JPH11339484A - メモリデバイス - Google Patents
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Abstract
ト読み出しモードとクロックに非同期の通常読み出しモ
ードとで動作可能にする。 【解決手段】フラッシュメモリ等の不揮発性メモリデバ
イスにおいて、クロックに同期したバースト読み出しモ
ードとクロックに非同期の通常読み出しモードの両方の
読み出し動作を可能にした構成であり、電源投入に応答
して通常読み出しモードに設定され、バースト読み出し
を指令する制御信号に応答してバースト読み出しモード
に設定されることを特徴とする。そのために、メモリデ
バイスは、内部にバーストモード切換回路を有し、この
バーストモード切換回路が、電源投入に応答して出力回
路を通常読み出しモードに設定し、電源投入後はクロッ
クに非同期な読み出し動作を可能にする。更に、システ
ム側から供給されるバーストモード制御信号に応答し
て、バーストモード切換回路が出力回路をバースト読み
出しモードに設定する。
Description
等の半導体を利用した不揮発性メモリデバイスに関し、
特に、非同期の読み出し動作とクロックに同期した読み
出し動作を切換可能にしたメモリデバイスに関する。
速にアクセスすることができ、コンピュータシステムに
おいて、メインメモリやその他の高速アクセスを要求さ
れるメモリとして利用される。一方、半導体メモリデバ
イスは、大容量のデータやプログラムを記憶するには不
向きであり、かかる大容量メモリとしては、依然として
ハードディスクが利用されている。また、半導体メモリ
デバイスのうち、主にメインメモリに利用されるダイナ
ミックRAMは、電源が切られると記憶データが失われ
る揮発性メモリであり、一時的に保持するだけのデータ
やプログラムを記憶するには好適であるが、コンピュー
タの立ち上がり時に読み出されるBIOSや、その他の
プログラムを記憶するには不向きである。
ータが消失しない不揮発性メモリが注目されている。特
に、不揮発性メモリを利用したフラッシュメモリは、消
去動作に一定の制限があるものの、そのメモリの動作原
理から電源がオフ状態でも記憶データを保持する不揮発
性メモリであり、しかも、ハードディスク等の外部記憶
装置に比較すると高速アクセスが可能である。したがっ
て、近年において、コンピュータシステム内において、
コンピュータの立ち上げ時に自動的に読み出されるBI
OSを、かかるフラッシュメモリに記憶させることが頻
繁に行われるようになってきた。
げ時に行われる動作には、電源オンに伴いBIOSが記
憶されているフラッシュメモリが自動的にアクセスさ
れ、そのBIOSのデータが読み出されること、更に、
ハードディスク内に記憶されているオペレーティング・
システム(OS)が読み出され、ダイナミックRAMで
構成されるメインメモリに記憶されることなどが含まれ
る。そして、その後のアプリケーションプログラムの実
行時には、メインメモリに記憶されているOSを逐次読
みだして、ハードディスク等の外部記憶装置内のアプリ
ケーションプログラムを実行する。近年のダイナミック
RAMは、SDRAM等の様にクロックに同期して読み
出し動作を行う同期型のメモリである。特に、クロック
に同期して複数ビットのデータを連続して出力するバー
ストモードの読み出し動作は、高速読み出しには欠かせ
ない機能である。従って、かかるバースト読み出し動作
により、メインメモリ内のOSが高速に読み出される。
型のメモリであり、あるアドレスの入力に応答して一定
のアクセス時間後にそのアドレスに記憶されているデー
タが読み出される。
に比較してそのデータ容量は小さく、一方、フラッシュ
メモリの大容量化に伴い、OS程度のデータ容量であれ
ば十分にフラッシュメモリに記憶させることができるよ
うになってきた。もしOSがフラッシュメモリに記憶さ
れると、ハードディスクからメインメモリへの転送動作
が不要になり、コンピュータの立ち上がりに必要な時間
を従来に比較して大幅に短くすることできる。ところ
が、従来のフラッシュメモリは非同期型であるので、シ
ステム側は、メインメモリに対するバースト読み出しと
同様な読み出し動作を、OS等を記憶したフラッシュメ
モリに対しては行うことができない。従って、フラッシ
ュメモリへの読み出し動作が遅いという理由で、OS等
をフラッシュメモリに記憶させる提案は、さほど魅力的
でない。
の読み出し動作を可能にするフラッシュメモリ等の不揮
発性メモリデバイスを提供することにある。
を可能にするフラッシュメモリ等の不揮発性メモリデバ
イスを提供することにある。
読み出し動作と非同期型の読み出し動作の両方が可能な
フラッシュメモリ等のメモリデバイスを提供することに
ある。
て、従来の非同期型の読み出し動作も可能であり、メイ
ンメモリと同様なクロック同期型の読み出し動作も可能
であり、必要に応じて両方の間で切換可能なフラッシュ
メモリを提供することにある。
し動作と、バースト読み出し動作とを適宜切換可能なフ
ラッシュメモリを提供することにある。
に、本発明は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリデ
バイスにおいて、クロックに同期したバースト読み出し
モードとクロックに非同期の通常読み出しモードの両方
の読み出し動作を可能にした構成であり、電源投入に応
答して通常読み出しモードに設定され、バースト読み出
しを指令する制御信号に応答してバースト読み出しモー
ドに設定されることを特徴とする。そのために、メモリ
デバイスは、内部にバーストモード切換回路を有し、こ
のバーストモード切換回路が、電源投入に応答して出力
回路を通常読み出しモードに設定し、電源投入後はクロ
ックに非同期な読み出し動作を可能にする。更に、シス
テム側から供給されるバーストモード制御信号に応答し
て、バーストモード切換回路が出力回路をバースト読み
出しモードに設定する。従って、システム側は、従来の
メインメモリにアクセスするのと同様な環境化で、不揮
発性メモリデバイスへのバースト読み出しを実行するこ
とができる。
不揮発性のメモリセルを有するメモリデバイスにおい
て、前記メモリセルからの読み出しデータを、クロック
に同期したバースト読み出し動作、またはクロックに非
同期の通常読み出し動作を行う出力回路と、電源投入時
に、前記出力回路を前記通常読み出しモードに設定し、
外部からの所定の制御信号に応答して、前記出力回路を
前記バースト読み出しモードに設定するバーストモード
切換回路とを有することを特徴とする。
読み出しモードでの動作を行い、バースト読み出しモー
ドを指令する制御信号に応答してバースト読み出しモー
ドに設定されるので、電源投入時とその後の動作時で、
クロックに非同期の動作モードとクロックに同期する動
作モードとに設定することができる。
は、バースト制御信号に応じて、クロックに同期した第
1の読み出しモードまたは該クロックに非同期の第2の
読み出しモードに切り換えられるメモリデバイスにおい
て、前記第1の読み出しモードでは、第1の制御信号が
活性化レベルの時に前記クロックに同期してアドレス信
号が取り込まれ、前記第1の制御信号から所定の時間後
において第2の制御信号が活性化レベルの間、複数の読
み出しデータが前記クロックに同期して出力され、電源
投入時に、前記バースト制御信号を第2の読み出しモー
ドの状態に設定し、前記第1の制御信号の活性化レベル
に応答して、前記バースト制御信号を第1の読み出しモ
ードの状態に設定するバーストモード切換回路を有する
ことを特徴とする。
にクロックに非同期な通常読み出しモードでの動作を行
い、その後は、バーストモード読み出しを指令する信号
に応答してクロックに同期したバースト読み出しを可能
にすることができる。
て図面に従って説明する。しかしながら、本発明の技術
的範囲がその実施の形態に限定されるものではない。
バイスであるフラッシュメモリが使用されるシステム例
を示す図である。このシステム例は、パーソナルコンピ
ュータ等の例であり、CPU10は、メインメモリ1
2、フラッシュメモリ14または16及び外部記憶装置
18に、バス22を経由して接続される。外部記憶装置
18は、例えばハードディスクであり、所定のインター
フェース20を介してバス22に接続される。外部記憶
装置18内には、オペレーティング・システム(OS)
とそれ以外のアプリケーションプログラムが記録され
る。フラッシュメモリ16は、コンピュータが電源投入
された時のブートROMとして利用され、例えばBIO
Sが格納される。通常は、かかるブートROMとして利
用されるフラッシュメモリ16は、クロックに非同期の
読み出しモードで動作する。尚、フラッシュメモリ16
と14とは、いずれか一方が利用される。後述する通
り、フラッシュメモリ14が、本発明にかかる不揮発性
メモリデバイスで構成される。
DRAM(SDRAM)等のようなクロックに同期して
内部が動作する高速半導体メモリデバイスで構成され
る。従って、メインメモリ12は、CPU10により、
或いは図示しないメモリコントローラにより制御され、
少なくともクロックに同期したバースト読み出しモード
で動作することが可能である。
時、CPU10は、先ずブートROMであるフラッシュ
メモリ16内のBIOSを読み出す。この読み出し動作
は、クロックに非同期の通常の読み出しモードである。
その後、外部記憶装置18内に格納されているOSが、
メインメモリ12内に読み出され、CPU10は、メイ
ンメモリ12からOSを適宜読み出して、所定のアプリ
ケーションプログラムを実行する。CPU10は、メイ
ンメモリ12から、クロックに同期した高速読み出しモ
ードでOSを読み出す。
リは、クロックに非同期の通常読み出しモードと、クロ
ックに同期したバースト読み出しモードとの両方をサポ
ートする。従って、上記の一般的なシステム上での使用
環境では、フラッシュメモリ14内に、BIOSに加え
て外部記憶装置18内のOSも記憶させることが可能に
なる。そして、フラッシュメモリ14は、電源投入時
に、クロックに非同期の通常読み出しモードでBIOS
が読み出され、その後、メインメモリと同様にクロック
に同期したバースト読み出しモードでOSが読み出され
る。従って、CPU10は、従来のフラッシュメモリ1
6からのBIOS読み出し制御と、メインメモリ12か
らのOS読み出し制御の方法を変更する必要がない。し
かも、OSは、既にフラッシュメモリ14内に記憶され
ているので、電源投入時に外部記憶装置18からメイン
メモリ12に読み出して記憶する必要がなく、コンピュ
ータの立ち上がり時間を大幅に短縮することができる。
Sをフラッシュメモリ内に記憶し、そのフラッシュメモ
リにバースト読み出しモード機能をもたせることによ
り、パーソナルコンピュータ等の立ち上げ時間を短縮さ
せることが可能になる。また、比較的データ容量の少な
いアプリケーションプログラムをフラッシュメモリ内に
記憶することにより、そのアプリケーションプログラム
を立ち上げる時間も短くすることの可能になる。しか
も、CPU10或いは図示しないメモリコントローラ
は、フラッシュメモリからのOSやプログラムの読み出
しを、メインメモリに記憶された場合と同様にして行う
ことができる。
ラッシュメモリの構成図である。図2のフラッシュメモ
リは、不揮発性メモリのセルアレイ21と、そのワード
線を選択する行デコーダ22と、列方向の選択を行う列
デコーダ23と、列デコーダ23により選択されるビッ
ト線とセンスアンプSAとを接続する列選択回路24と
を有する。更に、複数のアドレス(ADD)32を取り
込み、行デコーダ22及び列デコーダ23にアドレスを
供給するアドレスバッファ25と、出力ゲートトランジ
スタ27〜30を制御するセンスアンプデコーダ26と
を有する。センスアンプデコーダ26は、4つのセンス
アンプSAの出力を適宜出力バッファ31に供給する為
に、出力ゲートトランジスタ27〜30のいずれかを導
通状態に制御する。
DD)32、制御信号であるイニシャルアドレス(/I
A)33及びクロック(CLK)34が供給される。ま
た、センスアンプデコーダ26には、クロック(CL
K)34、アドレスバッファからの2ビットのアドレス
40及び制御信号であるバーストアドレス(/BA)3
6が供給される。更に、イニシャルアドレス(/IA)
33と、リセット信号(/RESET)38とが供給さ
れるバーストモード切換回路39が設けられる。このバ
ーストモード切換回路39は、バースト制御信号(BU
RST)35を生成し、内部のアドレスバッファ25及
びセンスアンプデコーダ26等に供給する。
ゲートトランジスタ27〜30と出力バッファ31とで
出力回路が構成され、バースト制御信号に応答して、ク
ロックに同期したバースト読み出しモードまたはクロッ
クに非同期の通常読み出しモードのいずれかの動作で読
み出しを行う。また、バースト制御信号35は、アドレ
スバッファ25にも供給され、アドレスバッファ25
は、バースト制御信号35に応答して、外部から供給さ
れるアドレス32をクロック34に同期して取り込む。
バースト制御信号35が非バーストモードの場合は、ア
ドレスバッファ25は、クロック34に非同期でアドレ
ス32を取り込む。
ングチャート図である。また、図4は、通常読み出しモ
ードのタイミングチャート図である。図2に示したフラ
ッシュメモリは、クロックに同期したバースト読み出し
モードと、クロックに非同期の通常読み出しモードの両
方で動作可能である。以下に、両読み出しモードの動作
を、図3,4のタイミングチャート図を参照して説明す
る。
ーストモード切換回路39が、バースト制御信号35を
バーストモード状態(Hレベル)に設定する。そして、
図3に示される通り、イニシャルアドレス/IAがLレ
ベルの期間に、クロックCLKの立ち上がりエッジに応
答して、外部から供給されたアドレスADDがアドレス
バッファ25に取り込まれる。この取り込まれたアドレ
スが、バースト読み出しの先頭アドレスとなる。アドレ
スバッファ25から供給されるアドレスに応じて、行デ
コーダが1本のワード線を選択し、列デコーダ23が4
本のビット線を選択する。その結果、4ビットのデータ
が4つのセンスアンプSAに出力され増幅される。
プデコーダ26にアドレス40を供給し、センスアンプ
デコーダ26は、先頭アドレスに対応した1つのセンス
アンプSAを選択し、対応する出力ゲート27〜30を
導通させる。その結果、先頭アドレスに対応する読み出
しデータが、出力バッファ31に供給され、入出力端子
37から出力される。図3のタイミングチャートによれ
ば、イニシャルアドレス/IAがLレベルになってから
3クロック後のクロックCLKの立ち上がりエッジに同
期して、先頭アドレスに対応するデータDnが出力され
る。そして、制御信号であるバーストアドレス/BAが
Lレベルの期間において、クロックCLKの立ち上がり
エッジに応答して、残りのセンスアンプSA内の読み出
しデータが、出力バッファ31に供給される。図3の例
では、バーストアドレス/BAがLレベルの間に、3つ
のクロックCLKの立ち上がりエッジが存在するので、
読み出しデータDn+1 、Dn+2 及びDn+3 が、連続して
出力される。
は、アドレスバッファ25がアドレスADDをクロック
の立ち上がりエッジに同期して取り込む動作を行い、出
力回路部分は、クロックCLKの立ち上がりエッジに同
期してセンスアンプのデータを出力し、更に、バースト
アドレス/BAのLレベルの期間中のクロックCLKの
立ち上がりエッジに応答して、残りのセンスアンプのデ
ータを出力する。この様に、バースト読み出しでは、ク
ロックに同期して動作し、連続して複数の読み出しデー
タを出力することができるので、高速読み出し動作が可
能である。
ードでは、バーストモード切換回路39が、バースト制
御信号35を通常モード(Lレベル)に設定する。それ
に伴い、アドレスバッファ25はクロックとは無関係
に、外部から供給されたアドレスADDを取り込み、行
デコーダ22及び列デコーダ23にそれらのアドレスを
供給する。同様に、アドレスバッファ25は、2ビット
のアドレス40をセンスアンプデコーダ26に供給す
る。行デコーダ22がアドレスに対応する1つのワード
線を選択し、列デコーダ23がアドレスに対応する4本
のビット線を選択する。そして、4つのセンスアンプS
Aが同時に4つのデータを読み出す。
2ビットのアドレスに従って、1つのセンスアンプSA
の出力を出力バッファ31に供給する為に、1つの出力
ゲートトランジスタ27〜30を導通する。
常読み出しモードでは、クロックに非同期にアドレスが
取り込まれ、1つのデータのみが読み出される。従っ
て、図4のタイミングチャートに示される通り、アドレ
スAn〜An+3 に対応するデータDn〜Dn+3 が、アド
レスの供給に応答して順次読み出される。4ビットのデ
ータを読み出す為には、4セットのアドレスを供給する
必要があり、バースト読み出しモードよりも低速動作と
なる。
に、メモリセルの消去または書き込み(プログラム)モ
ードを有する。フラッシュメモリは、ある大きなブロッ
クの単位でメモリセルアレイのデータを一括して消去
し、新たなデータの書き込みを行う。図5は、かかる消
去または書き込み時のタイミングチャート図である。フ
ラッシュメモリは、制御信号/WEがLレベルの期間
に、複数の入出力端子I/Oに供給されるコマンドを取
り込み、そのコマンドをデコードして、消去モードある
いは書き込みモードを検出する。かかる検出された消去
或いは書き込みモードに応じて、図示しない消去回路ま
たは書き込み回路が制御される。具体的には、ワード線
レベルやビット線レベルが、消去時のレベル或いは書き
込み時のレベルに制御される。
例を示す図である。また、図7は、図6のバーストモー
ド切換回路の動作の真理値表を示す図である。真理値表
内のXは、HまたはLレベルのいずれでもよいことを意
味する。
源判定回路50は、電源が投入された時に電源Vccの
レベルを判定して、電源Vccが所定の基準レベルより
低い間は、判定信号P0をLレベルにし、電源Vccが
所定の基準レベルより高くなると判定信号P0をHレベ
ルにする。また、バーストモード切換回路では、NOR
ゲート52とインバータ53からなるラッチ回路54
が、バースト制御信号(BURST)35の状態を保持
する。このラッチ回路54は、電源判定信号P0とリセ
ット信号/RESETとが入力されるNANDゲート5
1の出力、またはイニシャルアドレス(/IA)33に
よりインバータ55を経由して制御されるトランジスタ
56のドレインレベルにより、反転制御される。
される通り、電源が投入された時またはリセット動作を
行った時に、自動的にバースト制御信号BURSTをL
レベルに設定して、非バーストモード(通常読み出しモ
ード)にする。また、イニシャルアドレス/IAがLレ
ベルになると、自動的にバースト制御信号BURSTを
Hレベルに設定して、バースト読み出しモードにする。
STはHレベルにある。そこで、電源が投入され、電源
Vccの電圧が徐々に上がっていく過程で、基準値以下
の間は判定信号P0=Lが出力され、NANDゲート5
1の出力がHレベルとなり、バースト制御信号BURS
TはLレベルとなり、非バースト読み出しモード(通常
読み出しモード)に設定される。この状態が、図7での
ケース1の状態である。更に、電源Vccの電圧が上昇
して基準値以上になると、電源判定信号P0=Hが出力
され、NANDゲート51の出力がLレベルとなるが、
インバータ53の出力がHレベルであるので、NORゲ
ート52の出力であるバースト制御信号BURSTはL
レベルのまま変化しない。従って、非バースト読み出し
状態が、ラッチ回路54により保持される。この状態
が、図7でのケース4の状態である。
部からイニシャルアドレス/IAがLレベルに制御さ
れ、インバータ55の出力がHレベルになり、Nチャネ
ルトランジスタ56を強制的に導通させ、トランジスタ
56のドレイン端子57をLレベルに引き下げ、NAN
Dゲート51の出力のLレベルとあいまって、NORゲ
ート52の出力であるバースト制御信号BURSTをH
レベルに切り替える。その結果、バースト制御信号BU
RSTはバースト読み出しモードに設定される。この状
態は、ラッチ回路54により保持され、その後イニシャ
ルアドレス/IAがHレベルに切り換わっても、バース
トモード状態は保持される。これが、図7のケース3の
状態である。
動作がされると、リセット信号/RESETがLレベル
になるので、電源投入時と同様にして、バースト制御信
号BURSTは、再度Lレベルに切り換えられ、非バー
スト読み出しモードに設定される。これが、図7のケー
ス2の状態である。この状態がラッチ回路54により保
持されるので、リセット信号/RESETがHレベルに
戻っても、バースト制御信号BURST=Lの状態が保
持される。そして、この状態でイニシャルアドレス/I
AがLレベルになってバースト読み出しが指令される
と、上記と同様に、バースト制御信号BURSTは再度
Hレベルとなり、バースト読み出しモードになる。
ド切換回路によれば、電源投入時に非バースト読み出し
モードに設定され、イニシャルアドレス/IA=Lによ
りバースト読み出しモードに切り換えられ、リセット信
号/RESET=Lにより非バースト読み出しモードに
切り換えられる。従って、図1のフラッシュメモリ14
は、BIOSとOS等のプログラムとが記録され、電源
投入時はクロックに同期しない非バースト読み出しモー
ドで動作し、バースト読み出しを指令するとクロックに
同期したバースト読み出しモードに切り換えられてメイ
ンメモリと同様な高速が読み出し動作をすることができ
る。かかるフラッシュメモリを利用することにより、立
ち上がり時間を短縮したパーソナルコンピュータを提供
することが可能になる。
を示す図である。図9は、図8のバーストモード切換回
路の動作の真理値表を示す図である。真理値表内のX
は、HまたはLレベルのいずれでもよいことを意味す
る。
は、図6の例と同様に、電源判定回路50、その出力P
0とリセット信号/RESETが供給されるNANDゲ
ート51、NORゲート52とインバータ53とで構成
されるラッチ回路54及びNチャネルトランジスタ56
を有する。更に、Pチャネルトランジスタ57が設けら
れ、ライトイネーブル信号/WE、複数の入出力端子の
うちに所定の入出力端子I/O、イニシャルアドレス/
IA、及び複数の入出力端子I/Oに供給されるコマン
ドから生成されるセット信号SETにより、トランジス
タ56,57が制御され、ラッチ回路54の状態が所望
の状態に切り換えられる。
ccの低い状態を検出して出力P0をLレベルにし、N
ORゲート52の出力がLレベルとなり、バースト制御
信号BURSTが非バースト読み出しモード(通常読み
出しモード、Lレベル)に設定される(ケース10)。
また、一旦バースト読み出しモードに設定されても、リ
セット信号/RESETをLレベルに制御することによ
り、ラッチ回路54のNORゲート52の出力をLレベ
ルに切り換えることができる(ケース11)。更に、イ
ニシャルアドレス/IA=Lにより、NANDゲート6
4の出力がHレベルとなり、トランジスタ56を導通さ
せ、NORゲート52の出力を強制的にHレベルに切り
換える。その結果、バースト制御信号BURSTは、バ
ースト読み出しモード(Hレベル)となり、その状態が
ラッチ回路54により保持される(ケース14)。以上
の動作は、図6のバーストモード切換回路例の場合と同
じである。
消去または書き込み(プログラム)動作時のライトイネ
ーブル信号/WE=Lレベルに応答して、バースト制御
信号BURSTをLレベルの非バースト読み出しモード
に設定し、メモリをクロックに非同期の動作状態にする
(ケース13)。また、このバーストモード切換回路
は、複数の入出力端子I/Oに供給される所定のコマン
ドにより、セット信号SETをモード切換状態(Hレベ
ル)にし、その後特定の入出力端子I/OをHレベルま
たはLレベルにすることにより、バースト読み出しモー
ドまたは非バースト読み出しモードに設定することを可
能にする(ケース19,20)。
た通り、消去または書き込み時は、ライトイネーブル信
号/WE=Lレベルに応答して、所定のコマンドが与え
られる。従って、ライトイネーブル信号/WE=Lレベ
ルにより、インバータ9の出力はHレベル、NORゲー
ト58の出力はLレベルとなり、Pチャネルトランジス
タ57が導通し、NORゲート52の出力が強制的にL
レベルに切り換えられる。その結果、バースト制御信号
BURSTはLレベルの非バースト読み出し状態に設定
され、その状態がラッチ回路54により保持される(ケ
ース13)。従って、この状態では、フラッシュメモリ
はクロックに非同期の状態となる。
/Oに所定のコマンドを入力することにより、コマンド
デコーダ65がそれをデコードし、セット信号のラッチ
回路66の出力SETをHレベルに保持する。この状態
が、モード設定状態である。そこで、その後、特定の入
出力端子I/OがHレベルになると、NANDゲート6
3の入力が全てHレベルとなりその出力はLレベルとな
る。従って、NANDゲート64の出力がHレベルとな
り、トランジスタ56が導通し、NORゲート52の出
力がHレベルとなり、バースト制御信号BURSTがバ
ースト読み出し状態(Hレベル)に設定される(ケース
20)。
いて、特定の入出力端子I/OがLレベルになると、A
NDゲート62の入力が全てHレベルとなり、その出力
がHレベルとなる。従って、NORゲート58の出力が
Lレベルとなり、トランジスタ57が導通し、NORゲ
ート52の出力がLレベルとなり、バースト制御信号B
URSTが非バースト読み出し状態(Lレベル)に設定
され、フラッシュメモリは、クロックに非同期の状態と
なる(ケース19)。
の動作のフローチャート図である。上記した通り、電源
投入時(S2)に、自動的に非バーストモードに設定さ
れる(S4)。その後、バースト読み出しを指令するイ
ニシャルアドレス/IAがLレベルになると(S6)、
バースト読み出しモードに設定される(S8)。更に、
消去或いは書き込み(プログラム)を指令するライトイ
ネーブル/WEがLレベルになると(S10)、再度、
非バースト読み出しモードとなり、クロックに非同期の
動作となる(S12)。
コマンドが入力されると、内部のセット信号SETがH
レベルとなり(S14)、その後の特定の入出力端子I
/OがHレベルまたはLレベルに応じて、バースト読み
だしモードまたは非バースト読みだしモードに設定され
る(S16,S18,S20)。また、リセット動作さ
れてリセット信号/RESETがLレベルになると(S
22)、強制的に非バースト読みだしモードに設定され
る(S24)。
I/Oにより、モードの設定を行う際に、セット信号S
ET=Hレベルにしてから後の特定の入出力端子I/O
のHレベルまたはLレベルにより、モード設定が可能に
なるように構成される。その理由は、ライトイネーブル
信号/WE=Lはコマンド入力状態を意味し、消去また
は書き込み時とモード設定状態でのモード設定とを区別
するためである。
び通常の非同期の読み出しの動作については、一般的な
SDRAM等のメモリと同様である。
を例にして説明したが、本発明はフラッシュメモリ等の
不揮発性メモリに限定されず、それ以外の半導体を利用
したメモリデバイスであって、クロックに同期したバー
スト読み出しモードと非同期の非バースト読み出しモー
ドを併用することが要求されるメモリデバイスにおい
て、同様に適用することができる。
モリデバイスにおいて、クロックに同期したバースト読
み出しモードと非同期の非バースト読み出しモードを併
用し、電源投入時は自動的に非バースト読み出しモード
になり、バースト読み出しを指令する制御信号に応答し
てバースト読み出しモードに切換られる。また、リセッ
ト動作によって、非バーストモードに切り換えることが
できる。
フラッシュメモリが使用されるシステム例を示す図であ
る。
リの構成図である。
図である。
ある。
ート図である。
ある。
表を示す図である。
る。
表を示す図である。
ーチャート図である。
Claims (10)
- 【請求項1】不揮発性のメモリセルを有するメモリデバ
イスにおいて、 前記メモリセルからの読み出しデータを、クロックに同
期したバースト読み出し動作、またはクロックに非同期
の通常読み出し動作を行う出力回路と、 電源投入時に、前記出力回路を前記通常読み出しモード
に設定し、外部からの所定の制御信号に応答して、前記
出力回路を前記バースト読み出しモードに設定するバー
ストモード切換回路とを有することを特徴とするメモリ
デバイス。 - 【請求項2】請求項1において、 前記バーストモード切換回路は、リセット動作に応答し
て、前記出力回路を通常読み出しモードに設定すること
を特徴とするメモリデバイス。 - 【請求項3】請求項1または2において、 前記バーストモード切換回路は、前記出力回路にバース
ト制御信号を供給し、前記バースト読み出し設定時に、
該バースト制御信号をバースト読み出し状態にラッチす
るラッチ回路を有することを特徴とするメモリデバイ
ス。 - 【請求項4】請求項1において、 前記バーストモード切換回路は、外部から供給される消
去または書き込み制御信号に応答して、前記通常読み出
しモードに設定することを特徴とするメモリデバイス。 - 【請求項5】請求項1において、 更に、複数の入力端子を有し、 前記バーストモード切換回路は、前記複数の入力端子に
供給される所定のコマンドに応答してモード切換状態と
なり、更に、前記モード切換状態の時に、前記複数の入
力端子のいずれかの入力端子に供給されるモード切換信
号に応答して、前記出力回路を、該モード切換信号に対
応したバースト読み出しモードまたは通常読み出しモー
ドに切り換え設定することを特徴とするメモリデバイ
ス。 - 【請求項6】バースト制御信号に応じて、クロックに同
期した第1の読み出しモードまたは該クロックに非同期
の第2の読み出しモードに切り換えられるメモリデバイ
スにおいて、 前記第1の読み出しモードでは、第1の制御信号が活性
化レベルの時に前記クロックに同期してアドレス信号が
取り込まれ、前記第1の制御信号から所定の時間後にお
いて第2の制御信号が活性化レベルの間、複数の読み出
しデータが前記クロックに同期して出力され、 電源投入時に、前記バースト制御信号を第2の読み出し
モードの状態に設定し、前記第1の制御信号の活性化レ
ベルに応答して、前記バースト制御信号を第1の読み出
しモードの状態に設定するバーストモード切換回路を有
することを特徴とするメモリデバイス。 - 【請求項7】請求項6において、 前記バーストモード切換回路は、リセット動作に応答し
て、前記バースト制御信号を第2の読み出しモードの状
態に設定することを特徴とするメモリデバイス。 - 【請求項8】請求項6において、 更に、複数の入力端子を有し、 第3の制御信号が活性化レベルの時に、前記複数の入力
端子に供給される消去または書き込みコマンドに応答し
て、メモリセルへの消去または書き込みが行われ、 前記バーストモード切換回路は、前記第3の制御信号の
活性化レベルに応答して、前記バースト制御信号を第2
の読み出しモードの状態に設定することを特徴とするメ
モリデバイス。 - 【請求項9】請求項8において、 前記バーストモード切換回路は、前記第3の制御信号が
活性化レベルの時に前記複数の入力端子に供給される所
定のコマンドに応答してモード切換状態となり、更に、
前記モード切換状態の時に、前記複数の入力端子のいず
れかの入力端子に供給されるモード切換信号に応答し
て、前記バースト制御信号を、該モード切換信号に対応
した第1または第2の読み出しモードに切り換え設定す
ることを特徴とするメモリデバイス。 - 【請求項10】請求項6〜9のいずれかにおいて、 電源が投入されない状態でも記憶データを保持する不揮
発性メモリを有することを特徴とするメモリデバイス。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008226455A (ja) * | 1999-12-20 | 2008-09-25 | Fujitsu Ltd | フラッシュメモリ装置 |
JP2009193648A (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Spansion Llc | 同期型不揮発性メモリおよびメモリシステム |
JP2010044822A (ja) * | 2008-08-12 | 2010-02-25 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体メモリ |
US7725665B2 (en) | 2004-06-30 | 2010-05-25 | Renesas Technology Corp. | Data processor |
JP2011507140A (ja) * | 2007-12-21 | 2011-03-03 | モーセッド・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | 電力削減機能を有する不揮発性半導体メモリデバイス |
US9213389B2 (en) | 2007-12-21 | 2015-12-15 | Conversant Intellectual Property Management Inc. | Non-volatile semiconductor memory device with power-saving feature |
Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6624761B2 (en) * | 1998-12-11 | 2003-09-23 | Realtime Data, Llc | Content independent data compression method and system |
US6604158B1 (en) * | 1999-03-11 | 2003-08-05 | Realtime Data, Llc | System and methods for accelerated data storage and retrieval |
US6601104B1 (en) * | 1999-03-11 | 2003-07-29 | Realtime Data Llc | System and methods for accelerated data storage and retrieval |
US6715067B1 (en) * | 1999-09-21 | 2004-03-30 | Intel Corporation | Initializing a processor-based system from a non-volatile re-programmable semiconductor memory |
US6539456B2 (en) * | 1999-10-13 | 2003-03-25 | Intel Corporation | Hardware acceleration of boot-up utilizing a non-volatile disk cache |
EP1103978B1 (en) * | 1999-11-25 | 2009-01-28 | STMicroelectronics S.r.l. | Non-volatile memory device with burst mode reading and corresponding reading method |
EP1122737A1 (en) | 2000-01-31 | 2001-08-08 | STMicroelectronics S.r.l. | Circuit for managing the transfer of data streams from a plurality of sources within a system |
EP1122735B1 (en) | 2000-01-31 | 2010-09-01 | STMicroelectronics Srl | Interleaved data path and output management architecture for an interleaved memory and load pulser circuit for outputting the read data |
US6452864B1 (en) | 2000-01-31 | 2002-09-17 | Stmicroelectonics S.R.L. | Interleaved memory device for sequential access synchronous reading with simplified address counters |
EP1122736B1 (en) | 2000-01-31 | 2009-10-28 | STMicroelectronics S.r.l. | ATD generation in a synchronous memory |
EP1122739A3 (en) | 2000-01-31 | 2003-12-17 | STMicroelectronics S.r.l. | Accelerated carry generation. |
DE60019081D1 (de) | 2000-01-31 | 2005-05-04 | St Microelectronics Srl | Verschachtelter Burst-Speicher mit Burst-Zugriff bei synchronen Lesezyklen, wobei die beiden untergeordneten Speicherfelder unabhängig lesbar sind mit wahlfreiem Zugriff während asynchroner Lesezyklen |
EP1122887A1 (en) | 2000-01-31 | 2001-08-08 | STMicroelectronics S.r.l. | Pre-charging circuit of an output buffer |
EP1122733A1 (en) | 2000-01-31 | 2001-08-08 | STMicroelectronics S.r.l. | Internal regeneration of the address latch enable (ALE) signal of a protocol of management of a burst interleaved memory and relative circuit |
US6624679B2 (en) | 2000-01-31 | 2003-09-23 | Stmicroelectronics S.R.L. | Stabilized delay circuit |
US20010047473A1 (en) * | 2000-02-03 | 2001-11-29 | Realtime Data, Llc | Systems and methods for computer initialization |
US20030191876A1 (en) * | 2000-02-03 | 2003-10-09 | Fallon James J. | Data storewidth accelerator |
DE60011035T2 (de) | 2000-03-02 | 2004-09-16 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Verfahren zur logischen Aufteilung einer nichtflüchtigen Speichermatrix |
US6851026B1 (en) * | 2000-07-28 | 2005-02-01 | Micron Technology, Inc. | Synchronous flash memory with concurrent write and read operation |
US6621761B2 (en) * | 2000-05-31 | 2003-09-16 | Advanced Micro Devices, Inc. | Burst architecture for a flash memory |
DE10037004B4 (de) * | 2000-07-29 | 2004-01-15 | Sms Demag Ag | Walzgerüst für bandkantenorientiertes Verschieben der Zwischenwalzen in einem 6-Walzen-Gerüst |
US6691204B1 (en) * | 2000-08-25 | 2004-02-10 | Micron Technology, Inc. | Burst write in a non-volatile memory device |
US7417568B2 (en) * | 2000-10-03 | 2008-08-26 | Realtime Data Llc | System and method for data feed acceleration and encryption |
US9143546B2 (en) * | 2000-10-03 | 2015-09-22 | Realtime Data Llc | System and method for data feed acceleration and encryption |
US8692695B2 (en) | 2000-10-03 | 2014-04-08 | Realtime Data, Llc | Methods for encoding and decoding data |
DE10050604A1 (de) * | 2000-10-12 | 2002-04-25 | Siemens Ag | Verfahren zum Starten einer Datenverarbeitungsanlage sowie zugehörige Komponenten |
US7386046B2 (en) * | 2001-02-13 | 2008-06-10 | Realtime Data Llc | Bandwidth sensitive data compression and decompression |
JP2002337402A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-11-27 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
US6400611B1 (en) * | 2001-03-23 | 2002-06-04 | Atmel Corporation | Independent asynchronous boot block for synchronous non-volatile memory devices |
AU2002331774A1 (en) * | 2001-08-29 | 2003-03-18 | Analog Devices, Inc. | Methods and apparatus utilizing flash burst mode to improve processor performance |
GB0122401D0 (en) * | 2001-09-17 | 2001-11-07 | Ttp Communications Ltd | Interfacing processors with external memory |
US6754132B2 (en) * | 2001-10-19 | 2004-06-22 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Devices and methods for controlling active termination resistors in a memory system |
US6791898B1 (en) * | 2002-10-11 | 2004-09-14 | Cypress Semiconductor Corporation | Memory device providing asynchronous and synchronous data transfer |
JP4386706B2 (ja) * | 2003-11-06 | 2009-12-16 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
US8103805B2 (en) | 2005-04-29 | 2012-01-24 | Micron Technology, Inc. | Configuration finalization on first valid NAND command |
US7245552B2 (en) | 2005-06-22 | 2007-07-17 | Infineon Technologies Ag | Parallel data path architecture |
US8255108B2 (en) * | 2005-08-31 | 2012-08-28 | Spx Corporation | Dynamic file system creation for scan tools |
US7787324B2 (en) | 2006-10-13 | 2010-08-31 | Marvell World Trade Ltd. | Processor instruction cache with dual-read modes |
US8027218B2 (en) | 2006-10-13 | 2011-09-27 | Marvell World Trade Ltd. | Processor instruction cache with dual-read modes |
US8266405B2 (en) * | 2006-12-13 | 2012-09-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Memory interface configurable for asynchronous and synchronous operation and for accessing storage from any clock domain |
TWI345788B (en) * | 2007-11-02 | 2011-07-21 | Inventec Corp | Memory reset apparatus |
US8386759B1 (en) * | 2007-12-28 | 2013-02-26 | Altera Corporation | Integrated circuit boot method and apparatus for configuring memory device read mode using programmable circuitry boot code read from the memory device |
US7916575B2 (en) * | 2008-12-23 | 2011-03-29 | Emanuele Confalonieri | Configurable latching for asynchronous memories |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960003526B1 (ko) * | 1992-10-02 | 1996-03-14 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리장치 |
EP0561370B1 (en) * | 1992-03-19 | 1999-06-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | A clock-synchronous semiconductor memory device and access method thereof |
US6175901B1 (en) * | 1994-04-15 | 2001-01-16 | Micron Technology, Inc. | Method for initializing and reprogramming a control operation feature of a memory device |
US5696917A (en) * | 1994-06-03 | 1997-12-09 | Intel Corporation | Method and apparatus for performing burst read operations in an asynchronous nonvolatile memory |
-
1998
- 1998-05-28 JP JP14676598A patent/JP4060442B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-02-08 TW TW088101896A patent/TW487916B/zh not_active IP Right Cessation
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008226455A (ja) * | 1999-12-20 | 2008-09-25 | Fujitsu Ltd | フラッシュメモリ装置 |
JP2008226458A (ja) * | 1999-12-20 | 2008-09-25 | Fujitsu Ltd | フラッシュメモリ装置のデコーダカウンタセレクタ |
JP2012009142A (ja) * | 1999-12-20 | 2012-01-12 | Fujitsu Semiconductor Ltd | フラッシュメモリ装置 |
US7725665B2 (en) | 2004-06-30 | 2010-05-25 | Renesas Technology Corp. | Data processor |
US7953941B2 (en) * | 2004-06-30 | 2011-05-31 | Renesas Electronics Corporation | Data processor with memory controller having burst access operation |
JP2011507140A (ja) * | 2007-12-21 | 2011-03-03 | モーセッド・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | 電力削減機能を有する不揮発性半導体メモリデバイス |
US9213389B2 (en) | 2007-12-21 | 2015-12-15 | Conversant Intellectual Property Management Inc. | Non-volatile semiconductor memory device with power-saving feature |
JP2009193648A (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Spansion Llc | 同期型不揮発性メモリおよびメモリシステム |
JP2010044822A (ja) * | 2008-08-12 | 2010-02-25 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体メモリ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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EP0961283A3 (en) | 2000-05-17 |
TW487916B (en) | 2002-05-21 |
DE69924916D1 (de) | 2005-06-02 |
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