JP2000146920A - ピンホール検査装置 - Google Patents
ピンホール検査装置Info
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- JP2000146920A JP2000146920A JP10322994A JP32299498A JP2000146920A JP 2000146920 A JP2000146920 A JP 2000146920A JP 10322994 A JP10322994 A JP 10322994A JP 32299498 A JP32299498 A JP 32299498A JP 2000146920 A JP2000146920 A JP 2000146920A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は印加電圧を規定することによって感
光体に悪影響を及ぼさず正確にピンホールを検査すると
共に、未塗工部を絶縁物で覆うことによって誤検査する
ことのない、かつ検査時間を短縮できるピンホール検査
装置を提供する。 【解決手段】 感光体ドラム（１４）と、導電性部材で
形成される帯電ブラシ（１２）と、感光体ドラム（１
４）を駆動させる駆動手段（１３）と、感光体ドラム
（１４）に帯電ブラシ（１２）を介して高電圧を印加す
るために帯電ブラシ（１２）に高電圧を供給する高電圧
電源（１１）と、感光体ドラム（１４）の端部に設けた
未塗工部を覆う絶縁性マスク（２０）を有するドラムチ
ャック（１６）と、感光体ドラム（１４）と帯電ブラシ
（１２）との間に流れる電流を測定する測定手段とを具
備する。
光体に悪影響を及ぼさず正確にピンホールを検査すると
共に、未塗工部を絶縁物で覆うことによって誤検査する
ことのない、かつ検査時間を短縮できるピンホール検査
装置を提供する。 【解決手段】 感光体ドラム（１４）と、導電性部材で
形成される帯電ブラシ（１２）と、感光体ドラム（１
４）を駆動させる駆動手段（１３）と、感光体ドラム
（１４）に帯電ブラシ（１２）を介して高電圧を印加す
るために帯電ブラシ（１２）に高電圧を供給する高電圧
電源（１１）と、感光体ドラム（１４）の端部に設けた
未塗工部を覆う絶縁性マスク（２０）を有するドラムチ
ャック（１６）と、感光体ドラム（１４）と帯電ブラシ
（１２）との間に流れる電流を測定する測定手段とを具
備する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はピンホール検査装置
に関し、詳細には電子写真感光体の感光体層に存在する
ピンホールの検査を行うための装置に関する。
に関し、詳細には電子写真感光体の感光体層に存在する
ピンホールの検査を行うための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子写真式複写機の感光体ドラムのよう
に外周面に高度な均一性を要するために、製造工程にお
いて感光体ドラムに存在するピンホールの存在を検査す
る必要がある。その検査工程では、人手で一個づつピン
ホール検査装置に被検査用の感光体ドラムをセットして
いた。よって、このように人手に頼る方法では作業効率
も低く、作業におけるミスの発生も多くなることにより
製品の感光体ドラムに傷を付ける可能性があった。
に外周面に高度な均一性を要するために、製造工程にお
いて感光体ドラムに存在するピンホールの存在を検査す
る必要がある。その検査工程では、人手で一個づつピン
ホール検査装置に被検査用の感光体ドラムをセットして
いた。よって、このように人手に頼る方法では作業効率
も低く、作業におけるミスの発生も多くなることにより
製品の感光体ドラムに傷を付ける可能性があった。
【０００３】そこで、これらの欠点を解消するために、
実公平６−２９７３２号公報に、感光体ドラムの基体を
導電チャック等で導通を図り、導電ブラシのブラシ部分
を感光体ドラムの感光層の表面に接触させ、更に導電チ
ャック等と導電ブラシとの間に高電圧を印加して感光体
ドラムを回転させることで感光体ドラムの基体と感光層
の表面との間に高電圧を印加することにより、導電チャ
ック等と導電ブラシとの間に所定電流以上の電流が流れ
れば不良品と判定するというピンホール検査装置が開示
されている。
実公平６−２９７３２号公報に、感光体ドラムの基体を
導電チャック等で導通を図り、導電ブラシのブラシ部分
を感光体ドラムの感光層の表面に接触させ、更に導電チ
ャック等と導電ブラシとの間に高電圧を印加して感光体
ドラムを回転させることで感光体ドラムの基体と感光層
の表面との間に高電圧を印加することにより、導電チャ
ック等と導電ブラシとの間に所定電流以上の電流が流れ
れば不良品と判定するというピンホール検査装置が開示
されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
報に開示されている従来例によれば、感光体ドラムの基
体と感光体ドラムの感光層の表面との間に高電圧を印加
した時に感光体ドラムの感光層の表面に接触させている
導電ブラシが帯電した感光体ドラムの感光層の表面とを
電気的に反発し、導電ブラシのブラシ先端部が上下左右
に動いてしまい、導電ブラシの上・下端部分のブラシ先
端部と感光体ドラムの外側の上・下端部分に露出する基
体との間で放電してしまうことがあった。
報に開示されている従来例によれば、感光体ドラムの基
体と感光体ドラムの感光層の表面との間に高電圧を印加
した時に感光体ドラムの感光層の表面に接触させている
導電ブラシが帯電した感光体ドラムの感光層の表面とを
電気的に反発し、導電ブラシのブラシ先端部が上下左右
に動いてしまい、導電ブラシの上・下端部分のブラシ先
端部と感光体ドラムの外側の上・下端部分に露出する基
体との間で放電してしまうことがあった。
【０００５】本発明はこれらの問題点を解決するための
ものであり、印加電圧を規定することによって感光体に
悪影響を及ぼさず正確にピンホールを検査すると共に、
未塗工部を絶縁物で覆うことによって誤検査することの
ない、かつ検査時間を短縮できるピンホール検査装置を
提供することを目的とする。
ものであり、印加電圧を規定することによって感光体に
悪影響を及ぼさず正確にピンホールを検査すると共に、
未塗工部を絶縁物で覆うことによって誤検査することの
ない、かつ検査時間を短縮できるピンホール検査装置を
提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は前記問題点を解
決するために、感光体ドラムと、導電性部材で形成され
る帯電ブラシと、感光体ドラムを駆動させる駆動手段
と、感光体ドラムに帯電ブラシを介して高電圧を印加す
るために帯電ブラシに高電圧を供給する高電圧電源と、
感光体ドラムの端部に設けた未塗工部を覆う絶縁性マス
クを有するドラムチャックと、感光体ドラムと帯電ブラ
シとの間に流れる電流を測定する測定手段とを具備する
ことに特徴がある。よって、未塗工部を絶縁物で覆うこ
とによって誤検査することのないピンホール検査を行う
ことができる。
決するために、感光体ドラムと、導電性部材で形成され
る帯電ブラシと、感光体ドラムを駆動させる駆動手段
と、感光体ドラムに帯電ブラシを介して高電圧を印加す
るために帯電ブラシに高電圧を供給する高電圧電源と、
感光体ドラムの端部に設けた未塗工部を覆う絶縁性マス
クを有するドラムチャックと、感光体ドラムと帯電ブラ
シとの間に流れる電流を測定する測定手段とを具備する
ことに特徴がある。よって、未塗工部を絶縁物で覆うこ
とによって誤検査することのないピンホール検査を行う
ことができる。
【０００７】また、感光ドラムに帯電ブラシを介して印
加される高電圧を−５００Ｖ〜−４ｋＶとすることや帯
電ブラシをカーボンで作成したことにより、感光体に悪
影響を及ぼさず正確にピンホールを検査できる。
加される高電圧を−５００Ｖ〜−４ｋＶとすることや帯
電ブラシをカーボンで作成したことにより、感光体に悪
影響を及ぼさず正確にピンホールを検査できる。
【０００８】更に、帯電ブラシを複数設けたことによ
り、検査時間を短縮できる。
り、検査時間を短縮できる。
【０００９】
【発明の実施の形態】感光体ドラムと、導電性部材で形
成される帯電ブラシと、感光体ドラムを駆動させる駆動
手段と、感光体ドラムに帯電ブラシを介して高電圧を印
加するために帯電ブラシに高電圧を供給する高電圧電源
と、感光体ドラムの端部に設けた未塗工部を覆う絶縁性
マスクを有するドラムチャックと、感光体ドラムと帯電
ブラシとの間に流れる電流を測定する測定手段とを具備
する。
成される帯電ブラシと、感光体ドラムを駆動させる駆動
手段と、感光体ドラムに帯電ブラシを介して高電圧を印
加するために帯電ブラシに高電圧を供給する高電圧電源
と、感光体ドラムの端部に設けた未塗工部を覆う絶縁性
マスクを有するドラムチャックと、感光体ドラムと帯電
ブラシとの間に流れる電流を測定する測定手段とを具備
する。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は本発明の一実施例に係るピンホール検査装
置の概略構成を示す断面図である。同図において、本実
施例におけるピンホール検査装置は、後述する帯電ブラ
シ１２とドラム導電チャック１７との間に高電圧を印加
するピンホール検査用電源１１と、後述する感光体ドラ
ム１４の感光層の表面に高電圧を印加する、導電性に優
れているカーボンを使用した複数の帯電ブラシ１２と、
感光体ドラム１４を回転させるモータ１３と、感光体ド
ラム１４と、後述するドラムチャック１６とドラム導電
チャック１７とモータ１３を支持する固定台１５と、感
光体ドラム１４を固定して未塗工部１４−ａ，１４−ｂ
を後述する絶縁性マスク２０で覆う絶縁性のドラムチャ
ック１６と、感光体ドラム１４を固定して感光体の基体
と電気的に導通させ未塗工部１４−ａ，１４−ｂを絶縁
性マスク２０で覆うドラム導電チャック１７と、感光体
ドラム１４を支えるアース板付きのドラムフランジ１８
と、感光体ドラム１４を挟んで該ドラムフランジ１８と
対向するアース板なしのドラムフランジ１９と、絶縁性
マスク２０（図中斜線で示す）とを含んで構成されてい
る。
する。図１は本発明の一実施例に係るピンホール検査装
置の概略構成を示す断面図である。同図において、本実
施例におけるピンホール検査装置は、後述する帯電ブラ
シ１２とドラム導電チャック１７との間に高電圧を印加
するピンホール検査用電源１１と、後述する感光体ドラ
ム１４の感光層の表面に高電圧を印加する、導電性に優
れているカーボンを使用した複数の帯電ブラシ１２と、
感光体ドラム１４を回転させるモータ１３と、感光体ド
ラム１４と、後述するドラムチャック１６とドラム導電
チャック１７とモータ１３を支持する固定台１５と、感
光体ドラム１４を固定して未塗工部１４−ａ，１４−ｂ
を後述する絶縁性マスク２０で覆う絶縁性のドラムチャ
ック１６と、感光体ドラム１４を固定して感光体の基体
と電気的に導通させ未塗工部１４−ａ，１４−ｂを絶縁
性マスク２０で覆うドラム導電チャック１７と、感光体
ドラム１４を支えるアース板付きのドラムフランジ１８
と、感光体ドラム１４を挟んで該ドラムフランジ１８と
対向するアース板なしのドラムフランジ１９と、絶縁性
マスク２０（図中斜線で示す）とを含んで構成されてい
る。
【００１１】次に、本実施例におけるピンホール検査の
動作を説明すると、先ず、感光体ドラム１４を、ドラム
チャック１６とドラム導通チャック１７によりチャック
し固定する。複数の帯電ブラシ１２が感光体ドラム１４
に接触するまで接近し、ピンホール検査用電源１１によ
りドラム導電チャック１７と帯電ブラシ１２との間に高
電圧を印加する。高電圧を印加したまま、モータ１３が
回転して感光体ドラム１４を回転させ感光体ドラム１４
の全周を検査する。この時、ドラム導通チャック１７と
帯電ブラシ１２の間に流れる電流を図示していない測定
器により測定して所定の電流値以上の電流が流れた場合
に、ピンホールが存在する欠陥感光体ドラムであると判
定する。検査終了後、ピンホール検査用電源１１の操作
によりドラム導電チャック１７と帯電ブラシ１２との間
の高電圧を０Ｖに落し、帯電ブラシ１２が元の位置まで
離れ、検査終了となる。
動作を説明すると、先ず、感光体ドラム１４を、ドラム
チャック１６とドラム導通チャック１７によりチャック
し固定する。複数の帯電ブラシ１２が感光体ドラム１４
に接触するまで接近し、ピンホール検査用電源１１によ
りドラム導電チャック１７と帯電ブラシ１２との間に高
電圧を印加する。高電圧を印加したまま、モータ１３が
回転して感光体ドラム１４を回転させ感光体ドラム１４
の全周を検査する。この時、ドラム導通チャック１７と
帯電ブラシ１２の間に流れる電流を図示していない測定
器により測定して所定の電流値以上の電流が流れた場合
に、ピンホールが存在する欠陥感光体ドラムであると判
定する。検査終了後、ピンホール検査用電源１１の操作
によりドラム導電チャック１７と帯電ブラシ１２との間
の高電圧を０Ｖに落し、帯電ブラシ１２が元の位置まで
離れ、検査終了となる。
【００１２】以下に具体的な一例を示す。検査に使用し
たものは、１０００本のリコー社製ｉｍａｇｉｏＭＦ２
００用感光体ドラムに対して印加電圧５００Ｖで検査
し、その製品を印加電圧−５００Ｖ刻みで−４ｋＶまで
検査したが、感光体に悪影響を及ぼすことなく検査で
き、誤検知もなかった。また、全てのドラムでドラム端
部の未塗工部と導電ブラシの放電による誤検知もなかっ
た。更に、この際帯電ブラシを感光体ドラムの周りに３
個設けて検査した時間は帯電ブラシ１個設けた検査時間
より約半分の検査時間で済んだ。
たものは、１０００本のリコー社製ｉｍａｇｉｏＭＦ２
００用感光体ドラムに対して印加電圧５００Ｖで検査
し、その製品を印加電圧−５００Ｖ刻みで−４ｋＶまで
検査したが、感光体に悪影響を及ぼすことなく検査で
き、誤検知もなかった。また、全てのドラムでドラム端
部の未塗工部と導電ブラシの放電による誤検知もなかっ
た。更に、この際帯電ブラシを感光体ドラムの周りに３
個設けて検査した時間は帯電ブラシ１個設けた検査時間
より約半分の検査時間で済んだ。
【００１３】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、特許請求の範囲内に記載であれば多種の変
形や置換可能であることは言うまでもない。
のではなく、特許請求の範囲内に記載であれば多種の変
形や置換可能であることは言うまでもない。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
感光体ドラムと、導電性部材で形成される帯電ブラシ
と、感光体ドラムを駆動させる駆動手段と、感光体ドラ
ムに帯電ブラシを介して高電圧を印加するために帯電ブ
ラシに高電圧を供給する高電圧電源と、感光体ドラムの
端部に設けた未塗工部を覆う絶縁性マスクを有するドラ
ムチャックと、感光体ドラムと帯電ブラシとの間に流れ
る電流を測定する測定手段とを具備することに特徴があ
る。よって、未塗工部を絶縁物で覆うことによって誤検
査することのないピンホール検査を行うことができる。
感光体ドラムと、導電性部材で形成される帯電ブラシ
と、感光体ドラムを駆動させる駆動手段と、感光体ドラ
ムに帯電ブラシを介して高電圧を印加するために帯電ブ
ラシに高電圧を供給する高電圧電源と、感光体ドラムの
端部に設けた未塗工部を覆う絶縁性マスクを有するドラ
ムチャックと、感光体ドラムと帯電ブラシとの間に流れ
る電流を測定する測定手段とを具備することに特徴があ
る。よって、未塗工部を絶縁物で覆うことによって誤検
査することのないピンホール検査を行うことができる。
【００１５】また、感光ドラムに帯電ブラシを介して印
加される高電圧を−５００Ｖ〜−４ｋＶとすることや帯
電ブラシをカーボンで作成したことにより、感光体に悪
影響を及ぼさず正確にピンホールを検査できる。
加される高電圧を−５００Ｖ〜−４ｋＶとすることや帯
電ブラシをカーボンで作成したことにより、感光体に悪
影響を及ぼさず正確にピンホールを検査できる。
【００１６】更に、帯電ブラシを複数設けたことによ
り、検査時間を短縮できる。
り、検査時間を短縮できる。
【図１】本発明の一実施例に係るピンホール検査装置の
概略構成を示す断面図である。
概略構成を示す断面図である。
１１ ピンホール検査用電源 １２ 帯電ブラシ １３ モータ １４ 感光体ドラム １５ 固定台 １６ ドラムチャック １７ ドラム導通チャック １８，１９ ドラムフランジ ２０ 絶縁性マスク
フロントページの続き (72)発明者 斉藤 健一 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 Ｆターム(参考） 2G060 AA09 AE02 AF02 AF07 AG11 EB04 EB07 HE01 HE05 KA12 2H034 FA07
Claims (4)
- 【請求項１】 感光体ドラムと、導電性部材で形成され
る帯電ブラシと、前記感光体ドラムを駆動させる駆動手
段と、前記感光体ドラムに前記帯電ブラシを介して高電
圧を印加するために前記帯電ブラシに高電圧を供給する
高電圧電源と、前記感光体ドラムの端部に設けた未塗工
部を覆う絶縁性マスクを有するドラムチャックと、前記
感光体ドラムと前記帯電ブラシとの間に流れる電流を測
定する測定手段とを具備することを特徴とするピンホー
ル検査装置。 - 【請求項２】 前記感光ドラムに前記帯電ブラシを介し
て印加される高電圧を−５００Ｖ〜−４ｋＶとする請求
項１記載のピンホール検査装置。 - 【請求項３】 前記帯電ブラシを複数設けた請求項１記
載のピンホール検査装置。 - 【請求項４】 前記帯電ブラシをカーボンで作成した請
求項１又は３記載のピンホール検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10322994A JP2000146920A (ja) | 1998-11-13 | 1998-11-13 | ピンホール検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10322994A JP2000146920A (ja) | 1998-11-13 | 1998-11-13 | ピンホール検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000146920A true JP2000146920A (ja) | 2000-05-26 |
Family
ID=18149966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10322994A Pending JP2000146920A (ja) | 1998-11-13 | 1998-11-13 | ピンホール検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000146920A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1176415A1 (en) * | 2000-07-27 | 2002-01-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of pre-inspecting an article and device therefor |
| JP2007285965A (ja) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Kyocera Mita Corp | 導通検査方法及び導通検査装置 |
| US20120008965A1 (en) * | 2010-07-09 | 2012-01-12 | Xerox Corporation | Current monitoring to defect photoreceptor scratches |
| CN109521056A (zh) * | 2018-12-13 | 2019-03-26 | 上海名邦橡胶制品有限公司 | 一种用于避孕套电子检查机的变轨检测装置 |
-
1998
- 1998-11-13 JP JP10322994A patent/JP2000146920A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1176415A1 (en) * | 2000-07-27 | 2002-01-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of pre-inspecting an article and device therefor |
| US6674523B2 (en) | 2000-07-27 | 2004-01-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Pre-viewing inspection method for article and device therefor |
| JP2007285965A (ja) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Kyocera Mita Corp | 導通検査方法及び導通検査装置 |
| US20120008965A1 (en) * | 2010-07-09 | 2012-01-12 | Xerox Corporation | Current monitoring to defect photoreceptor scratches |
| US8331809B2 (en) * | 2010-07-09 | 2012-12-11 | Xerox Corporation | Current monitoring to detect photoreceptor scratches |
| CN109521056A (zh) * | 2018-12-13 | 2019-03-26 | 上海名邦橡胶制品有限公司 | 一种用于避孕套电子检查机的变轨检测装置 |
| CN109521056B (zh) * | 2018-12-13 | 2023-11-21 | 上海名流卫生用品股份有限公司 | 一种用于避孕套电子检查机的变轨检测装置 |
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