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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Vorbetrachtungsprüfverfahren
für einen
Artikel bzw. Gegenstand vor einer visuellen Prüfung bzw. Inspektion und eine
Vorrichtung dafür.
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Verwandter
Stand der Technik
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Bei
herkömmlichen
Herstellungsvorgängen für verschiedenste
Produkte sind verschiedenste Prüfschritte
bzw. Inspektionsschritte zur Verfügung gestellt, um zu verhindern,
dass ein Produkt mit schweren Defekten, welches nicht zur Verwendung geeignet
ist, nämlich
ein defektes Produkt, auf den Markt gebracht wird. Bei derartigen
Prüfschritten
ist aus den folgenden Gründen
die Prüfung
durch Prüfvorrichtungen
oft nicht ausreichend, und in vielen Fällen wird eine visuelle Prüfung durch
eine Prüfperson eingesetzt.
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Defekte
bei einem Prüfgegenstand
führen nicht
notwendigerweise zu praktischen Nachteilen, was nicht nur von ihren
Bereich oder Volumen sondern auch von ihrer Form und Art abhängt. Anders gesagt,
es gibt viele Defekte, welche keinen praktischen Einfluss haben,
und es ist nicht notwendig, einen Gegenstand auszusortieren, welcher
einen Defekt ohne praktischen Einfluss aufweist. Es gibt außerdem keine
Prüfvorrichtung,
welche in der Lage ist, unmittelbar den Einfluss der Defekte dieser
verschiedensten Formen für
die praktische Verwendung zu bewerten. Darüber hinaus kann eine Prüfvorrichtung fehlerhafter
Weise einen Defekt identifizieren, welcher tatsächlich nicht vorhanden ist.
Diese Gründe führen dazu,
dass die visuelle Prüfung
durch eine Prüfperson
erforderlich ist. Prüfvorrichtungen
wurden in Bezug auf ihre Auflösungsfähigkeit
zur Erfassung feinerer Defekte verbessert, und sie sind mit einer
Logikschaltung zur Beurteilung ausgestattet, ob ein Artikel bzw.
Gegenstand verwendbar ist oder nicht, jedoch wird die Beurteilung
bei dem Grenzniveau einer Prüfperson
anvertraut, wie zuvor beschrieben.
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Die
visuelle Prüfung
durch eine Prüfperson ist
eine visuelle Prüfung,
bei welcher eine Prüfperson Defekte
bei Artikeln bzw. Gegenständen
prüft,
an welchen es für
eine Prüfvorrichtung
schwierig ist zu beurteilen, ob ein Gegenstand verwendbar ist oder nicht,
und er bestimmt auf der Grundlage eines Vergleichs mit Defektkriterien
oder empirischen Regeln, ob der Gegenstand verwendbar ist oder nicht.
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In
den letzten Jahren wurde jedoch eine höhere Qualität für die zu prüfenden Gegenstände gefordert,
und die durch eine Prüfperson
zu beurteilenden Defekte wurden kleiner und kleiner. Aus diesem Grund
hat die auf einer derartigen Inspektion bzw. Prüfung lastende Bürde zugenommen,
was bei der letztendlichen Beurteilung eine Verschlechterung der Prüfeffizienz
oder Prüffehler
durch eine Prüfperson zur
Folge hat.
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JP(A)
07083849 offenbart ein Verfahren zur Bestimmung, ob eine gedruckte
Verdrahtungsplatte defekt ist oder nicht, indem ein lichtempfindlicher Prüfkopf Verwendung
findet. Hier wird eine Position des Defekts erkannt und einer Vorrichtung
zur Bestimmung zugeführt,
ob eine Unterbrechung bzw. Freischaltung oder Verschaltung modifiziert
werden sollte oder nicht. Für
den Fall, dass ein Defekt des Verdrahtungsmusters innerhalb eines
im voraus durch eine Bestimmungsvorrichtung registrierten Modifikationsverhinderungsbereichs
S erfasst wird, wird die Prüfung
beendet, und es wird eine Markierung in der Nähe eines innerhalb des Bereichs
S erfassten unmodifizierbaren Defekts vorgenommen.
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JP(A)
2000051937 offenbart ein Defektmarkierungsverfahren für ein dünnes Stahlblatt
bzw. Stahlscheibe unter Verwendung eines Strahlprojektors. Das von
der Stahlscheibe reflektierte Licht gibt einen Defekt an der Stahlscheibenoberfläche an.
Die verschiedenen Defekte werden mit verschiedenen Farben markiert,
um die Art des Defekts anzugeben.
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GB-A-2186365
offenbart ein Verfahren des Prüfens
von Textilgegenständen,
um hervorstechende Merkmale eines Textilgegenstands unter Verwendung
eines Bildes davon zu erfassen, welches durch beispielsweise eine
Videokamera erzeugt wird. Zusätzlich
wird eine Markierung von Defekten erwähnt.
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JP(A)
11319944 offenbart ein Oberflächendefektanzeigeinstrument
zur Erfassung von Defektinformationen, welche einen defekten Ort
der Oberfläche
einer überzogenen
Spule umfasst. Hierbei findet eine Defektmarkierungsvorrichtung
Verwendung.
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JP(A)
04069563 offenbart ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Filmdefektinspektion
bzw. Filmdefektprüfung
durch Anlegen einer Spannung zwischen dem Metall eines Netzes und
einer Elektrodenspule. Hierbei wird ein Defekt durch den Betrag
eines Stromes erfasst, welcher durch jeweilige Widerstände einer
Erfassungsschaltung fließt.
Für den
Fall, dass ein Defekt erfasst wird, wird er durch ein Färbespray
an der oberen Oberfläche
des Netzes oder an einem Rand des Netzes in der Nähe des Defekts markiert.
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JP(A)
11319943 offenbart ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Markierung
eines Fehlers oder Defekts einer Oberfläche mit einer Tintenmarkierungsvorrichtung
an der defekten Position. Zusätzlich werden
der Name, die Länge,
und das Maß des
Defekts auf der Grundlage der Informationen über den erfassten Defekt verarbeitet,
um einen schädlichen und
einen nicht schädlichen
Defekt zu unterscheiden.
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JP(A)
10277912 offenbart ein Oberflächenfehlerbehandlungsverfahren
für ein
Stahlstück.
Hierbei wird an dem Stahlstück
ein erfasster Fehler durch eine entsprechende Symbolmarkierung markiert. Durch
die Verwendung einer Fernsehkamera werden die Oberflächenfehlerdaten
des Stahlstücks
zur Verfügung
gestellt, welche aus der Position der Symbolmarkierung, der Fehlerklassifizierung
und einem Bereich des durch die Symbolmarkierung unterstützten Teils
zusammengesetzt sind.
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JP(A)
2000146920 beschreibt eine Vorrichtung zur Prüfung eines elektrophotographischen lichtempfindlichen
Bauteils. Jedoch ist die durch eine Vorrichtung ausgeführte Prüfung nicht
durch eine Prüfung
durch eine Arbeiter gefolgt.
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JP(A)
2000097873 offenbart eine Vorrichtung zur optischen Prüfung eines
elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteils.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Es
ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Vorbetrachtungsverfahren
(oder ein Prüfverfahren
vor einer visuellen Prüfung)
zur Unterstützung
der visuellen Prüfung,
welche hauptsächlich
auf eine Erfassung von winzigen Defekten gerichtet wurde, und zur
Verbesserung der Effizienz und Präzision der Prüfung und
eine Vorrichtung dafür
zur Verfügung zu
stellen.
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Gemäß einem
Aspekt der vorliegenden Erfindung kann die zuvor erwähnte Aufgabe
durch ein Vorbetrachtungsprüfverfahren
für ein
elektrophotographisches lichtempfindliches Bauteil gemäß Anspruch
1 erzielt werden.
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Gemäß einem
weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung kann die zuvor erwähnte Aufgabe durch
eine Vorbetrachtungsprüfvorrichtung
für ein elektrophotographisches
lichtempfindliches Bauteil gemäß Anspruch
7 erzielt werden.
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Weitere
Entwicklungen sind in den abhängigen
Ansprüchen
dargelegt.
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KURZE BESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNG
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1 ist
ein Blockschaltbild der Hardwarekonfiguration einer Vorbetrachtungsprüfvorrichtung gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
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2 ist
ein Flussdiagramm der Operationssequenz eines Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung;
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3 ist
ein Blockschaltbild der Hardwarekonfiguration eines Hostcomputers
bei der Vorbetrachtungsprüfvorrichtung
gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung; und
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4 ist
eine Ansicht eines Druckbeispiels von Zeicheninformationen (oder
Buchstabeninformationen) an einem elektrophotographischen lichtempfindlichen
Bauteil und ein spezifisches Beispiel von Zeicheninformationen bei
einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
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AUSFÜHRLICHE
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
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Bei
der vorliegenden Erfindung wird es zusätzlich zu den zuvor beschriebenen
Erfordernissen bevorzugt, auf der Grundlage der durch den detaillierten
Defektinformationserzeugungsschritt erzeugten detaillierten Defektinformationen
zu unterscheiden, ob der Prüfartikel
eine visuelle Inspektion bzw. visuelle Prüfung erforderlich macht oder
nicht, und die detaillierten Defektinformationen an nur dem für die visuelle
Prüfung
identifizierten Prüfartikel
bzw. Prüfgegenstand
zu visualisieren.
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Gemäß der Erfindung
umfassen die bei dem detaillierten Defektinformationenerzeugungsschritt erzeugten
detaillierten Defektinformationen Defektpositionsinformationen,
da die Mühe
zur Erfassung von Defekten bei der visuellen Prüfung effektiv reduziert werden
kann.
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Die
detaillierten Defektinformationen werden in einem Nicht-Bildbereich
des elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteils visualisiert,
wie es später
ausführlicher
beschrieben wird.
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Die
Einrichtung zur Visualisierung der detaillierten Defektinformationen
ist eine Laserlicht verwendende Druckeinrichtung. Die das Laserlicht
verwendende Druckeinrichtung ist aus den Gründen insbesondere geeignet,
dass ein feineres Drucken möglich
ist, dass es kein Verstreuen von Färbematerial gibt, da kein Färbematerial,
wie beispielsweise Tinte, Verwendung findet, und ihre Wartung einfach
ist.
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Die
zu visualisierenden detaillierten Defektinformationen werden vorzugsweise
so kurz wie möglich
dargestellt, beispielsweise durch Symbolisieren der Position, des
Typs, der Anzahl usw. von Defekten mit Ziffern oder Mustern, da
der Raum zur Visualisierung beschränkt ist.
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Die
vorliegende Erfindung ist insbesondere effektiv, wenn sie auf einen
Prüfartikel
bzw. Prüfgegenstand
oder ein Bauteil angewendet wird, welches eine Funktion an seiner
Oberfläche
aufweist, da die Prüfung
zufriedenstellend vorgenommen werden kann, ohne die Funktion zu
beeinflussen. Eine derartige Tendenz ist insbesondere bedeutend,
wenn, wie bei der vorliegenden Erfindung, der Prüfgegenstand ein elektrophotographisches
lichtempfindliches Bauteil ist, bei welchem die Qualität der funktionellen Oberfläche direkt
mit der Bildqualität
verknüpft
ist. Bei dem elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteil
resultiert sogar ein Defekt in einem schweren nachteiligen Effekt
bzw. Wirkung, und die Anerkennung verdienenden Wirkungen bzw. Effekte
der vorliegenden Erfindung werden besonders deutlich an den Tag
gelegt.
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Gemäß der Erfindung
umfassen die detaillierten Defektinformationen Defektpositionsinformationen,
und sie werden in einem Nicht-Bildbereich in der longitudinalen
Ausdehnung der Defektposition visualisiert, welche von den Defektpositionsinformationen
abgeleitet wird.
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Das
zuvor erwähnte
Defektsignal kann durch die folgenden Verfahren erfasst werden:
Die
japanischen Patentanmeldungsoffenlegungsschriften Nr. 63-73139 und
7-218442, und die japanischen Patente Nr. 2,935,881 und 2,967,291
offenbaren Einrichtungen zur optischen Erfassung eines Defekts bei
einer bei einem elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteil
installierten lichtempfindlichen Schicht. Zur optischen Identifizierung
des Defekts bei dem elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteil
gibt es beispielsweise ein Laserlicht verwendendes Verfahren. Ein
von einer Lichtquelle emittierter Laserstrahl wird durch einen Strahlexpander
in einen parallelen Strahl umgewandelt, welcher das elektrophotographische
lichtempfindliche Bauteil mit einem spitzen Winkel bestrahlt. Weist
das elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil keinen Defekt
auf, wird das Licht mit einem konstanten Winkel in einem parallelen
Strahlzustand reflektiert. Weist das elektrophotographische lichtempfindliche
Bauteil andererseits einen Defekt auf, wird der Laserstrahl durch
einen derartigen Defekt gestreut, wodurch das reflektierte Licht
deformiert bzw. verzerrt wird. Das reflektierte Licht wird durch
einen photoelektrischen Sensor empfangen, und die Differenz zwischen
dem einfallenden Licht und dem reflektierten Licht wird photoelektrisch
umgewandelt, um ein elektrisches Signal zu geben, welches den Defekt
identifiziert.
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Auch
die japanische Patentanmeldungsoffenlegungsschrift Nr. 57-192847
und die japanischen Patente Nr. 1,620,166 und 2,539,218 offenbaren
Verfahren zur Erfassung eines Defekts durch eine Änderung
bei einem in einer lichtempfindlichen Schicht fließenden elektrischen
Signal. Zur elektrischen Identifizierung des Defekts bei dem elektrophotographischen
lichtempfindlichen Bauteil gibt es beispielsweise ein eine Quelle
hoher Spannung verwendendes Verfahren. Eine leitfähige Aufladungswalze
bzw. Aufladungsrolle wird in Kontakt mit der lichtempfindlichen
Schicht gehalten, und es wird eine Spannung gemäß der Dicke des Films an dem
elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteil angelegt, während die
Aufladungsrolle und das elektrophotographische lichtempfindliche
Bauteil in synchronisierter Weise gedreht werden. Hat der Film eine
gleichmäßige Dicke
und Qualität,
ist der Spannungswiderstandswert über das gesamte elektrophotographische
lichtempfindliche Bauteil gleichmäßig. Weist der Film jedoch
eine örtliche
Fluktuation auf, zeigt der in dem elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteil
fließende
Strom eine Änderung,
oder in einigen Fällen
einen Verlust auf. Derartige Änderungen werden
zur Identifikation des Defekts gelesen.
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Diese
Inspektionen bzw. Prüfungen
ergeben Defektsignale für
punktförmige
Defekte, streifenförmige
Defekte, blasenförmige
Defekte, Kratzer oder Ablagerungen an dem elektrophotographischen
lichtempfindlichen Bauteil.
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Nun
wird die vorliegende Erfindung anhand ihres Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme
auf beiliegende Zeichnungen erläutert.
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1 ist
eine Ansicht einer Vorbetrachtungsprüfvorrichtung für das elektrophotographische lichtempfindliche
Bauteil, welche ein Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung bildet.
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Durch
eine Signalleitung 101 sind eine Transporteinheit 102 für das elektrophotographische lichtempfindliche
Bauteil, Prüfeinheiten
bzw. Inspektionseinheiten (Defektsignalerfassungseinrichtungen) 103 bis 105 und
eine Laserlichtbestrahlungseinheit (detaillierte-Defektinformationen-Visualisierungseinrichtung) 106 mit
einem Hostcomputer 107 verbunden, und diese Einheiten werden
durch den Hostcomputer 107 entweder direkt oder durch eine andere
Einheit, wie beispielsweise eine Ablaufsteuerung oder eine Steuereinrichtung
gesteuert.
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Ist
die Prüfeinheit
eine optische Prüfeinheit, ist
sie ausgestattet mit einer Lichtquelle zur Bestrahlung des elektrophotographischen
lichtempfindlichen Bauteils mit Licht, einer Kamera zur Erfassung
von reflektiertem Licht (Defektsignal) von dem elektrophotographischen
lichtempfindlichen Bauteil, und einem Computer für den optischen Inspektionseinheitcomputer,
welcher die durch die Kamera erfassten Defektsignale verarbeitet
und sie an den Hostcomputer 107 sendet.
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Erzeugt
der Hostcomputer 107 die detaillierten Defektinformationen
(über die
Positionen, Typen, Anzahl usw. von Defekten) des elektrophotographischen
lichtempfindlichen Bauteils aus dem Defektsignal, können die
von der optischen Prüfeinheit
an den Hostcomputer 107 gesendeten Daten von den Defekten
stammende Rohdaten sein, wie beispielsweise eine Lichtstreuung und Informationen über die Position,
bei welcher diese Streuung auftritt.
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Ist
die Prüfeinheit
ein anderer Typ, beispielsweise eine elektrische Prüfeinheit,
ist sie ausgestattet mit einer Aufladungseinrichtung zum Anlegen
einer Spannung an das elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil,
einer Strom/Spannungserfassungseinrichtung zur Erfassung eines elektrischen Stroms
(Defektsignal) in dem elektrophotographischen lichtempfindlichen
Bauteil oder der Spannung (Defektsignal) bei einem Spannungsanlegen
daran, und einem elektrischen Prüfeinheitcomputer
zur Verarbeitung der durch den Detektor erfassten Defektsignale
und Sendung dieser an den Hostcomputer 107.
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Um
die Defektpositionsinformationen durch die Verwendung der Prüfeinheit
zu erlangen, kann sie mit einem Positionssensor, wie beispielsweise
eine Codiereinrichtung, zur Erfassung der Position bei dem elektrophotographischen
lichtempfindlichen Bauteil ausgestattet sein. Natürlich ist
es nicht erforderlich, dass der Positionssensor einstückig mit
der Prüfeinheit
gebaut ist, sondern er kann separat zur Verfügung gestellt sein.
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Nachfolgend
wird die Betriebssequenz von der Vorbetrachtungsprüfung zu
der visuellen Prüfung gemäß einer
Wirkung der die Vorrichtung bildenden Einheiten unter Bezugnahme
auf 1 und ein Flussdiagramm (2) der Vorbetrachtungsprüfung erläutert, welche
die Vorbetrachtungsprüfvorrichtung des
vorliegenden Ausführungsbeispiels
verwendet.
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Zur
Verdeutlichung des Flusses von dem Einführen in die Vorbetrachtungsprüfvorrichtung
bis zu der visuellen Prüfung
für die
letztendliche Beurteilung zeigt 2 auch die
Vorgänge
vor und nach den Schritten 201 bis 205, welche
durch eine CPU 301 durchgeführt werden, wie es später beschrieben wird.
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Ein
in die Vorbetrachtungsprüfvorrichtung eingeführtes elektrophotographisches
lichtempfindliches Bauteil ist an einer Transporteinheit 102 montiert.
Oder das elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil ist vor
einer visuellen Prüfung
an einer Prüfvorrichtung
montiert.
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Das
an der Transporteinheit 102 montierte elektrophotographische
lichtempfindliche Bauteil wird durch die Drehung der Transporteinheit
zuerst zu einer (nachfolgend Prüfstelle
genannten) Position 108 transportiert, bei welcher die
Prüfung
durch eine Prüfeinheit 103 vorgenommen
wird, und dann wird es zu Prüfstellen 108 zur
Prüfung
durch Prüfeinheiten 104, 105 transportiert,
bei welchen optische oder elektrische Prüfungen durch die Prüfeinheiten 104 und 105 für die Position
oder den Typ von jedem der Defekte durchgeführt werden, wodurch Signale
(Defektsignale) für
die Farbe (Kontrast), Filmzustand oder -bedingung, elektrische Charakteristika
usw. zusammen mit jeweiligen Defektpositionssignalen erlangt werden
(201 in 2).
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Für derartige
Prüfungen
können
verschiedenste Prüfverfahren
als eine Prüfung
in Bezug auf die Farbe des Defekts eingesetzt werden, indem das um
seine Achse gedrehte elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil
mit weißem
Licht bestrahlt wird, das reflektierte Licht in ein photoelektrisches Umwandlungselement,
wie beispielsweise einen Zeilensensor, oder eine CCD-Kamera, eingeführt wird und
eine Kontraständerung
erfasst wird, wodurch ein normaler Abschnitt und ein anormaler Abschnitt
identifiziert werden, oder es kann eine Prüfung in Bezug auf den Filmdefekt
zum Einsatz kommen, indem das sich drehende elektrophotographische
lichtempfindliche Bauteil bei einem spitzen Winkel mit einem Laserstrahl
bestrahlt wird, das reflektierte Licht in ein photoelektrisches
Umwandlungselement, wie beispielsweise einen Zeilensensor oder eine
CCD-Kamera, eingeführt
wird, und aus der Abweichung bei dem Reflektionswinkel eine Änderung
der Filmqualität
oder Filmdicke erfasst wird, wodurch ein normaler Abschnitt und
ein anormaler Abschnitt identifiziert wird, oder es kann eine Prüfung in
Bezug auf die elektrischen Charakteristika der lichtempfindlichen Schicht
zum Einsatz kommen, indem an die lichtempfindliche Schicht durch
eine Corona-Aufladungseinrichtung
oder eine Aufladungsrolle eine Spannung angelegt wird, und die Aufladungsspannung
oder der Strom in der lichtempfindlichen Schicht erfasst wird.
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In 1 werden
drei Prüfstellen 108 für die Prüfeinheiten 103 bis 105 jeweils
für die
Farbe (Kontrast), den Filmzustand und die elektrischen Charakteristika
eingesetzt, jedoch können
bei einer einzelnen Prüfstelle 108 eine
Vielzahl von Prüfungen
angewendet werden, was von der Prüflichtquelle, der Gestaltung
bzw. dem Layout der photoelektrischen Umwandlungselemente, und dem
Bereich und den Gegenständen
der Prüfung
abhängig
ist.
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Die
durch jede Inspektion bzw. Prüfung
erlangten Defekte bei dem elektrophotographischen lichtempfindlichen
Bauteil werden als Signale an den Hostcomputer 107 gesendet.
Das heißt,
Defektsignale usw. werden von den Prüfeinheiten 103 bis 105 an den
Hostcomputer 107 gesendet (202 in 2).
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Beim
Empfang der Defektsignale von den Prüfeinheiten erzeugt der Hostcomputer 107 auf
der Grundlage der Signale detaillierte Defektinformationen, welche
beispielsweise angeben, welches elektrophotographische lichtempfindliche
Bauteil welche Anzahl und Typen von Defekten bei welchen Positionen
aufweist (203 in 2).
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Nach
Erzeugen der detaillierten Defektinformationen beurteilt der Hostcomputer 107 auf
der Grundlage derartiger detaillierter Defektinformationen, ob das
elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil ohne praktisches
Problem verwendet werden kann und keine visuelle Prüfung erfordert
(visuelle Prüfung
ist nicht notwendig), oder ob das elektrophotographische lichtempfindliche
Bauteil nicht beurteilt werden kann und der visuellen Prüfung unterzogen
werden muss (visuelle Prüfung
notwendig) (204 in 2).
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Eine
derartige Beurteilung wird durch Vergleich mit der Datenbank von
Defektkriterien vorgenommen, welche im Voraus bestimmt sind und
in dem Hostcomputer zur Verfügung
gestellt sind.
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Dann
werden von den elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteilen,
welche durch die Transporteinheit 102 an eine (nachfolgend
Visualisierungsstelle genannte) Position 109 transportiert,
bei welcher die detaillierten Defektinformationen durch eine Laserlichtbestrahlungseinheit
(detaillierte-Defektinformationen-Visualisierungseinrichtung) 106 visualisiert
werden, nur diejenigen der Visualisierung der in dem Hostcomputer
gespeicherten detaillierten Defektinformationen unterzogen, welche
als die visuelle Prüfung
erfordernd beurteilt wurden (205 in 2).
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Die
detaillierten Defektinformationen werden, wie es später beschrieben
wird, als Zeicheninformationen an einem Nicht-Bildbereich in einem Randabschnitt
des elektrophotographischen lichtempfindlichen Bauteils, beispielsweise
durch Laserlicht eines Kohlendioxidgaslasers, visualisiert.
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3 ist
ein Blockschaltbild der Hardwarekonfiguration des Hostcomputers 107 bei
dem Ausführungsbeispiel
1 der vorliegenden Erfindung.
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Eine
CPU 301 führt
eine Sendung, einen Empfang und eine Kopplung von Daten durch und steuert über einen
Bus 308 verbundene Komponenten. Durch den Bus 308 werden
Adresssignale, Steuersignale und verschiedenste Daten unter den
damit verbundenen Komponenten (Vorrichtungen) übertragen. Die CPU 301 führt die
zuvor erwähnten
Schritte 201 bis 205 aus, die in dem Flussdiagramm
von 2 gezeigt sind.
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Ein
ROM (Nur-Lese-Speicher) 302 speichert im Voraus eine Steuersequenz
(Steuerprogramm) für die
CPU 301, welche eine derartige Steuersequenz zur Realisierung
verschiedenster Vorgänge,
wie beispielsweise eine Datensendung und einen Datenempfang und
eine Beurteilung über
das elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil, durchführt. Ein RAM 303 wird
als ein Arbeitsspeicher für
die zuvor erwähnte
Datensendung/empfang und die Beurteilung und als ein temporärer Speicher
zur Steuerung verschiedenster Komponenten verwendet.
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Zur
Speicherung einer Datenbank usw. findet eine externe Speichervorrichtung 304 Verwendung,
welche in der Lage ist Inhalte zu halten, auch wenn die Energieversorgung
ausgeschaltet ist, wie beispielsweise eine Festplatte. Eine Schnittstelle 305 verbindet
die in 1 gezeigten Einheiten mit einer Signalleitung.
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4 zeigt
ein Beispiel des Druckens der Zeicheninformationen an dem elektrophotographischen
lichtempfindlichen Bauteil und ein spezifisches Beispiel der Zeicheninformationen.
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Die
Zeicheninformationen bestehen, wie durch ein Druckmuster 401 angegeben,
aus einer Kombination von drei Buchstaben, bei welcher der erste
Buchstabe die Position eines Defekts des elektrophotographischen
lichtempfindlichen Bauteils angibt, der zweite Buchstabe den Typ
des Defekts angibt, und der dritte Buchstabe die Anzahl bzw. Nummer
des Defekts angibt. Hier ist in Bezug auf den ersten Buchstaben
die Position des Defekts unter Verwendung von arabischen Ziffern
angegeben. Hierbei ist der erste Buchstabe derart bestimmt, dass
die Gesamtlänge
eines Überzugsbereichs
beispielsweise in zehn gleiche Teile geteilt ist. Diesem Beispiel
folgend gibt es Abschnitte 1 bis 10 von oben. Somit gibt die arabische
Ziffer „1" an, dass ein Defekt
in Abschnitt 1 vorhanden ist, die arabische Ziffer „5" gibt an, dass ein
Defekt in Abschnitt 5 vorhanden ist, und die arabische Ziffer „0" gibt an, dass ein
Defekt in Abschnitt 10 vorhanden ist.
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Die
Umfangsdruckposition befindet sich, wie bei einer Druckposition 402 angegeben,
bei dem Ende des Nicht-Bildbereichs
bei einer Umfangsposition entsprechend einem schlimmsten Defekt
unter den erfassten Defekten. Insbesondere ist die Druckposition 402 eine
Position in der Umfangsrichtung XP, und die Druckposition 402 befindet
sich in dem Nicht-Bildbereich auf der selben Achse wie der erste Defekt.
In diesem Fall liegt die Differenz zwischen der Defektposition und
dem ersten markierten Buchstaben innerhalb von ±5 mm (gemäß der Betriebsart).
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Die
Größe des gedruckten
Buchstabens kann beliebig ausgewählt
werden, jedoch wird sie bei dem vorliegenden Beispiel als 2 × 2 mm ausgewählt. Außerdem werden
die Intensität
des Laserstrahls und seines Punktdurchmessers bei geeigneten Pegeln
ausgewählt,
welche kein Spritzen oder Wölben um
den gedruckten Abschnitt herum verursachen.
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Beispielsweise
gibt ein Zeichenzug „1·2" bei einem Druckbeispiel 403 an,
dass „ein
punktförmiger Defekt
(Punkt) in einem Überzugsbereich
von 1/10 von dem oberen Rand des Überzugsbereichs an der Ausdehnung
der Umfangsposition des Zeichenzugs vorhanden ist, und die Anzahl
von Defekten insgesamt zwei beträgt,
wobei ein Defekt in einer weiteren Position umfasst ist".
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Unter
Bezugnahme auf das Beispiel, das die volle Länge eines Überzugsbereichs in zehn gleiche Teile
unterteilt ist, gibt beispielsweise ein Zeichenzug „1·1" bei einem Druckbeispiel 403 an,
dass bei der vollen Überzugsbreite
ein „punktförmiger Defekt
innerhalb von Abschnitt 1 und an einem Produkt in der axialen Richtung
XR des ersten markierten Buchstabens vorhanden ist. Der Defekt ist
an einer Position vorhanden".
Somit gibt ein Zeichenzug „9★3" bei einem Druckbeispiel 403 an,
dass es in der gesamten bzw. vollen Überzugsbreite „eine Sache
gibt, die innerhalb von Abschnitt 9 und an einem Produkt in der axialen
Richtung XR des ersten markierten Zeichens anhaftet. Andere Defekte
sind bei zwei Positionen (drei Defekte insgesamt) vorhanden".
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Die
in dem Hostcomputer 107 gespeicherten detaillierten Defektinformationen
umfassen einen schweren Defekt, welcher keine visuelle Prüfung durch
eine Prüfperson
bei dem nachstehenden Schritt erfordert, einen geringfügigen Defekt
bei der Grenze einer verwendbaren/nicht verwendbaren Beurteilung,
einen extremen Bagatelldefekt und sogar eine fehlerhafte Erfassung
durch die Defektsignalerfassungseinrichtung. Beispielsweise kann
ein elektrophotographisches lichtempfindliches Bauteil (Prüfgegenstand)
mit einem schweren Defekt, unmittelbar nachdem es aus der Vorbetrachtungsprüfvorrichtung ausgestoßen wurde,
abgelegt werden, wodurch es durch die visuelle Prüfung durch
eine Prüfperson ausgelassen
wird. Nach Ausstoß aus
der Vorbetrachtungsprüfvorrichtung
kann ein Sortierschritt für
das abzulegende elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil
(Prüfgegenstand),
das die visuelle Prüfung
durch eine Prüfperson
erfordernde elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil (Prüfgegenstand),
und das an einen nachfolgenden Vorgang weiterzuleitende zufriedenstellende
elektrophotographische lichtempfindliche Bauteil (Prüfgegenstand) zur
Verfügung
gestellt werden.
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Das
auf diese Weise sortierte und bedruckte elektrophotographische lichtempfindliche
Bauteil wird der visuellen Prüfung
durch eine Prüfperson
unterzogen, wodurch es beurteilt wird, ob es bei dem letztendlichen
Produkt verwendet werden kann oder nicht.
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Da
die Positionen, Nummern bzw. Anzahl, Typen usw. der Defekte aus
den detaillierten Defektinformationen im Voraus bekannt sein können, welche
an dem Randabschnitt des elektrophotographischen lichtempfindlichen
Bauteils visualisiert sind, kann eine Prüfperson sehr effektiv die visuelle
Prüfung
durchführen,
und das im Voraus Vorhandensein der Defektinformationen verhindert
einen Fehler durch Übersehen,
wodurch eine zufriedenstellende Genauigkeit der Prüfung erzielt
wird.
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Wie
im Voraus erläutert,
wurden aufgrund der zunehmenden Anforderung nach höherer Qualität die an
Prüfgegenständen zu
identifizierenden Defekte feiner und feiner, und außer wenn
der Ort der Defekte im Voraus identifiziert wird, sind derartige Defekte
sehr viel schwieriger zu entdecken. Das Prüfverfahren und die Prüfvorrichtung
der vorliegenden Erfindung würden
eine signifikante Verbesserung der Effizienz und der Genauigkeit
des Prüfschritts
mit sich bringen, bei welchem ein Hauptteil der Mühe auf eine
Ortung von feinen Defekten konzentriert worden ist.