DE4314219A1 - Anordnung zur punktuellen Messung der Remission - Google Patents

Anordnung zur punktuellen Messung der Remission

Info

Publication number
DE4314219A1
DE4314219A1 DE19934314219 DE4314219A DE4314219A1 DE 4314219 A1 DE4314219 A1 DE 4314219A1 DE 19934314219 DE19934314219 DE 19934314219 DE 4314219 A DE4314219 A DE 4314219A DE 4314219 A1 DE4314219 A1 DE 4314219A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
concentrators
arrangement
arrangement according
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19934314219
Other languages
English (en)
Inventor
Thomas Morgenstern
Jost Schueler
Lutz Papenkordt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
Jenoptik AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Jena GmbH, Jenoptik AG filed Critical Jenoptik Jena GmbH
Priority to DE19934314219 priority Critical patent/DE4314219A1/de
Priority to PCT/EP1994/001305 priority patent/WO1994025849A1/de
Priority to EP94914419A priority patent/EP0648327A1/de
Priority to JP6523869A priority patent/JPH07508590A/ja
Publication of DE4314219A1 publication Critical patent/DE4314219A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4298Coupling light guides with opto-electronic elements coupling with non-coherent light sources and/or radiation detectors, e.g. lamps, incandescent bulbs, scintillation chambers

Description

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Messung der Remission von kleinen Flächen fester, flüssiger oder gasförmiger Körper in mehreren Spektralbereichen (VIS, nahes/mittleres IR), wodurch die Erfassung der flächenmäßigen Verteilung des spektralen Remissionsgrades und/oder der Körperfarbe möglich ist.
Anwendbar ist die Erfindung in den verschiedensten Branchen der Industrie und des produzierenden Gewerbes, um die Farbgleichheit von Produkten zu gewährleisten, Farbabweichungen zu erkennen oder Farben aufeinander abzustimmen. Letztgenanntes spielt z. B. auch in der Zahnprothesenherstellung eine große Rolle, wo es darauf ankommt, die Farbe der Zahnprothese möglichst genau der natürlichen Zahnfarbe anzupassen.
Aus dem Stand der Technik sind eine Vielzahl von Anordnungen zur Bestimmung des spektralen Remissionsgrades von Körpern bekannt, die in der Regel mit mehreren sequentiell ansteuerbaren, spektral selektiven Strahlungsquellen und einem Empfänger arbeiten. Der optische Teil dieser Anordnungen unterscheidet sich im wesentlichen in der Zuführung der emittierten Strahlung auf die zu prüfende Fläche.
In dem in der DE-OS 41 20 749 beschriebenen Verfahren und der in der DD-PS 99 439 beschriebenen Vorrichtung wird die zu untersuchende Oberfläche direkt bestrahlt, so daß die Größe der zu messenden "punktuellen" Fläche durch den Strahlungskegel der LED und den notwendigen Abstand zwischen Meßobjekt und Strahlungsquelle bestimmt wird und damit nicht ausreichend klein gewählt werden kann. Auf Grund der Divergenz der Strahlung sind zur Erlangung genauer Meßergebnisse bei stark absorbierenden Oberflächen sehr hohe Lichtintensitäten erforderlich. Außerdem ist die Überstrahlungsgenauigkeit der verschiedenen LED′s auf der zu messenden Oberfläche aufgrund der Winkelstreuung in der Abstrahlcharakteristik der LED′s nur unzureichend erreichbar.
In der DE-PS 36 26 373 ist eine Vorrichtung beschrieben, bei welcher die Strahlung der einzelnen Strahlungsquellen über zwei Filtereinheiten auf eine Linsenanordnung geführt wird, welche die Strahlung auf die zu untersuchende Probe fokussiert. Diese Strahlführung erfordert einen hohen Justieraufwand und eine hohe mechanische Stabilität. Die erreichbare Flächenauflösung ist ebenso wie in den o.g. Schriften durch die Abstrahlcharakteristik der LED′s bestimmt und begrenzt. Außerdem wird die Strahlungsintensität durch die Filtereinheiten reduziert und durch die Öffnung des Abbildungssystems begrenzt. Aus der DE-OS 30 38 786 ist eine Einrichtung zur Messung der Farbe des Zahnfleisches bekannt, bei welcher das Licht einer Lichtquelle über ein flexibles Lichtleiterbündel zur untersuchenden Fläche geleitet wird. Bei geringem Abstand der Lichtaustrittsfläche zu der zu untersuchenden Fläche und dem zusätzlichen linsenförmigen Anschleifen dieser Austrittsfläche ist es möglich, das Licht auf einen sehr kleinen Meßfleck zu konzentrieren. Das Problem in einer solchen Anordnung besteht in der Einkopplung von ausreichend viel Strahlungsenergie in das Lichtleitbündel.
Aufgabe der Erfindung ist es eine Anordnung zur punktuellen Messung der Remission in verschiedenen Spektralbereichen zu schaffen, bei welcher die Strahlung mehrerer Strahlungsquellen mit unterschiedlicher Abstrahlcharakteristik mit einfachen Mitteln und wenig Verlusten der Strahlungsenergie auf einen möglichst kleinen Ausschnitt der zu untersuchenden Fläche konzentriert wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Anordnung zur punktuellen Messung der Remission in verschiedenen Spektralbereichen entsprechend Anspruch 1 gelöst.
Vorteilhafte Ausführungen sind in den Unteransprüchen 2 und 3 beschrieben.
Nachfolgend wird ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Anordnung in Verbindung mit der Zeichnung beschrieben. Darin zeigen:
Fig. 1 die Prinzipdarstellung einer erfindungsgemäßen Anordnung in der Seitenansicht und
Fig. 2 die dazugehörige Draufsicht.
Das in Fig. 1 dargestellte Ausführungsbeispiel umfaßt die zu untersuchende Fläche 1 drei Baugruppen 4 (nur eine dargestellt), bestehend aus je einer verschiedenfarbigen LED, rot 3.1, grün 3.2 und blau 3.3, und einem nachgeordneten Konzentrator 2, sowie einen Empfänger 5, der mit einem Lichtwellenleiter 6 verbunden und in einer Metallkanüle 7 untergebracht ist.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, sind die Baugruppen 4 um 120° versetzt um den Empfänger 5 angeordnet. Die zu untersuchende Fläche 1 wird nacheinander von den einzelnen LED′ s, rot 3.1, grün 3.2 und blau 3.3, vorteilhafterweise jeweils unter 45°bestrahlt. Dabei erfaßt der jeweils nachgeordnete Konzentrator 2 die von der LED emittierte Strahlung und konzentriert diese mit nur geringen Verlusten auf einen eng begrenzten Ausschnitt der zu untersuchenden Fläche 1. Die Größe des Ausschnittes ist dabei nicht abhängig von der unterschiedlichen Abstrahlcharakteristik der LED′s, sondern wird von den Parametern der Konzentratoren 2 (Kegelwinkel, Brechzahlverhältnis zwischen hochbrechendem Kegelstumpf und niedrig brechender Ummantelung), sowie den Abständen der Lichtaustrittsflächen der Konzentratoren 2 zur zu untersuchenden Fläche 1 bestimmt. Der Lichtwellenleiter 6 ist in Richtung der Flächennormalen der zu untersuchenden Fläche 1 ausgerichtet und leitet das von der zu untersuchenden Fläche 1 remittierte Licht auf den Empfänger 5. Die den Lichtwellenleiter 6 ummantelnde Metallkanüle 7 ragt über dessen Lichteintrittsfläche hinaus um den Einfall nichtremittierter Strahlung zu vermeiden. An Stelle der LED′s können auch spezielle Halbleiteranordnungen oder Glühlampen- Filter-Anordnungen verwendet werden. In einem zweiten, nicht in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiel, sind den Konzentratoren Lichtwellenleiter nachgeordnet, welche eng um den Lichtwellenleiter, der die remittierte Strahlung zum Empfänger führt, angeordnet sind. Solch eine Anordnung ermöglicht die Konstruktion eines schlanken Meßfühlers der für die manuelle Heranführung an die zu prüfende Fläche gut handhabbar ist. Die Konzentratoren haben hier die Aufgabe, möglichst viel Strahlungsenergie in die Lichtwellenleiter einzukoppeln.
Der Effekt der Lichtkonzentration auf einen möglichst kleinen Ausschnitt der zu untersuchenden Fläche kann noch erhöht werden, indem die Lichtaustrittsfläche der Konzentratoren sphärisch gestaltet wird.

Claims (4)

1. Anordnung zur punktuellen Messung der Remission von Flächen (1) fester, flüssiger oder gasförmiger Körper in verschiedenen Spektralbereichen mit mindestens zwei Strahlungsquellen (3) unterschiedlicher Spektralbereiche, die im gleichen Winkel zu der Fläche (1) strahlend um einen in Richtung der Flächennormale ausgerichteten Empfänger (5) angeordnet sind, gekennzeichnet dadurch, daß den Strahlungsquellen (3) Strahlungskonzentratoren (2) nachgeordnet sind, welche die Form eines Kegelstumpfes aufweisen und aus einem hochbrechenden Glas ummantelt von einem niedrig brechenden Glas bestehen, so daß die Strahlung im wesentlichen durch Totalreflexion auf einen kleinen Ausschnitt der Fläche (1) konzentriert wird.
2. Anordnung nach Anspruch 1 gekennzeichnet dadurch, daß die Konzentratoren aus getaperten Lichtleitstäben bestehen.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet dadurch, daß den Konzentratoren Lichtwellenleiter nachgeordnet sind, welche die aus den Konzentratoren austretende Strahlung zur Fläche leiten.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, gekennzeichnet dadurch, daß zur Verringerung der Apertur die Lichtaustrittsflächen der Strahlungs­ konzentratoren sphärisch gestaltet sind.
DE19934314219 1993-04-30 1993-04-30 Anordnung zur punktuellen Messung der Remission Withdrawn DE4314219A1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19934314219 DE4314219A1 (de) 1993-04-30 1993-04-30 Anordnung zur punktuellen Messung der Remission
PCT/EP1994/001305 WO1994025849A1 (de) 1993-04-30 1994-04-26 Anordnung zur punktuellen messung der remission von flächen
EP94914419A EP0648327A1 (de) 1993-04-30 1994-04-26 Anordnung zur punktuellen messung der remission von flächen
JP6523869A JPH07508590A (ja) 1993-04-30 1994-04-26 面の拡散反射の点状測定用構成

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19934314219 DE4314219A1 (de) 1993-04-30 1993-04-30 Anordnung zur punktuellen Messung der Remission

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE4314219A1 true DE4314219A1 (de) 1994-11-03

Family

ID=6486793

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19934314219 Withdrawn DE4314219A1 (de) 1993-04-30 1993-04-30 Anordnung zur punktuellen Messung der Remission

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP0648327A1 (de)
JP (1) JPH07508590A (de)
DE (1) DE4314219A1 (de)
WO (1) WO1994025849A1 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19511534A1 (de) * 1995-03-29 1996-10-02 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von 3D-Fehlstellen bei der automatischen Inspektion von Oberflächen mit Hilfe farbtüchtiger Bildauswertungssysteme
DE19617009A1 (de) * 1996-04-27 1997-11-06 Roland Man Druckmasch Photoelektrische Meßeinrichtung
US7635830B2 (en) 2004-03-23 2009-12-22 Koenig & Bauer Aktiengesellschaft Optical system for forming an illuminated pattern on a material in motion and which illuminated pattern is synchronized with a detection device
US7682040B2 (en) 2004-03-23 2010-03-23 Koenig & Bauer Aktiengesellschaft Optical system for creating an illuminated strip

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19615971B4 (de) * 1996-04-22 2008-04-24 Byk Gardner Gmbh Anordnung mit einem Lichtleiter,- und ein damit aufgebautes Mess-und Beleuchtungssystem und ihr Herstellungsverfahren
FI103074B1 (fi) * 1996-07-17 1999-04-15 Valtion Teknillinen Spektrometri
JP2005172814A (ja) * 2003-11-19 2005-06-30 Kansai Paint Co Ltd 反射紫外線測定装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3566119A (en) * 1967-10-06 1971-02-23 California Computer Products Infrared scanning device using a spherical lens
US3846027A (en) * 1972-08-03 1974-11-05 Align O Tron Corp Reflection densitometer
US3910701A (en) * 1973-07-30 1975-10-07 George R Henderson Method and apparatus for measuring light reflectance absorption and or transmission
JPH0685023B2 (ja) * 1984-03-29 1994-10-26 オリンパス光学工業株式会社 高倍率内視鏡用照明光学系
US4654532A (en) * 1985-09-09 1987-03-31 Ord, Inc. Apparatus for improving the numerical aperture at the input of a fiber optics device
US5003500A (en) * 1988-09-05 1991-03-26 Ciba-Geigy Corporation Process and apparatus for the preparation of color formulations utilizing polarized light in spectrophotometry
US4930865A (en) * 1988-11-04 1990-06-05 Miles Inc. Optical transmission spectrometer
DE4001954A1 (de) * 1990-01-24 1991-07-25 Giese Erhard Distanzsensor

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19511534A1 (de) * 1995-03-29 1996-10-02 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von 3D-Fehlstellen bei der automatischen Inspektion von Oberflächen mit Hilfe farbtüchtiger Bildauswertungssysteme
DE19511534C2 (de) * 1995-03-29 1998-01-22 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von 3D-Fehlstellen bei der automatischen Inspektion von Oberflächen mit Hilfe farbtüchtiger Bildauswertungssysteme
DE19617009A1 (de) * 1996-04-27 1997-11-06 Roland Man Druckmasch Photoelektrische Meßeinrichtung
US5854680A (en) * 1996-04-27 1998-12-29 Man Roland Druckmaschinen Photoelectric densitometer
DE19617009C2 (de) * 1996-04-27 1999-05-20 Roland Man Druckmasch Photoelektrische Meßeinrichtung
US7635830B2 (en) 2004-03-23 2009-12-22 Koenig & Bauer Aktiengesellschaft Optical system for forming an illuminated pattern on a material in motion and which illuminated pattern is synchronized with a detection device
US7682040B2 (en) 2004-03-23 2010-03-23 Koenig & Bauer Aktiengesellschaft Optical system for creating an illuminated strip

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07508590A (ja) 1995-09-21
EP0648327A1 (de) 1995-04-19
WO1994025849A1 (de) 1994-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0079517B1 (de) Vorrichtung zur Farbmessung
DE2740724A1 (de) Spektrophotometer mit gleichzeitiger bestimmung der lichtintensitaet
DE2014530B2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Konzentration von in einem Medium suspendierten Teilchen
DE3033618A1 (de) Probenzelle zur optischen analyse
DE2205996B2 (de) Faseroptische Lichtleiteranordnung, insbesondere Reflexionsschranke
DE3344387A1 (de) Photometerkopf fuer kleine messvolumina
DE1959612A1 (de) Vorrichtung zur fotometrischen Messung
DE3311472C2 (de)
AT1406U1 (de) Fluorometer
DE112014004680T5 (de) ATR-Element, Eintauchprüfkopf und Spektrofotometer
DE4314219A1 (de) Anordnung zur punktuellen Messung der Remission
DE3421577A1 (de) Geraet zur reflexionsmessung an farbigen objekten
EP0633463A1 (de) Gerät zur Messung der Farbe von Glas, insbesondere von Glasbruch
DE19615971B4 (de) Anordnung mit einem Lichtleiter,- und ein damit aufgebautes Mess-und Beleuchtungssystem und ihr Herstellungsverfahren
DE102006037506A1 (de) Refraktometer
WO2011144208A2 (de) Anordnung zum messen der optischen eigenschaften von partikeln einer dispersion
DE2643879A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen des augeninnendruckes
DE3304110C2 (de) Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben
DE69721910T2 (de) Verfahren zur Kalibrierung eines spektroskopischen Gerätes
DD242105A1 (de) Beleuchtungseinrichtung fuer mikroskope und projektoren
WO2021078599A1 (de) Kompakter mikroplatten-leser und entsprechendes verfahren zur verwendung
DE2842343A1 (de) Fluoreszenz-messanordnung
DE3221867C2 (de) Vorrichtung zur Messung der Konzentration von Teilchen in Flüssigkeiten
DE4243418C2 (de) Vorrichtung zum Anregen und Empfangen der Photolumineszenz von Stoffen in Rohrleitungen, insbesondere zur Qualitätskontrolle industrieller Prozesse sowie zur Gewässer- und Abwässerkontrolle
DE2251422C3 (de) Vorrichtung zur Aufspaltung eines aus einem Monochromator austretenden schmalbandigen Strahlenbündels

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee