JPH05172754A - 電子部品のリード検査装置 - Google Patents

電子部品のリード検査装置

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Publication number
JPH05172754A
JPH05172754A JP597791A JP597791A JPH05172754A JP H05172754 A JPH05172754 A JP H05172754A JP 597791 A JP597791 A JP 597791A JP 597791 A JP597791 A JP 597791A JP H05172754 A JPH05172754 A JP H05172754A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
leads
lead
electronic component
image
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP597791A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuyo Kimoto
信余 木元
Junichiro Ito
潤一郎 伊東
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP597791A priority Critical patent/JPH05172754A/ja
Publication of JPH05172754A publication Critical patent/JPH05172754A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 電子部品のリードのピッチ、曲がり等の不良
を正確に判断するリード検査装置を得る。 【構成】 リードの先端方向から平行光線で照射し、上
記の平行光線に僅かの傾斜角を有する撮像装置で得たリ
ードの反射光の画像の乱れを用いて判断する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品のリード形状
を検査するリード検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、電子部品のリード検査装置につい
て、図5ないし図9により説明する。
【0003】図5は、従来の電子部品のリード検査装置
の構成を模型的に示した側面断面図、図6および図7
は、共にCCDカメラによる認識画像図、図8および図
9は、不良製品をセットした電子部品のリード検査装置
の側面断面図およびその時の認識画像図である。
【0004】図5において、従来の電子部品のリード検
査装置は、電子部品1のL字状に折り曲げたリード2を
下向きにして載せる、光を散乱透過する拡散ガラス又は
それに相当する高分子材料からなる試料台3と、上記試
料台3を上部の開口部に装着した、内部に高周波蛍光灯
の光源4を収容した検査台5と、試料台3に載せられた
電子部品1のリード2に対向する位置に配置されたCC
Dカメラ6とから構成されている。
【0005】以上のように構成された電子部品のリード
検査装置の動作を説明する。
【0006】まず、電子部品1を試料台3の上に載せる
と、リード2は試料台3からの散乱光により照射される
ため、図6に示すように、CCDカメラ6は、リード2
と検査台5を黒、その他を白とするシルエットとして撮
像する。
【0007】正常なリード2を有する電子部品1の画像
は、図6に示すように、正しい格子状を有するが、上下
位置不良および曲がり不良のリード2を有する電子部品
1の画像は、図7に示すように、乱杭状を呈する。この
ように、白黒の2値化レベルが明確にされた画像によ
り、リード2のピッチおよび浮上がりが、正常な試料と
比べて許容範囲内であるかどうかを判断させて検査を行
っていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
構成では、図8に示すように、リード2がCCDカメラ
6の光路方向に曲がり、しかも、検査台5から浮いてい
ない場合には、図9に示すように、図6に示した正常な
リード2と同じ画像が得られるため、リード2の曲がり
を判断することができず、評価を誤るという問題があっ
た。
【0009】本発明は上記の問題を解決するもので、リ
ード不良を誤りなく判断できる信頼性の高い、電子部品
のリード検査装置を提供するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の課題するため、本
発明は、電子部品のリードを上方に向けて検査台に載
せ、リード先端部分を先端方向から照射する照明系と、
反射光を先端方向から撮像する撮像装置とを備えるもの
である。
【0011】
【作用】上記の構成により、リード先端方向からの照明
によるリードの反射光を撮像するので、電子部品のリー
ドのあらゆる曲がりを一方向からの撮像装置によって判
断することができる。
【0012】
【実施例】本発明による一実施例を図1ないし図4によ
り説明する。
【0013】図1は、本発明による電子部品のリード検
査装置を模型的に示した側面図、図2,図3および図4
はそのCCDカメラによる認識画像図である。
【0014】図1において、本発明による電子部品のリ
ード検査装置は、電子部品1を載せる試料検査台7と、
リード2の垂直上方に配置したファイバ照明の光源8
と、上記の垂直上方よりもある電子部品1の方に角度を
持った位置に配置したCCDカメラ6とから構成した。
【0015】以上のように構成された電子部品のリード
検査装置の動作を説明する。
【0016】まず、電子部品1を折り曲げられたリード
2の先端を上に向けて試料検査台7の上に置く、次に、
リード2を上方のファイバ照明の光源8から照射する
と、CCDカメラ6は、リード2のファイバ照明の光源
8の光軸に対して垂直な面を白とする画像が得られる。
このように白黒の2値化レベルが明確にされた画像に基
づいてリード2の曲がりや本数の欠けを検査する。
【0017】図2,図3および図4は、共にCCDカメ
ラ6による画像で、それぞれ正常なリード2、上下や横
の曲がりのあるリード、および従来例の図9に示した光
路方向の曲がりでしかも検査台から浮いていないリード
2を示す。これらの画像からリードのピッチ、先端の浮
上がりおよび浮上がりがない曲がり等が、許容範囲内か
どうかを認識判断させて検査する。
【0018】なお、電子部品1の2辺又は4辺のリード
2を検査するため、複数台のCCDカメラ6を設置して
もよいし、1台又は2台のCCDカメラ6をそれぞれ4
箇所又は2箇所に移動して撮影してもよい。さらに、C
CDカメラ6でなく他の撮像装置、また、ファイバ照明
の光源でなく他の光源であってもよい。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
リードの曲がりを正確に認識できる。信頼性の高い電子
部品のリード検査装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による電子部品のリード検査装置の模型
的側面図である。
【図2】本発明による電子部品のリード検査装置による
正常なリードの認識画像図である。
【図3】本発明による電子部品のリード検査装置による
上下や横の曲がりのあるリードの認識画像図である。
【図4】本発明による電子部品のリード検査装置による
光路方向の曲がりでしかも検査台から浮いていないリー
ドの認識画像図である。
【図5】従来の電子部品のリード検査装置の模型的側面
断面図である。
【図6】従来の電子部品のリード検査装置による正常な
リードの認識画像図である。
【図7】従来の電子部品のリード検査装置による上下位
置不良および曲がり不良のリードの認識画像図である。
【図8】リードの不良製品をセットした電子部品のリー
ド検査装置の側面断面図である。
【図9】図8の認識画像図である。
【符号の説明】
1…電子部品、 2…リード、 3…試料台、 4…光
源、 5…検査台、 6…CCDカメラ、 7…試料検
査台、 8…ファイバ照明の光源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リードを有する電子部品を載せる検査台
    と、リードの先端方向から照射する照明系と、その反射
    光を撮像する撮像装置とを備えた電子部品のリード検査
    装置。
JP597791A 1991-01-22 1991-01-22 電子部品のリード検査装置 Pending JPH05172754A (ja)

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JP597791A JPH05172754A (ja) 1991-01-22 1991-01-22 電子部品のリード検査装置

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JP597791A JPH05172754A (ja) 1991-01-22 1991-01-22 電子部品のリード検査装置

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Publication Number Publication Date
JPH05172754A true JPH05172754A (ja) 1993-07-09

Family

ID=11625902

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JP597791A Pending JPH05172754A (ja) 1991-01-22 1991-01-22 電子部品のリード検査装置

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JP (1) JPH05172754A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113418465A (zh) * 2021-06-08 2021-09-21 长春汽车工业高等专科学校 一种基于激光三角测量法的三维扫描装置及扫描方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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