JPWO2018189916A1 - 電気めっき方法及び装置 - Google Patents

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Abstract

電気めっき方法は、電気めっき槽(10)内の電解液に沈降した一群の基材(51)を電気めっき槽(10)の内壁(19)沿いの周方向に流動させる撹拌工程と、電気めっき槽(10)内の電解液において周方向沿いに流動する一群の基材(51)を電気めっきする電気めっき工程を含む。一群の基材(51)の周方向沿いの流動が、電気めっき槽(10)内の電解液中の磁性メディア(30)の周方向沿いの流動に伴って生じ、若しくは、電気めっき槽(10)の底側に設けられた撹拌部(46)の回転に伴って生じる。電気めっき槽(10)内の電解液において周方向沿いに流動する一群の基材(51)の少なくとも一部が、電気めっき槽(10)の底側に設けられた下部カソード(21)に接触し、下部カソード(21)に接触した基材(51)よりも上方に位置する基材(51)が、少なくとも下部カソード(21)に接触した基材(51)を介して下部カソード(21)に電気的に接続される。

Description

本開示は、電気めっき方法及び装置に関する。
特許文献1は、同文献の図1乃至図3から理解できるように、処理容器1の底部の弾性体4の伸縮変形に応じて弾性体4上の被めっき物6を撹拌すること、更には、弾性体4に設けられた第1電極7と、第2電極12の間の通電により電気めっきすることを開示する。この撹拌と電気めっきは同時に行われる。弾性体4の変形は、エアーシリンダーにより行われる。同文献の図2は、エアーシリンダーのロッドが後退した状態を示し、同文献の図3は、ロッドが前進した状態を示す。図2と図3の状態を繰り返すことにより被めっき物6が撹拌される。
特許文献2は、同文献の段落0052において銅めっきに際してバレル2中の配管1をメディア7で平滑化することを開示する。
特許文献3は、めっき処理室を回転させることで生じる遠心力を使用し、被めっき物にめっき処理するめっき装置を開示する。めっき処理室4は、カソード10が設けられた回転体11と、筒状部材3と、回転体11の内部で筒状部材3に遊嵌されたアノード13を有する。回転体11は、電動モーター18により駆動される。回転体11が回転すると、回転体11内の被めっき物1は、遠心力に応じてカソード10に押し付けられる。カソード10とアノード13間の通電に応じ、アノード13に面した被めっき物1の外部電極上にめっき層が形成される。同文献は、段落0038において回転体11を正回転、停止、逆回転、停止の順で制御すると説明する。
特許文献4は、特許文献3と同様のめっき装置に関する。特許文献4は、被めっき物と導電メディアの凝集を抑制するために撹拌メディアをめっき処理室に導入することを開示する。
服飾製品のボタンやスライドファスナーのスライダーのような、数グラム程度の小型の金属部品については、例えば特許文献5に記載のようなバレルめっき方法を使用することが一般的である。
特開2015−63711号公報 特開2013−119650号公報 特許第5741944号公報 特許第4725051号公報 特開平1−139799号公報
バレルめっきにおいては、めっき層と基材の界面に起因してめっき層と基材の密着性が低いという課題がある。
本開示の一態様に係る電気めっき方法は、
電気めっき槽(10)内の電解液に沈降した一群の基材(51)を前記電気めっき槽(10)の内壁(19)沿いの周方向に流動させる撹拌工程と、
前記電気めっき槽(10)内の前記電解液において前記周方向沿いに流動する前記一群の基材(51)を電気めっきする電気めっき工程を含み、
前記一群の基材(51)の前記周方向沿いの流動が、前記電気めっき槽(10)内の前記電解液中の磁性メディア(30)の前記周方向沿いの流動に伴って生じ、若しくは、前記電気めっき槽(10)の底側に設けられた撹拌部(46)の回転に伴って生じ、
前記電気めっき槽(10)内の前記電解液において前記周方向沿いに流動する前記一群の基材(51)の少なくとも一部が、前記電気めっき槽(10)の底側に設けられた下部カソード(21)に接触し、前記下部カソード(21)に接触した基材(51)よりも上方に位置する基材(51)が、少なくとも前記下部カソード(21)に接触した前記基材(51)を介して前記下部カソード(21)に電気的に接続される。
幾つかの実施形態においては、前記下部カソード(21)が、前記電気めっき槽(10)の筒部(11)の底側の内壁(19)近傍で前記周方向沿いに延びる。
幾つかの実施形態においては、前記下部カソード(21)よりも上方に設けられる上部アノード(22)が、前記周方向沿いに延びる。
幾つかの実施形態においては、前記撹拌部(46)は、前記電気めっき槽(10)の底側に回転可能に設けられ、前記電気めっき槽(10)の底部の少なくとも一部を構成する。
幾つかの実施形態においては、前記電気めっき槽(10)が筒部(11)を含み、前記筒部(11)が静止部材である。
幾つかの実施形態においては、前記磁性メディア(30)が棒又は針状の部材である。
幾つかの実施形態においては、前記電気めっき槽(10)内における前記基材(51)の最大rpmが40rpm未満である。
幾つかの実施形態においては、前記基材(51)が、1以上の基材金属元素を含み、
前記電気めっき工程により前記基材(51)の直上に、少なくとも第1のめっき層金属元素と、前記第1のめっき層金属元素とは異なる第2のめっき層金属元素を含むめっき層(52)が形成され、
前記第2のめっき層金属元素が、前記1以上の基材金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素であり、
前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する、及び/又は、前記基材(51)と前記めっき層(52)の間に明確な界面が存在しない。
幾つかの実施形態においては、前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する部分の厚みが10nm以上、又は20nm以上、又は、60nm以上である。
幾つかの実施形態においては、前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する部分の厚みが、80nm以下、又は60nm以下、又は、30nm以下、又は、20nm以下である。
幾つかの実施形態においては、前記めっき層(52)の表面において前記第1のめっき層金属元素の割合は100%未満、又は、90%未満である。
幾つかの実施形態においては、前記めっき層(52)の厚みが、150nm以下、又は100nm以下である。
幾つかの実施形態においては、前記めっき層(52)が、前記基材(51)とは反対側の反対面(52s)を有し、
前記めっき層(52)における前記第2のめっき層金属元素の割合の減少は、前記めっき層(52)の厚み方向において前記反対面(52s)に至るまで又は前記反対面(52s)の近傍に至るまで継続する。
幾つかの実施形態においては、前記基材(51)が、複数の前記基材金属元素を含み、
前記めっき層(52)が、複数の前記第2のめっき層金属元素を含み、
前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における各第2のめっき層金属元素の割合が減少する。
幾つかの実施形態においては、前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)に接近するに応じて前記めっき層(52)における前記第1のめっき層金属元素の割合が減少する。
幾つかの実施形態においては、前記基材(51)が前記基材金属元素として少なくとも銅を含む金属又は合金である。
幾つかの実施形態においては、前記めっき層(52)が、前記第1のめっき層金属元素として少なくとも錫を含む金属又は合金である。
幾つかの実施形態においては、前記めっき層(52)が、前記基材(51)とは反対側の反対面(52s)を有し、
前記反対面(52s)には粒子状部分及び/又は小塊状部分が2次元状に密集して形成されている。
幾つかの実施形態においては、前記基材(51)と前記めっき層(52)を含むめっき材(5)が、服飾部品(7)の少なくとも一部である。
本開示の幾つかの態様に係る電気めっき装置は、
電解液を蓄える電気めっき槽(10)にして、前記電気めっき槽(10)の底側に設けられた下部カソード(21)及び前記下部カソード(21)よりも上方に設けられる上部アノード(22)を備える電気めっき槽(10)と、
前記電気めっき槽(10)内の前記電解液に沈降した一群の基材(51)を前記電気めっき槽(10)の内壁(19)沿いの周方向に流動させる撹拌機構(40)を備え、
前記一群の基材(51)の前記周方向沿いの流動が、前記電気めっき槽(10)内の前記電解液中の磁性メディア(30)の前記周方向沿いの流動に伴って生じ、若しくは、前記電気めっき槽(10)の底側に設けられた撹拌部(46)の回転に伴って生じ、
前記電気めっき槽(10)内の前記電解液において前記周方向沿いに流動する前記一群の基材(51)の少なくとも一部が、前記下部カソード(21)に接触し、前記下部カソード(21)に接触した基材(51)よりも上方に位置する基材(51)が、少なくとも前記下部カソード(21)に接触した前記基材(51)を介して前記下部カソード(21)に電気的に接続される。
幾つかの実施形態においては、前記撹拌機構(40)は、前記電気めっき槽(10)内の前記電解液中の一群の磁性メディア(30)に対して磁気的に作用して前記一群の磁性メディア(30)を前記周方向沿いに流動させ、これに伴って、前記周方向沿いの前記一群の基材(51)の流動が生じる。
幾つかの実施形態においては、前記撹拌機構(40)は、
前記電気めっき槽(10)の底側において回転可能に設けられた撹拌部(46)と、
前記撹拌部(46)に回転力を供給する回転力供給機構(47)を備える。
幾つかの実施形態においては、前記撹拌部(46)は、上方に突出する翼部(463)の放射状配列を含む。
幾つかの実施形態においては、前記電気めっき槽(10)が、基材(51)の投入又は回収を許容する開口(18)を上部に有する筒部(11)を含み、
前記下部カソード(21)が、前記筒部(11)の底側の内壁(19)近傍で前記周方向沿いに延びる。
幾つかの実施形態においては、前記筒部(11)が静止部材である。
幾つかの実施形態においては、前記電気めっき槽(10)内における前記基材(51)の最大rpmが40rpm未満である。
本開示の幾つかの態様に係る電気めっき装置は、前記基材(51)が1以上の基材金属元素を含む上記いずれかに記載の電気めっき装置であって、
前記基材(51)の直上に、少なくとも第1のめっき層金属元素と、前記第1のめっき層金属元素とは異なる第2のめっき層金属元素を含むめっき層(52)が形成され、
前記第2のめっき層金属元素が、前記1以上の基材金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素であり、
前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する、及び/又は、前記基材(51)と前記めっき層(52)の間に明確な界面が存在しない。
本開示の一態様によれば、基材とめっき層の密着性が高められためっき材を提供できる。
本開示の一態様に係るめっき材のキャップの概略的な斜視図である。 本開示の一態様に係るめっき材のキャップが芯材に装着された服飾部品の概略的な斜視図である。 本開示の一態様に係るめっき材の層構造を概略的に示す模式図であり、基材と、基材の直上に形成されためっき層を示す。 本開示の一態様に係るめっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Cu,Zn)の割合が連続的に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Sn)の割合が減少する。 本開示の一態様に係るめっき材の断面における元素分布を示す図であり、第1のめっき層金属元素(Sn)がめっき層に存在し、基材金属元素(Cu)が基材及びめっき層に存在し、基材金属元素(Zn)が基材及びめっき層に存在することを示す。Cuは、Znよりもめっき層の表面近くまで存在していることが示される。 本開示の一態様に係るめっき材の断面を示すSEM写真であり、基材とめっき層の間に明確な界面が存在しないことを示す。 本開示の一態様に係るめっき層の表面の状態を示すSEM写真であり、粒子状部分及び/又は小塊状部分が2次元状に密集して形成されていることが示される。 従来のめっき材の断面を示すSEM写真であり、基材とめっき層の間に界面が存在することを示す。 従来のめっき材の断面における元素分布を示す図であり、めっき層金属元素(Sn)がめっき層に存在し、めっき層金属元素及び基材金属元素(Cu)が基材及びめっき層に存在し、基材金属元素(Zn)が基材に存在することを示す。基材金属元素(Zn)がめっき層に存在しないことが示される。 従来のめっき材のめっき層の表面の状態を示すSEM写真であり、クラックやピンホールが形成されていることが示される。 本開示の一態様に係るめっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Zn)の割合が連続的に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Cu)の割合が減少する。 本開示の一態様に係るめっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Cu)の割合が連続的に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Zn)の割合が減少する。 本開示の一態様に係るめっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Cu,Zn)の割合が連続的に急峻に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Sn)の割合が減少する。図4の場合よりもめっき層の厚みが更に薄くなる。 図13よりも薄くめっき層を形成した場合の概略的なグラフである。 本開示の一態様に係るめっき材の層構造を概略的に示す模式図であり、基材の直上に形成されためっき層が、下地めっき層と表面めっき層を含む。 本開示の一態様に係るめっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。下地めっき層が、ある第1のめっき層金属元素(Sn)から成る。表面めっき層が、別の第1のめっき層金属元素(Cu)から成る。 本開示の一態様に係るめっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Zn)の割合が連続的に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Cu)の割合が減少する。 本開示の一態様に係るめっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Fe)の割合が連続的に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Cu)の割合が減少する。 本開示の一態様に係るめっき材の非限定の一例の製造方法を示す概略的なフローチャートである。 本開示の一態様に係るめっき材の製造のために用いられ得る非限定の一例の電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図である。 本開示の一態様に係る電気めっき装置のめっき槽の概略的な上面模式図であり、めっき槽におけるカソード及びアノードの配置例を示し、また、めっき槽の底部に設けられた低摩擦材を示す。 図21のX22−X22に沿う電気めっき装置の概略的な部分断面図である。 撹拌及び電気めっき工程の時間経過に応じて基材の最大rpmが増加することを示す概略的なグラフである。 本開示の一態様に係るめっき材の製造のために用いられ得る非限定の一例の電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図である。 図24に示した電気めっき装置の撹拌部の概略的な上面模式図であり、撹拌部が、上方に突出する翼部の放射状配列を含むことを示す。 本開示の別形態に係る電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図であり、めっき槽の中央部に中空又は非中空の円柱部が設けられる例を示す。 本開示の別形態に係る電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図であり、カソード及びアノードの配置が異なる例を示す。 本開示の別形態に係る電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図であり、平板状の撹拌部を示す。 スライドファスナーの概略的な正面模式図であり、めっき材のバリエーションを示すために参酌される。
以下、図1乃至図29を参照しつつ、本発明の非限定の実施形態例について説明する。開示の1以上の実施形態例及び実施形態例に包含される各特徴は、個々に独立したものではない。当業者は、過剰説明を要せず、各実施形態例及び/又は各特徴を組み合わせることができる。また、当業者は、この組み合わせによる相乗効果も理解可能である。実施形態例間の重複説明は、原則的に省略する。参照図面は、発明の記述を主たる目的とするものであり、作図の便宜のために簡略化されている場合がある。
以下の記述において、あるめっき材及び/又はめっき材の製造方法、及び、ある電気めっき方法及び/又は電気めっき装置に関して記述される複数の特徴が、これらの特徴の組み合わせとして理解される他、他の特徴とは独立した個別の特徴として理解される。個別の特徴は、他の特徴との組み合わせを必須とすることなく独立した個別の特徴として理解されるが、1以上の他の個別の特徴との組み合わせとしても理解される。個別の特徴の組み合わせの全てを記述することは当業者には冗長である他なく、省略される。個別の特徴は、「幾つかの実施形態」、「幾つかの場合」、「幾つかの例」といった表現により明示される。個別の特徴は、例えば、図面に開示されためっき材及び/又はめっき材の製造方法、及び、電気めっき方法及び/又は電気めっき装置にのみ有効であるものではなく、他の様々なめっき材及び/又はめっき材の製造方法、及び、他の様々な電気めっき方法及び/又は電気めっき装置にも通用する普遍的な特徴として理解される。
第1、第2、第3といった用語は、これらが付された名詞を論理的に区別するために付される。例えば、第1との用語は、これが付された名詞が一つだけ存在することを明示するために用いられない(そのように明示する場合を除く)。例えば、「複数の第2のめっき層金属元素」といった記述において、第2のめっき層金属元素としての複数の金属元素の存在が示される。第1、第2、第3との用語は、これらが付された名詞が異なることを明示するために用いられない(そのように明示する場合を除く)。例えば、「第3金属元素が、1以上の第1金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素であり」との記述から分かるように、第3金属元素は、第1金属元素と同一であり得る。
図1は、めっき材5のキャップの概略的な斜視図である。図2は、めっき材5のキャップが芯材6に装着された服飾部品7の概略的な斜視図である。図3は、めっき材5の層構造を概略的に示す模式図であり、基材51と、基材51の直上に形成されためっき層52を示す。なお、基材51とめっき層52の界面53が実線により図示されるが、実際には明確な界面が存在しない。基材51は、1以上の基材金属元素を含む。めっき層52は、1以上の第1のめっき層金属元素を含む。めっき層52は、第1のめっき層金属元素に加えて、基材金属元素を含む。図4は、めっき層52の厚み方向におけるめっき材5の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。めっき層52の厚み方向において基材51から離間するに応じてめっき層52における第2のめっき層金属元素(Cu,Zn)の割合が連続的に減少する。めっき層52の厚み方向において基材51に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Sn)の割合が減少する。図5は、めっき材5の断面における元素分布を示す図であり、第1のめっき層金属元素(Sn)がめっき層52に存在し、基材金属元素(Cu)が基材51及びめっき層52に存在し、基材金属元素(Zn)が基材51及びめっき層52に存在することを示す。Cuは、Znよりもめっき層の表面近くまで存在していることが示される。図6は、本開示の一態様に係るめっき材5の断面を示すSEM写真であり、基材51とめっき層52の間に明確な界面が存在しないことを示す。図7は、めっき層52の表面の状態を示すSEM写真であり、粒子状部分及び/又は小塊状部分が2次元状に密集して形成されていることが示される。
幾つかの実施形態においては、めっき材5は、基材51と、基材51の直上に形成されためっき層52を含む。めっき材5は、基材51が少なくともめっき層52により被覆された部品であり得る。必ずしもこの限りではないが、めっき材5は、服飾部品7の少なくとも一部であり得る。図1及び図2に例示の幾つかの場合、めっき材5が服飾部品7の一部であり、別のパーツに組み合わされ、服飾部品7が製造される。図1及び図3の例示の幾つかの場合、めっき材5が、キャップであるカップ状の基材51と、基材51の表面上に形成された又は基材51の全表面を被覆するめっき層52を有する。図2に示す場合、図1のめっき材5が芯材6に装着され、服飾部品7が構築される。なお、服飾部品の分野においては、材料及び/又は製造コストを抑えながら、服飾部品の金属色や金属光沢のバリエーションを確保することが強く求められる。
図3及び図4に例示の幾つかの場合、基材51が、1以上の基材金属元素を含む。めっき層52が、少なくとも、第1のめっき層金属元素と、第1のめっき層金属元素とは異なる第2のめっき層金属元素を含む。基材51が純金属から成る場合、基材51は、一つの基材金属元素を含む。基材51が合金から成る場合、基材51は、2以上の基材金属元素を含む。なお、純金属又は合金といった金属材の製造又は精製過程において微量な不可避不純物又は不可避金属が含まれてしまう場合がある。例えば、基材51が黄銅(CuZn)から成る場合、基材51には他の微量な金属又は合金が含まれ得る。例えば、電気めっき用のSnの電極材には、Sn以外の微量な金属が含まれ得る。本明細書で述べる基材金属元素及びめっき層金属元素は、いずれも不可避金属を意味しないものと理解される。なお、基材金属元素は、様々な任意の金属元素であり得る。第1及び第2のめっき層金属元素、又はこれ以外のめっき層金属元素は、様々な任意の金属元素であり得る。
図3及び図4から理解できるように、幾つかの場合、めっき層52に含まれる第2のめっき層金属元素が、1以上の基材金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素である。図4の例では、第1のめっき層金属元素が、Snであり、第2のめっき層金属元素が、Cu及び/又はZnである。第1のめっき層金属元素(図4の例ではSn)は、少なくとも一つの基材金属元素(図4の例ではCu及びZnの両方)とは異なる。幾つかの場合、めっき層52に含まれる第1のめっき層金属元素は、複数の基材金属元素のうち少なくとも一つとは異なる(この点は、図11等の参照からより良く理解される)。
図4及び図5の非限定の一例の実証から分かるように、幾つかの場合、めっき層52の厚み方向において基材51から離間するに応じてめっき層52における第2のめっき層金属元素(図4の例ではCu及びZn)の割合が連続的に減少する。追加的又は代替的に、図6の非限定の一例の実証から分かるように、めっき層52と基材51の間に明確な界面が存在しない。かかる場合、基材51とめっき層52の密着性が高められる。この密着性の向上のため、例えば、基材51とめっき層52の界面での剥離の発生が低減され、及び/又は、めっき層52の薄厚化が促進され得る。なお、必ずしもこの限りではないが、第1のめっき層金属元素は、電気めっきに際して電解液中に存在する金属イオンに由来する。第2のめっき層金属元素は、基材51の基材金属元素に由来する。
本明細書の開示全体から理解できるように、必要ならば、めっき層は、その厚み方向において電気めっきにより基材上に析出した金属を含む層として定義され得る。従って、本明細書においては、めっき層は、電気めっきにより基材上に析出した金属以外の金属を含み得る。上述しためっき層金属元素は、めっき層を構成する金属元素であり、換言すれば、めっき層に含まれる金属元素である。第2のめっき層金属元素は、基材の組成に由来し得る。他方、第1のめっき層金属元素は、基材の組成に由来する必要性はない。限定の意図なくより具体的に述べれば、第1のめっき層金属元素は、めっき層の少なくとも一部として基材上に析出した金属元素であり得る。例えば、第1のめっき層金属元素は、基材とは別にめっき液中に供給され、基材に向かって電気泳動する金属イオンの析出物の金属元素に一致する。第2のめっき層金属元素は、第1のめっき層金属元素とは異なり、基材上の析出物には限られない。第2のめっき層金属元素は、めっき対象の基材に存在していた又は含まれていた基材金属元素、及び/又は、めっき対象の基材から溶出して析出した基材金属元素であり得る。基材金属元素は、基材を構成する金属元素であり、換言すれば、基材に含まれる金属元素である。
図4及び図5の非限定の一例の実証から分かるように、幾つかの場合、めっき層の厚みの変更によりめっき層の表面での金属元素の割合が簡単に変更可能である。例えば、図4の厚みT1のめっき層の表面と、図4の厚みT2のめっき層の表面では、金属元素の割合が異なる。めっき層の厚みの変更によりめっき層の構成を変化させることができ、めっき層のバリエーションが簡単に得られる。めっき層のバリエーションは、元素の割合に応じた化学的特性、電気的特性、及び/又は物理的特性のバリエーションであり得る。めっき層のバリエーションは、めっき層の色のバリエーションであり得る。幾つかの場合、服飾部品の金属色や金属光沢のバリエーションがより簡単に確保される。なお、図4では、めっき層と基材の境界L1が描かれる。図4では、第1のめっき層金属元素(Sn)が、境界L1よりも深部の基材領域において完全にゼロになっていない。しかしながら、これは計測とデータ出力過程で生じる誤差に起因する。図5の元素分布からわかるように第1のめっき層金属元素(Sn)は基材51の領域には存在しない。
図4及び図5の非限定の一例の実証から分かるように、幾つかの場合、めっき層52の厚み方向において基材51に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Sn)の割合が減少する。図4の非限定の一例の実証から分かるように、幾つかの場合、めっき層52の厚み方向における第1のめっき層金属元素の割合の変化を示す曲線と、めっき層52の厚み方向における基材金属元素の割合の変化を示す曲線が交差する。換言すれば、基材51側とは反対側のめっき層52の反対面52sの近傍において第1のめっき層金属元素が多く存在し、めっき層52における基材51の近傍の領域において第2のめっき層金属元素が多く存在する。本明細書では、めっき層52の反対面52sがめっき層52の表面とも呼ばれる。
図4の非限定の一例の実証から分かるように、幾つかの場合、めっき層52における第2のめっき層金属元素の割合の減少は、めっき層52の厚み方向において反対面52sに至るまで又は反対面52sの近傍に至るまで継続する。換言すれば、幾つかの実施形態においては、基材金属元素の割合に変化がなくなる程までめっき層52が厚く形成されない。めっき層52の薄厚化は、めっき層の形成のために用いられる金属材の量の低減に寄与する。
図4の非限定の一例の実証から分かるように、幾つかの場合、基材51が、複数の基材金属元素を含み、めっき層52が、複数の基材金属元素を含み、めっき層52の厚み方向において基材51から離間するに応じてめっき層52における各第2のめっき層金属元素の割合が減少する。基材51が、3以上の基材金属元素を含む場合も想定される。めっき層52が、2又は3以上のめっき層金属元素を含む場合も想定される。
なお、元素の割合については、原子パーセント(at%)に依拠するものとする。すなわち、ある元素の割合が大きい時、その元素の原子パーセントの値が大きい。原子パーセントの決定は、日本電子(株)製 JAMP9500F オージェ電子分光分析装置を用いて決定するものとする。
基材金属元素及び第1のめっき層金属元素は、様々な任意の金属元素であり得るが、一例としては、基材51が黄銅(CuZn)から成り、基材金属元素が、銅(Cu)及び亜鉛(Zn)である。幾つかの場合、基材51は、基材金属元素として少なくとも銅を含む金属又は合金である。めっき層52は、幾つかの場合、第1のめっき層金属元素として少なくとも錫(Sn)を含む金属又は合金である。図4等に例示の幾つかの場合、基材51が複数の基材金属元素(例えば、Cu,Sn)を含み、めっき層52が、複数の第2のめっき層金属元素(例えば、Cu,Sn)を含む。めっき層52の厚み方向において基材51から離間するに応じてめっき層52における各第2のめっき層金属元素(例えば、Cu,Sn)の割合が減少する。
図7の非限定の一例の実証から分かるように、幾つかの場合、めっき層52の反対面52sには粒子状部分及び/又は小塊状部分が2次元状に密集して形成される。めっき層52は、その緻密な表面状態のため、高められたアルカリ、酸、薬品耐性を有し得る。めっき層52を薄くしたとしても、めっき層52の十分な薬品耐性が確保される。幾つかの場合、めっき層52の厚みが、150nm以下、又は100nm以下である。なお、幾つかの実施形態に係るめっき材においては、めっき層52の厚みは、150nm以下、又は100nm以下でもめっきの密着性の面で特段の問題が無い。従って、めっき材の生産性を考慮すれば必要最低限の厚みにすればよい。かかる観点から150nm以下、又は100nm以下が好ましいが、これに限らず、めっき時間を長く継続して膜厚を更に厚くしてもよい。
上述したように、幾つかの場合、基材51とめっき層52の間に明確な界面が存在しない。めっき層52における第1の及び/又は第2のめっき層金属元素の割合の緩やかな変化が無界面に帰結していることが推定される。めっき層52の厚みの決定のため、基材51とめっき層52の境界を定める必要がある。本明細書においては、図4及び/又は図5に示す測定方法に基づいて基材51とめっき層52の境界が決定される。図4の測定方法では、基材51における所定の基材金属元素の割合に到達するめっき層52の表面からの深さにより基材51とめっき層52の境界が定められる。図5の測定方法では、第1のめっき層金属元素の分布及び/又は基材金属元素の分布から基材51とめっき層52の境界が定められる。例えば、Cu:Zn=80:20の元素比の黄銅の基材51が用いられる場合、Cuの原子パーセントが約80at%であり、Znの原子パーセントが約20at%に到達する位置に境界が定められ得る。しかし、図4に示す元素パーセントの割合の変化は、測定機においてエッチングにより放出される材料の元素分析により観察されるものであり、当然に誤差を含む。基材51とめっき層52の境界は、このような測定誤差も踏まえ、妥当な深さに決定されるべきものである。
本発明の実施品についての基材51とめっき層52の境界が次のように決定されるべきものとする。基材51における主たる基材金属元素の最大割合に対してその基材金属元素の割合が98%に到達する位置が、基材51とめっき層52の境界として決定される。基材51における主たる基材金属元素は、基材51が単一の基材金属元素を含む場合、その単一の基材金属元素である。基材51における主たる基材金属元素は、基材51が複数の基材金属元素を含む場合、割合、つまり、原子パーセントが最大の基材金属元素である。例えば、Cu:Zn=80:20の元素比の黄銅が基材51として用いられる場合、割合が最大の金属成分(原子パーセントが最大の金属成分)であるCuの原子パーセントが、最大割合の80at%の98%に到達した位置が境界として定められる。
なお、従来のバレルめっきや静止めっきについては、本発明の実施品のような無界面状態ではなく、明確な界面が存在するので、その位置を基材51とめっき層52の境界と定義する。ただ、母材の表面には実際には微細な凹凸があるため、便宜上はその表面の凹凸の平均高さ(Rc)の位置を基材51とめっき層52の境界と定義する。
上述のように、幾つかの場合、めっき層52における第2のめっき層金属元素の割合が緩慢に変化し、及び/又は、基材51とめっき層52の間に明確な界面が存在しない。このようなめっき層52を有しない従来のめっき材について図8乃至図10を参照して記述する。図8は、従来のめっき材の断面を示すSEM写真であり、基材とめっき層の間に界面が存在することを示す。図9は、従来のめっき材の断面における元素分布を示す図であり、めっき層金属元素(Sn)がめっき層に存在し、めっき層金属元素及び基材金属元素(Cu)が基材及びめっき層に存在し、基材金属元素(Zn)が基材に存在することを示す。基材金属元素(Zn)がめっき層に存在しないことが示される。図8、図9のとおり、従来のバレルめっきにおいては、めっき表面の色調や表面状態の改善のために膜厚を200nmよりも厚くする場合があり、かつ、母材の上にめっき層が単純に積層するように形成されるため、基材51とめっき層52の境界は視覚的に明確に特定できる。ただ、母材の表面には実際には微細な凹凸があるため、界面とはその凹凸の表面自体になる。なお、めっき膜厚を数値的に表現する場合には、便宜上はその表面の凹凸の平均高さ(Rc)の位置を基材51とめっき層52の境界とする。また、図10は、従来のめっき材のめっき層の表面の状態を示すSEM写真であり、クラックやピンホールが形成されていることが示される。
図8乃至図10では、基材が黄銅(CuZn)から成り、めっき層がCuSn合金から成る。250nm厚のCuSn層のめっき層においてCuの元素パーセントとSnの元素パーセントが実質的に一定である。図8に示すように、めっき層と基材の金属組織の違いから理解される明確な界面がめっき層と基材の間に存在する。図9に示すように、めっき層は、基材金属元素のZnを含まない。めっき層がCuを含む理由は、Cuがめっき層金属元素であるためである。図10に示すように、めっき層の表面には、クラックD1やピンホールD2が存在する。クラックD1やピンホールD2へのアルカリ、酸、薬品の進入によりめっき層の腐蝕や崩壊が進行し得る。この課題及び/又は他の課題に完全に対処するには10000nm程度以上のめっき厚が必要とされているが、従来の現実的な工業生産レベルでのめっき材においては、例えば、250nm厚といった100nm〜200nmを超える厚みのめっき層を形成して、めっき剥がれや酸化や変色といった問題についてある程度の実用レベルに耐えれるところで妥協している。
図8乃至図10の従来例のめっき材のめっき層は、バレルめっきにより形成されたものである。バレルめっきは、めっき浴に浸漬したバレル(回転カゴ)内に被めっき材、本明細書で言う基材を投入し、バレルを回転させながら電気めっきする方法である。一度に多量の被めっき材を電気めっきすることができる利点がある。図1乃至図7の実施形態に係るめっき材のめっき層は、図19乃至図28を参照して記述する後述の非限定の一例の方法により形成されるが、必ずしもこの方法に限定されるべきではない。当業者は、本開示に係るめっき層を実現するため、既存のバレルめっきを改良し、又は、全く異なる別の方法を想到し得る。
図1乃至図7に例示の実施形態に係るめっき材は、図8乃至図10の従来のめっき材の1以上の問題を解決し得る。すなわち、図1乃至図7に例示の実施形態に係るめっき材は、基材とめっき層の界面に起因した低い密着性という従来の課題の解決に貢献し得る。めっき層を厚く形成しても、めっき層と基材の間に界面があれば、めっき層の剥離が誘起され得る。追加的又は代替的に、図1乃至図7に例示の実施形態に係るめっき材は、めっき層が厚いという従来の課題の解決に貢献し得る。追加的又は代替的に、図1乃至図7に例示の実施形態に係るめっき材は、めっき層の表面に多数のクラック及び/又はピンホールがあるという従来の課題の解決に貢献し得る。
以下、図11乃至図18を参照して金属元素のバリエーションについて主に記述する。図11は、めっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。図11においては、基材51が黄銅(CuZn)から成り、第1のめっき層金属元素が銅(Cu)である。図11から分かるように、めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Zn)の割合が連続的に減少する。図11の場合、第1のめっき層金属元素が銅(Cu)であるため、めっき層における基材51由来の金属元素(Cu)の割合の変化が観察できない。
めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて金属元素(Cu)の割合が減少する。図11のめっき層における金属元素(Cu)の割合の変化は、基材金属元素としてのCuと第1のめっき層金属元素としてのCuの合計の割合の変化を示す。しかし、めっき層52の表面側において第1のめっき層金属元素が多く存在することが明らかであるため、図11のめっき層における金属元素(Cu)の割合の変化は、めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Cu)の割合が減少することを裏付ける。
図12は、めっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。図12においては、基材51が黄銅(CuZn)から成り、第1のめっき層金属元素が亜鉛(Zn)である。図12から分かるように、めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Cu)の割合が連続的に減少する。図12の場合、第1のめっき層金属元素が亜鉛(Zn)であるため、めっき層における基材51由来の金属元素(Zn)の割合の変化が観察できない。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて金属元素(Zn)の割合が減少することは、めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Zn)の割合が減少することを裏付ける。
図13は、めっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。図13においては、基材51が黄銅(CuZn)から成り、第1のめっき層金属元素が錫(Sn)である。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Cu又はZn)の割合が連続的に急峻に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Sn)の割合が減少する。図13の場合、図4とは異なる装置でめっき層が形成され、図4のめっき層よりもめっき層の厚みが薄くなる顕著な効果が得られる。
なお、めっき層の厚みは、必ずしも、上述の各例の厚みに限定されるべきではない。例えば、図13の場合、めっきの厚みを20nmより大きくすれば、よりSnの素材の色であるシルバー色に近づく色目のめっき材が得られる。逆に、めっきの厚みを20nmより小さくすれば、より基材51の黄銅の色である黄色に近づく色目のめっき材が得られる。
具体的には、図13のめっきの厚みを10nmとした例を、図14に記載する。この場合、図13の実施形態のめっき材が薄いゴールド色となるのに対して、それよりも若干黄色が強い色目となる。このように、厚みを10nmとした本発明の実施形態の場合であっても、従来のバレルめっきよりも密着性において優位性があるめっき材が得られる。
図15は、めっき材の層構造を概略的に示す模式図であり、基材の直上に形成されためっき層が、下地めっき層と表面めっき層を含む。図16は、めっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。図16では、図15のように、めっき層が下地めっき層と表面めっき層から成る。図16においては、基材51が黄銅(CuZn)から成り、下地めっき層の第1のめっき層金属元素が錫(Sn)から成り、表面めっき層の第1のめっき層金属元素が銅(Cu)から成る。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じて下地めっき層における第2のめっき層金属元素(Cu又はZn)の割合が連続的に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて下地めっき層の第1のめっき層金属元素(Sn)の割合が連続的に減少する。
めっき層の厚み方向において下地めっき層から離間するに応じて表面めっき層における第2のめっき層金属元素(Zn)の割合が連続的に減少し、下地めっき層の第1のめっき層金属元素(Sn)の割合も同様に連続的に減少する。図16の場合、表面めっき層の第1のめっき層金属元素が銅(Cu)であるため、表面めっき層における基材51由来の金属元素(Cu)の割合の変化が観察できない。表面めっき層の厚み方向において下地めっき層に接近するに応じて表面めっき層の金属元素(Cu)の割合が減少することは、表面めっき層の厚み方向において下地めっき層に接近するに応じて表面めっき層の基材51由来の金属元素(Cu)の割合が減少することを裏付ける。
基材51として主に黄銅が用いられる例について記述したが、他の金属(例えば、亜鉛、ステンレス)、合金、或いは純金属(亜鉛等)が用いられることも想定される。単層や2層の他、3層以上にめっき層が形成される場合も想定される。図4、図11乃至図14、及び図16〜18においてめっき層52の表面の位置が52sにより示される。
図17は、めっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。図17においては、基材51が亜鉛(Zn)から成り、めっき層の第1のめっき層金属元素が銅(Cu)である。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Zn)の割合が連続的に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Cu)の割合が減少する。
図18は、めっき層の厚み方向におけるめっき材の各金属元素の割合の変化を示す概略的なグラフである。図18においては、基材51がステンレスから成り、基材金属元素(Fe)を含む。めっき層の第1のめっき層金属元素が銅(Cu)である。めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素(Fe)の割合が連続的に減少する。めっき層の厚み方向において基材に接近するに応じて第1のめっき層金属元素(Cu)の割合が減少する。
上述の開示から分かるように、幾つかの場合、めっき層52の厚み方向において基材51から離間するに応じて第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する部分の厚みが10nm以上、又は20nm以上、又は、60nm以上である。図17は、60nm及び/又は400nm以上の厚み範囲において第2のめっき層金属元素(Zn)の割合が連続的に減少することを示す。図18は、60nm及び/又は100nm以上の厚み範囲において第2のめっき層金属元素(Fe)の割合が減少することを示す。図4は、60nm以上の厚み範囲において第2のめっき層金属元素(Cu)の割合が連続的に減少することを示す。図4は、40nm以上の厚み範囲において第2のめっき層金属元素(Zn)の割合が連続的に減少することを示す。図11及び図12は、図4と同様である。図13は、10nm及び/又は20nm以上の厚み範囲において第2のめっき層金属元素(Cu,Zn)の割合が連続的に急峻に減少することを示す。
上述の開示から分かるように、幾つかの場合、めっき層52の厚み方向において基材51から離間するに応じて第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する部分の厚みが80nm以下、又は60nm以下、又は、30nm以下、又は、20nm以下である。図4は、80nm以下又は60nm以下の厚み範囲において第2のめっき層金属元素(Cu,Zn)の割合が連続的に減少することを示す。図11及び図12も同様である。図13は、30nm以下及び/又は20nm以下の厚み範囲において第2のめっき層金属元素(Cu,Zn)の割合が連続的に急峻に減少することを示す。
上述の開示から分かるように、幾つかの場合、めっき層52の表面において第1のめっき層金属元素の割合は100%未満、又は90%未満である。めっき層における第2のめっき金属元素のため、めっき層52の最表面において第1のめっき層金属元素の割合が100%にならない。めっき層52の表面において第1のめっき層金属元素の割合が理論上は100%未満であり、又は、異物や測定誤差を考慮しても90%未満である。例えば、図13の実施形態では、第1のめっき層金属元素であるSnが35%に到達した時点でめっきを終了している。従来のバレルめっきにおいては、めっき終了後のめっき材の表面において、めっき層金属元素の割合が理論上は100%であるし、又は、異物や測定誤差を考慮しても90%以上となっている。所望の色目のめっき状態において電気めっきを停止することで、微妙な色目の違うめっき材を簡単に製造できる。
以下、図19乃至図28を参照して非限定の一例のめっき材の製造方法(又は電気めっき方法)と、これに用いられ得る電気めっき装置の構成について記述する。なお、図19乃至図28及びこれに関する記述は、上述のめっき材について何らの限定を与えるものではない。図19は、めっき材の非限定の一例の製造方法を示す概略的なフローチャートである。図20は、めっき材の製造のために用いられ得る非限定の一例の電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図である。図21は、電気めっき装置のめっき槽の概略的な上面模式図であり、めっき槽におけるカソード及びアノードの配置例を示し、また、めっき槽の底部に設けられた低摩擦材を示す。図22は、図21のX22−X22に沿う電気めっき装置の概略的な部分断面図である。図23は、撹拌及び電気めっき工程の時間経過に応じて基材の最大rpmが増加することを示す概略的なグラフである。図24は、めっき材の製造のために用いられ得る非限定の一例の電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図である。図25は、図24に示した電気めっき装置の撹拌部の概略的な上面模式図であり、撹拌部が、上方に突出する翼部の放射状配列を含むことを示す。図26は、電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図であり、めっき槽の中央部に中空又は非中空の円柱部が設けられる例を示す。図27は、電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図であり、カソード及びアノードの配置が異なる例を示す。図28は、電気めっき装置の概略的な構成を示す模式図であり、平板状の撹拌部を示す。
図19に示すように、めっき材の製造方法は、基材金属元素を含む基材を電気めっき槽に投入する工程と、電気めっき槽において基材を周方向に流動させながら電気めっきする工程を含み得る。この電気めっき方法により基材の直上に基材金属元素とは異なる第1のめっき層金属元素を含むめっき層が形成される。上述したように、この形成されためっき層が基材金属元素を更に含む。上述したように、めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素の割合が減少する、及び/又は、めっき層と基材の間に明確な界面が存在しない。めっき材5に関して記述した他の特徴が、この段落で述べためっき材にも通用する。上述した「電気めっき槽において基材を周方向に流動させながら電気めっきする工程」は、後述の開示に基づけば、電気めっき槽内の電解液に沈降した一群の基材を電気めっき槽の内壁沿いの周方向に流動させる撹拌工程と、電気めっき槽内の電解液において周方向沿いに流動する一群の基材を電気めっきする電気めっき工程を含むものと理解できる。
図20及び図24に例示される幾つかの実施形態に係る電気めっき装置1は、電解液を蓄える電気めっき槽10と、電気めっき槽10に蓄えられた電解液中で沈降した一群の基材51を流動させる撹拌機構40を備える。電解液は、例えば、シアン系の電解液である。基材51を被めっき材と呼ぶ場合がある。撹拌機構40の作動に応じて基材51の周方向の流動が生じ、同時に電気めっきも行われる。幾つかの場合、撹拌機構40は、電気めっき槽10に蓄えられた電解液中で沈降した一群の基材51を、実質的に沈降状態を維持しながら電気めっき槽10の内壁19沿いの周方向に流動させる。
図20に例示の幾つかの場合、撹拌機構40は、電気めっき槽10の電解液中の一群の磁性メディア30に対して磁気的に作用して一群の磁性メディア30を流動させる。磁性メディア30の流動に際して磁性メディア30が基材51に衝突する。磁性メディア30の運動力が基材51に伝達し、基材51が流動を開始する。基材51に対する磁性メディア30の連続的又は断続的な衝突により基材51の流動が維持又は促進される。基材51同士の接触及び衝突、また、基材51と磁性メディア30の接触及び衝突により、基材51及びめっき層52が研磨される。
図24に例示の幾つかの場合、撹拌機構40は、電気めっき槽10の底側に設けられた撹拌部46の回転により一群の基材51を周方向に流動させる。撹拌機構40は、電気めっき槽10の底側において回転可能に設けられた撹拌部46と、撹拌部46に回転力を供給する回転力供給機構47を備える。撹拌部46の回転に応じて各基材51が周方向に流動する。めっき層52が形成される前の基材51同士の接触及び衝突、また、めっき層52の成長過程の基材51同士の接触及び衝突により、基材51及びめっき層52が研磨される。
幾つかの場合、撹拌部46は、電気めっき槽10の底側に回転可能に設けられ、電気めっき槽10の底部の少なくとも一部を構成する。撹拌部46の回転により、電気めっき槽10の筒部11に対して電気めっき槽10の底部の少なくとも一部が相対的に回転する。
電気めっき槽10は、幾つかの場合、筒部11及び底部12を含む。筒部11は、基材51の投入又は回収を許容する開口18を上部に有する円筒状部材である。筒部11の下端には底部12が設けられる。電気めっき槽10及び筒部11は静止部材である。筒部11は、筒部11の中心軸が後述の回転軸AX5に合致するように配される。筒部11の中心軸及び回転軸AX5は、幾つかの場合、鉛直方向に合致する。従って、電気めっき槽10に投入された一群の基材51は鉛直方向下方に向けて電解液中で沈降し、底部12上に堆積する。
電気めっき装置1は、幾つかの場合、電気めっき槽10の底側に設けられた下部カソード21及び下部カソード21よりも上方に設けられる上部アノード22を備える。底側とは、電気めっき槽10の電解液中に投入された基材51の基材51が沈降していく方向に等しい。下部カソード21が電源90の負極に接続し、上部アノード22が電源90の正極に接続される。
上部アノード22から電解液中に放出又は溶出した金属イオン、又は、電解液中にあらかじめ入れておいた金属イオンは、下部カソード21に直接接触した基材51から電子を受け取り、また他の基材51を介して下部カソード21に電気的に接続した基材51から電子を受け取る。金属イオンは、電子の受け取り後、基材51上に析出し、めっき層を形成する。下部カソード21に直接的に接触した基材51は、下部カソード21からその基材51に受け渡された電子を金属イオンに供給することができる。下部カソード21に直接的に接触せず、下部カソード21に対して他の1以上の基材51を介して電気的に接続した基材51は、他の1以上の基材51を介して伝達した下部カソード21由来の電子を金属イオンに供給することができる。
幾つかの実施形態では、一群の基材51は、電気めっき槽10に蓄えられた電解液中で実質的に沈降状態を維持しながら周方向沿いに流動し、一群の基材51の少なくとも一部が下部カソード21に接触し、下部カソード21に接触した基材51よりも上方に位置する基材51が、少なくとも下部カソード21に接触した基材51を介して下部カソード21に電気的に接続される。換言すれば、一群の基材51は、下部カソード21に接触して下部カソード21に電気的に接続した第1グループに属する複数の基材51と、下部カソード21に接触せず、少なくとも第1グループに属する少なくとも一つの基材51を介して下部カソード21に電気的に接続された第2グループに属する複数の基材51を含み得る。一群の基材51は、第1グループに属する少なくとも一つの基材51と第2グループに属する少なくとも一つの基材51を介して下部カソード21に電気的に接続された第3グループに属する複数の基材51を含み得る。実質的に沈降状態を維持しながら周方向沿いに流動することは、大半の基材51が電解液中で浮き上がらない状態を意味する。実質的に沈降状態を維持しながら周方向沿いに流動することは、偶発的な電解液の流れの乱れや基材51同士の衝突により一時的に浮遊する基材51の存在を排除するものではなく、これを包含する。ある特定の場合、実質的に沈降状態を維持しながら周方向沿いに流動することは、めっき処理液及び/又は基材51が最大回転速度で流動している状態において、偶発的な電解液の流れの乱れや基材51同士の衝突により一時的に浮遊したごく一部の基材51を除く大半の基材51が電気めっき槽10の底部又は他の基材51と接触している状態を包含する。これにより基材51と下部カソード21間の電気的接続がより確実に確保でき、基材51が無給電状態になることを回避可能である。
一般的なバレルめっきは、バレルの回転数が3〜8rpmと低速で回転することで一群の基材51を撹拌しながらめっきをするものであり、均一で色むらのないめっきが得られるまでにより長い時間を要してしまう。他方、本開示の方法によれば、均一で色むらのないめっきが得られるまでに要する時間の短縮化も促進可能である。幾つかの場合、バレルめっきと比較してめっき工程に要する時間が半減される。
下部カソード21は、筒部11の底側の内壁19近傍で周方向沿いに延びる(例えば、図21参照)。下部カソード21は、電気めっき槽10の底側に位置する環状電極であり得る。一群の基材51が周方向に流動するため、下部カソード21が環状電極を含む場合、基材51と下部カソード21の良好な接触が確保される。なお、周方向とは、電気めっき槽10の内壁19に沿いに進行する方向であり、正円形状に即した方向に限定されず、楕円形状やその他の形状に即した方向も包含する。なお、下部カソードは環状が好ましいが、それ以外にも棒状、板状、球状などの形状でもよいし、電気めっき槽10の底部12の全体又は一部をカソードとしてもよい。
上部アノード22は、周方向沿いに延びる。これにより、周方向においてめっき層の成長速度に差が生じることが回避又は抑制される。より端的には、上部アノード22は、筒部11の開口18側で周方向沿いに延びる。上部アノード22は、電気めっき槽10の上部に位置する環状電極である。幾つかの場合、上部アノード22は、必ずしもこれに限られないが、金属ワイヤであり、新たな金属ワイヤに簡単に交換可能に設けられる。別例においては、上部アノード22は、球状、板状、チップ状であり得る。上部アノード22としては、様々な種類の金属や材料が採用され得る。例えば、カーボン、ステンレス、銅、錫、亜鉛、黄銅、チタン、金、銀、ニッケル、クロム、鉛、パラジウム、コバルト、白金、ルテニウム、ロジウムの群から選択される1以上の金属である。上部アノード22は、電気めっきの進行に伴い、電解液中に溶出し、時間の経過と共に体積及び重量が減じられる。なお、アノードやカソードが周方向沿いに延びるというのは完全な円であることを意味するのではなく、部分断続的に周方向に沿って電極が配置されている状態を含む。
上部アノード22の金属種や電解液の組成を適切に調整することにより所望の仕上げ色を確保することができる。例えば、基材51は、金色、黒色、シルバー色、淡銅色、濃銅色、ブラウン色のめっき層により被覆される。
下部カソード21としては、様々な種類の金属が採用され得る。例えば、ステンレス、銅、錫、亜鉛、ステンレス、カーボン、チタン、金、銀、ニッケル、クロム、鉛、パラジウム、コバルト、白金、ルテニウム、ロジウムの群から選択される1以上の金属である。下部カソード21にもめっき層が成長する。従って、幾つかの場合、適切なタイミングでめっき層が除去され、又は下部カソード21が交換される。
電気めっき装置1は、幾つかの場合、蓋15を更に有する。蓋15には上部アノード22に接続した配線を通過するための孔が設けられる。電気めっき槽10の深さ方向における上部アノード22の高さは、蓋15に対する上部アノード22の間隔を定めることにより決定される。換言すれば、電気めっき槽10に蓋15をすることにより、上部アノード22は電気めっき槽10内で適切な高さに位置決めされる。
図20に例示の幾つかの場合、電気めっき槽10内には一群の基材51に加えて、一群の磁性メディア30が投入される。上述したように、図20の撹拌機構40は、基材51に対して直接的に作用して基材51を流動させるものではなく、一群の磁性メディア30を介して基材51に対して作用する。幾つかの場合、一つの磁性メディア30は、一つの基材51に比して十分に小さい。磁性メディア30の具体的な種類は様々であり得る。一例としては、磁性メディア30は、棒又は針状の部材であり得る。別例としては、磁性メディア30は、球、直方体、立方体、又はピラミッド状であり得る。磁性メディア30は、典型的には、ステンレス製であるが、必ずしもこの限りではない。磁性メディア30が、棒又は針状のステンレス材である時、基材51との衝突時に基材51の最外面のめっき層を効果的に研磨することができる。なお、蓋15を使わずに棒材で上部アノード22を吊り下げるようにしてもよい。
図20に例示の幾つかの場合、周方向沿いの一群の基材51の流動は、撹拌機構40が、電気めっき槽10の電解液中の一群の磁性メディア30に対して磁気的に作用して一群の磁性メディア30を周方向沿いに流動させることにより確保される。一群の基材51の周方向沿いの流動が、電気めっき槽10内の電解液中の磁性メディア30の周方向沿いの流動に伴って生じる。磁性メディア30が周方向沿いに流動する時、磁性メディア30は、基材51よりも大きい運動力を持つ。成長過程のめっき層の効果的な研磨が促進される。
撹拌機構40は、幾つかの場合、電動モーター41、回転軸42、回転板43、及び1以上の永久磁石44を有する。電動モーター41で生成される回転力が直接又は間接的に回転軸42に伝達し、回転軸42に固定された回転板43が回転し、回転板43上の永久磁石44が周方向に回転する。電動モーター41と回転軸42の間に回転力伝達系、例えば、無担ベルト等を設けることも想定される。撹拌機構40の具体的な構成は、当業者により適切に決定される。
幾つかの場合、撹拌機構40は、磁気回路を含むことができる。磁気回路を適切に設計することにより、物理的な部材の回転を伴うことなく、磁性メディア30を周方向沿いに流動させることができる。
永久磁石44は、例えば、N極が鉛直方向上方に向くように回転板43の上面に固定されている。磁性メディア30は、永久磁石44に吸引される。従って、永久磁石44の周方向移動に応じて磁性メディア30が永久磁石44に連行される。このようにして磁性メディア30の周方向の流動が達成され、これにより基材51の周方向の流動が達成される。
図24に例示の幾つかの場合、撹拌部46は、電気めっき槽10の底部の少なくとも一部を成す円盤部461、及び円盤部461に連結した回転軸462を含む。円盤部461の上面は、電気めっき槽10の底部12の底面に一致する。円盤部461の上面の中央には鉛直方向上方に突出した突起部464が設けられる。図25に例示のように、円盤部461の上面には、上方、つまり鉛直方向上方に突出する翼部463の放射状配列が設けられる。翼部463は、円盤部461の中央に関して放射状に設けられる。
一群の基材51の周方向沿いの流動が、電気めっき槽10の底側に設けられた撹拌部46の回転に伴って生じる。撹拌部46が回転軸AX5周りに回転する時、翼部463も回転軸AX5周りに回転する。一つの翼部463に着目すると、翼部463は、周方向沿いに進行し、この過程で、電解液に流れを生じさせ、基材51の周方向沿いの流動が生じる。翼部463は、基材51に直接的に接触及び衝突し得る。幾つかの場合、翼部463は、円盤部461の上面に関して低い高さを持つ。撹拌部46の円滑な回転が促進される。このようにして電気めっき槽10内での基材51の均一な撹拌が促進される。なお、電気めっき槽10の筒部11は静止部材である。
円盤部461の径方向外側領域に設けられた傾斜部が、電気めっき槽10の筒部11の下端に設けられた径方向内側に向けて延びるフランジ部119上に配置される。円盤部461の傾斜部とフランジ部119の間の隙間は、不図示のドレイン管が接続されている。ドレイン管の開閉により電気めっき槽10の電解液を排出可能である。
回転力供給機構47は、電動モーター471と、及び動力伝達ベルト472を含む。電動モーター471の回転力が動力伝達ベルト472を介して撹拌部46の回転軸462に伝達する。これに応じて回転軸462が回転し、また、回転軸462に連結した円盤部461が回転し、円盤部461の上面上の翼部463が周方向沿いに移動する。これにより電気めっき槽10の電解液中で撹拌部46の円盤部461上に沈降していた一群の基材51が周方向沿いに遊動する。
幾つかの場合、図21及び図22の例示から分かるように、下部カソード21よりも径方向内側の底部12の底面上には低摩擦材13が設けられる。これにより、底部12上での基材51の流動が促進される。幾つかの場合、追加的又は代替的に、低摩擦材が電気めっき槽10の内壁19に設けられる。低摩擦材は、例えば、樹脂製シートであり、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリウレタン製である。
図20及び図24に例示の幾つかの実施形態では、電気めっき装置1において、撹拌と電気めっきが同時に行われる。撹拌過程で、基材51の表面が研磨され、基材51上のめっき層52の表面が研磨される。図20の装置では磁性メディア30が基材51に衝突すると共に基材51同士をも衝突することで、表面状態に影響を与えつつめっきを進行させることができ、これにより、先に図示した第2のめっき層金属元素の割合の連続的な変化が生じるものと想定される。図24の装置においても、回転数を調整して基材51同士を一定頻度以上の割合で衝突させることで、表面状態に影響を与えつつめっきを進行させることができ、これにより、先に図示した第2のめっき層金属元素の割合の連続的な変化が生じるものと想定される。なお、図4、図11、図12、及び図16〜18のめっき層は、図20の電気めっき装置1により形成されたものである。図13及び14のめっき層は、図24の電気めっき装置1により形成されたものである。
めっき層の成長過程でめっき層が研磨されることは、めっき層を成長させることの当初目的に反するように見える。しかしながら、めっき層の成長過程でめっき層が研磨される場合、めっき層が薄い段階からその平坦度が高まり、結果として薄いめっき層で所望の仕上がり、換言すれば、所望の平坦度や光沢度を得ることに帰結し得る。めっき層の薄厚化は、電気めっきに要する時間及び電力の低減に帰結し、めっき材5及び/又は服飾部品7の製品単価の低減に顕著に寄与し得る。
幾つかの場合、撹拌及び電気めっき工程の初期段階では、基材51の表面の平坦度が著しく低い。従って、電気めっき槽10の溶液中で沈降した一群の基材51は、磁性メディア30の衝突にも関わらず、周囲の他の基材51との接触抵抗のために流動しない。このような場合においても、時間経過に伴う、磁性メディア30との衝突数の増加、基材51同士の衝突数の増加、及びめっき層の成長に伴い、基材51の最外面の平坦度が高まり、一群の基材51の流動が促進される。
図23を参酌して上述の点について補足的に説明する。時刻t1の時、電源90のスイッチがオンされ、下部カソード21と上部アノード22の間に電圧が印加される。また、時刻t1の時、電動モーター41がオン状態となり、回転軸42が回転し、永久磁石44が周方向沿いに回転する。永久磁石44に連行され、磁性メディア30が周方向沿いに流動する。基材51は、磁性メディア30により押され、周方向沿いに流動する力を受ける。しかし、時刻t1と時刻t2の間では、基材51同士の接触抵抗が大きく、基材51の周方向沿いの流動は生じない。つまり、基材51の最大rpm(revolutions per minute)は実質的にゼロである。
時刻t1と時刻t2の期間において、基材51同士の接触及び衝突が繰り返され、基材51と磁性メディア30の接触及び衝突が繰り返され、また、基材51の最外面上でめっき層が成長し、これにより、基材51の平滑性が高められる。結果として、時刻t2を経過した後、一群の基材51の周方向沿いの流動が徐々に開始する。時刻t3を経過した後、一群の基材51の周方向沿いの流動が顕著になる。時刻t4を過ぎた後、一群の基材51の周方向沿いの流動が安定化する。
図23では、実線、一点破線、二点破線により最大rpmの変化の幾つかのバリエーションを示す。最大rpmの変化は、電気めっき槽10の幾何形状、電気めっき槽10の容積、電気めっき槽10に投入する基材51の個数及び/又は重量、磁性メディア30の個数及び/又は重量、電動モーター41の回転数、永久磁石44の個数や配置態様に依存し得る。この撹拌及び電気めっき工程の終了時刻は、試験を経て当業者により適切に決められる。
なお、rpmの算出方法は、例えば、次の通りである。まず、単位時間当たりの特定の基材51の周方向移動距離を測定する。次に、一分間当たりの距離に換算する。このようにしてrpmが求められる。最大rpmは、例えば、目視して相対的に速く流動している任意の10個の基材51をサンプルとすることを前提とする。すなわち、一群の基材51の全てについてrpmを求めることは現実的ではない。従って、最大rpmは、特定の10個の基材51について算出したrpmの最大値を意味するものとする。請求項で特定した最大rpmの特定及び解釈についても、本段落に説明した方法に則るものとする。
幾つかの場合、撹拌過程で、基材51の流動方向が反転される。これにより、電気めっき槽10の底部12上での基材51の凝集の発生の低減又は回避を促進することができる。例えば、撹拌過程で、電動モーター41の回転が停止され、電動モーター41の回転方向が反転される。これにより、電気めっき槽10の底部12上での基材51の凝集の発生の低減又は回避を促進することができる。磁性メディア30から受けた力に応じて基材51が流動する方式では、基材51の撹拌力が得にくく、基材51を均一に撹拌し難い場合がある。撹拌機構40が撹拌過程で撹拌停止及び/又は撹拌反転を実行することにより、このような問題が回避又は抑制され得る。
基材51の最大rpmが大きい時、基材51が遠心力に応じて径方向外側に移動し、電気めっき槽10の下部カソード21に接触する確率が高められることが想定される。しかしながら、基材51の最大rpmが大きい時、無給電状態の基材51の発生確率が高まることが懸念される。無給電状態の基材51の発生確率が高まると、一群の基材51における個々の基材51のめっき厚のバラツキに帰結してしまう。この点に鑑みて、本実施形態においては、電気めっき槽10内における基材51の最大rpmが最適値未満に維持される。これによりめっき厚バラツキを効果的に低減することができる。なお、無給電状態の基材51とは、下部カソード21に直接的に接触してなく、下部カソード21に対して他の基材51を介して電気的に接続されていない基材51を意味する。当業者には明らかなように、無給電状態の基材51は、バイポーラ現象を被ってしまう。
実質的な沈降状態を維持するべく、一度に投入する基材の重量が小さいほど低回転になるように撹拌回転数が調整され、若しくは基材の回転半径若しくは電気めっき槽10の内径が設定される。
電気めっき槽10内における基材51の最大回転速度(rpm)は、基材51が実質的に沈降状態を維持できる程度の回転数であればよい。基材51の回転速度は基材51の投入量に応じても変化するものであるが、この場合においても、実質的に沈降状態を維持できる程度の投入量と回転数であることが好ましい。幾つかの場合、めっき液20リットル〜30リットルに対し、基材51の投入量は10グラム〜8000グラムであり、磁性メディアを50cc〜400cc程度電気めっき槽に入れる。
幾つかの場合、図20に示すタイプの電気めっき装置においては、電気めっき槽10内における基材51の最大rpmが40rpm未満に維持される。これによりめっき厚バラツキを効果的に低減することができる。
幾つかの場合、図20に示すタイプの電気めっき装置においては、電気めっき槽10内における基材51の最大rpmが30rpm未満、或いは、25rpm未満、或いは、20rpm未満、或いは、15rpm未満、或いは、10rpm未満に維持される。
幾つかの場合、図24に示すタイプの電気めっき装置においては、電気めっき槽10内における基材51の最大rpmが120rpm未満に維持される。これによりめっき厚バラツキを効果的に低減することができる。
幾つかの場合、図24に示すタイプの電気めっき装置においては、電気めっき槽10内における基材51の最大rpmが100rpm未満、或いは、80rpm未満、或いは、70rpm未満、或いは、60rpm未満、或いは、50rpm未満に維持される。なお、図24に示すタイプの電気めっき装置においては、上述のように回転数の設定により基材51同士の衝突頻度を調整してもよいが、更に研磨用のメディアを混入させて研磨メディアと基材51の衝突を生じさせるようにしてもよい。
図26に例示の幾つかの場合、電気めっき槽10の中央に中空又は非中空の円柱部が設けられる。この円柱部により基材51の流路が径方向外側、つまり下部カソード21上に限定される。これにより、無給電状態の基材51の発生確率が低減され得る。なお、円柱部は、被導電性であり、非磁性体である。このような場合においても、上述の説明と同様の説明が当てはまる。
図27は、下部カソード21及び上部アノード22の配置が異なる例を示す。下部カソード21は、環状のワイヤである。同様に、上部アノード22は、環状のワイヤである。下部カソード21は、電気めっき槽10の底側で内壁19近傍に固定される。上部アノード22は、電気めっき槽10の開口18側で内壁19近傍に固定される。このような場合においても、上述の説明と同様の説明が当てはまる。
図28に例示の幾つかの場合、撹拌部46及び/又は円盤部461が平板状である。また、下部カソード21が上述のフランジ部119上に配置される。このような場合においても、上述の説明と同様の説明が当てはまる。
図29は、スライドファスナーの概略的な正面模式図であり、めっき材のバリエーションを示すために参酌される。めっき材5は、スライドファスナー8に含まれる金属材部品、例えば、止め具81、スライダー82、引手83であり得る。
実施例1
実施例1は、図20を参照して説明したように磁性メディアを用いる例に関する。半径300mm、深さ150mm、つまり容積40リットルのめっき槽を用いた。めっき槽は金属製である。めっき槽の筒部の内周面にゴムシートを貼り付け、めっき槽の底部にポリエチレン製の低摩擦材を貼り付けた。ゴムシートと低摩擦材の間の露出部をカソードとして用いた。つまり、カソードは、めっき槽の一部が提供する。カソードは、周方向に連続して環状に構成される。アノードは、吊り下げ式にて溶液中に浸漬した。アノードとしては銅ワイヤを用いた。磁性メディアとしてステンレスピンを用いた。一つのステンレスピンの大きさは、長さ5mm、直径0.5mmである。ステンレスピンを100cc分だけめっき槽に加えた。基材としてはボタン用のシェルを用いた。シェルは、真鍮(Cu:Zn=65:35)製である。シェルは、脱脂及び洗浄工程を経たものである。シェルの投入量は、1kgである。電動モーターの回転速度は、1800rpmとした。溶液の回転速度は、30rpmである。溶液の回転速度は、浮遊する指標の観測に基づいて決定できる。シェルの回転速度は、40rpm未満である。ほとんどのシェルが給電状態にあり、均一な厚みのめっき層を形成することができた。
実施例2
シェルを2kg投入し、ステンレスピンを200cc投入した点を除いて実施例1と同様である。ほとんどのシェルが給電状態にあり、均一な厚みのめっき層を形成することができた。
実施例3
シェルを3kg投入し、ステンレスピンを250cc投入し、電動モーター41の回転方向を30秒間隔で間欠的に反転させた点を除いて実施例1と同様である。大半のシェルが給電状態にあり、均一な厚みのめっき層を形成することができた。しかし、一部のシェルが上手く流動せず、未確認ながら、めっき層の厚みにむらが生じていることが予想される。
シェルに代えてスライドファスナー用のスライダーについても同様の試験を行い、同様の結果が得られた。
上述の開示において、次のように特定されるめっき材が開示されている。
−付記1−
1以上の基材金属元素を含む基材(51)と、
前記基材(51)の直上に形成されためっき層(52)を備え、
前記めっき層(52)が、少なくとも、第1のめっき層金属元素と、前記第1のめっき層金属元素とは異なる第2のめっき層金属元素を含み、
前記第2のめっき層金属元素が、前記1以上の基材金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素であり、
前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する、及び/又は、前記基材(51)と前記めっき層(52)の間に明確な界面が存在しない、めっき材。
出願時の本願請求項9乃至19で特定される特徴が上述の付記1のめっき材にも通用する。
上述の開示においては、基材が1以上の基材金属元素を含み、めっき層が、少なくとも第1及び第2のめっき層金属元素を含むものと記述してきた。望まれるならば、又は、必要性に応じて、基材金属元素、第1のめっき層金属元素、及び第2のめっき層金属元素は、第1金属元素、第2金属元素、及び第3金属元素と代替的に呼ばれ得る。かかる場合、請求項に記載された発明は、次の付記に示されるように特定される。
−付記2−
1以上の第1金属元素を含む基材(51)と、
前記基材(51)の直上に形成されためっき層(52)を備え、
前記めっき層(52)が、少なくとも、第2金属元素と、前記第2金属元素とは異なる第3金属元素を含み、
前記第3金属元素が、前記1以上の第1金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素であり、
前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における前記第3金属元素の割合が連続的に減少する、及び/又は、前記基材(51)と前記めっき層(52)の間に明確な界面が存在しない、めっき材。
出願時の本願請求項9乃至19で特定される特徴が、必要な用語の置換を必要条件として、上述の付記2のめっき材にも通用する。
上述の開示においては、めっき層の厚み方向において基材から離間するに応じてめっき層における第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する、及び/又は、基材とめっき層の間に明確な界面が存在しないことが幾つかの主な特徴の一つとして記述してきた。しかしながら、この主たる特徴の一つは、他の特徴よりも優位又は他の特徴の前提となるものではない。例えば、次の発明も理解される。
−付記3−
基材(51)と、
前記基材(51)の直上に形成されためっき層(52)を備え、
前記めっき層(52)が、前記基材(51)とは反対側の反対面(52s)を有し、
前記反対面(52s)には粒子状部分及び/又は小塊状部分が2次元状に密集して形成されている、めっき材。
−付記4−
前記反対面(52s)にはクラック又はピンホールが実質的に存在しない、付記3に記載のめっき材。
−付記5−
前記基材(51)が、1以上の基材金属元素を含み、
前記めっき層(52)が、少なくとも、第1のめっき層金属元素と、前記第1のめっき層金属元素とは異なる第2のめっき層金属元素を含み、
前記第2のめっき層金属元素が、前記1以上の基材金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素であり、
前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する、及び/又は、前記基材(51)と前記めっき層(52)の間に明確な界面が存在しない、付記3又は4に記載のめっき材。
上述の教示を踏まえると、当業者をすれば、各実施形態に対して様々な変更を加えることができる。請求の範囲に盛り込まれた符号は、参考のためであり、請求の範囲を限定解釈する目的で参照されるべきものではない。
5 めっき材
51 基材
52 めっき層

Claims (27)

  1. 電気めっき槽(10)内の電解液に沈降した一群の基材(51)を前記電気めっき槽(10)の内壁(19)沿いの周方向に流動させる撹拌工程と、
    前記電気めっき槽(10)内の前記電解液において前記周方向沿いに流動する前記一群の基材(51)を電気めっきする電気めっき工程を含み、
    前記一群の基材(51)の前記周方向沿いの流動が、前記電気めっき槽(10)内の前記電解液中の磁性メディア(30)の前記周方向沿いの流動に伴って生じ、若しくは、前記電気めっき槽(10)の底側に設けられた撹拌部(46)の回転に伴って生じ、
    前記電気めっき槽(10)内の前記電解液において前記周方向沿いに流動する前記一群の基材(51)の少なくとも一部が、前記電気めっき槽(10)の底側に設けられた下部カソード(21)に接触し、前記下部カソード(21)に接触した基材(51)よりも上方に位置する基材(51)が、少なくとも前記下部カソード(21)に接触した前記基材(51)を介して前記下部カソード(21)に電気的に接続される、電気めっき方法。
  2. 前記下部カソード(21)が、前記電気めっき槽(10)の筒部(11)の底側の内壁(19)近傍で前記周方向沿いに延びる、請求項1に記載の電気めっき方法。
  3. 前記下部カソード(21)よりも上方に設けられる上部アノード(22)が、前記周方向沿いに延びる、請求項1又は2に記載の電気めっき方法。
  4. 前記撹拌部(46)は、前記電気めっき槽(10)の底側に回転可能に設けられ、前記電気めっき槽(10)の底部の少なくとも一部を構成する、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  5. 前記電気めっき槽(10)が筒部(11)を含み、前記筒部(11)が静止部材である、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  6. 前記磁性メディア(30)が棒又は針状の部材である、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  7. 前記電気めっき槽(10)内における前記基材(51)の最大rpmが40rpm未満である、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  8. 前記基材(51)が、1以上の基材金属元素を含み、
    前記電気めっき工程により前記基材(51)の直上に、少なくとも第1のめっき層金属元素と、前記第1のめっき層金属元素とは異なる第2のめっき層金属元素を含むめっき層(52)が形成され、
    前記第2のめっき層金属元素が、前記1以上の基材金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素であり、
    前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する、及び/又は、前記基材(51)と前記めっき層(52)の間に明確な界面が存在しない、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  9. 前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する部分の厚みが10nm以上、又は20nm以上、又は、60nm以上である、請求項8に記載の電気めっき方法。
  10. 前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する部分の厚みが、80nm以下、又は60nm以下、又は、30nm以下、又は、20nm以下である、請求項8又は9に記載の電気めっき方法。
  11. 前記めっき層(52)の表面において前記第1のめっき層金属元素の割合は100%未満、又は、90%未満である、請求項8乃至10のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  12. 前記めっき層(52)の厚みが、150nm以下、又は100nm以下である、請求項8乃至11のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  13. 前記めっき層(52)が、前記基材(51)とは反対側の反対面(52s)を有し、
    前記めっき層(52)における前記第2のめっき層金属元素の割合の減少は、前記めっき層(52)の厚み方向において前記反対面(52s)に至るまで又は前記反対面(52s)の近傍に至るまで継続する、請求項8乃至12のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  14. 前記基材(51)が、複数の前記基材金属元素を含み、
    前記めっき層(52)が、複数の前記第2のめっき層金属元素を含み、
    前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における各第2のめっき層金属元素の割合が減少する、請求項8乃至13のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  15. 前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)に接近するに応じて前記めっき層(52)における前記第1のめっき層金属元素の割合が減少する、請求項8乃至14のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  16. 前記基材(51)が前記基材金属元素として少なくとも銅を含む金属又は合金である、請求項8乃至15のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  17. 前記めっき層(52)が、前記第1のめっき層金属元素として少なくとも錫を含む金属又は合金である、請求項8乃至16のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  18. 前記めっき層(52)が、前記基材(51)とは反対側の反対面(52s)を有し、
    前記反対面(52s)には粒子状部分及び/又は小塊状部分が2次元状に密集して形成されている、請求項8乃至17のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  19. 前記基材(51)と前記めっき層(52)を含むめっき材(5)が、服飾部品(7)の少なくとも一部である、請求項8乃至18のいずれか一項に記載の電気めっき方法。
  20. 電解液を蓄える電気めっき槽(10)にして、前記電気めっき槽(10)の底側に設けられた下部カソード(21)及び前記下部カソード(21)よりも上方に設けられる上部アノード(22)を備える電気めっき槽(10)と、
    前記電気めっき槽(10)内の前記電解液に沈降した一群の基材(51)を前記電気めっき槽(10)の内壁(19)沿いの周方向に流動させる撹拌機構(40)を備え、
    前記一群の基材(51)の前記周方向沿いの流動が、前記電気めっき槽(10)内の前記電解液中の磁性メディア(30)の前記周方向沿いの流動に伴って生じ、若しくは、前記電気めっき槽(10)の底側に設けられた撹拌部(46)の回転に伴って生じ、
    前記電気めっき槽(10)内の前記電解液において前記周方向沿いに流動する前記一群の基材(51)の少なくとも一部が、前記下部カソード(21)に接触し、前記下部カソード(21)に接触した基材(51)よりも上方に位置する基材(51)が、少なくとも前記下部カソード(21)に接触した前記基材(51)を介して前記下部カソード(21)に電気的に接続される、電気めっき装置。
  21. 前記撹拌機構(40)は、前記電気めっき槽(10)内の前記電解液中の一群の磁性メディア(30)に対して磁気的に作用して前記一群の磁性メディア(30)を前記周方向沿いに流動させ、これに伴って、前記周方向沿いの前記一群の基材(51)の流動が生じる、請求項20に記載の電気めっき装置。
  22. 前記撹拌機構(40)は、
    前記電気めっき槽(10)の底側において回転可能に設けられた撹拌部(46)と、
    前記撹拌部(46)に回転力を供給する回転力供給機構(47)を備える、請求項20に記載の電気めっき装置。
  23. 前記撹拌部(46)は、上方に突出する翼部(463)の放射状配列を含む、請求項22に記載の電気めっき装置。
  24. 前記電気めっき槽(10)が、基材(51)の投入又は回収を許容する開口(18)を上部に有する筒部(11)を含み、
    前記下部カソード(21)が、前記筒部(11)の底側の内壁(19)近傍で前記周方向沿いに延びる、請求項20乃至23のいずれか一項に記載の電気めっき装置。
  25. 前記筒部(11)が静止部材である、請求項24に記載の電気めっき装置。
  26. 前記電気めっき槽(10)内における前記基材(51)の最大rpmが40rpm未満である、請求項20乃至25のいずれか一項に記載の電気めっき装置。
  27. 前記基材(51)が1以上の基材金属元素を含む請求項20乃至26のいずれか一項に記載の電気めっき装置であって、
    前記基材(51)の直上に、少なくとも第1のめっき層金属元素と、前記第1のめっき層金属元素とは異なる第2のめっき層金属元素を含むめっき層(52)が形成され、
    前記第2のめっき層金属元素が、前記1以上の基材金属元素の少なくとも一つと同一の金属元素であり、
    前記めっき層(52)の厚み方向において前記基材(51)から離間するに応じて前記めっき層(52)における前記第2のめっき層金属元素の割合が連続的に減少する、及び/又は、前記基材(51)と前記めっき層(52)の間に明確な界面が存在しない、電気めっき装置。
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