JPS61120907A - プリント基板のホ−ル検査方法 - Google Patents
プリント基板のホ−ル検査方法Info
- Publication number
- JPS61120907A JPS61120907A JP24397184A JP24397184A JPS61120907A JP S61120907 A JPS61120907 A JP S61120907A JP 24397184 A JP24397184 A JP 24397184A JP 24397184 A JP24397184 A JP 24397184A JP S61120907 A JPS61120907 A JP S61120907A
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- Japan
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- circuit board
- printed circuit
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- holes
- printed
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明はプリント基板のホールの位置ずれや径の間違い
、またはホールの過不足等を自動的に検査し得るプリン
ト基板のホール検査方法に関する。
、またはホールの過不足等を自動的に検査し得るプリン
ト基板のホール検査方法に関する。
［発明の技術的背景Ｊ
プリント基板の製造に際しては、回路素子実装用のホー
ルが適正な位置および寸法で穿設されていることを確認
する必要がある。
ルが適正な位置および寸法で穿設されていることを確認
する必要がある。
従来から、このようなホールの位置ずれや数の過不足は
、ホールパターンと同じパターンを有するフィルムや予
め正しく穴あけされたシート等を重ね合ゼて目視により
検査されており、ホールの径については、各ホールに測
定棒を挿入して径を測定する孔径測定器により検査され
ている。
、ホールパターンと同じパターンを有するフィルムや予
め正しく穴あけされたシート等を重ね合ゼて目視により
検査されており、ホールの径については、各ホールに測
定棒を挿入して径を測定する孔径測定器により検査され
ている。
［背景技術の問題点］
しかしながらこのような従来の検査方法では、目視によ
る検査であるため検査ミスが発生し易く、また全数検査
には非常に時間がかかるという問題があった。
る検査であるため検査ミスが発生し易く、また全数検査
には非常に時間がかかるという問題があった。
さらに、上述した孔径測定器では、接触式であるためプ
リント基板に傷やごみがつきやすいという欠点があった
。
リント基板に傷やごみがつきやすいという欠点があった
。
［発明の目的］
本発明はこのような問題を解消するためなされたもので
、目視によらず自動でホールの検査を正確かつ迅速に行
なうことのできるプリント基板のホール検査方法を提供
することを目的とする。
、目視によらず自動でホールの検査を正確かつ迅速に行
なうことのできるプリント基板のホール検査方法を提供
することを目的とする。
［発明の概要］
本発明のプリント基板のホール検査方法は、搬送されて
くるプリント基板のホールパターンを撮像装置により検
出し、この検出パターンを画像情報として画像処理装置
へ入力するとともに、この入力された画像情報からホー
ルの位置および／または径を算出し、これと予め記憶さ
れているプリント基板のホールの位置および／または径
とを比較照合することにより、各プリント基板のホール
の良否を検査することを特徴としている。
くるプリント基板のホールパターンを撮像装置により検
出し、この検出パターンを画像情報として画像処理装置
へ入力するとともに、この入力された画像情報からホー
ルの位置および／または径を算出し、これと予め記憶さ
れているプリント基板のホールの位置および／または径
とを比較照合することにより、各プリント基板のホール
の良否を検査することを特徴としている。
［発明の実施例］
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図において、コンベア１上を搬送されてくるプリン
ト基板２は、コンベア１下方に配置した光源３によって
照射され、その上方に配置したＩＴＶカメラのような撮
像装置４によってプリント基板２の素子実装用のホール
パターンが撮影される。
ト基板２は、コンベア１下方に配置した光源３によって
照射され、その上方に配置したＩＴＶカメラのような撮
像装置４によってプリント基板２の素子実装用のホール
パターンが撮影される。
撮像装置によって撮影された素子実装用のパターンの画
像信号は画像処理装置５に向けて出力される。
像信号は画像処理装置５に向けて出力される。
この画像処理装置５は、第２図に例示するように、画像
情報入力部５１、記憶部５２、データ処理判断部５３、
表示情報出力部５４および判断結果出力部５５から構成
されており、画像情報入力部５１に入力された素子実装
用のパターンの画像信号は、そこでデジタル信号に変換
され、記憶部５２に記憶される。
情報入力部５１、記憶部５２、データ処理判断部５３、
表示情報出力部５４および判断結果出力部５５から構成
されており、画像情報入力部５１に入力された素子実装
用のパターンの画像信号は、そこでデジタル信号に変換
され、記憶部５２に記憶される。
記憶部５２の記憶情報はデータ処理判断部５３に導かれ
、そこでホールの位置データと径データに解析されると
ともに、そこに予め記憶されている正しいプリント基板
の位置データ情報と径データ情報と比較照合され、ホー
ルの位置ずれ、過不足、径間違いが検出される。この判
断結果は表示情報出力部５４を通して、第１図の表示装
＠６に表示されると共に、判断結果出力部５５を通して
工程管理用コンピュータ（図示せず）等へ向けて出力さ
れる。なお検査速度を上げるためホールの数はプリント
基板全数について検査し、位置や径については抜取り検
査とすることもできる。
、そこでホールの位置データと径データに解析されると
ともに、そこに予め記憶されている正しいプリント基板
の位置データ情報と径データ情報と比較照合され、ホー
ルの位置ずれ、過不足、径間違いが検出される。この判
断結果は表示情報出力部５４を通して、第１図の表示装
＠６に表示されると共に、判断結果出力部５５を通して
工程管理用コンピュータ（図示せず）等へ向けて出力さ
れる。なお検査速度を上げるためホールの数はプリント
基板全数について検査し、位置や径については抜取り検
査とすることもできる。
この実施例では、撮像装置４、画像処理装置５および表
示装置６はキャスター７によって移動自在とされた可搬
式ラック８に塔載されている。
示装置６はキャスター７によって移動自在とされた可搬
式ラック８に塔載されている。
なお以上の実施例では、コンベア１の下方に光源３を配
置し、コンベア１の上方に配置した撮像装置４によって
素子実装用のホールの透過光をキャッチし、検査するよ
うにした例であって、この場合、プリント基板２を搬送
するコンベア１は光源３からの光を通過し得る構成また
は素材とする必要があるが、このような構成を採用する
ことが困難な場合には、光源３を撮像装置４側に配置し
、素子実装用ホールからの反射光を入力して画像信号と
してもよい。
置し、コンベア１の上方に配置した撮像装置４によって
素子実装用のホールの透過光をキャッチし、検査するよ
うにした例であって、この場合、プリント基板２を搬送
するコンベア１は光源３からの光を通過し得る構成また
は素材とする必要があるが、このような構成を採用する
ことが困難な場合には、光源３を撮像装置４側に配置し
、素子実装用ホールからの反射光を入力して画像信号と
してもよい。
このように本発明はプリント基板の搬送中にホールのパ
ターンを光学的に読取り、画像処理装置に入力してその
画像情報を解析するので、ホールの位置ずれや径の間違
い、個数の過不足等を高速かつ正確に自動で検査するこ
とができる。
ターンを光学的に読取り、画像処理装置に入力してその
画像情報を解析するので、ホールの位置ずれや径の間違
い、個数の過不足等を高速かつ正確に自動で検査するこ
とができる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明方法によれば、人手によらず
全自動でプリント基板のホールを検査するので、ミスが
少なく検査を迅速に行うことができる。また、非接触で
検査を行なうことができるからプリント基板に傷やごみ
が付着するようなことがなくなる。
全自動でプリント基板のホールを検査するので、ミスが
少なく検査を迅速に行うことができる。また、非接触で
検査を行なうことができるからプリント基板に傷やごみ
が付着するようなことがなくなる。
第１図は本発明の実施例を示す正面図、第２図は本発明
において使用する画像処理装置の一実施例を示ずブロッ
ク図である。 １・・・・・・・・・・・・コンベア ２・・・・・・・・・・・・プリント基板３・・・・・
・・・・・・・光 源 ４・・・・・・・・・・・・撮像装置 ５・・・・・・・・・・・・画像処理装置６・・・・・
・・・・・・・表示装置 ７・・・・・・・・・・・・キャスター８・・・・・・
・・・・・・ラック ５１・・・・・・・・・・・・画像情報入力部５２・・
・・・・・・・・・・記憶部 ５３・・・・・・・・・・・・データ処理判断部５４・
・・・・・・・・・・・表示情報出力部５５・・・・・
・・・・・・・判断結果出力部代理人弁理士 須
山 佐 − 亮１図
において使用する画像処理装置の一実施例を示ずブロッ
ク図である。 １・・・・・・・・・・・・コンベア ２・・・・・・・・・・・・プリント基板３・・・・・
・・・・・・・光 源 ４・・・・・・・・・・・・撮像装置 ５・・・・・・・・・・・・画像処理装置６・・・・・
・・・・・・・表示装置 ７・・・・・・・・・・・・キャスター８・・・・・・
・・・・・・ラック ５１・・・・・・・・・・・・画像情報入力部５２・・
・・・・・・・・・・記憶部 ５３・・・・・・・・・・・・データ処理判断部５４・
・・・・・・・・・・・表示情報出力部５５・・・・・
・・・・・・・判断結果出力部代理人弁理士 須
山 佐 − 亮１図
Claims (3)
- （１）搬送されてくるプリント基板のホールパターンを
撮像装置により検出し、この検出パターンを画像情報と
して画像処理装置へ入力するとともに、この入力された
画像情報からホールの位置および／または径を算出し、
これと予め記憶されているプリント基板のホールの位置
および／または径とを比較照合することにより、各プリ
ント基板のホールの良否を検査することを特徴とするプ
リント基板のホール検査方法。 - （２）画像処理装置における比較照合が、撮像装置から
入力された画像信号をデジタル信号に変換して一旦メモ
リに記憶し、次にこのメモリから前記画像信号を読み出
すとともに、同一または別のメモリに予め記憶されてい
るプリント基板の位置および／または径についての情報
を読み出して比較照合することにより行なわれる特許請
求の範囲第１項記載のプリント基板のホール検査方法。 - （３）照合結果が表示装置に表示される特許請求の範囲
第１項または第２項記載のプリント基板のホール検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24397184A JPS61120907A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | プリント基板のホ−ル検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24397184A JPS61120907A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | プリント基板のホ−ル検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61120907A true JPS61120907A (ja) | 1986-06-09 |
Family
ID=17111771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24397184A Pending JPS61120907A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | プリント基板のホ−ル検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61120907A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH036409A (ja) * | 1989-06-02 | 1991-01-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | プリント基板の検査方法および装置 |
| WO2001013333A1 (fr) * | 1999-08-16 | 2001-02-22 | Ibiden Co., Ltd. | Dispositif de controle de motifs et procede de controle de motifs |
| US6804380B1 (en) * | 2000-05-18 | 2004-10-12 | Leica Geosystems Hds, Inc. | System and method for acquiring tie-point location information on a structure |
| EP2233974A3 (en) * | 2009-03-04 | 2011-07-13 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Apparatus and method of inspecting mask |
| JP4817159B1 (ja) * | 2010-12-27 | 2011-11-16 | 勝儀 川田 | 水田用水位調整桝及び水田の水位調整方法 |
| CN109625829A (zh) * | 2018-10-24 | 2019-04-16 | 安徽达胜电子有限公司 | 一种pcb板的自动上料及检测装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5821109A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-07 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン欠陥検査装置 |
-
1984
- 1984-11-19 JP JP24397184A patent/JPS61120907A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5821109A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-07 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン欠陥検査装置 |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH036409A (ja) * | 1989-06-02 | 1991-01-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | プリント基板の検査方法および装置 |
| WO2001013333A1 (fr) * | 1999-08-16 | 2001-02-22 | Ibiden Co., Ltd. | Dispositif de controle de motifs et procede de controle de motifs |
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| CN109625829A (zh) * | 2018-10-24 | 2019-04-16 | 安徽达胜电子有限公司 | 一种pcb板的自动上料及检测装置 |
| CN109625829B (zh) * | 2018-10-24 | 2020-11-10 | 安徽达胜电子有限公司 | 一种pcb板的自动上料及检测装置 |
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