JPH0732954U - 光素子用プローブ及びこれを用いた光素子用プローブカード - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 発光素子の発光量の検出において、正確な発
光量が検出できるようにする。 【構成】 プローブカードに取り付けた場合、リングか
らプリント基板の開口側に延びている部分を光が反射し
ないように黒色にした。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、ＬＥＤやＣＣＤ等の光素子の検査に用いられる光素子用プローブと 、これを用いた光素子用プローブカードとに関する。

【０００２】

【従来の技術】

以下、光素子の例として、ＬＥＤ等の受光素子を挙げる。 ＬＥＤ等の発光素子の検査に用いられる光素子用プローブカードは、プリント 基板と、このプリント基板にリングを介して取り付けられた複数本のプローブと を有している。そして、プローブを光素子の電極に接触させて導通させ、リング 及びプリント基板の開口の上部にある発光量検出機器で発光素子の発光量を検出 するようにしている。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上述した従来の発光素子の検査に用いられるプローブカードは 以下のような問題点がある。 図３に示すように、プローブ７００に通常の半導体集積回路の検査に用いるも のを使用するので、発光素子６１０からの光が発光素子６１０の電極６２０に接 触しているプローブ７００に到達し、プローブ７００において乱反射させられた 結果、発光量検出機器５００で正確な発光量が検出できないのである。このため 、発光素子６１０の発光試験において、良品・不良品の判別に問題が生じていた 。

【０００４】 本考案は上記事情に鑑みて創案されたもので、発光量検出機器において正確な 発光量が検出できる光素子用プローブ及びこれを用いた光素子用プローブカード を提供することを目的としている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】 本考案に係る光素子用プローブは、少なくとも検査対象である光素子からの光 又は光素子への光が到達する部分を光が反射しないように構成している。

【０００６】 また、本考案に係る光素子用プローブを用いた光素子用プローブカードは、略 中央部に開口が開設されたプリント基板と、このプリント基板の開口に対応させ て取り付けられたリングと、このリングに取り付けられた光素子用プローブと具 備しており、前記光素子用プローブは少なくとも検査対象である光素子からの光 又は光素子への光が到達する部分を光が反射しないように構成している。

【０００７】

【実施例】

図１は本考案に係る光素子用プローブを用いた光素子用プローブカードの概略 的断面図、図２は本発明に係る光素子用プローブの側面図である。なお、従来の ものと略同一の部品等には同一の符号を付して説明を行う。

【０００８】 なお、以下の説明では光素子の例としてＬＥＤ等の発光素子を挙げて説明する 。本実施例に係る光素子用プローブ１００は、タングステン等から形成されてお り、その先端である接触部１１０は折曲形成されている。この接触部１１０から 中腹部にかけては、光を反射しないように黒色系無光沢の金属メッキが施されて いる。

【０００９】 この接触部１１０から中腹部にかけて黒色系無光沢の金属メッキを施す方法と しては、黒色系無光沢の金属メッキを施すべき部分の表面をホーニイグ等によ って十分に荒らす、黒色ニッケル、黒色クロム等の黒色系メッキ液を使用して 、ホーニングされた部分をメッキする、との２つの工程を経るものがある。

【００１０】 また、ホーニングの後にリン酸系等の酸性液によって酸化被膜を形成して黒色 化することも可能である。

【００１１】 ここで、光素子用プローブ１００の先端である接触部１１０は、必ず導電性を 確保していなければならない。このため、黒色系無光沢の金属メッキ等を施した 後に接触部１１０の先端、すなわち発光素子６１０の電極部６２０に接触する部 分を研磨する必要がある。

【００１２】 黒色系無光沢の金属メッキを施す部分は、発光素子６１０からの光が到達する 場所であるが、具体的には光素子用プローブ１００を光素子用プローブカードに 取り付けた場合、リング３００からプリント基板２００の開口２１０側に延びて いる部分である（図１参照）。

【００１３】 上述したような光素子用プローブ１００を用いた光素子用プローブカードにつ いて説明する。 この光素子用プローブカードは、略中央部に開口２１０が開設されたプリント 基板２００と、このプリント基板２００の裏面側に開口２１０に対応させて取り 付けられたリング３００と、このリング３００にエポキシ系樹脂４００等で取り 付けられた複数本の光素子用プローブ１００とを有している。

【００１４】 一方、検査対象であるＬＥＤ等の発光素子６１０は、基板６００に実装され、 発光素子６１０の電極６２０は発光素子６１０の近傍に形成されているものとす る。

【００１５】 前記光素子用プローブ１００は、その先端の接触部１１０が発光素子６１０の 電極６２０に接触するような位置にセットされている。

【００１６】 接触部１１０を電極６２０に接触させて、発光素子６１０を導通させて発光素 子６１０を発光させる。光素子用プローブ１００の先端から中腹部にかけては黒 色系無光沢の金属メッキが施されているので、発光素子６１０からの光は反射さ れない。従って、この部分に照射された光が発光量検出機器５００に到達するこ とはなく、発光量の正確な検査を行うことが可能となる。

【００１７】 また、リング３００の内面や開口２１０の内面をも光が反射しないように構成 しておけば、より高い精度で発光量の検査を行うことができる。

【００１８】 なお、上述した実施例では、光素子としてＬＥＤ等の発光素子を挙げたが、Ｃ ＣＤ等の受光素子にも応用することができる。この場合には、発光量検出機器５ ００の代わりに発光装置を用い、ＣＣＤ等の受光素子からの信号を電極を介して 光素子用プローブ１００が受けることになる。

【００１９】

【考案の効果】

本考案に係る発光素子用プローブは、少なくとも検査対象である光素子からの 光又は光素子への光が到達する部分を光が反射しないように、すなわち光が到達 する部分を黒色系無光沢に構成してあるので、光素子からの光の反射又は冷えた 素子への光の反射に起因する良品・不良品の判別の問題は生じない。

【００２０】 また、光素子の電極に接触する部分は導電性を確保しているので、光素子の検 査には支障がない。

【００２１】 さらに、光が到達する部分を、この光素子用プローブをプローブカードに取り 付けた場合、リングからプリント基板の開口側に延びている部分とし、この部分 を光が反射しないように構成しておくと、光素子からの光又は光素子への光の反 射に起因する良品・不良品の判別の問題は生じない。

【００２２】 このような光素子用プローブを用いた光素子用プローブカードは、光素子の検 査を正確に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係る光素子用プローブを用いた光素子
用プローブカードの概略的断面図である。

【図２】本発明に係る光素子用プローブの側面図であ
る。

【図３】従来のプローブの問題点を示す概略的側面図で
ある。

【符号の説明】

１００ 光素子用プローブ ２００ プリント基板 ２１０ 開口 ３００ リング ６１０ 発光素子

フロントページの続き (72)考案者 坂田 輝久 兵庫県尼崎市西長洲町２丁目５番13号 日 本電子材料株式会社内

Claims (5)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 少なくとも検査対象である光素子からの
   光又は光素子への光が到達する部分を光が反射しないよ
   うに構成したことを特徴とする光素子用プローブ。
2. 【請求項２】 前記光が到達する部分を光が反射しない
   ように黒色系無光沢にしたことを特徴とする請求項１記
   載の光素子用プローブ。
3. 【請求項３】 光素子の電極に接触する部分は導電性を
   確保していることを特徴とする請求項１又は２記載の光
   素子用プローブ。
4. 【請求項４】 前記光が到達する部分とは、この光素子
   用プローブをプローブカードに取り付けた場合、リング
   からプリント基板の開口側に延びている部分であること
   を特徴とする請求項１又は２記載の光素子用プローブ。
5. 【請求項５】 略中央部に開口が開設されたプリント基
   板と、このプリント基板の開口に対応させて取り付けら
   れたリングと、このリングに取り付けられた光素子用プ
   ローブと具備しており、前記光素子用プローブは少なく
   とも検査対象である光素子からの光又は光素子への光が
   到達する部分を光が反射しないように構成したことを特
   徴とする光素子用プローブカード。