JPS6074644A - Cmosゲ−トアレ− - Google Patents

Cmosゲ−トアレ−

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JPS6074644A
JPS6074644A JP58181996A JP18199683A JPS6074644A JP S6074644 A JPS6074644 A JP S6074644A JP 58181996 A JP58181996 A JP 58181996A JP 18199683 A JP18199683 A JP 18199683A JP S6074644 A JPS6074644 A JP S6074644A
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JP
Japan
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cell
transistor
cells
basic
special
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Application number
JP58181996A
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English (en)
Inventor
Hideo Monma
門馬 秀夫
Masato Ishiguro
石黒 正人
Tetsuo Kouno
河野 哲雑
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/118Masterslice integrated circuits
    • H01L27/11803Masterslice integrated circuits using field effect technology
    • H01L27/11807CMOS gate arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/82Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の技術分野 本発明はCMO3集積回路に係り、特に遅延あるいはプ
ルアンプ、プルダウン素子を有するCMOSゲートアレ
ーに関する。
(2)技術の背景 半導体製造技術の進歩に伴い高集積化されてきている。
高集積化された集積回路の内部構造は様々であるが、一
般的にはゲートアレー構造化されたものが多く用いられ
ている。このようなゲートアレー構造の集積回路は基本
セルとI10セルに大別されている。基本セルは目的の
集積回路として必要な論理機能を発生する為のセルであ
り、■10セルは集積回路内の論理レベルと外部論理レ
ベルとのレベル変換等を行なうセルである。そして集積
回路のチップ内に基本セルが配置されその外周にI10
セルが配置されている。
(3)従来技術と問題点 従来、前述の基本セルは一般的にゲートが共通に接続さ
れた1個のPチャンネルトランジスタと1個のNチャン
ネルトランジスタのおのおの2対から構成される装置 第1図(alは従来の基本セルのパターン図である。
ゲート幅Wのゲート電極GA、GBが配置され。
トランジスタPL、P2.Nl、N2のゲートを形成し
ている。PチャンネルトランジスタPI。
P2とNチャンネルトランジスタNl、N2のソースあ
るいはドレインは電極1,5で共通に接続されている。
電極2,3.4.6はトランジスタPI、P2.Nl、
N2のドレインまたはソースの電極である。第1図(b
lは第1図(alの等価回路である。尚、番号は第1図
f8)に対応して同番号を付しである。
前述した構成から明らかなようにゲートが共通に接続さ
れたトランジスタPI、Nl並びにトランジスタP2.
N2の4個のトランジスタから成り、Pチャンネルのト
ランジスタPI、P2並びにNチャンネルのトランジス
タNl、N2のドレインあるいはソース1.5が共通接
続されている。
第1図のトランジスタはMOSトランジスタである。そ
して、このトランジスタPl、P2.Nl。
N2の相互コンタクダンスgmはゲート有効長Wによっ
て決る。
前述の基本セルはチップ内にアレー状に配置されており
、配線チャンネルにおいて配線されて、目的の論理機能
が構成される。
前述のような基本セルのゲートアレーを用いた集積回路
において、遅延回路等を構成する場合にはインバータ回
路、バッファ回路を基本セルによって形成し、それを複
数段用いていた。または配線チャンネルが使われていな
い場合には配線を長くして構成していた。前述の遅延回
路は素子そのもののスピードが早く基本セル内のトラン
ジスタのgmが全て同一であるので長く遅延時間を有す
る遅延回路を得ることはむずかしく、この構成で遅延回
路を作った場合には多くの基本セルを使用してしまう問
題を有していた。
一方、入出力ボート等をプルダウンあるいはプルアップ
する為に用いられるプルダウン、プルアンプ素子として
基本セルを用いる方法がある。
前述した様に1個の基本セルは4個のトランジスタより
成り、プルアンプあるいはプルダウンする為のトランジ
スタに用いる場合にはPチャンネルトランジスタとNチ
ャンネルトランジスタのゲートが共通に接続されている
ので一方のトランジスタしか使うことができず基本セル
内のトランジスタを有効に使うことができないという問
題を有していた。
(4)発明の目的 本発明は前記問題点を解決するものであり、第1の目的
とするところは基本セルにおいて遅延回路を簡単に構成
することが可能なCMOSゲートアレーを提供すること
にある。
そして第2の目的とするところはプルアンプ、プルダウ
ン素子としても有効にセルを用いることを可能としたC
MOSゲートアレーを提供することにある。
(5)発明の構成 上記目的は9本発明によれば内部セル領域に基本セルと
特殊セルを有し、前記基本セルはアレー状に配置され、
前記特殊セルは前記基本セルよりもgmの小さいトラン
ジスタにより形成されてい5− ることをことを特徴とするCMOSゲートアレーを提供
することによって達成される。
(6)発明の実施例 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第2図は本発明の実施例のセル構成図である。内部セル
領域10は基本セル11と特殊セル12を有し、′rシ
レー状配置されている。内部セル領域IOの外周にはI
10セル領域13が配置され、さらにそのI10セルの
外周にボンディングパソト14が配置されている。内部
セル領域10の基本セル11並びにI10セル領域13
内の■/○セルは従来のセル構造と同様である。例えば
基本セル11は第1図fa)に示した様な構成となって
いる。一方、特殊セル12はgmが基本セルと異なる例
えば複数のトランジスタより構成される。
第3、第4図は本発明の実施例の特殊セルの構成図であ
る。第3図における特殊セルはPチャンネルトランジス
タP3とNチャンネルトランジスタN3の合計2個のト
ランジスタより成る。ゲート幅Wのゲート20.21が
配置され、トランジス6− タP3.N3のゲートを形成している。このトランジス
タP3.N3は、第1図の基本セルのトランジスタPI
、P2.Nl、N2と比べ、ゲート幅Wは同じであるが
ゲート長■7が長い。そしてトランジスタP3.N3の
第3図の図面中の上下方向にソースあるいはドレインの
22.23と24.25を有している。
第4図における特殊セルはゲート26.27が共通に接
続されたPチャンネルトランジスタP4゜P5とNチャ
ンネルトランジスタN4.、N5より成る。すなわちP
チャンネルトランジスタP4のゲートとNチャンネルト
ランジスタN4のゲートとが共通に接続されてゲート2
6を構成し、PチャンネルトランジスタP5のゲートと
NチャンネルトランジスタN5のゲートとが共通に接続
されゲート27を構成している。そしてそれらのトラン
ジスタP4.P5.N4.N5のソースあるいはドレイ
ン28〜35はそれぞれ別々に配置されている。
第3図の特殊セルの構成は独立したPチャンネルトラン
ジスタとNチャンネルトランジスタの合計2個のトラン
ジスタより成るが、第4図の特殊セルの構成はゲートの
みが2個ずつに共通にそれぞれ接続された合計4個のト
ランジスタより成る。
そしてそれらのトランジスタのゲート幅W′は第1図の
構成と比べ短くなっている。すなわちそれらのトランジ
スタのgmは第1図の構成のトランジスタと比べ小さく
なっている。
第5図は第4図に示した本発明の実施例の特殊セルの応
用回路図である。第4図に対応して同番号で記している
。トランジスタP4のソース28は電源V。I)に接続
されトランジスタN4のソース30は電源Vssに接続
される。そしてトランジスタP4のドレイン29とトラ
ンジスタN4のトレイン31はコンデンサCが接続され
ている線路を介してトランジスタP5.N5のゲート2
7に接続される。トランジスタP5.N5はトランジス
タP4.N4の構成と同様である。
すなわちトランジスタP5のソース33が電源V(、、
)に接続され、トランジスタN5のソース35が電源V
ssに接続されている。そしてトランジスタP5のドレ
インとトランジスタN5のドレインが共通に接続されて
、他の回路に出力される。第5図における回路の入力は
トランジスタP4とトランジスタN4のゲートである。
前述したように第5図に示した回路のトランジスタP4
.N4とトランジスタP5.N5は同じ構成であり、イ
ンバータとして動作する。そして全体の回路としてはイ
ンバータが2段であるのでバッファとしての論理機能を
有している。しかしながらトランジスタP4.N4より
成るインバータとトランジスタP5.N5より成るイン
バータの中間接続点にコンデンサCを有しているので全
体の回路機能として遅れを有している。従来の基本セル
を用いた場合には本発明の実施例のトランジスタP4.
P5.N4.M5に比べ、その基本セルのgmは大であ
るので例えば線路の浮遊容量等によって生ずる遅れは少
ないが、本発明の実施例のトランジスタは基本セルのg
mに比べ小さいのでその遅れは大となる。
=9− 前述のコンデンサCは前述したように配線の線路による
浮遊容量や、特定の容量を有するコンデンサを配置した
ものである。
前述したように本発明の実施例は遅延機能を簡単に有す
るが、さらに入出力回路のプルアンプ。
プルダウン抵抗として等測的に使用することも可能であ
る。第6図は本発明の実施例を入力回路のプルアップ素
子として用いた応用例の回路図である。入力INにゲー
トが接続されているトランジスタP6.N6より成るイ
ンバータの入力をプルアップするものである。当然なが
らインバータを構成するトランジスタP6のソースは電
源■。0に、トランジスタN6のソースはVssに接続
されている。そしてトランジスタP6のドレインとトラ
ンジスタN6のソースが共通接続されて他の回路に加わ
る。トランジスタP3.N3は第3図に示したトランジ
スタであり、そのドレイン23゜25は入力INに接続
されている。そしてトランジスタP3のソース22とト
ランジスタN3のゲート21並びにドレイン24は電源
■。0に接続10− される。またトランジスタP3のゲート20は電源V。
0に接続されている。尚、第6図において。
本発明の実施例に関するトランジスタのP3.N3は第
3図に示したトランジスタであり、同記号で示している
トランジスタP3のゲート20は電源Vss。
トランジスタN3のゲート21は電源■。0に接続され
ており、トランジスタP3はPチャンネル、トランジス
タN3はNチャンネルのトランジスタであるのでこれら
のトランジスタP3.N3は共に常時オンとなる。これ
によって入力INはプルアップされる。トランジスタP
3.N3は定電流素子として動作するので、入力にロー
レベルが加わった時にも電流は流れるがトランジスタP
3゜N3のgmは小であるので入力INの電圧レベルは
ローレベルとなりローレベルがトランジスタP6.N6
のゲートに加わる。
そして例えば入力がオープンとなった時にはプルアップ
素子すなわちトランジスタP3.N3によってハイレベ
ルにプルアンプされる。
前述のプルアップ素子としてトランジスタP3゜P4を
並列接続して用いたが、これは片方だけ、すなわちトラ
ンジスタP3あるいはトランジスタN3だけでも可能で
ある。
以上、本発明の特殊セルについて実施例を用いて説明し
たが、これは遅延素子やプルアンプ、プルダウン素子と
して使用されるばかりでなく、モノステーブル、又はマ
ルチバイブレークを構成した時の時定数素子としても使
用することが可能である。
・ (7)発明の効果 以上述べたように本発明は内部セル領域に基本セルと特
殊セルを設けたゲートアレーであり、その特殊セルによ
って遅延回路さらにはプルアンプ。
プルダウン素子を得ることが可能となる。よって本発明
によれば多機能のゲートアレー集積回路を得ることは可
能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図(alは基本セルのパターン図、第1図(blは
第1図fa)の等価回路図、第2図は本発明の実施例の
セル構成図、第3図第4図は本発明の実施例のセル構成
図、第5図は本発明の実施例の特殊セルの遅延回路への
応用回路図、第6図は本発明の実施例の特殊セルのプル
アップ回路への応用回路図である。 10・・・内部セル領域 11・・・基本セル 12・・・特殊セル13・・・I
10セル領域 P3〜P5・・・PチャンネルのトランジスタN3〜N
5・・・Nチャンネルのトランジスタ20.21,26
.27. ・・・ゲート22〜25.28〜35・・・
ソースあるいはドレイン 13− 第1図 (α) (b) 第2図 13 第3図 第5図 第4図 第6図 ss 手続補正書m発) 1、事件の表示 昭和タ2年特許願第7?/f71号 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 神奈川県用崎市中原区上小田中1015番地(5
22)名称富士通株式会社 4、代 理 人 住所 神奈川県川崎市中原区−J−小
田中1015番地富士通株式会社内 1)明細書の発明の名称を以下の様に補正する。 [ゲートアレーJ 2)明細書の第1頁第4行乃至第18行を以下の様に補
正する。 r2.’l’!i−許請求の範囲 (1)内部セル領域に基本セルと特殊セルを有し前記基
本セルはアレー状に配置され、前記特殊セルは前記基本
セルよりもgmの小さいトランジスタにより形成されて
いることを特徴とするゲートアレー。 (2)前記特殊セル牲主」遅延回路μ構成更丸工いるこ
とを特徴とする特Fl:N求の範囲第1項記載のゲート
アレー。 (3)前記内部セル領域の外周に複数のI10セルより
成るI10セル領域を有し、前記特殊セルは前記I10
セルが構成する回路のプルアップあるいはプルタウンの
少なくとも一方の素子として接続されていることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のゲートアレー。 4)明細書第2頁第1行を以下の様に補正する。 [本発明はゲートアレー集積回路に係り、特に遅延あ」

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)内部セル領域に基本セルと特殊セルを有し。 前記基本セルはアレー状に配置され、前記特殊セルは前
    記基本セルよりもgmの小さいトランジスタにより形成
    されていることをことを特徴とするCMOSゲートアレ
    ー。
  2. (2)前記特殊セルは遅延回路を構成することを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載のCMOSゲートアレー
  3. (3)前記内部セル領域の外周に複数のI10セルより
    成るI10セル領域を有し、前記特殊セルは前記I10
    セルが構成する回路のプルアップあるいはプルタウンの
    少なくとも一方の素子として接続されることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載のCMOSゲートアレー。
JP58181996A 1983-09-30 1983-09-30 Cmosゲ−トアレ− Pending JPS6074644A (ja)

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KR1019840005670A KR890003147B1 (ko) 1983-09-30 1984-09-17 게이트 에레이
DE8484401942T DE3478074D1 (en) 1983-09-30 1984-09-28 A gate array
EP84401942A EP0136952B1 (en) 1983-09-30 1984-09-28 A gate array
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