DE3304110C2 - Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben - Google Patents
Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer ProbenInfo
- Publication number
- DE3304110C2 DE3304110C2 DE19833304110 DE3304110A DE3304110C2 DE 3304110 C2 DE3304110 C2 DE 3304110C2 DE 19833304110 DE19833304110 DE 19833304110 DE 3304110 A DE3304110 A DE 3304110A DE 3304110 C2 DE3304110 C2 DE 3304110C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- spectrophotometer
- positions
- wavelength
- spectrum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 abstract description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/04—Batch operation; multisample devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/08—Optical fibres; light guides
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Vielkanal-Spektrophotometer mit einem langen, sich in X-Richtung erstreckenden Schlitz (4), durch den weißes Licht von einer Quelle (1) zur spektralen Diffraktion unterzogen wird, so daß sie auf eine X-Y-zweidimensionale Wellenlängen-Dispersions-Irradiations-Optische-Oberfläche projeziert wird, die derart angeordnet ist, daß das derart der spektralen Diffraktion unterworfene spektrale Band ein Spektrum von monochromatischem Licht wird, welches in der Y-Richtung feinst verteilt in rechten Winkeln zu dem Schlitz (4) unterteilt ist; daß Endabschnitte (9i) zum Eintritt des Lichts in optische Faserstränge (9) vorgesehen sind, zum freien Überschalten an Stellungen zur Wahl der Y-Richtung Wellenlängen und auch an Stellungen zur Unterteilung verschiedener X-Richtungen eines Bildes, welche eine Fläche des Spektrums bildet, so daß das monochromatische Licht der ausgewählten Wellenlänge von den X-Y-Auswahlstellungen herausgenommen werden kann; und daß ein einzelner Zelldetektor vorgesehen ist, zur Konfrontation des Lichteintritt-Endabschnitts (9i) des optischen Fiberstranges (9) zur Detektion der Intensität des monochromatischen Lichts des die Probezelle durchdringenden Lichts.
Description
dadurch gekennzeichnet, daß
e) jeder Meßzelle (11, 15,16,17) ein eigener WeI-Ienlängenselektor(18)
vorgeschaltet ist;
f) jedem Wellenlängenselektor (18) Licht unterschiedlicher Wellenlängen über eine Anzahl
von an verschiedenen Bohrungen (SH) jeweils einer Spalte angeordneten Lichtleitern (9/4, 9.0,
9C)zugeführt ist; und
g) jeder Wellenlängenselektor (18) zum aufeinanderfolgenden Zuführen jeweils einzelner der
ihm zugeführten Wellenlängen zu der zugeorndeten Meßzelle (11,15, Ib, 17) ausgebildet ist.
2. Spektralphotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
h)
zwischen jedem Wellenlängenselektor (18) und der zugeordneten Meßzelle (1!, 15, 16, 17) ein
weiterer Lichtleiter (9D)angeordnet ist.
Die Erfindung betrifft ein Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben nach dem
Oberbegriff des Hauptanspruchs.
Aus der US-PS 38 80 523 ist ein Spektralphotometer bekannt, bei dem mit Hilfe von in Bohrungen in einer
Platte eingesetzten Lichtleitern jeweils Licht einer bestimmten Wellenlänge abgenommen und einem Detektor
zugeführt werden kann. Bei diesem vorbekannten Spektralphotometer ist die Beaufschlagung jeweils einer
Probe mit Licht unterschiedlicher Wellenlänge nicht möglich.
Aus der DE-OS 29 29 883 ist ein Spektrometer mit einem Wellenlängenselektor zum aufeinanderfolgenden
Zuführen von Licht jeweils unterschiedlicher Wellenlängen zu einem Detektor bekannt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer
Proben zu schaffen, bei dem die Beaufschlagung jeweils einer Probe mit Licht unterschiedlicher Wellenlänge
auf einfache Weise möglich ist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe gelöst durch die im kennzeichnenden Teil des Hauptanspruchs angegebenen
Merkmale. Das Merkmal des Unteranspruchs gibt eine vorteilhafte Ausgestaltung an.
Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung wird anhand einer Zeichnung erläutert Dabei zeigt
F i g. 1 den Lichtweg zur Erzeugung des Spektrums in
der ersten Hauptebene;
Fig. 2 eine Darstellung dieses Lichtweges in der zweiten Hauptebene;
ίο F i g. 3 eine Draufsicht auf eine beispielhafte Ausführungsform
der Platte zum Ansetzen der Lichtleiter;
Fig.4 eine schematische Darstellung des Endabschnitts
eines Sammellichtleiters mit einer Durchflußzelle, einem Halbspiegel und einem Detektor; und
Fig.5 eine schematische Darstellung der der Platte
abgewandten Enden der Lichtwellenleiter mit Wellenlängenselektor, Sammellinse, Sammellichtleiter und Detektoreinheit
Fig. 1 zeigt eine Darstellung des optischen Dispersionssystems zur Erzeugung des Lichtspektrums in der ersten Hauptebene, Fig. 2 zeigt diese Anordnung in der zweiten Hauptebene.
Fig. 1 zeigt eine Darstellung des optischen Dispersionssystems zur Erzeugung des Lichtspektrums in der ersten Hauptebene, Fig. 2 zeigt diese Anordnung in der zweiten Hauptebene.
Das Spektralphotometer SL weist also eine Quelle weißer. Lichts 1, eine sphärische Linse 2 und eine zylindrische
Linse 3 auf, die einander benachbart in dem Lichtweg der Quelle weißen Lichts 1 liegen. Nach Passieren
eine- Blende 4 fallen die Lichtstrahlen auf sphärische Spiegel 5 und 7 sowie ein Dispersionselement 6,
etwa ein Beugungsgitter, ein Prisma oder dergleichen, sowie schließlich auf die Fixierungsplatte 8, die mit einer
Vielzahl von Bohrungen SH versehen ist. Die Lichtleiter 9, deren Durchmesser d beträgt, können mittels eines
Magneten 10 an die magnetische Platte 8 auf beliebige der Bohrungen SH aufgesetzt werden.
Bei dem in F i g. 2 gezeigten Ausführungsbeispiel ist die Blende 4 als geschlitzte Maske 4M mit einer Breite
W ausgebildet, um den Einfall direkten Lichts zu vermeiden.
Bei dem in Fig.3 gezeigten Ausführungsbeispiel weist die Platte 8 acht Reihen mit je neun Bohrungen SH auf, wobei jeder der Reihen Licht einer bestimmten Wellenlänge entspricht. Licht einer bestimmten Wellenlänge kann also über neun Lichtwellenleiter neun verschiedenen Meßzellen zugeführt werden.
Bei dem in Fig.3 gezeigten Ausführungsbeispiel weist die Platte 8 acht Reihen mit je neun Bohrungen SH auf, wobei jeder der Reihen Licht einer bestimmten Wellenlänge entspricht. Licht einer bestimmten Wellenlänge kann also über neun Lichtwellenleiter neun verschiedenen Meßzellen zugeführt werden.
F i g. 4 zeigt den — an sich bekannten — Aufbau der Meßzelle, die so eingerichtet ist, daß durch Ansetzen
eines der Lichtleiter 9 A, 9ß, 9Can eine der Bohrungen
SH der Platte 8 Licht einer bestimmten Wellenlänge der
zu untersuchenden Probe zugeführt wird. Dabei ist ein Halbspiegel 16 vorgesehen, der ein Teil des über eine an
den Lichtleiter 90 angesetzten Glasfaserlinse 12 ausgestrahlten Lichtes auf ein Lichtvergleichselement 17 aufwirft.
Die verbleibende Lichtmenge passiert die über eine Saugröhre 14 mit einer eine Probe Saufnehmenden
Reaktionsröhre 13 kommunizierende Durchflußzelle 11 und wird dabei mittels eines Detektors 15 gemessen.
F i g. 5 zeigt den Wellenlängenselektor 18, der zwischen den der Platte 8 abgewandten Enden der Lichtleiter
9A 9ß, 9Cund dem Sammel-Lichtleiter 9Dangeordnet
ist, wobei bei dem gezeigten Ausführungsbeispiel weiter eine Sammellinse 19 vorgesehen ist. Jeder der
Lichtwellenleiter 9A, 9ß, 9Cist an eine der Bohrungen
SH der Platte 8 angesetzt, führt also Licht der Wellenlänge LAu LÄ2 bzw. ZJ3. Die Meßzelle 11 kann somit
ohne Änderung der an die Platte 8 angesetzten Lichtwellenleiter mit Licht dieser drei Wellenlängen beaufschlagt
werden, wobei der Wellenlängenselektor 18 derart eingestellt wird, daß durch seine öffnung XSH je-
weils nur Licht eines der Lichtleiter durchgelassen, und
von der Sammellinse 19 auf den Einlaßpunkt 9/des Sammel-Lichtleiters
9D aufgeworfen wird und damit aus dem anderen Ende 90 des Sammel-Lichtleiiers 9 D ausfallen
kann.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
Claims (1)
1. Spektralphotometer zurr gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben, mit
a) Mitteln zum Zerlegen weißen Lichtes in eine Vielzahl von Wellenlängen,
b) einer Platte, die in Reihen und Spalten angeordnete Bohrungen aufweist, von denen die in einer
Reihe angeordneten Bohrungen jeweils Licht einer Wellenlänge und die in einer Spalte angeordneten
Bohrungen jeweils Licht unterschiedlicher Wellenlängen durchlassen,
c) einer Anzahl von an den Bohrungen ansetzbaren Lichtleitern und
d) einer Anzahl von Meßzellcn, denen mittels der Lichtleiter jeweils Licht unterschiedlicher Wellenlänge
zuführbar ist,
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833304110 DE3304110C2 (de) | 1983-02-08 | 1983-02-08 | Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833304110 DE3304110C2 (de) | 1983-02-08 | 1983-02-08 | Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3304110A1 DE3304110A1 (de) | 1984-08-16 |
DE3304110C2 true DE3304110C2 (de) | 1986-09-25 |
Family
ID=6190215
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833304110 Expired DE3304110C2 (de) | 1983-02-08 | 1983-02-08 | Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3304110C2 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3436752A1 (de) * | 1983-12-01 | 1985-06-13 | Jenoptik Jena Gmbh, Ddr 6900 Jena | Anordnung und verfahren zur mehrelementenanalyse |
DE3614639A1 (de) * | 1986-04-30 | 1987-11-05 | Messerschmitt Boelkow Blohm | Abbildendes spektrometer |
DE3805995A1 (de) * | 1988-02-25 | 1989-08-31 | R Seitner Mess U Regeltechnik | Verfahren und vorrichtung zur spektrometrischen messung |
DE3924060A1 (de) * | 1989-07-21 | 1991-01-24 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Atomabsorptions-spektralphotometer fuer die multielementanalyse |
DE4440968A1 (de) * | 1994-11-17 | 1996-05-30 | Heinrich Spiecker | Meßanordnung zur Erfassung der Orts- und Zeitstruktur von Lichtpulsen mit hoher Zeitauflösung |
AT411403B (de) * | 2001-12-05 | 2003-12-29 | Photonic Optische Geraete Gmbh | System zur abbildung einer kleinen lichtquelle |
CN102661793A (zh) * | 2012-05-31 | 2012-09-12 | 上海理工大学 | 一种平像场凸面光栅分光系统 |
JP2023025742A (ja) | 2021-08-11 | 2023-02-24 | 株式会社ディスコ | 光照射装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1392379A (en) * | 1972-08-17 | 1975-04-30 | Rank Organisation Ltd | Analytical apparatus |
DE2929883A1 (de) * | 1979-07-24 | 1981-02-19 | Kessler Manfred | Spektrometer mit lichtleitern |
-
1983
- 1983-02-08 DE DE19833304110 patent/DE3304110C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3304110A1 (de) | 1984-08-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69203215T2 (de) | Spektroskopisches Gerät und Verfahren. | |
DE2364069C3 (de) | Spektralphotometer | |
DE3833602A1 (de) | Spektrometer zur gleichzeitigen intensitaetsmessung in verschiedenen spektralbereichen | |
DE2740724A1 (de) | Spektrophotometer mit gleichzeitiger bestimmung der lichtintensitaet | |
DE3939148C2 (de) | ||
DE69729968T2 (de) | Gerät zum Messen der optischen Absorption | |
DE3339435A1 (de) | Farbueberwachungsgeraet fuer eine laufende materialbahn | |
DE3304110C2 (de) | Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben | |
WO1998023944A1 (de) | Fluoreszenzkorrelationsspektroskopiemodul für ein mikroskop | |
DE69203195T3 (de) | Vorrichtung zur Spektralphotometrie mit Spektralbandfilterung. | |
CH668126A5 (de) | Optisches system fuer spektralgeraete. | |
DE2758141C2 (de) | Spektrophotometer | |
WO1999061894A1 (de) | Vorrichtung zur detektion von substanzen in fluider phase | |
DE1964509A1 (de) | Spektrophotometer | |
EP0767709B1 (de) | Vorrichtung zum erkennen, sortieren und/oder trennen verschiedener stoffe bzw. gegenstände | |
WO1999047914A1 (de) | Dünnschichtchromatographiegerät | |
DE19543729B4 (de) | Spektrometer | |
DE4005878C2 (de) | ||
DE4424961C2 (de) | Wählvorrichtung für ein photometrisches Instrument mit Lichtleitfasern zur Analyse von entfernt befindlichen Proben | |
DE3232493A1 (de) | Vorrrichtung zum trennen aus einer optischen faser heraustretender strahlungsbuendel | |
EP1498707B1 (de) | Schlitzblende in einem Monochromator | |
DE3813718C2 (de) | ||
DE3884983T2 (de) | Polychromator zur Mehrelementenanalyse. | |
DE2604666A1 (de) | Monochromator zur nutzung zweier wellenlaengen | |
DE19745324A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur wellenlängenselektiven Mischung und/oder Verteilung von polychromatischem Licht |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |