DE3104076C2 - - Google Patents
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/35—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is transversely coupled into or out of the fibre or waveguide, e.g. using integrating spheres
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4298—Coupling light guides with opto-electronic elements coupling with non-coherent light sources and/or radiation detectors, e.g. lamps, incandescent bulbs, scintillation chambers
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum
kontinuierlichen Untersuchen von Lichtleitfasern mit einer
Lichtquelle zum Einkoppeln von Licht in die in einem
Ziehofen ausgezogene Lichtleitfaser und einem Detektor zum
Erfassen des infolge von Fehlern aus der Lichtleitfaser
austretenden Streulichtes im Anschluß an den Ziehofen.
Eine derartige Vorrichtung ist aus der JP-OS 55-69 033
bekannt. Mit dieser bekannten Vorrichtung wird der
Übertragungsverlust einer Lichtleitfaser, also eine
Eigenschaft des Faserkerns, zwischen zwei Meßstellen
gemessen, wobei das Licht in die Vorform, d. h. in die noch
nicht ausgezogene Lichtleitfaser, eingekoppelt wird.
Eine ähnliche Vorrichtung, mit der die Schwächung von
Licht im Faserkern kontinuierlich gemessen wird, ist aus
der US-PS 40 81 258 bekannt. Dabei wird die vom Ziehofen
abgegebene Strahlung als Lichtquelle verwendet.
Aus der DE-AS 27 44 219 ist eine Vorrichtung zum
zerstörungsfreien Untersuchen von Lichtleitfasern auf
Risse oder Ungleichmäßigkeiten auf deren Oberfläche
bekannt. Mit dieser bekannten Vorrichtung wird die bereits
fertige, d. h. also auch schon mit einem Lacküberzug
versehene Lichtleitfaser auf Fehler untersucht.
Eine ähnliche Vorrichtung ist aus der DE-AS 24 51 654
bekannt. Darin wird ein Stück der zu untersuchenden Licht
leitfaser ortsfest angeordnet und Licht wird in die Faser
eingespeist. Eine bewegliche Meßeinrichtung erlaubt nun,
Streulichtstellen der Faser zu orten. Eine kontinuierliche
Messung ist damit jedoch nicht möglich.
Bei der Herstellung von Lichtleitfasern entstehen bei
ungünstiger Wahl der Ziehparameter Defekte in der Ober
fläche der Faser. Diese Defekte sind der bevorzugte
Ausgangspunkt für Brüche der Faser unter schon geringen
Zugbelastungen, wie sie bei der Verarbeitung und Benutzung
auftreten können. Auch wenn die bestehende Zugbelastung
nicht sofort zum Bruch führt, sind diese Stellen der
Faseroberfläche durch zugspannungsunterstützte Korrosion
in der Alterungsbeständigkeit stark gemindert. Diese
Oberflächendefekte sind möglichst zu vermeiden bzw. in der
fertigen Faser zu finden. Durch Zerreißprüfungen großer
Längen und Mengen von Fasern werden Festigkeitsstatistiken
(Weibullverteilungen) erstellt, um das Ziehverfahren zu
optimieren. Dies ist ein aufwendiges und langwieriges
Verfahren. In der Produktion werden die trotzdem vor
handenen Defekte in einem kontinuierlichen Zug
beanspruchungsversuch, dem die gesamte Faserproduktion
unterworfen wird, auf eine bestimmte minimale Festigkeit
hin geprüft. Danach hat man zwar die Information, daß
diejenigen Fasern, die die Prüfung bestanden haben, eine
bestimmte Zugbeanspruchung ausgehalten haben, jedoch hat
man keinerlei Aussage darüber, wie die Festigkeit jenseits
des Versuchswertes aussieht. Diesen Verfahren gegenüber
bieten die eingangs genannten Vorrichtungen, die
zerstörungsfreie Untersuchungen erlauben, offensichtliche
Vorteile. Hierbei werden Risse oder Ungleichmäßigkeiten
auf der Faseroberfläche mittels einer Streulichtmethode
untersucht, nach welcher von dem Licht, das von einer
Lichtquelle in die Lichtleitfaser zunächst eingestrahlt
wird, das aus der Lichtleitfaser austretende Streulicht
mittels einer Meßeinrichtung gemessen wird.
Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, eine
Vorrichtung zu schaffen, mit der eine Untersuchung auf
Fehlerstellen bereits am Anfang des Herstellungsprozesses
möglich ist, um den Prozeß möglichst frühzeitig
beeinflussen zu können.
Die Lösung dieser Aufgabe besteht darin, daß bei einer
Vorrichtung der eingangs genannten Art der Ziehofen und
die Lichtquelle eine bauliche Einheit bilden und der
Detektor unmittelbar nach dieser Einheit angeordnet ist.
Dadurch ergibt sich der Vorteil, daß die Lichtleitfaser
unmittelbar nach ihrer Herstellung auf Fehlerstellen
untersucht werden kann.
Der Detektor besteht vorzugsweise
- - aus einem in einem Gehäuse angeordneten Linsensystem und einer Fotozelle und
- - aus einer Ulbrichtschen Kugel, die mit einer Fotozelle versehen ist, wie an sich aus der JP-OS 55-69 033 bekannt, oder
- - aus einem innenverspiegelten Rotationsellipsoid, in dem eine Fotozelle angeordnet ist, wie in ähnlicher Weise aus der FR-PS 13 46 674 bekannt,
- - wobei gegebenenfalls Mittel zur Störlichtunterdrückung vorgesehen sind.
Die Erfindung wird anhand einer Zeichnung näher
erläutert. In der Zeichnung zeigt
Fig. 1 den prinzipiellen Aufbau der Vorrichtung,
Fig. 2 eine erste Ausführungsform des Detektors,
Fig. 3 eine zweite Ausführungsform des Detektors und
Fig. 4 eine dritte Ausführungsform des Detektors.
Gemäß Fig. 1 wird eine Vorform der späteren Lichtleitfaser
in einem Ziehofen 2 auf etwa 2100°C aufgeheizt und zu
einer Faser 3 ausgezogen. Im Ziehofen 2 wird Licht in die
Faser eingekoppelt und in der Faser weitergeleitet.
Befinden sich an der Oberfläche oder im Innern der Faser
Störungen, so streuen sie das Licht aus der Faser heraus.
Dieses Streulicht wird in einem Detektor 4 in ein
elektrisches Signal umgewandelt und an eine Registrier-
und Steuerelektronik 5 weitergeleitet. Danach wird die
Faser 3 in einem Behälter 6 mit einem Lacküberzug
versehen, der in einem Ofen 7 getrocknet und gehärtet
wird. Im Anschluß daran hat die Steuerelektronik 5 die
Möglichkeit, mit Hilfe eines Fasermarkiergerätes 8 z. B.
eine Farbmarkierung auf der Faser 3 anzubringen. Danach
gelangt die Faser auf eine Zieh- und Aufwickeltrommel 9,
die von einem Wickelmotor mit Positionsgeber 10 ange
trieben wird.
Mit der Registrier- und Steuerelektronik läßt sich eine
Reihe von Maßnahmen durchführen.
- a) Während der Produktion einer Faser lassen sich die Streuamplitude und der Ort von Störungen registrieren.
- b) Nach dem Ziehen der Faser liegt ein Protokoll vor, das Auskunft darüber gibt, wo sich Störungen befinden und wie groß sie sind.
- c) Die Faser kann an den Stellen, an denen Störungen gefunden wurden, farblich markiert werden, so daß diese Stellen schnell für eine nachträgliche Untersuchung zugänglich sind (Störungsursache).
- d) Schon während des Ziehvorganges können die Zieh parameter, z. B. die Schutzgasströme im Ofen, so optimiert werden, daß man eine Faser mit minimalen Störungen erhält.
- e) Auch ohne farbliche Markierung sind die Störstellen zurückfindbar, da die Positionen auch im Protokoll enthalten sind.
Einige Ausführungsformen des Detektor sind in den
Fig. 2 bis 4 dargestellt.
Nach Fig. 2 wird eine Linsenoptik benutzt. Hierbei wird
die Faser 3 durch eine Eingangsöffnung 13 in ein
Gehäuse 14 eingeführt. Eine erste Linse 15 bildet ein
Stück der Faser auf eine Lochblende 16 ab. Diese wird
durch eine zweite Linse 17 auf eine Fotozelle 18 abge
bildet. Das an einem Defekt 19 austretende Licht wird
dabei in ein elektrisches Signal am Ausgang 20 gewandelt.
Die Faser 3 verläßt das Gehäuse 14 durch eine Öffnung 21.
In Fig. 3 ist eine andere Ausführungsform eines Detektors
dargestellt, wobei eine Ulbrichtsche Kugel zur Anwendung
gelangt, so daß alle Richtungen des Streulichtes
detektiert werden können. Die Faser 3 tritt in eine
Ulbrichtsche Kugel 23 ein, wobei eine Fotozelle 18 Streu
licht in ein elektrisches Signal umwandelt. Ab
schirmungen 24 reduzieren störendes Licht aus der
Umgebung.
In Fig. 4 ist eine weitere Detektionsmöglichkeit darge
stellt, in der ein innenverspiegeltes Rotations
ellipsoid 26 benutzt wird, um Streulicht einer Streu
zelle 27 der Faser 3 auf die Fotozelle 18 abzubilden und
in ein elektrisches Signal zu wandeln. Auch hier dienen
die Schutzröhrchen 28 zur Störlichtunterdrückung.
Ein wesentlicher Vorteil der beschriebenen Vorrichtung
besteht darin, daß sie erlaubt, die direkt beim Ziehen der
Faser gewonnenen Informationen zur Prozeßoptimierung zu
nutzen. Man muß nicht erst warten, bis eine Faser mit
Fehlern hergestellt ist, sondern man kann während der
Herstellung für eine gute, fehlerfreie Qualität durch
entsprechende Prozeßführung sorgen. Ein weiterer Vorteil
liegt darin, daß kein zusätzlicher kostenaufwendiger
Untersuchungsschritt notwendig ist, um die Qualitäts
information zu erhalten, so daß die gesamte Produktion
kontrolliert und optimiert werden kann. Die Faser wird
ohne Überzug gemessen und mechanisch nicht belastet.
Claims (5)
1. Vorrichtung zum kontinuierlichen Untersuchen von
Lichtleitfasern mit einer Lichtquelle zum Einkoppeln von
Licht in die in einem Ziehofen ausgezogene Lichtleitfaser
und einem Detektor zum Erfassen des infolge von Fehlern
aus der Lichtleitfaser austretenden Streulichtes im
Anschluß an den Ziehofen,
dadurch gekennzeichnet, daß der Ziehofen (2) und die Licht
quelle eine bauliche Einheit bilden und der
Detektor (4) unmittelbar nach dieser Einheit angeordnet
ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor aus einem in
einem Gehäuse (14) angeordneten Linsensystem (Linsen 15, 17, Lochblende 16)
und einer Fotozelle (18) besteht.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor aus einer
Ulbrichtschen Kugel (23) besteht, die mit einer Foto
zelle (18) versehen ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor aus einem innen
verspiegelten Rotationsellipsoid (26) besteht, in dem eine
Fotozelle (18) angeordnet ist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß Mittel (Abschirmungen 24; Schutzröhrchen 28) zur Störlicht
unterdrückung vorgesehen sind.
Priority Applications (4)
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Family Applications (1)
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Also Published As
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