JPS5876975A - 部品位置自動検査装置 - Google Patents
部品位置自動検査装置Info
- Publication number
- JPS5876975A JPS5876975A JP56173054A JP17305481A JPS5876975A JP S5876975 A JPS5876975 A JP S5876975A JP 56173054 A JP56173054 A JP 56173054A JP 17305481 A JP17305481 A JP 17305481A JP S5876975 A JPS5876975 A JP S5876975A
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- JP
- Japan
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- circuit
- circuit board
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- components
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- Pending
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Geometry (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は部品位置自動検査装置に関し、特に電子機器に
おいて広範囲に用いられる回路基板上の各種部品の位置
、すなわち方向、極性あるいは種類、有無等を自動的に
判定するようｋした、回路基板上の部品の位置検査に好
適な部品位置自動検査装置に関する。
おいて広範囲に用いられる回路基板上の各種部品の位置
、すなわち方向、極性あるいは種類、有無等を自動的に
判定するようｋした、回路基板上の部品の位置検査に好
適な部品位置自動検査装置に関する。
従来のこの種の部品位置検査装置としては、回路基板を
電気的接触手段によりチェックして部品の有無を検査す
るもの、あるいは部品が取付けられるべき位置に斜方向
からスリット光を投射し″ｒ、１回路基板上のスリット
パターンを部品形状により観測・分析することで部品の
有無を検査するものが知られているが、前者は検査の対
象となる回路基板上の部品の点数、ｍ類が多くなり、ま
た超小型化、高密度化されたものについては適用が因難
であり、後者は部品の有無の欠陥検査は可能であるが、
方向すなわち、極性取付不良１位置ずれ、。
電気的接触手段によりチェックして部品の有無を検査す
るもの、あるいは部品が取付けられるべき位置に斜方向
からスリット光を投射し″ｒ、１回路基板上のスリット
パターンを部品形状により観測・分析することで部品の
有無を検査するものが知られているが、前者は検査の対
象となる回路基板上の部品の点数、ｍ類が多くなり、ま
た超小型化、高密度化されたものについては適用が因難
であり、後者は部品の有無の欠陥検査は可能であるが、
方向すなわち、極性取付不良１位置ずれ、。
余分な取付部品の検出等の汎用性に乏しく、かう、部品
点数に応じて時間がかかるという欠点を有す本発明は上
記事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところ
は、従来の部品位置判定回路の上述の如き欠点を除去し
、応答速度が速く、汎用性があり、かつ、経済的な部品
の方向２位置、・有無１種別等の、検査を自動的に行う
ことの可能な装置を提供することにある。
点数に応じて時間がかかるという欠点を有す本発明は上
記事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところ
は、従来の部品位置判定回路の上述の如き欠点を除去し
、応答速度が速く、汎用性があり、かつ、経済的な部品
の方向２位置、・有無１種別等の、検査を自動的に行う
ことの可能な装置を提供することにある。
本発明の上記目的は、部品面上に該部品の品種。
形状あるいは極性等を示す識別マークを付した各種回路
部品を搭載した回路基板上の前記回路部品の位置を光学
的に検査する装置において、前記回路基板を照明する手
段と、照明される前記回路基板上の所定領域内の光学的
視野パターン全電気信号に蛮換するマトリクス状光電羨
換手段と、該光電変換手段からの電気信号を２値化する
２値化手段と、前記被検査回路基板上の回路部品の標準
配置パターンを供給する手段と、前記２値化手段から得
られた視野パターンと前記標準配置パターンとを比較・
判定する部品位置判定手段および前記被検査回路基板上
の回路部品搭載領域を逐次前記照明される視野位置に移
動させる手段を備えた部。
部品を搭載した回路基板上の前記回路部品の位置を光学
的に検査する装置において、前記回路基板を照明する手
段と、照明される前記回路基板上の所定領域内の光学的
視野パターン全電気信号に蛮換するマトリクス状光電羨
換手段と、該光電変換手段からの電気信号を２値化する
２値化手段と、前記被検査回路基板上の回路部品の標準
配置パターンを供給する手段と、前記２値化手段から得
られた視野パターンと前記標準配置パターンとを比較・
判定する部品位置判定手段および前記被検査回路基板上
の回路部品搭載領域を逐次前記照明される視野位置に移
動させる手段を備えた部。
品位置自動検査装置によって達成される。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第１図は本発明の部品位置自動検査装蓋の対象である、
各種の回路部品２ａ＊２ｂｌ ・・・が回路基板ｌｌ
Ｉｃ取付けられている状態を示すものである。
各種の回路部品２ａ＊２ｂｌ ・・・が回路基板ｌｌ
Ｉｃ取付けられている状態を示すものである。
回路部品２１Ｌ、 ２ｂ、 ・・・は通常回路基板ｌ
上に縦あるいは横方向に一定の規則に従って配列されて
いる。
上に縦あるいは横方向に一定の規則に従って配列されて
いる。
第２図は回路部品２１に付された識別マークＱ。
詳細を示す図で、（Ａ）はその上面図、（Ｂ）は鉤面図
である。この回路部品２＆は極性を有しており、図の右
侮が＋側であることを表示している。
である。この回路部品２＆は極性を有しており、図の右
侮が＋側であることを表示している。
第３図は本発明の一実施例を示す図である。
第３図において、各種の回路部品が搭載された邸。
路基板１は、Ｘ−Ｙテーブル養土に固定されており、リ
ング状投光装置δに上り照明されている。。
ング状投光装置δに上り照明されている。。
このとき、領域３で示される視野内に前述の如亀ｌｌｌ
１別マ一りを付され、た回路部品が存在すると、第４図
に示す如き光学的視野パターンが得られる。２．ｌこの
光学的視野パターンはＯＯＤ （Ｏｈａｒｇ・０ｏｕｐ
ｊ・ｅ６ Ｄ・マｉｏ・）を利用した光電変換装置６上
に結像され電気信号として抽出される。この電気信号を
２値化回路７により、適当な閾値により２値化する。２
値信号としては、１″は明るい部分、すなわち前記回路
部品の識別マーク面の存在を示す信号管表わし、″０”
は暗い部分、すなわち上記識別マーク面以外の部分の存
在を示す信号を表わすようｋする。これｋより前記第４
図に示した光学的視野パターンに対応するｌ路基板上の
回路部品Ｑ。
１別マ一りを付され、た回路部品が存在すると、第４図
に示す如き光学的視野パターンが得られる。２．ｌこの
光学的視野パターンはＯＯＤ （Ｏｈａｒｇ・０ｏｕｐ
ｊ・ｅ６ Ｄ・マｉｏ・）を利用した光電変換装置６上
に結像され電気信号として抽出される。この電気信号を
２値化回路７により、適当な閾値により２値化する。２
値信号としては、１″は明るい部分、すなわち前記回路
部品の識別マーク面の存在を示す信号管表わし、″０”
は暗い部分、すなわち上記識別マーク面以外の部分の存
在を示す信号を表わすようｋする。これｋより前記第４
図に示した光学的視野パターンに対応するｌ路基板上の
回路部品Ｑ。
識別マーク面の位置全電気的に表現した視野パターンが
得られる。
得られる。
一方、各１回路基板の品名ごとにその基板上の部品Ｏｓ
類１位置情報を示す標準配置パターンがフロッピ、−デ
ィスク１４に内蔵されている。回路基板判定回路９は前
記フロッピーディスク１４から、検査対象である回路基
板の前記標準パターンを視野単位に逐次、自回路内の比
較用画像メモリに取込む。前記標準パターン信号は部品
位置判定回路８に送られ、ここで、前記２値化回Ｗ＆７
から送られる視野パターンと比較・判定される。
類１位置情報を示す標準配置パターンがフロッピ、−デ
ィスク１４に内蔵されている。回路基板判定回路９は前
記フロッピーディスク１４から、検査対象である回路基
板の前記標準パターンを視野単位に逐次、自回路内の比
較用画像メモリに取込む。前記標準パターン信号は部品
位置判定回路８に送られ、ここで、前記２値化回Ｗ＆７
から送られる視野パターンと比較・判定される。
部品位置判定回路８における前記パターンの比較・判定
は、前記２値化回路７から送られる視野パターンの信号
の”ｌ”と、前記標準パターンとを比較する不一致カウ
ンタにより計算し、その値が規定値より高いか低いかの
判定によって、検査対象である回路基板上の回路部品の
実装状態における各種の不良モード − 第６図体）〜
（Ｄ）にその例を示す。体）は横方向ｌピッチずれ、（
Ｂ）は縦方向トピッチずれ、（０）は逆取付、そして（
功は不取付ｔ″−Ｖｌｒ＋１れぞれ示すものである。
−の識別を行う。１・視野について９判定が終了すると
、回路基板判定回路９に信号を送る。回路基板判定回路
９は、視野領域ごとに予め決められているＸ、Ｙ座標値
を駆動回路１０．１１に送り、モータ１２．１３＊；駆
動することにより、被検査回路基板ｌの位置を移動させ
、次の視野の検査を行えるようにする。。
は、前記２値化回路７から送られる視野パターンの信号
の”ｌ”と、前記標準パターンとを比較する不一致カウ
ンタにより計算し、その値が規定値より高いか低いかの
判定によって、検査対象である回路基板上の回路部品の
実装状態における各種の不良モード − 第６図体）〜
（Ｄ）にその例を示す。体）は横方向ｌピッチずれ、（
Ｂ）は縦方向トピッチずれ、（０）は逆取付、そして（
功は不取付ｔ″−Ｖｌｒ＋１れぞれ示すものである。
−の識別を行う。１・視野について９判定が終了すると
、回路基板判定回路９に信号を送る。回路基板判定回路
９は、視野領域ごとに予め決められているＸ、Ｙ座標値
を駆動回路１０．１１に送り、モータ１２．１３＊；駆
動することにより、被検査回路基板ｌの位置を移動させ
、次の視野の検査を行えるようにする。。
被検査回路基板上の全視野領域についての判定が終了し
た時点で、検査結果管例えばプリンタ１５に出力−する
。
た時点で、検査結果管例えばプリンタ１５に出力−する
。
検査対象となる回路基板上の回路部品の標準パターンは
上記実施例に示したフーツビーディスクに限らず、他の
記憶手段に記憶するようにしても良い。また、該標準パ
ターンと被検査回路基板Ｃ視、舒パターンとの比較の方
法も、上記実施例に説明した方法に限られるものではな
い。
上記実施例に示したフーツビーディスクに限らず、他の
記憶手段に記憶するようにしても良い。また、該標準パ
ターンと被検査回路基板Ｃ視、舒パターンとの比較の方
法も、上記実施例に説明した方法に限られるものではな
い。
以上述べた如く、本発明によれば、部品面上に該部品の
品ｍ、形状あるいは極性等を示す織ＷＪイークを付した
各種回路部品を搭載した回路基板上の前記回路部品の位
置を光学的に検査する装置Ｋ′おいて、前記回路基板上
の所定領域を単位とする視野パターンを一度に取込み、
これを予め記憶している標準パターンと電気的に比較・
判定するようにしたので、操作が簡単で高速かつ高僧一
度に回路基板上の部品の取付状況を＃査することが可・
能な装置を実現することができるという顕著な効果を奏
する。
品ｍ、形状あるいは極性等を示す織ＷＪイークを付した
各種回路部品を搭載した回路基板上の前記回路部品の位
置を光学的に検査する装置Ｋ′おいて、前記回路基板上
の所定領域を単位とする視野パターンを一度に取込み、
これを予め記憶している標準パターンと電気的に比較・
判定するようにしたので、操作が簡単で高速かつ高僧一
度に回路基板上の部品の取付状況を＃査することが可・
能な装置を実現することができるという顕著な効果を奏
する。
第１図は回路基板上に各種回路部品が搭載されている状
況を示す斜視図、第２図（Ａ）は回路部品の実施例を示
す装置の一部斜視ｖ！Ｊを含むブ′四ツク図、第４図は
視野パターンの一例を示す図、第６図（（転）〜（功は
各種不良モードの例を示す図である。 １：回路基板、２’ｔ２ｂ＋ ・・・３回路部品、３
！視野、４：Ｘ−Ｙテーブル、δ：光源、６：光電変換
装置、７：２値化回路、８：部品位置判定回路、９！回
路基板判定回路、１０．１１：駆動回路、１２，１３１
モータ、１４！）四ツビーディスク、１５：プリンタ。 特許出願人 株式会社 日立製作所
況を示す斜視図、第２図（Ａ）は回路部品の実施例を示
す装置の一部斜視ｖ！Ｊを含むブ′四ツク図、第４図は
視野パターンの一例を示す図、第６図（（転）〜（功は
各種不良モードの例を示す図である。 １：回路基板、２’ｔ２ｂ＋ ・・・３回路部品、３
！視野、４：Ｘ−Ｙテーブル、δ：光源、６：光電変換
装置、７：２値化回路、８：部品位置判定回路、９！回
路基板判定回路、１０．１１：駆動回路、１２，１３１
モータ、１４！）四ツビーディスク、１５：プリンタ。 特許出願人 株式会社 日立製作所
Claims (1)
- 部品面上に該部品の品種、形状あるいは極性等を示す識
別マークを付した各種回路部品を搭載した回路基板上の
前記回路部品の位置を光学的に検査する装置において、
前記回路基板を照明する手段と、照明される前記回路基
板上の所定領域内の光学的視野パターンを電気信号に変
換するマシリ・・クス状充電変換手段と、該光電変換手
段からの電気信号を２値化する２値化手段と、前記被検
査回路基板上の回路部品の標準配置パターンを供給する
手段と、前記２値化手段から得られた視野バタ・−ンと
前記標準配置パターンとを比較・判定する）部品位置判
定手段および前記被検査回路基板上の回路部品搭載領域
を逐次前記照明される視野位置に移動させる手段を具備
したことを特徴とする部品位置自動検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56173054A JPS5876975A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 部品位置自動検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56173054A JPS5876975A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 部品位置自動検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876975A true JPS5876975A (ja) | 1983-05-10 |
Family
ID=15953354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56173054A Pending JPS5876975A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 部品位置自動検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876975A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60194690A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-03 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 位置合せ補助装置 |
| JPS60194689A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-03 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 位置合せ補助装置 |
| JPS62180251A (ja) * | 1986-02-05 | 1987-08-07 | Omron Tateisi Electronics Co | 基板自動検査装置におけるティーチング方法および装置 |
-
1981
- 1981-10-30 JP JP56173054A patent/JPS5876975A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60194690A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-03 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 位置合せ補助装置 |
| JPS60194689A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-03 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 位置合せ補助装置 |
| JPH0697789B2 (ja) * | 1984-03-15 | 1994-11-30 | 株式会社明電舍 | 位置合せ補助装置 |
| JPH0697788B2 (ja) * | 1984-03-15 | 1994-11-30 | 株式会社明電舍 | 位置合せ補助装置 |
| JPS62180251A (ja) * | 1986-02-05 | 1987-08-07 | Omron Tateisi Electronics Co | 基板自動検査装置におけるティーチング方法および装置 |
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