DE1906301A1 - Photoelektrisches Oberflaechenpruefgeraet - Google Patents

Photoelektrisches Oberflaechenpruefgeraet

Info

Publication number
DE1906301A1
DE1906301A1 DE19691906301 DE1906301A DE1906301A1 DE 1906301 A1 DE1906301 A1 DE 1906301A1 DE 19691906301 DE19691906301 DE 19691906301 DE 1906301 A DE1906301 A DE 1906301A DE 1906301 A1 DE1906301 A1 DE 1906301A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
cable
reflected
light guide
workpiece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19691906301
Other languages
English (en)
Inventor
Homquist Bengt Anders
Nilson Per Goeran Ossian
Carl-Axel Wannerskog
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SKF AB
Original Assignee
SKF AB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SKF AB filed Critical SKF AB
Publication of DE1906301A1 publication Critical patent/DE1906301A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres

Description

Der Patentanwalt Dipl-Ihg. W. Beyer
FRANKFURT/MAIN FREIHERR-VOM-STEIN-STRASSE In Sachen: Az.t ; ■ .
Aktiebolaget Svenska 1906301
Eullagerfabriken
Göteborg / Schweden
Photoelektrisch.es Oberflächenprüfgerät
Die Erfindung betrifft ein photoelektrisches Oberflächenprüfgerät für reflektierende Oberflächen fester Körper. Mittels eines solchen Gerätes sollen kleine Risse, Stoßstellen und andere Unregelmäßigkeiten einer sonst möglichst glatten Werfc- * Stückoberfläche aufgezeigt werden.
Das Prüfen von Oberflächen kann in einfachster Form ohne besondere Hilfsmittel in der Weise vorgenommen werden, daß das Werkstück unter bestimmtem Winkel gegen das Licht gehalten wird, so daß bereits das bloße Auge Fehlstellen wahrnimmt. Diese verhältnismäßig einfache Methode kann noch durch die Benutzung von Vergrößerungslinsen verfeinert werden. In beiden Fällen erfordert die Oberflächenprüfung jedoch große Konzen-" tration und ein geübtes Auge, Voraussetzungen, die nicht immer gegeben sind, so daß immer wieder Fehler unbemerkt bleiben. _
Die Oberflächenprüfung mit boßem Auge ist deshalb in vielen Fällen bereits durch photoelektrische Prüfverfahren ersetzt worden. Dabei ist der Prüfvorgang vollständig automatisiert und verläuft etwa folgendermaßen:
Die zu prüfende Oberfläche wird unter einem solchen Winkel bestrahlt, daß ein optimaler Kontrast zwischen unbeschädigten Teilen der Oberfläche und eventuellen Rissen, Flecken
SKF 7854
909833/1017
oder Stoßstellen entsteht. Dabei wird die Oberfläche mittels einer Photozelle abgesucht. Die Reaktion der letzteren, gemessen je nach deren Konstruktion als Veränderung eines
Stromes, einer Spannung oder eines Widerstandes, ist abhängig von der Refle-xion des Lichtes auf der untersuchten Fläche. Ein Riß oder sonstiger Fehler derselben vermindert die Intensität des reflektierten Lichtes, und entsprechend reagiert
auch die Photozelle. Nachteilig bei dieser Art der Oberflächenprüfung ist, daß man ein Linsensystem zum Auffangen des reflektierten Lichtes braucht, meistens sogar auch für die Bestrahlung der Oberfläche. Die Notwendigkeit des Linsensystems stellt eine Beschränkung des Anwendungsbereichs der geschilderten Prüfmethode dar, denn schwer zugängliche Oberflächen lassen sich auf diese Weise nicht untersuchen.
Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile der bekannten Art der optischen Oberflächenprüfung zu vermeiden und ein dafür geeignetes Gerät zu schaffen, welches praktisch überall
anwendbar ist und sich sehr leicht einstellen läßt.
Zur Lösung der Erfindungsaufgäbe wird ein photoelektrisches Oberflächenprüfgerät vorgeschlagen, bei welchem Licht durch ein lichtleitendes Kabel jeweils auf einen begrenzten Oberflächenbereich des zu prüfenden Werkstücks richtbar ist und das von dort reflektierte Licht über ein weiteres lichtleitendes Kabel eine photoelektrische Zelle beeinflußt, deren Reaktion ein Maß für die Oberflächenbeschaffenheit ist. Mit den vorderen Enden der lichtleitenden Kabel kommt man auch
unter schwierigen örtlichen Verhältnissen dicht an die zu
untersuchenden Oberflächen heran, und es bedarf keines aufwendigen Linsensystems, da das Licht über die in dem Kabel
enthaltenen Lichtleitbündel praktisch unmittelbar zur Werk-
SKF 7864
909833/101 7
Stückoberfläche geführt und direkt darüber auch wieder aufgefangen wird. Die Fasern der Lichtleitbündel sind sehr dünne und biegsame Glasfasern, durch welche sich das Licht infolge totaler Refle-xLon an einer dünnen Glasummantelung mit geringerem Brechungsindex als das Material der Glasfaser fortpflanzt. Ein Kabel enthält gewöhnlich eine große Anzahl solcher zu Lichtleitbündeln zusammengefaßter Glasfasern, und in vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Kabel für das auf die. Werkstückoberfläche geworfene Licht und für das reflektierte Licht wenigstens teilweise vereinigt sind, indem nämlich in einem einzigen Kabel f verschiedene voneinander getrennte Lichtleitbündel angeordnet sind. So kann z.B. eines dieser Lichtleitbündel das Licht von seiner Quelle zur Werkstückoberfläche leiten, während ein. anderes, im selben Kabel enthaltenes Lichtleitbündel das reflektierte Licht auffängt und dieses dann zur Photozelle leitet.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 in schematischer Darstellung ein Prüfgerät gemäß der Erfindung in Anwendung bei der Oberflächen- f prüfung eines Wälzkörpers,
Fig. 2 den Längsverlauf zweier voneinander getrennter Lichtleitbündel in dem bei dem Prüfgerät nach Fig. 1 gebrauchten lichtleitenden Kabel,
Fig. 3 einen Querschnitt durch das lichtleitende Kabel nach Fig. 1 und 2.
SKF 7864
9 0 9 8 3 3/1017
Das photoelektrische Oberflächenprüfgerät gemäß der Erfindung kann z.B. zur Untersuchung der. fertig bearbeiteten Laufflächen von Wälzlagerteilen herangezogen werden, und Fig. 1 zeigt eine solche Anwendung. Über ein lichtleitendes Kabel 1 wird dabei Licht von einer Lichtquelle 2 zur Oberfläche 4 einer Rolle eines Rollenlagers geleitet, und dasselbe Kabel 1 nimmt auch das von der Oberfläche 4 reflektierte Licht wieder auf» Aller-
t t
dings erfolgt die Lichtleitung durch das Kabel 1 innerhalb desselben zu und von der Oberfläche 4 über voneinander getrennte Lichtleitbündel 3 bzw. 5. Das Lichtleitbündel 5 hat Anschluß an eine nicht gezeigte Photozelle, deren Reaktion auf das ihr zugeleitete Licht ein Maß für die Intensität der Reflexion ist und die somit die Reflexion beeinflussende Unregelmäßigkeiten der Oberfläche anzeigt. Während des Prüfvorganges wird das vordere Ende des lichtleitenden Kabels 1 in sehr geringem Abstand über die zu untersuchende Oberfläche 4 geführt. Die Verwendung eines lichtleitenden Kabels gestattet dabei in einer sehr einfachen und doch wirkungsvollen Welse die Beschränkung des momentanen Prüffeldes auf einen sehr kleinen Oberflächenabschnitt, so daß dort vorhandene Fehlstellen deutlich in Erscheinung treten.
Der Anwendungsbereich der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist gegenüber dea der bekannten mit einem Linsensystem arbeitenden Gerät um so viel größer, weil das Licht über das Kabel 1 auch auf gekrümmten Wegen geführt werden kann. Die Genauigkeit der Anzeige leidet darunter nicht, denn auch wenn mehrere Lichtleitbündel in einem Kabel verlegt sind, lassen sie sich exakt voneinander trennen-und im Winkel ausrichten (vgl· Fig.2)
Während der Untersuchung der Werkstückoberfläche 4 wird das lichtleitende Kabel 1 parallel zur Achse des in Fig. 1 beispielhaft gezeigten Wälzkörpers bewegt. Dabei wird das an der
SKF 7864 909833/1017
Oberfläche 4 reflektierte Licht zunächst durch ein Lichtleitbündel 5a (s. Pig. 3) aufgefangen. Fehlstellen der Oberfläche, die eine gewisse axiale Erstreckung haben, bewirken dann eine deutliche Änderung der von der Photozelle angezeigten Lichtintensität. Um in tangentialer Richtung liegende Risse und andere Unregelmäßigkeiten optimal anzuzeigen, ist außerdem ein weiteres Lichtleitbündel 5b vorgesehen. Man wird die Anordnung der das reflektierte Licht auffangenden Lichtleitbündel stets so wählen, daß sich der refle-xLonsmindernde Effekt von sich in einer bestimmten Richtung erstreckenden Fehlstellen maximal auswirkt. Ist die Ausrichtung der Risse und Fehlstellen * eine zufällige, so empfiehlt sich eine im Querschnitt ringförmige Anordnung der das reflektierte Licht auffangenden, zur Photozelle führenden Lichtleitbündel. Dabei ist dann die Anzeigeintensität für alle Ausrichtungen gleichmäßig groß.
Patentansprüche /
SKF 7864
909833/1017

Claims (3)

  1. Patentansprüche
    Photoelektrisches Oberflächenprüfgerät für reflektierende Oberflächen fester Körper, dadurch gekennzeichnet , daß Licht durch ein lichtleitendes Kabel O» 3) jeweils auf einen begrenzten Oberflächenbereich (4·) des zu prüfenden Werkstücks richtbar ist und das von dort reflektierte Licht über ein weiteres lichtleitendes Kabel- (1, 5) eine photoelektrische Zelle beeinflußt, deren Reaktion ein Maß für die Oberflächenbeschaffenheit ist.
  2. 2. Oberflächenprüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die Kabel für das auf die Werkstückoberfläche (4-) geworfene Licht und für das reflektierte Licht wenigstens teilweise vereinjiigt sind, indem in einem einzigen Kabel (1) verschiedene voneinander getrennnte Lichtleitbündel (3, 5a, 5b) angeordnet sind.
  3. 3. Oberflächenprüfgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Querschnittsform der Lichtleitbündel (5) für das reflektierte Licht entsprechend der Lage und Gestalt der erwarteten Oberflächenfehler gewählt ist*
    SKF 7864
    909833/10 17
DE19691906301 1968-02-12 1969-02-08 Photoelektrisches Oberflaechenpruefgeraet Pending DE1906301A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE177168A SE347105B (de) 1968-02-12 1968-02-12

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1906301A1 true DE1906301A1 (de) 1969-08-14

Family

ID=20258811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19691906301 Pending DE1906301A1 (de) 1968-02-12 1969-02-08 Photoelektrisches Oberflaechenpruefgeraet

Country Status (4)

Country Link
DE (1) DE1906301A1 (de)
FR (1) FR2001742A1 (de)
GB (1) GB1244935A (de)
SE (1) SE347105B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2260090A1 (de) * 1972-11-24 1974-05-30 Bbc Brown Boveri & Cie Einrichtung zum messen der rauhigkeit einer oberflaeche

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1145565B (it) * 1981-06-25 1986-11-05 Riv Officine Di Villar Perosa Apparecchiatura per il rilievo automatico di difetti sulla superficie di un cuscinetto
DE3534018A1 (de) * 1985-09-24 1987-04-02 Sick Optik Elektronik Erwin Optische bahnueberwachungsvorrichtung

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2260090A1 (de) * 1972-11-24 1974-05-30 Bbc Brown Boveri & Cie Einrichtung zum messen der rauhigkeit einer oberflaeche

Also Published As

Publication number Publication date
GB1244935A (en) 1971-09-02
SE347105B (de) 1972-07-24
FR2001742A1 (de) 1969-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3232904C2 (de)
EP0038950A2 (de) Sensorvorrichtung mit einer als empfindliches Element dienenden Lichtleitfaser
CH675133A5 (de)
DE2740073C3 (de) Densitometer zur Auswertung eines mittels Transparenzflüssigkeit transparent gemachten Films
DE2047952C3 (de) Verfahren zur photometrischen Auswertung der sich bei der Auftrennung von Substanz gemischen in dünnen Schichten aus licht streuendem Material ergebenden Zonen
DE3733549C2 (de)
DE1959612A1 (de) Vorrichtung zur fotometrischen Messung
DE3126356A1 (de) Verfahren zum pruefen von objekten
DE2211702B2 (de) Faseroptische Lichtübertragungsvorrichtung zur Beleuchtung des Sehfeldes einer photoelektrischen Abtastvorrichtung
EP0128301A2 (de) Refraktometer
DE3703180A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der lichttransmission
DE1906301A1 (de) Photoelektrisches Oberflaechenpruefgeraet
DE102015113101B4 (de) Verfahren zum Prüfen der Bestückung einer Laufbahn eines Wälzlagers und Prüfvorrichtung
DE19615971B4 (de) Anordnung mit einem Lichtleiter,- und ein damit aufgebautes Mess-und Beleuchtungssystem und ihr Herstellungsverfahren
EP0380801A3 (de) Verfahren zur Messung optischer Verluste in Lichtleitfasern im reflektierten Licht
DE10142945B4 (de) Vorrichtung zur Ermittlung einer Lichtleistung und Mikroskop
EP0738382B1 (de) Verfahren zur messung der rauhigkeit einer materialoberfläche
DE2840824C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Lichtauskopplung an Lichtleitfasern
DE60023764T2 (de) Verfahren zur Bestimmung einer Eigenschaft einer optischen Faser durch Reflektometrie
DE4314219A1 (de) Anordnung zur punktuellen Messung der Remission
DE2744219C3 (de) Vorrichtung zur zerstörungsfreien Untersuchung von Lichtwellenleitern
DE2945229C2 (de) Einrichtung zur berührungslosen Schwingungsmessung mit Hilfe des Laser-Dopplereffekts
DE2905727A1 (de) Anordnung zur messung der das glanzvermoegen von oberflaechen bestimmenden eigenschaften
DE3216754A1 (de) Sensor zur beleuchtung einer messflaeche und zur erfassung der von dieser messflaeche remittierten strahlung
DE3741616A1 (de) Pruefeinrichtung