JPH0425043A - Ｉｃリード曲り検査装置 - Google Patents
Ｉｃリード曲り検査装置Info
- Publication number
- JPH0425043A JPH0425043A JP12618090A JP12618090A JPH0425043A JP H0425043 A JPH0425043 A JP H0425043A JP 12618090 A JP12618090 A JP 12618090A JP 12618090 A JP12618090 A JP 12618090A JP H0425043 A JPH0425043 A JP H0425043A
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- 238000005452 bending Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 18
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 7
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ＩＣのリードの曲りを検査するり−ド曲り検
査装置に関する。
査装置に関する。
第３図は従来の一例を示すＩＣリード曲り検査装置の斜
視図である。従来、この種のＩＣリード曲り検査装置は
、第３図に示すように、ＩＣＩの外郭体より突出するり
−ド２の先端に光を照射する照明具７と、照射された光
か先端より反射する光を捕捉して、リードの先端像を撮
像するカメラ６と、カメラ６よりの撮像信号パターンと
記憶部にある基準パターンと比較し、ＩＣリードの曲り
の有無を判定するデータ処理ユニット５とで構成されて
いた。
視図である。従来、この種のＩＣリード曲り検査装置は
、第３図に示すように、ＩＣＩの外郭体より突出するり
−ド２の先端に光を照射する照明具７と、照射された光
か先端より反射する光を捕捉して、リードの先端像を撮
像するカメラ６と、カメラ６よりの撮像信号パターンと
記憶部にある基準パターンと比較し、ＩＣリードの曲り
の有無を判定するデータ処理ユニット５とで構成されて
いた。
また、このＩＣリード曲り検査装置は、コンベア等によ
り髄時ＩＣＩが送られ、照明具７とカメラ６の位置に停
止し、カメラ６でＩＣ１のリード２の先端を撮像し、リ
ードの曲りがあるか否かを連続自動で検査していた。
り髄時ＩＣＩが送られ、照明具７とカメラ６の位置に停
止し、カメラ６でＩＣ１のリード２の先端を撮像し、リ
ードの曲りがあるか否かを連続自動で検査していた。
上述した従来のＩＣリード曲り検査装置は、リード先端
を照明により光らせるため、リ−１・の先端状態、例え
ば、ごみの付着とが、先端の輝度の違い、あるいはハレ
ーション等により、撮像されるリードの先端の映像に大
小が生し、曲りによるものか否かの判定か難しくなると
いう欠点がある。また、この対策として、先端の輪郭が
はつきりさせるために、カメラの倍率を上げると、視野
が狭くなり、一つのＩＣを検査するのに数度に分けて行
なわなければならないという欠点がある。
を照明により光らせるため、リ−１・の先端状態、例え
ば、ごみの付着とが、先端の輝度の違い、あるいはハレ
ーション等により、撮像されるリードの先端の映像に大
小が生し、曲りによるものか否かの判定か難しくなると
いう欠点がある。また、この対策として、先端の輪郭が
はつきりさせるために、カメラの倍率を上げると、視野
が狭くなり、一つのＩＣを検査するのに数度に分けて行
なわなければならないという欠点がある。
本発明の目的は、かかる欠点を解消し、より確実にり−
１・の曲りを判定し得るＩＣリード曲り検査装置を提供
することにある。
１・の曲りを判定し得るＩＣリード曲り検査装置を提供
することにある。
本発明のリート曲り検査装置は、ＩＣの外郭体より突出
する多数のリードに対応する位置に前記リードが挿入さ
れる挿入孔の多数個を有するＩＣリードゲージと、この
ＩＣリードゲージに挿入されたリードの先端を検出する
光検出手段とを備え構成される。
する多数のリードに対応する位置に前記リードが挿入さ
れる挿入孔の多数個を有するＩＣリードゲージと、この
ＩＣリードゲージに挿入されたリードの先端を検出する
光検出手段とを備え構成される。
次に、本発明について図面を参照して説明する。第１図
及び第２図は本発明の一実施例を示すＩＣリード曲り検
査装置の斜視図である。このＩＣリード曲り検査装置は
同図に示すように、ＩＣＩの多数のリード２に対応する
位置にリード２が挿入される挿入孔を多数個もつ板状の
ＩＣリードゲージ３と、このＩＣリードケージ３に挿入
されたり−１〜２の先端を検知する先端部検出器４とを
設けたことである。
及び第２図は本発明の一実施例を示すＩＣリード曲り検
査装置の斜視図である。このＩＣリード曲り検査装置は
同図に示すように、ＩＣＩの多数のリード２に対応する
位置にリード２が挿入される挿入孔を多数個もつ板状の
ＩＣリードゲージ３と、このＩＣリードケージ３に挿入
されたり−１〜２の先端を検知する先端部検出器４とを
設けたことである。
次に、このＩＣリード曲り検査装置の動作を説明する。
ます、コンベア等によりＩＣ１が搬送され、ＩＣリード
ゲージ３の下に位置決めされる。
ゲージ３の下に位置決めされる。
次に、ＩＣリードゲージ３が所定の圧力でＩＣ１を押し
、リード２が挿入孔に押し込むようにする。このとき、
所定の圧力でリード２が挿入孔に入らなければ、このＩ
Ｃは除外される。もし、ＩＣ１−のリード２が挿入孔に
挿入されれば、発光素子と受光素子とでなる先端部検出
器４が矢印の方向に走行し、挿入されたリード２の先端
部を検出する。次に、先端部検出器４により検知された
光信号はデータ処理ユニット５ａに送られる。次に、デ
ータ処理ユニット５ａは所定の信号があるか否かて挿入
されたリード２の有無を判定する。このＩＣリート曲り
検査装置によって、多少の曲りがあるリードでも矯正さ
れるという利点かある。
、リード２が挿入孔に押し込むようにする。このとき、
所定の圧力でリード２が挿入孔に入らなければ、このＩ
Ｃは除外される。もし、ＩＣ１−のリード２が挿入孔に
挿入されれば、発光素子と受光素子とでなる先端部検出
器４が矢印の方向に走行し、挿入されたリード２の先端
部を検出する。次に、先端部検出器４により検知された
光信号はデータ処理ユニット５ａに送られる。次に、デ
ータ処理ユニット５ａは所定の信号があるか否かて挿入
されたリード２の有無を判定する。このＩＣリート曲り
検査装置によって、多少の曲りがあるリードでも矯正さ
れるという利点かある。
一方、第１図に示したＩＣはピングリッド・パッケージ
型のＩＣであるが、第２図に示すように、デュアルイン
ライン型ＩＣにも、ＩＣリードゲージ３ａの挿入孔１の
形状及び数を変更すれば、このＩＣリート曲り検査装置
は適用出来る。
型のＩＣであるが、第２図に示すように、デュアルイン
ライン型ＩＣにも、ＩＣリードゲージ３ａの挿入孔１の
形状及び数を変更すれば、このＩＣリート曲り検査装置
は適用出来る。
以」二説明したように本発明は、機械的にリード曲りを
検査するＩＣリードケージと、このＩＣリードゲージの
挿入孔に挿入されたリードの有無を判定する検出手段を
設けることによって、より確実なリードの曲りを検査出
来るＩＣリード曲り検査装置か得られるという効果があ
る。
検査するＩＣリードケージと、このＩＣリードゲージの
挿入孔に挿入されたリードの有無を判定する検出手段を
設けることによって、より確実なリードの曲りを検査出
来るＩＣリード曲り検査装置か得られるという効果があ
る。
第１図及び第２図は本発明の一実施例を示すＩＣリート
曲り検査装置の斜視図、第３図は従来の一例を示ずｒｃ
リード曲り検査装置の斜視図である。 １、ｌａ・・・ＩＣ１２，２ａ・・・リード、３，３ａ
・・・ＩＣリードゲージ、４，４ａ・・・先端部検出器
、５．５ａ・・・データ処理ユニット、６・・・カメ−
ｙ、７・・・照明具。 代理人 弁理士 内 原 晋
曲り検査装置の斜視図、第３図は従来の一例を示ずｒｃ
リード曲り検査装置の斜視図である。 １、ｌａ・・・ＩＣ１２，２ａ・・・リード、３，３ａ
・・・ＩＣリードゲージ、４，４ａ・・・先端部検出器
、５．５ａ・・・データ処理ユニット、６・・・カメ−
ｙ、７・・・照明具。 代理人 弁理士 内 原 晋
Claims (1)
- ＩＣの外郭体より突出する多数のリードに対応する位
置に前記リードが挿入される挿入孔の多数個を有するＩ
Ｃリードゲージと、このＩＣリードゲージに挿入された
リードの先端を検出する光検出手段とを備えたことを特
徴とするＩＣリード曲り検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12618090A JPH0425043A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Ｉｃリード曲り検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12618090A JPH0425043A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Ｉｃリード曲り検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0425043A true JPH0425043A (ja) | 1992-01-28 |
Family
ID=14928669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12618090A Pending JPH0425043A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Ｉｃリード曲り検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0425043A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100505612B1 (ko) * | 1998-07-16 | 2005-09-26 | 삼성전자주식회사 | 핀 그리드 어레이 패키지용 핸들러의 프리 센터링 장치 및 이를이용한 프리센터링 방법 |
| JP2007141965A (ja) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Sharp Corp | 外観検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6139557A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-25 | Hitachi Ltd | 半導体デバイスのリ−ドピンの曲り検出装置 |
| JPH0223759B2 (ja) * | 1985-12-28 | 1990-05-25 | Koyo Seiko Co |
-
1990
- 1990-05-16 JP JP12618090A patent/JPH0425043A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6139557A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-25 | Hitachi Ltd | 半導体デバイスのリ−ドピンの曲り検出装置 |
| JPH0223759B2 (ja) * | 1985-12-28 | 1990-05-25 | Koyo Seiko Co |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100505612B1 (ko) * | 1998-07-16 | 2005-09-26 | 삼성전자주식회사 | 핀 그리드 어레이 패키지용 핸들러의 프리 센터링 장치 및 이를이용한 프리센터링 방법 |
| JP2007141965A (ja) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Sharp Corp | 外観検査装置 |
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