JPH0743253B2 - 電子部品のリ−ド曲り検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子部品のリード曲り検出装置に係り、特にプ
リント基板に搭載する面付けタイプ電子部品のリード曲
りの検出に好適な電子部品のリード曲り検出装置に関す
る。

〔従来の技術〕

リード曲り検査対象の電子部品には、例えばプリント回
路板に搭載されるPLCC（プラスチックリーデッド チッ
プキャリア）がある。PLCCは、そのリードがＪ形をして
おり、部品実装密度を高くすることが可能であるが、は
んだ付後にそのはんだ接続部が部品本体の下に隠れるた
め、目視によるはんだ付チェックができないという欠点
を持っている。そのため部品単体でのリード浮き、リー
ドズレと言った不良を検出し、不良部品の排除が必要と
なってくる。

第５図に従来の部品のリード曲り検出装置の構成例を示
す。第５図において、被検査部品１が把持部２の図示さ
れない機構により把持され、シリンダ３により定盤26の
下方に移動させられ、定盤26の下方には、前記部品のリ
ードに対応してグラスファイバーに接続された受光器2
7、前記リードをはさんで対応した場所にグラスファイ
バーにより導かれた投光器28がそれぞれ配置されてい
る。したがって、各リードに対応した受光器27への入力
光量は、リードの曲り、浮き量により変化する。この光
量はA/D変換器29でAD変換された後、予め準備した良品
サンプル（試験サンプルと同一条件でセットされてい
る）より得られた光量と判定部30において比較、判定さ
れ、リードの曲り量が検出される。しかし、この検出装
置は、多種類の電子部品の臨機応変に対応して検査する
ことを配慮したものではなかった。

なお、この種の装置として関連するものに例えば、マシ
ンインテリジェンス社のMI−8500A PLCC検査システム
カタログがある。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記従来技術は、部品形状が変る毎に検査系の全て及び
良品サンプルを取替える必要があり、多品種の電子部品
の検査という点には問題があった。

本発明の目的は、多種類の部品に対応でき、しかも不良
の種別も検査可能である、電子部品のリード曲り検査装
置を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記目的は、電子部品を押付けて該電子部品のリード画
像を写出する光学プレートと、予め部品形状毎の、必ず
リードが有るべき領域とリードが有ってはならない領域
の二つの領域から構成される標準リード画像を記憶した
記憶手段と、前記電子部品のリード画像と標準リード画
像を比較して、リードの正常・不良及び不良の種別を判
定する比較判定手段とを設けることにより達成される。

〔作用〕

電子部品を半透明の光学プレートに押付けることによ
り、該電子部品の各リードのシルエット画像が写し出さ
れる。このシルエット画像を例えば２値化画像信号に変
換する。一方、部品形状毎の、必ずリードが有るべき領
域とリードが有ってはならない領域の二つの領域から構
成される標準リード画像を同様に２値個画像信号として
予め記憶手段に記憶しておく。この記憶手段から該当２
値化画像信号を読み出し、これと電子部品の２値化画像
信号とを比較することにより、該電子部品の正常の他
に、不良の場合、リード浮きやリードズレなどの種別を
検出することができる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図〜第４図により説明す
る。

第１図において、被検査部品である例えばPLCC1は、部
品払出しステイック16より出た後、図示されない機構に
よる部品把持装置２により把持される。該把持装置２
は、シリンダ３により持ち上げられ、ガラスのようなプ
レート４に一定圧力で押り付けられる。

なお、シリンダ３はパルスモータまたはサーボモータに
置き換えることが可能である。

前記プレート４の下面（部品リードとの接触面）は、半
透明膜17により被われている。5,6は横方向から光を放
ち、半透明膜17上に部品リードのシルエット像を准るた
めの投光器である。該投光器は部品リードの四方より平
均的に各リードに光を照射する。

第２図に、プレート４と部品１の関係を示す。ここに示
した部品１のリード18は内側に押し付けられており、は
んだ付後リードの浮き不良を生しめるものである。

第３図は、プレート４の半透明膜17上に現われたリード
のシルエット像である。該シルエット像19は、カメラ７
により画像として取り込まれ、しかる後２値化回路８に
より２値化画像とされ、マッチング回路９に送られる。
該マッチング回路９では予め部品形状毎に有する辞書
（比較パターン）10を取り込み、該辞書と前記２値化画
像とを後述する比較方法により照合する。その結果部品
の良否判定を行い、レーン切換部12によりレーン13を動
作させ、良品排出スティック14または不良品排出スティ
ック15に部品を排出する。こうして得られた良品のみを
使用することにより、信頼性の高いはんだ付接続が可能
となる。

第４図により、２値化された部品リードのシルエット像
と辞書とのマッチングを行う方式について述べる。２値
化された部品リードのシルエット画像20のうち、19は正
常なリード、21はリード曲りを生じた部品リードのシル
エット画像である。該シルエット画像に対応する辞書10
のうち、点線22は正常なリードが位置すべき領域であ
る。そこで領域22よりも小さな領域23を取り、正常なは
んだ付が保障される公差内にある部品リードが必ず存在
する領域とする。従って、該領域23は全てリード有りの
状態とならなければいけない。また点線22の外側にリー
ドがあってはならない領域24を設ける。正常な部品リー
ドならば、この領域24内に入ることは無い。２値化され
たシルエット像20のうち、リードズレ21およびリード浮
き25の双方とも前述の条件を満足することができず、不
良として判定する。さらに、不良の場合、領域24とのみ
マッチングのとれたものはリードズレ、領域23と24のい
ずれにもマッチングのとれないものは完全リード浮き、
また、領域23と24の両方にマッチングのとれたものは、
シヨートあるいは異物付着と判定できる。

なお、領域23および領域24を点線22に近づけることによ
り、判定基準が厳しく、また逆に遠ざけることにより、
より甘い判定基準となる。

本実施例によれば、部品形状毎の検出基準は、パターン
マッチングするための辞書のみであり、簡単に部品形状
の違いに対応することができる。

また、判定基準を辞書中のパターン領域の大小で設定で
きるため、光量というアナログ量によって判定する従来
技術に比べ高精度な判定が可能である。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は電子部品のリード曲りを
例えば２値化されたシルエット画像信号としてとらえ、
これを辞書として予め保持しておいた部品形状毎の、必
ずリードが有るべき領域とリードが有ってはならない領
域の二つの領域から構成される標準画像信号と比較し
て、該二つの領域とのマッチングの有無を検出するもの
であり、特に、辞書としての標準画像信号は電気的に任
意に設定できることから、電子部品の種類、形状が変っ
ても容易にこれに対応することができ、さらに不良モー
ド（リード浮き、リードズレ、シヨート・異物付着な
ど）の種別が検出でき、検出精度の向上も可能になる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の側面図、第２図は第１図の
うち部品とプレートの関係を示す斜視図、第３図は第２
図の部品とプレートを接触させた場合の斜視図、第４図
は部品リードの画像と辞書との関係を示す平面図、第５
図は従来技術による部品リード曲り検出方法を説明する
図である。 １……部品、２……部品把持装置、 ３……シリンダ、４……プレート、 5,6……投光器、７……カメラ、 ８……２値化回路、９……マッチング回路、 10……辞書、11……良否判定部、 12……レーン切換部、13……レーン、 14……良品排出スティック、 15……不良品排出スティック、 16……部品払出しスティック、 17……半透明膜。

フロントページの続き (72)発明者 渡辺 芳久 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立製作所神奈川工場内 (72)発明者 辻 喜寿 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立製作所神奈川工場内 (56)参考文献 特開 昭54−150088（ＪＰ，Ａ)

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】プリント回路板に面付けする電子部品のリ
   ード曲り検出装置において、電子部品を押付けて該電子
   部品のリード画像を写出する光学プレートと、予め部品
   形状毎の、必ずリードが有るべき第１領域とリードが有
   ってはならない第２領域の二つの領域から構成される標
   準リード画像を記憶した記憶手段と、前記電子部品のリ
   ード画像と前記標準リード画像を比較し、前記電子部品
   のリード画像が前記第１領域、前記第２領域の一方ある
   いは両方に存在する、存在しないの組合せに応じて、リ
   ードの正常・不良及び不良の種別を判定する比較判定手
   段とを有することを特徴とする電子部品のリード曲り検
   出装置。