Untersuchung von Ljchtwellenleitern ermöglicht. Gelöst wird diese Aufgabe durch ein Verfahren der eingangs geschilderten Art, welches dadurch gekennzeichnet ist, daß der Lichtwellenleiter durch ein mit Immersionsflüssigkeit gefülltes Gefäß, in welchem eine Lichtquelle angeordnet ist, und durch eine stationär angeordnete Streulichtmeßeinrichtung geführt wird. In vorteilhafter Weise wird der Lichtwellenleiter über eine in Bewegungsrichtung des Lichtwellenleiters vor der Streulichtmeßeinrichtung angeordnete, gebremste und eine nach dieser Streulichtmeßeinrichtung angeordnete angetriebene Rolle geführt.
Die Erfindung wird anhand eines in der Figur dargestellten Ausführungsbeispiels erläutert. Der Lichtwellenleiter 1 läuft über eine Umlenkrolle 2, die sich entweder in Luft oder in einer Flüssigkeit 3 befindet, die den Brechungsindex des Lichtwellenleitermantels besitzt. Diese Immersionsflüssigkeit ist in dem Gefäß 4 untergebracht. An der Umlenkrolle 2 wird parallel zur auslaufenden Lichtwellenleiter-Achse Licht mittels der gepulsten Lichtquelle 5 in den Lichtwellenleiter eingestrahlt, das teils im Lichtwellenleiter-Kern und teils im Mantel weitergeführt wird. Nach einer weiteren Umlenkung durch die Rolle 6 in kurzer Entfernung vom Einstrahlpunkt und über einer Lichtwellenleiter-Strecke 7, die unter geringer Zugspannung steht, sitzt das Instrument 8 zur Streulichtmessung. Dieses erfaßt das infolge Ungleichmäßigkeiten aus dem Lichtwellenleiter austretende Licht. Die Menge des Streulichts wird, wie an sich bekannt, in einer besonderen Einrichtung 9 aufgezeichnet. Aus den Aufzeichnungen kann die Rißgröße bestimmt werden. Die Umlenkstelle an der Rolle 6 ist vorzugsweise abgeschirmt vom in den Lichtwellenleiter hineingestrahlten Licht. Die auf den Lichtwellenleiter in der Zugstrecke 7 wirkende Zugspannung soll dem unteren Grenzwert der Reißkraft entsprechen, bei der mit Sicherheit ein Bruch und eine Alterung des Lichtwellenleiters nicht auftreten. Die Rolle 10 wird angetrieben und setzt den Lichtwellenleiter unter Zug.
Das Verfahren nach der Erfindung kann in den Lichtwellenleiter-Herstellungsprozeß einbezogen oder zu jedem beliebigen anderen Zeitpunkt angewandt werden. In Kenntnis der Anzahl und Größe der Anrisse können die Lichtwellenleiter-Längen nach der Prüfung klassifiziert werden. Lichtwellenleiter mit groben Fehlstellen können an diesen gebrochen und neu zusammengeschweißt werden.
2 Patentansprüche 1 Figur

Claims

Patentansprüche 7.) Verfahren zur kontinuierlichen und zerstörungsfreien \Untersuchung von Lichtwellenleitern auf Risse oder Ungleichmäßigkeiten auf deren Oberfläche, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß der Lichtwellenleiter durch ein mit Immersionsflüssigkeit gefülltes Gefäß, in welchem eine Lichtquelle angeordnet ist, und durch eine stationär angeordnete Streuliitmeßeinrichtung geführt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß der Lichtwellenleiter über eine in Bewegungsrichtung des Lichtwellenleiters vor der Streülichtmeßeinrichtung angeordnete, gebremste und eine nach dieser Streulichtmeßeinrichtung angeordnete angetriebene Rolle geführt wird.