JPS62219952A - 半導体塔載用基板 - Google Patents

半導体塔載用基板

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JPS62219952A
JPS62219952A JP6354586A JP6354586A JPS62219952A JP S62219952 A JPS62219952 A JP S62219952A JP 6354586 A JP6354586 A JP 6354586A JP 6354586 A JP6354586 A JP 6354586A JP S62219952 A JPS62219952 A JP S62219952A
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Hajime Yatsu
矢津 一
Naoto Ishida
直人 石田
Takao Iriyama
杁山 卓男
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    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
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    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • H01L21/4853Connection or disconnection of other leads to or from a metallisation, e.g. pins, wires, bumps
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、各種の所謂半導体素子、或いはチップ部品を
搭載するために用いられる半導体搭載用基板に関するも
のである。
(従来の技術) 一般に導体ピンを有する半導体搭載用基板としては、ピ
ングリッドアレイ型半導体搭載用基板等があり、セラミ
ック基板を基材として用いている。しかしながら、基材
としてセラミック基板を用いる半導体NS載用基板は、
セラミック基板自身が高価であり、耐4!1撃性、曲げ
性に劣るという問題点を有していた。そこで、基材にセ
ラミック基板に代わるものとして、安価なプラスチック
製のプリント配線板を用いたピングリウドアレイ型半導
体搭載用基板が開発されている。
この半導体搭載用基板には、半導体素子搭載部と導体回
路とスルーホールが形成されており、更にこのスルーホ
ールに嵌合された導体ピンが設けられている。また、こ
の半導体MSamjJi板に搭載される半導体素子は搭
載部に実装後、ワイヤーボンディング等により導体回路
に結線される。従って、半導体素子からの電気信号は、
基板部とスルーホールに嵌合された導体ピンにより、効
率よく外部へ出力されなければならない。更に、この導
体ピンは、外部接続端子として、マザーボートに形成さ
れた実装用スルーホールに固定されることにより、半導
体搭載用基板とマザーボートに形成された回路とを電気
的に接続する。
一方、導体ピンは外部出力端子として実装時の信頼性が
高くなければならないために、半導体搭載用基板との十
分な接合強度を必要とし、かつ半導体搭載用基板のスル
ーホールと導体ピンの嵌合部は、電気的にも確実に接合
されていなければならない。従って、導体ピンと基板の
スルーホールの嵌合部をハンダ付けする場合があり、こ
の場合スルーホール内の嵌合部には、ハンダが充填され
て導体ピンと嵌合部が完全に一体化されていなければな
らない。
このような必要1−5従来第8図及び第9図に示すよう
に、嵌合部(51)及び嵌合部(51)に近接した部分
に、その径がスルーホール(6菖)の内径より大きい略
円形の鍔(52)を有した導体ピン(50)を、プリン
ト配線板(60)に形成したスルーホール(61)に嵌
合し、導体ピン(50)側より溶融ハンダに浸漬するこ
とにより接合した半導体搭載用基板(80)が知られて
いる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、各導体ピン(50)の嵌合部(51)に
近接した部分に、その径がスルーホール(61)の内径
より大きい略円形の鍔(52)を設け、その導体ピン(
50)をプリント配線&(60)に形成したスルーホー
ル(61)に嵌合するようにした従来の半導体搭載用基
板(80)には5次のような問題点があった。
導体ピン(50)は、嵌合Ff6(51)に近接した部
分に設けられる略円形の鍔(52)により、プリント配
線板(60)に確実に支持されており、また外部接続端
子としての長さを規定している。しかし、この略円形の
鍔(52)によって、プリント配線板(60)に形成さ
れているスルーホール(61)の導体ピン(50)側が
、密閉に近い状態になってしまう。従って、導体ピン(
50)とスルーホール(61)を電気的及び機械的に強
固な接合とするために、導体ピン(50)側より半導体
MStIr4基板(80)を溶融ハンダに浸漬した場合
、ハンダ浸漬前に導体ピン側に塗布したフラックス中の
溶剤がガス化してガス溜りを生じ、このガス溜りによっ
てハンダ(70)がスルーホール(61)内に容易に浸
透することができないため、導体ピン(50)とスルー
ホール(61)との電気的接合は完全なものとはならず
、また接合強度の向上も認められないのである。
導体ピン(50)とスルーホール(fi+)の電気的接
合及び機械的接合を確実なものとするためには、半導体
搭載用基板(80)の溶融ハンダ侵清時間を長くしなけ
ればならなくなり、この際の熱により半導体搭載用基板
(80)がダメージを受けてしまうばかりか、溶融ハン
ダ浸漬時間を長くシても、導体ピン(50)とスルーホ
ール(61)の接合が確実なものとならない場合がある
という欠点を有していた。
本発明は以上のような実状に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、導体ピン(50)とこれが嵌合
されるスルーホール(61)との電気的接合及び機械的
接合が確実になされた、ピングリッドアレイ型半導体搭
載用基板のように導体ピンを有する基板を提供すること
にある。
(問題点を解決するための手段) 以上の問題点を解決するために1本発明が採った手段は
、 導体部を4Tするプリント配線板(20)に形成された
スルーホール(21)に、導体ピン(1G)が嵌合され
た半導体搭載用基板において、 前記導体ピン(10)の前記嵌合部(11)に近接した
部分に小径部と大径部を有する鍔(13)が形成されて
いることを特徴とする半導体搭載用基板(40)である
(発明の作用) ヒ記のような手段を講じた本発明に係る半導体搭載用基
板(40)にあっては、導体ピン(lO)とスルーホー
ル(21)の接合は、半導体搭載用基板(40)を導体
ピン(lO)側より溶融ハンダに#2faすることによ
り行なわれる。この際、鍔(12)を略円形から大径部
と小径部を有する形状に変更することによって、溶融ハ
ンダ浸漬時に発生するフラックス中の溶剤分がガス化す
ることにより発生するガスに方向性か付与され、大径方
向に効率よくガスが抜け、ハンダが容易にスルーホール
内に浸透する。
更に、ハンダ(コ0)は鍔(12)の小径部がスルーホ
ール(21)内径より小さいことにより、鍔(12)の
近傍からスルーホール(21)の一部が露出していると
、スルーホール(21)から基板(40)上面会もガス
が抜け、スルーホール(21)内にフラックスの残渣を
残すことなく容易に浸透し、より短時間てスルーホール
(21)内がハンダ(30)で充填される。従って、半
導体搭載用基板(40)は、これを溶融ハンダに浸漬す
る時間が短くてすんでいるので、この浸透の際の熱によ
っては、当該半導体搭載用基板(40)はダメージを受
けていないのである。また、この半導体搭載用基板(4
0)は、そのスルーホール(21)と導体ピン(10)
の嵌合部(11)間にハンダ(30)が確実に充填され
ているから、その機械的接合か確実となっているたけで
なく、スルーホール(21)と導体ピン(lO)との電
気的接合も完全なものとなっている。
(実施例) 以下に本発明を1図面に示した実施例に従って、詳細に
説明するつ 第1図には、本発明に係る半導体搭載用基板(4G)の
−・実施例を示す斜視図が、第2図には、第1図の■−
■線に沿ってみた部分拡大縦断面図が、第3図には、第
21Aの部分拡大底面図が示しである。この半導体搭載
用基板(40)にあっては、7”、 IJント配線板(
20)に形成されるスルーホール(21)に導体ピン(
lO)が嵌合部(11)によって嵌合されており、この
導体ピン(io)とスルーホール(21)の電気的接合
は、半導体搭載用基板(40)を導体ピン(Ill)側
より溶融ハンダにNff1することによってなされてい
る。また、各導体ピン(lO)にあっては、その嵌合部
(U)に近接した部分に大径部がスルーホール(31)
内径より大きく、小径部がスルーホール(31)内径よ
り小さい鍔(12)が形成されている。従って、半導体
搭載用基板(40)を導体ピン(10)側より溶融ハン
ダに浸漬すると、鍔(12)の近傍から露出しているス
ルーホール(21)の一部よりノ\ンダ(30)が浸透
し、このハンダC30)でスルーホール(21)内が充
填される。このようにして、導体ピン(lO)とスルー
ホール(2K)は、電気的に完全に接合されているので
ある、また、これらの作業は非常に短時間になされ、ハ
ンダ浸漬時の熱により、半導体搭載用基板(40)がダ
メージを受けず、確実にハンダ(コ0)をスルーホール
(21)内に充填させることができる。
また、本実施例では、半導体搭載用基板(4Q)の四隅
の導体ピン(10)が、嵌合部(11)近傍に設けられ
る鍔(12)の下部に、別の鍔(13)を有しており、
この鍔(,13)により半導体搭載用基板(40)をマ
ザーボート等に固定した際、半導体搭載用基板(40)
が、マザーボート等の上に浮いた状態となり、半導体に
一佐用基板(40)の放熱性を向上させるようになって
いる。
この鍔(13)の形状には、第6図に示すようにマザー
ボードの実装用スルーホールの内径より大きな略円形の
ものや、第7図に示すようにマザーボートへの実装の信
頼性を向上させるために大径部がマザーボードのスルー
ホール内径より大きく、小径部がスルーホール内径より
小さいもの等があり、小径部と大P1.PKを有するも
のにすればハンダ付は実装時に発生するピン接続部のブ
ローホールを抑えることができる。
なお1本発明に係る半導体搭載用基板(40)の有する
導体ピン(lO)の鍔(12)の形状は、第2UA及び
第3図に限定されるものではなく、小径部と大径部を有
していれば、第4図或いは第5図に示すように、どんな
形状てあってもよい。
(発明の効果) 以しに説明したように、本発明に係る半導体搭載用基板
(40)によれば、上記実施例に例示した如く、導体部
を有するプリント配線板(20)に形成されたスルーホ
ール(21)に、導体ピン(10)が嵌合された半導体
搭載用基板において、前記導体ピン(lO)の前記嵌合
部(11)に近接した部分に小径部と大径部を有する鍔
(!3)が形成されていることに特徴があり、これによ
り大径部によって各導体ピン(【0)がプリント配線板
(20)にしつかり支持されることは勿論、導体ピン(
10)とスルーホール(21)を電気的に接合するため
に、半導体搭載用基板(40)を導体ピン(10)側よ
り溶融ハンダに浸漬した時、容易にハンダ(コロ)がス
ルーホール(21)内に浸漬し、このハンダ(3G)に
より短時間にスルーホール(21)内は充填される。
従って、溶融ハンダ浸漬時に、スルーホール(21)内
に短時間でハンダ(30)が揚がり、半導体搭載用基板
(40)の溶融ハンダ浸漬時の熱によるダメージも少な
く、スルーホール(21)内にフラツクスの残液も残ら
ない信頼性の高い接合状態のピングリッドアレイ型半導
体搭載用基板(40)を提供できるという効果を奏する
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る半導体搭載用基板の一実施例を示
す斜視図、第2Li7Iは第1図の■−■線に沿ってみ
た部分拡大縦断面図、第3図は第2図の部分拡大底面図
、第4図は本発明に係る半導体搭載用基板の別の実施例
を示す部分拡大底面図、第5図は本発明に係る半導体搭
載用基板の更に別の実施例を示す部分拡大底面図、第6
U;71は第1図のv1tiA方向からみた要部拡大底
面図、第7図は別の実施例を示す第6図に対応した要部
拡大底面図である。 また、第8図及び第9図は従来の例を示す図であって、
第8図はその部分拡大縦断面図、第9図は第8UAの部
分拡大底面図である。 符号の説明 lO・・・導体ピン     11・・・嵌合部12・
・・鍔        1コ・・・鍔20・・・プリン
ト配線板  21−・・スルーホール30・・・ハ:/
ダ      40−、p 4体6 a ff1 基板
S O−・・導体ピン     51−・・嵌合部52
・・・鍔        60・・・プリント配線板6
1・・・スルーホール   70−・・ハンダ80・・
・半導体搭載用基板 特  許  出  願  人 イビデン株式会社 (:r 8二 09二 詰lロ アリ。 第2ffl I)MItIQ 第3囚 第4図 第5[ 第6図 第7時 手続補正書(方式) %式% 2、発明の名称 半導体搭載用基板 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 岐阜県大垣市神田町2丁目1番地名 称 (0
15)イビデン株式会社 代表者 多賀潤一部 4、代理人 住 所 岐阜市長住町1丁目11番地 マルキチビル3階 〒500 ff(0582) ff6−7430 (代
表)6、補正の対象 (1)明細書の項目 7、補正の内容 (1)本願の明細書中において記載すべき項目の内、「
3、発明の詳細な説明」をご指摘の通り脱落したので、
この項目「3、発明の詳細な説明」を明細書中の第2頁
第17行目と同第18行目の間に追加する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)導体部を有するプリント配線板に形成されたスルー
    ホールに、導体ピンが嵌合された半導体搭載用基板にお
    いて、 前記導体ピンの前記嵌合部に近接した部分に小径部と大
    径部を有する鍔が形成されていることを特徴とする半導
    体搭載用基板。 2)前記基板において鍔の大径部を前記スルーホールの
    内径より大きく、小径部を前記スルーホールの内径より
    小さいものとして、前記スルーホールの一部が前記鍔の
    近傍から露出するようにしたことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の半導体搭載用基板。 3)前記導体ピンを前記スルーホールに嵌合固定したと
    き、導体ピンが前記基板に当接する前記鍔によって支持
    されることを特徴とする特許請求の範囲第1項または第
    2項記載の半導体搭載用基板。 4)前記スルーホールに嵌合された導体ピンのいくつか
    が、前記鍔の下部に別の鍔を有する導体ピンであること
    を特徴とする特許請求の範囲第1〜3項のいずれか1項
    に記載の半導体搭載用基板。 5)前記別の鍔が、小径部と大径部を有する鍔であるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第4項記載の半導体搭載
    用基板。 6)前記スルーホールに嵌合された導体ピンが、前記ス
    ルーホールとハンダ付けされていることを特徴とする特
    許請求の範囲第1〜5項のいずれか1項に記載の半導体
    搭載用基板。 7)前記基板が、ピングリッドアレイ基板であることを
    特徴とする特許請求の範囲第1〜6項のいずれか1項に
    記載の半導体搭載用基板。
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Cited By (1)

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