JPH09232742A - 電子回路装置の製造方法 - Google Patents
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-
- H—ELECTRICITY
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
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- H05K2203/041—Solder preforms in the shape of solder balls
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/04—Soldering or other types of metallurgic bonding
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Abstract
(57)【要約】
【課題】均一で簡便にはんだを供給し、洗浄工程を必要
としないフラックスレスにより、低コストではんだを供
給することができる電子回路装置の製造方法を得る。 【解決手段】電子部品や回路基板等の電極にはんだ材を
供給する電子回路装置の製造方法において、上記はんだ
材及び上記電極の表面の初期表面酸化膜や有機汚染膜を
除去する工程と、上記はんだ材の加熱溶融工程において
接続完了後に気化する液体を用いて、上記はんだ材及び
上記電極からなる被はんだ供給部を覆うことにより、接
合部表面の再酸化を防止する工程と、上記はんだ材を加
熱溶融する工程とを備え、フラックスを用いずにはんだ
接続を行う。
としないフラックスレスにより、低コストではんだを供
給することができる電子回路装置の製造方法を得る。 【解決手段】電子部品や回路基板等の電極にはんだ材を
供給する電子回路装置の製造方法において、上記はんだ
材及び上記電極の表面の初期表面酸化膜や有機汚染膜を
除去する工程と、上記はんだ材の加熱溶融工程において
接続完了後に気化する液体を用いて、上記はんだ材及び
上記電極からなる被はんだ供給部を覆うことにより、接
合部表面の再酸化を防止する工程と、上記はんだ材を加
熱溶融する工程とを備え、フラックスを用いずにはんだ
接続を行う。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品や回路基
板等の電極にフラックスを用いないではんだを供給する
電子回路装置の製造方法に関する。
板等の電極にフラックスを用いないではんだを供給する
電子回路装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電子回路装置の接合に関しては、電子機
器や電子部品の小型化、高密度化、高機能化に伴い、フ
リップチップによる実装方式やBGA(Ball Gr
idArray)等のはんだバンプを用いた接続方式が
注目され、開発が盛んに行われている。このはんだバン
プを用いた接続方式の特徴は、リード等に比べ配線長を
短くできるため、優れた電気特性を示すことや、バンプ
が格子状に配置されているため、QFP等と比較して、
端子ピッチが大きくて済み、実装が容易であるというこ
とが挙げられる。
器や電子部品の小型化、高密度化、高機能化に伴い、フ
リップチップによる実装方式やBGA(Ball Gr
idArray)等のはんだバンプを用いた接続方式が
注目され、開発が盛んに行われている。このはんだバン
プを用いた接続方式の特徴は、リード等に比べ配線長を
短くできるため、優れた電気特性を示すことや、バンプ
が格子状に配置されているため、QFP等と比較して、
端子ピッチが大きくて済み、実装が容易であるというこ
とが挙げられる。
【0003】この接続方式においては、はんだバンプを
部品側あるいは基板側の電極に予め供給しておく必要が
あり、供給したい電極に、はんだ量のばらつきやブリッ
ジ等などの不良なしに、確実に供給しなければならな
い。
部品側あるいは基板側の電極に予め供給しておく必要が
あり、供給したい電極に、はんだ量のばらつきやブリッ
ジ等などの不良なしに、確実に供給しなければならな
い。
【0004】はんだバンプ供給方法としては、(1)め
っきや蒸着ではんだ膜を形成する方法、(2)はんだペ
ーストを印刷する方法、(3)はんだボールを振込む方
法等がある。
っきや蒸着ではんだ膜を形成する方法、(2)はんだペ
ーストを印刷する方法、(3)はんだボールを振込む方
法等がある。
【0005】(1)の方法は、めっきや蒸着により接続
部にはんだ膜を形成させ、フラックスを塗布した後、そ
れを加熱溶融してはんだバンプを供給する方法である。
部にはんだ膜を形成させ、フラックスを塗布した後、そ
れを加熱溶融してはんだバンプを供給する方法である。
【0006】(2)の方法は、例えば、1st Sym
posium ”Microjoining and
Assembly Technology in El
ectronics’95”の予稿集p187−p19
2等に報告されている、従来の表面実装におけるはんだ
ペーストを電極上に印刷して、加熱溶融する方法であ
る。
posium ”Microjoining and
Assembly Technology in El
ectronics’95”の予稿集p187−p19
2等に報告されている、従来の表面実装におけるはんだ
ペーストを電極上に印刷して、加熱溶融する方法であ
る。
【0007】(3)の方法は、例えば、米国特許第5,
284,287号等に開示されている、はんだボールを
電極に対応して穴またはくぼみの形成された整列治具に
振り込んで位置合わせ、搭載し、加熱溶融することで供
給する方法である。
284,287号等に開示されている、はんだボールを
電極に対応して穴またはくぼみの形成された整列治具に
振り込んで位置合わせ、搭載し、加熱溶融することで供
給する方法である。
【0008】電子回路装置の接合だけでなく、はんだを
接合部へ供給する際においては、フラックスを用いる方
法が広く一般的に行われている。上記のいずれの方法も
フラックスを使用している。はんだによる接合は、はん
だと被接合部母材との金属結合により接続されている
が、はんだや被接合部母材表面は、酸化膜や有機物汚染
膜に覆われているため、そのままの状態で加熱溶融して
も接合されない。そのため、フラックスを用いること
で、表面酸化膜、有機物汚染膜を化学的に除去するとと
もに、フラックスが接合部を覆うことで、清浄な表面状
態を維持して、再酸化を防止し、雰囲気条件に影響され
ること無く、良好な接合を行うことが可能となる。
接合部へ供給する際においては、フラックスを用いる方
法が広く一般的に行われている。上記のいずれの方法も
フラックスを使用している。はんだによる接合は、はん
だと被接合部母材との金属結合により接続されている
が、はんだや被接合部母材表面は、酸化膜や有機物汚染
膜に覆われているため、そのままの状態で加熱溶融して
も接合されない。そのため、フラックスを用いること
で、表面酸化膜、有機物汚染膜を化学的に除去するとと
もに、フラックスが接合部を覆うことで、清浄な表面状
態を維持して、再酸化を防止し、雰囲気条件に影響され
ること無く、良好な接合を行うことが可能となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】前記、3種類のはんだ
バンプ供給方法において、(1)のめっきや蒸着膜によ
るはんだ膜を形成する方法では、他の方法と比べて、め
っきや蒸着を行うための設備コストがかかるとともに、
均一なはんだバンプを形成するための膜厚や組成の制御
が難しいという問題がある。また(2)のはんだペース
トを印刷する方法は、はんだペーストが印刷した際に完
全に転写されず、メタルマスクに残ってしまい、供給さ
れるはんだ量がばらついたり、不十分となる問題があ
る。この転写不足を解決するために、マスクを基板に密
着させたままで加熱溶融する方式が開発されているが、
加熱時の基板の反りにより転写されない等の問題があ
る。(3)のはんだボールを電極に対応して、穴または
くぼみが形成された整列治具に振り込んで搭載し、加熱
溶融する方法は、(1)や(2)の方法に比べて、供給
されるはんだ量のばらつきが少ないので、はんだバンプ
の高さばらつきも少なくできる。
バンプ供給方法において、(1)のめっきや蒸着膜によ
るはんだ膜を形成する方法では、他の方法と比べて、め
っきや蒸着を行うための設備コストがかかるとともに、
均一なはんだバンプを形成するための膜厚や組成の制御
が難しいという問題がある。また(2)のはんだペース
トを印刷する方法は、はんだペーストが印刷した際に完
全に転写されず、メタルマスクに残ってしまい、供給さ
れるはんだ量がばらついたり、不十分となる問題があ
る。この転写不足を解決するために、マスクを基板に密
着させたままで加熱溶融する方式が開発されているが、
加熱時の基板の反りにより転写されない等の問題があ
る。(3)のはんだボールを電極に対応して、穴または
くぼみが形成された整列治具に振り込んで搭載し、加熱
溶融する方法は、(1)や(2)の方法に比べて、供給
されるはんだ量のばらつきが少ないので、はんだバンプ
の高さばらつきも少なくできる。
【0010】しかし、上記のいずれの方法においても、
フラックスを使用している。このため、加熱溶融後にフ
ラックス残渣が残るので、洗浄工程を必要とする。これ
までは、洗浄性にすぐれたフロンやトリクロロエタン等
の有機溶剤により洗浄を行ってきたが、これらの洗浄剤
がオゾン層を破壊するという環境問題を引き起こしてい
る。また、フラックスが接続部内に巻き込まれて発生す
るボイドも問題となっている。特に、はんだバンプのよ
うな球形状のものが格子状に並んでいるため、従来のチ
ップ部品やQFP等のはんだ接続に比べて、洗浄し難
く、フラック残渣が除去しきれずに、腐食やマイグレー
ションをおこす可能性がある。
フラックスを使用している。このため、加熱溶融後にフ
ラックス残渣が残るので、洗浄工程を必要とする。これ
までは、洗浄性にすぐれたフロンやトリクロロエタン等
の有機溶剤により洗浄を行ってきたが、これらの洗浄剤
がオゾン層を破壊するという環境問題を引き起こしてい
る。また、フラックスが接続部内に巻き込まれて発生す
るボイドも問題となっている。特に、はんだバンプのよ
うな球形状のものが格子状に並んでいるため、従来のチ
ップ部品やQFP等のはんだ接続に比べて、洗浄し難
く、フラック残渣が除去しきれずに、腐食やマイグレー
ションをおこす可能性がある。
【0011】さらに、(2)の方法では、はんだが転写
しきれず、メタルマスクに残ってしまうと印刷のたびに
洗浄を要する。(3)の方法でも、搭載時に整列治具側
にフラックスが付着してしまうと、次の搭載時に、はん
だボールがフラックスの粘着力により転写されないとい
う問題があり、(2)のはんだペーストによる供給方法
と同様に治具側も洗浄する必要があり、作業効率や生産
性の面で問題である。
しきれず、メタルマスクに残ってしまうと印刷のたびに
洗浄を要する。(3)の方法でも、搭載時に整列治具側
にフラックスが付着してしまうと、次の搭載時に、はん
だボールがフラックスの粘着力により転写されないとい
う問題があり、(2)のはんだペーストによる供給方法
と同様に治具側も洗浄する必要があり、作業効率や生産
性の面で問題である。
【0012】そこで、本発明の目的は、均一で簡便には
んだを供給し、洗浄工程を必要としないフラックスレス
により、低コストではんだを供給する電子回路装置の製
造方法を提供することにある。
んだを供給し、洗浄工程を必要としないフラックスレス
により、低コストではんだを供給する電子回路装置の製
造方法を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題は、電子部品や
回路基板等の電極にはんだ材を供給する電子回路装置の
製造方法において、上記はんだ材及び上記電極の表面の
初期表面酸化膜や有機汚染膜を除去する工程と、上記は
んだ材の加熱溶融工程において接続完了後に気化する液
体を用いて、上記はんだ材及び上記電極からなる被はん
だ供給部を覆うことにより、接合部表面の再酸化を防止
する工程と、上記はんだ材を加熱溶融する工程とを備え
ることにより、フラックスを用いずにはんだ接続を行う
ことが可能となり、達成される。
回路基板等の電極にはんだ材を供給する電子回路装置の
製造方法において、上記はんだ材及び上記電極の表面の
初期表面酸化膜や有機汚染膜を除去する工程と、上記は
んだ材の加熱溶融工程において接続完了後に気化する液
体を用いて、上記はんだ材及び上記電極からなる被はん
だ供給部を覆うことにより、接合部表面の再酸化を防止
する工程と、上記はんだ材を加熱溶融する工程とを備え
ることにより、フラックスを用いずにはんだ接続を行う
ことが可能となり、達成される。
【0014】本発明では、はんだを供給する電極に対応
した穴またはくぼみの形成された整列治具上に、はんだ
ボールを振込んだ後、電極表面または、振込まれたはん
だボール表面に、はんだ加熱溶融工程において接続完了
後に気化する液体を塗布し、位置合わせし搭載する。こ
れにより、フラックスを用いた場合と同様に、この液体
が雰囲気から加熱時のはんだボールや電極を遮断するた
め、大気中などの酸素濃度の高い雰囲気においても、は
んだや電極表面の再酸化を防止することができる。この
ため、はんだ溶融時に、はんだが電極表面にぬれ広が
り、はんだが電極上に供給される。さらに、上記液体と
して、還元作用を有する液体を用いると、はんだ及び電
極表面の初期酸化膜を除去することができ、はんだが電
極表面に供給されやすくなる。また、この液体は、加熱
溶融時に蒸発してしまうため、フラックスのような残渣
がなく、はんだ供給後の接合部及び治具の洗浄は不要と
なる。なお、電極表面は、初期の表面酸化膜や有機汚染
膜を防ぐため、例えば、めっきやコーティング等によ
り、はんだやSn、Au,Ni、Pd等の膜で保護され
ている方が、より確実にはんだを供給することができ
る。また、スパッタエッチングやプラズマビーム等の物
理的方法や研磨等の機械的方法、酸洗浄等の化学的方法
などにより、はんだや電極表面の初期酸化膜を除去して
から、上記の液体を用いて加熱溶融することで、はんだ
や電極表面に、より厚い酸化膜が形成されていた場合で
も、同様にはんだを供給することが可能である。
した穴またはくぼみの形成された整列治具上に、はんだ
ボールを振込んだ後、電極表面または、振込まれたはん
だボール表面に、はんだ加熱溶融工程において接続完了
後に気化する液体を塗布し、位置合わせし搭載する。こ
れにより、フラックスを用いた場合と同様に、この液体
が雰囲気から加熱時のはんだボールや電極を遮断するた
め、大気中などの酸素濃度の高い雰囲気においても、は
んだや電極表面の再酸化を防止することができる。この
ため、はんだ溶融時に、はんだが電極表面にぬれ広が
り、はんだが電極上に供給される。さらに、上記液体と
して、還元作用を有する液体を用いると、はんだ及び電
極表面の初期酸化膜を除去することができ、はんだが電
極表面に供給されやすくなる。また、この液体は、加熱
溶融時に蒸発してしまうため、フラックスのような残渣
がなく、はんだ供給後の接合部及び治具の洗浄は不要と
なる。なお、電極表面は、初期の表面酸化膜や有機汚染
膜を防ぐため、例えば、めっきやコーティング等によ
り、はんだやSn、Au,Ni、Pd等の膜で保護され
ている方が、より確実にはんだを供給することができ
る。また、スパッタエッチングやプラズマビーム等の物
理的方法や研磨等の機械的方法、酸洗浄等の化学的方法
などにより、はんだや電極表面の初期酸化膜を除去して
から、上記の液体を用いて加熱溶融することで、はんだ
や電極表面に、より厚い酸化膜が形成されていた場合で
も、同様にはんだを供給することが可能である。
【0015】一方、上記の物理的な初期酸化膜の除去及
び、治具への振込み、搭載の後、非酸化性雰囲気中で加
熱溶融を行うことで、再酸化を防止することができ、洗
浄だけでなく、上記液体の塗布工程も不要となる。
び、治具への振込み、搭載の後、非酸化性雰囲気中で加
熱溶融を行うことで、再酸化を防止することができ、洗
浄だけでなく、上記液体の塗布工程も不要となる。
【0016】
【発明の実施の形態】図1の工程図を代表例として、本
発明の原理を具体的に説明する。まず、図1(a)に示
すように、はんだを供給する電極に対応して、供給する
はんだボール1が装着されるように、穴またはくぼみが
形成された整列治具2に、はんだボール1を整列治具2
に振動を与えながら、真空吸引等により振り込む。次
に、図1(b)に示すように、はんだを供給する電子部
品または基板3上に、スプレーやスキージ、スプレー、
ディスペンサー等により、加熱工程において接続完了後
に気化する液体4を、電極3aの表面およびはんだボー
ル1が加熱溶融時に電極3aと接する部分が覆われる程
度に、塗布する。そして、図1(c)のように、はんだ
ボール1を装着した整列治具2を真空吸引したまま反転
させ、対応する電極3aと位置合わせした後、搭載す
る。
発明の原理を具体的に説明する。まず、図1(a)に示
すように、はんだを供給する電極に対応して、供給する
はんだボール1が装着されるように、穴またはくぼみが
形成された整列治具2に、はんだボール1を整列治具2
に振動を与えながら、真空吸引等により振り込む。次
に、図1(b)に示すように、はんだを供給する電子部
品または基板3上に、スプレーやスキージ、スプレー、
ディスペンサー等により、加熱工程において接続完了後
に気化する液体4を、電極3aの表面およびはんだボー
ル1が加熱溶融時に電極3aと接する部分が覆われる程
度に、塗布する。そして、図1(c)のように、はんだ
ボール1を装着した整列治具2を真空吸引したまま反転
させ、対応する電極3aと位置合わせした後、搭載す
る。
【0017】その後、加熱を開始していくと、図1
(d)に示すように、液体4は、徐々に気化して行きな
がら、はんだの融点温度となる。この時、はんだボール
1の溶融による体積膨張によって、表面酸化膜が破れ
る。一方、電極3aの表面は、依然として液体4に覆わ
れているため、雰囲気中の酸素から遮断されて再酸化さ
れない。このため、溶融したはんだボール1の新生面が
電極3a表面に接触して、ぬれひろがる。その後、図1
(e)のように、はんだが凝固する前に真空吸引を止め
て、整列治具2をはんだボール1から引き離すことによ
り、はんだボール形状が治具2により変形することな
く、均一に良好な球状のはんだボールが形成された電子
回路装置が得られる。
(d)に示すように、液体4は、徐々に気化して行きな
がら、はんだの融点温度となる。この時、はんだボール
1の溶融による体積膨張によって、表面酸化膜が破れ
る。一方、電極3aの表面は、依然として液体4に覆わ
れているため、雰囲気中の酸素から遮断されて再酸化さ
れない。このため、溶融したはんだボール1の新生面が
電極3a表面に接触して、ぬれひろがる。その後、図1
(e)のように、はんだが凝固する前に真空吸引を止め
て、整列治具2をはんだボール1から引き離すことによ
り、はんだボール形状が治具2により変形することな
く、均一に良好な球状のはんだボールが形成された電子
回路装置が得られる。
【0018】また、はんだの融点以上で、かつ加熱溶融
時のピーク温度以下となるような沸点を有する液体4と
して、アルコール系の液体を用いれば、はんだボール1
や電極3aの表面初期酸化膜を還元する作用も有するた
め、より表面酸化膜が薄くなり、はんだ溶融時に表面酸
化膜が破れ易くなって、電極3aへもぬれ広がり易くな
る。
時のピーク温度以下となるような沸点を有する液体4と
して、アルコール系の液体を用いれば、はんだボール1
や電極3aの表面初期酸化膜を還元する作用も有するた
め、より表面酸化膜が薄くなり、はんだ溶融時に表面酸
化膜が破れ易くなって、電極3aへもぬれ広がり易くな
る。
【0019】一方、図2(a),(b)に示すように、
整列治具2にはんだボール1を装着した後に、はんだボ
ール1の表面および電極3aの表面を、スパッタエッチ
ングやプラズマビーム、レーザなどにより、表面の初期
酸化膜を除去する。その後、図2(c)、(d)、
(e)に示すように、図1と同じ手順で液体塗布するこ
とで、再酸化を防止し、位置合わせ、搭載、加熱溶融を
行うことで、良好なはんだ供給を行う工程が可能とな
る。
整列治具2にはんだボール1を装着した後に、はんだボ
ール1の表面および電極3aの表面を、スパッタエッチ
ングやプラズマビーム、レーザなどにより、表面の初期
酸化膜を除去する。その後、図2(c)、(d)、
(e)に示すように、図1と同じ手順で液体塗布するこ
とで、再酸化を防止し、位置合わせ、搭載、加熱溶融を
行うことで、良好なはんだ供給を行う工程が可能とな
る。
【0020】さらに、図3(a),(b)に示すよう
に、はんだボール1の表面および電極3a表面の初期酸
化膜を除去した後、図3(c)に示すように液体を塗布
せずに位置合わせ、搭載を行う。そして、図3(d)の
ように、非酸化性雰囲気、例えばヘリウム、アルゴン、
窒素、水素、及びこれらの混合ガス等の雰囲気中で加熱
溶融することで、はんだボール1および電極3aの表面
の再酸化が防止されるため、図3(e)に示すように、
液体を塗布しなくても、はんだが供給される。
に、はんだボール1の表面および電極3a表面の初期酸
化膜を除去した後、図3(c)に示すように液体を塗布
せずに位置合わせ、搭載を行う。そして、図3(d)の
ように、非酸化性雰囲気、例えばヘリウム、アルゴン、
窒素、水素、及びこれらの混合ガス等の雰囲気中で加熱
溶融することで、はんだボール1および電極3aの表面
の再酸化が防止されるため、図3(e)に示すように、
液体を塗布しなくても、はんだが供給される。
【0021】以下、図面にしたがって本発明の実施例を
詳細に説明する。 <実施例1>図1は、本発明による電子回路装置の製造
方法を用いて、プリント回路基板上の電極にはんだボー
ルを供給する断面工程図を示したものである。以下、工
程順に説明する。まず、図1(a)に示すように、はん
だを供給する電極3aに対応して穴の形成された、例え
ばガラス製の整列治具2に振動を与えながら、真空吸引
すること等により、例えば、SnとPbの共晶組成(融
点183℃)のはんだボール1を振り込む。一方、図1
(b)に示すようにはんだを供給するプリント回路基板
3の電極3a上に、加熱溶融工程において気化する液体
4、例えば、エチレングリコール(沸点198℃)をス
プレー等により、一定量、つまり、はんだが溶融すると
きに、はんだおよび電極表面を覆うだけ残っている量だ
け塗布する。次に、図1(c)のように、はんだボール
1を整列治具2に真空吸引させたまま反転させ、はんだ
ボール1と対応する電極3aを位置合わせしてはんだボ
ール1を電極3aに搭載する。
詳細に説明する。 <実施例1>図1は、本発明による電子回路装置の製造
方法を用いて、プリント回路基板上の電極にはんだボー
ルを供給する断面工程図を示したものである。以下、工
程順に説明する。まず、図1(a)に示すように、はん
だを供給する電極3aに対応して穴の形成された、例え
ばガラス製の整列治具2に振動を与えながら、真空吸引
すること等により、例えば、SnとPbの共晶組成(融
点183℃)のはんだボール1を振り込む。一方、図1
(b)に示すようにはんだを供給するプリント回路基板
3の電極3a上に、加熱溶融工程において気化する液体
4、例えば、エチレングリコール(沸点198℃)をス
プレー等により、一定量、つまり、はんだが溶融すると
きに、はんだおよび電極表面を覆うだけ残っている量だ
け塗布する。次に、図1(c)のように、はんだボール
1を整列治具2に真空吸引させたまま反転させ、はんだ
ボール1と対応する電極3aを位置合わせしてはんだボ
ール1を電極3aに搭載する。
【0022】そして、図1(d)の示すように、約22
0℃まで加熱溶融させる。この時、エチレングリコール
等のアルコール系の液体4を用いると、還元作用を有す
るため、はんだボール表面の初期酸化膜1aが除去され
る。さらに、はんだボール1が溶融し、接続が完了する
まで、はんだボール1および電極3a表面は上記液体4
により覆われているので再酸化されない。この初期酸化
膜除去と再酸化防止により、はんだボール1溶融時には
んだが電極表面へぬれ広がって行き、図1(e)のよう
に、整列治具2を取り外すと、プリント回路基板3上の
電極3aにフラックスレスではんだが供給され、電子回
路装置が得られる。これにより、従来のフラックスを用
いたはんだ供給のように、フラックス残渣の洗浄による
除去や、整列治具2に付いたフラックスを洗浄する工程
が不要となる。なお、はんだボール1が変形しないよ
う、整列治具2は、はんだボール1が溶融中に取り外す
ことが望ましい。
0℃まで加熱溶融させる。この時、エチレングリコール
等のアルコール系の液体4を用いると、還元作用を有す
るため、はんだボール表面の初期酸化膜1aが除去され
る。さらに、はんだボール1が溶融し、接続が完了する
まで、はんだボール1および電極3a表面は上記液体4
により覆われているので再酸化されない。この初期酸化
膜除去と再酸化防止により、はんだボール1溶融時には
んだが電極表面へぬれ広がって行き、図1(e)のよう
に、整列治具2を取り外すと、プリント回路基板3上の
電極3aにフラックスレスではんだが供給され、電子回
路装置が得られる。これにより、従来のフラックスを用
いたはんだ供給のように、フラックス残渣の洗浄による
除去や、整列治具2に付いたフラックスを洗浄する工程
が不要となる。なお、はんだボール1が変形しないよ
う、整列治具2は、はんだボール1が溶融中に取り外す
ことが望ましい。
【0023】<実施例2>図2は、本発明において、は
んだボールを位置合わせ、搭載する前に、はんだボール
1およびプリント回路基板3上の電極3a表面の初期酸
化膜および有機汚染膜を除去する工程を加えてはんだ供
給を行う断面工程図である。
んだボールを位置合わせ、搭載する前に、はんだボール
1およびプリント回路基板3上の電極3a表面の初期酸
化膜および有機汚染膜を除去する工程を加えてはんだ供
給を行う断面工程図である。
【0024】図2(a)において、例えば、AuとSn
の共晶はんだである、Au20wt%Sn(融点280
℃)組成のはんだボール1を、図1(a)と同様に、電
極3aに対応させた整列治具2上に振り込んだ後、はん
だボール表面の初期酸化膜を、例えば、Arスパッタエ
ッチングにより除去する。同様に図2(b)において、
プリント回路基板3上の電極3a表面をArスパッタエ
ッチングにより初期酸化膜、有機汚染膜除去する。
の共晶はんだである、Au20wt%Sn(融点280
℃)組成のはんだボール1を、図1(a)と同様に、電
極3aに対応させた整列治具2上に振り込んだ後、はん
だボール表面の初期酸化膜を、例えば、Arスパッタエ
ッチングにより除去する。同様に図2(b)において、
プリント回路基板3上の電極3a表面をArスパッタエ
ッチングにより初期酸化膜、有機汚染膜除去する。
【0025】その後、図2(c)のように、加熱溶融工
程において気化する液体4、例えば、テトラエチレング
リコール(沸点314℃)をプリント回路基板3上に塗
布し、図2(a)のはんだボール1の装着された整列治
具2を反転させて、対応する電極3aと位置合わせ、搭
載する。その後、図2(d)の示すように、例えば、約
310℃まで加熱溶融する。この時、搭載前に、表面の
初期酸化膜を除去しているため、液体に還元作用がなく
ても、はんだボール溶融時にはんだの体積膨張により、
はんだ表面の極薄い酸化膜は、破れて、電極3a表面へ
ぬれ広がり、図2(e)のように、電極3a上にはんだ
がフラックスレスで供給される。
程において気化する液体4、例えば、テトラエチレング
リコール(沸点314℃)をプリント回路基板3上に塗
布し、図2(a)のはんだボール1の装着された整列治
具2を反転させて、対応する電極3aと位置合わせ、搭
載する。その後、図2(d)の示すように、例えば、約
310℃まで加熱溶融する。この時、搭載前に、表面の
初期酸化膜を除去しているため、液体に還元作用がなく
ても、はんだボール溶融時にはんだの体積膨張により、
はんだ表面の極薄い酸化膜は、破れて、電極3a表面へ
ぬれ広がり、図2(e)のように、電極3a上にはんだ
がフラックスレスで供給される。
【0026】<実施例3>図3は、本発明において、図
2と同様に表面酸化膜除去工程の後、上記液体を用いず
にはんだ供給を行う断面工程図を示したものである。
2と同様に表面酸化膜除去工程の後、上記液体を用いず
にはんだ供給を行う断面工程図を示したものである。
【0027】まず、図3(a)において、例えば、Sn
とAgの共晶はんだである、Sn3.5wt%Ag(融
点223℃)組成のはんだボール1を、図2(a)と同
様に、電極3aに対応させた整列治具2上に振り込んだ
後、はんだボール表面の初期酸化膜を、例えば、プラズ
マクリーニングにより除去する。同様に図3(b)にお
いて、プリント回路基板3上電極3a表面をプラズマク
リーニングにより初期酸化膜、有機汚染膜除去する。
とAgの共晶はんだである、Sn3.5wt%Ag(融
点223℃)組成のはんだボール1を、図2(a)と同
様に、電極3aに対応させた整列治具2上に振り込んだ
後、はんだボール表面の初期酸化膜を、例えば、プラズ
マクリーニングにより除去する。同様に図3(b)にお
いて、プリント回路基板3上電極3a表面をプラズマク
リーニングにより初期酸化膜、有機汚染膜除去する。
【0028】そして、図3(c)に示すように、図3
(a)のはんだボール1の装着された整列治具2を反転
させて、対応する電極3aと位置合わせ、搭載する。そ
の後、非酸化性雰囲気中、例えば、N2雰囲気(酸素濃
度:約10ppm)において、図3(d)に示すよう
に、加熱溶融する。加熱ピーク温度は、例えば250℃
で行う。これにより、表面の初期酸化膜除去と非酸化性
雰囲気における再酸化防止により、はんだが溶融した際
に、はんだ表面の数nm程度の薄い酸化膜が破れて、電
極3aにぬれ広がり、図3(e)のように、はんだボー
ル1が、プリント回路基板3上の電極3aにフラックス
を用いずに供給される。
(a)のはんだボール1の装着された整列治具2を反転
させて、対応する電極3aと位置合わせ、搭載する。そ
の後、非酸化性雰囲気中、例えば、N2雰囲気(酸素濃
度:約10ppm)において、図3(d)に示すよう
に、加熱溶融する。加熱ピーク温度は、例えば250℃
で行う。これにより、表面の初期酸化膜除去と非酸化性
雰囲気における再酸化防止により、はんだが溶融した際
に、はんだ表面の数nm程度の薄い酸化膜が破れて、電
極3aにぬれ広がり、図3(e)のように、はんだボー
ル1が、プリント回路基板3上の電極3aにフラックス
を用いずに供給される。
【0029】<実施例4>図4は、本発明において、図
1および図2の実施例における液体や、図2および図3
の実施例における表面酸化膜除去工程を用いずに、はん
だ供給を行う断面図を示したものである。
1および図2の実施例における液体や、図2および図3
の実施例における表面酸化膜除去工程を用いずに、はん
だ供給を行う断面図を示したものである。
【0030】まず、図4(a)に示すように、例えば、
表面の初期酸化膜を5nm以下程度に保持した、Sn
3.5wt%Ag組成のはんだボール1を図1(a)と
同様に電極3aに対応させた整列治具2上に振り込む。
一方、プリント回路基板3上の電極3a表面を例えば、
1〜20μm程度の厚さでSnめっき等により、電極保
護膜6を形成する。そして、図4(b)に示すとおり、
はんだボール1の装着された整列治具2を反転させたも
のを、対応する電極3aと位置合わせ、搭載する。そし
て、非酸化性雰囲気中、例えば、He雰囲気(酸素濃度
10ppm)において、約250℃まで加熱溶融する。
元々、はんだ表面の酸化膜が数nm以下に抑えられてい
ることと、非酸化性雰囲気中における再酸化防止によ
り、溶融したはんだボール1は、体積膨張により、薄い
酸化膜を破って、電極3a表面にぬれ広がって行き、図
4(c)に示す通り、はんだがフラックスレスで供給さ
れる。
表面の初期酸化膜を5nm以下程度に保持した、Sn
3.5wt%Ag組成のはんだボール1を図1(a)と
同様に電極3aに対応させた整列治具2上に振り込む。
一方、プリント回路基板3上の電極3a表面を例えば、
1〜20μm程度の厚さでSnめっき等により、電極保
護膜6を形成する。そして、図4(b)に示すとおり、
はんだボール1の装着された整列治具2を反転させたも
のを、対応する電極3aと位置合わせ、搭載する。そし
て、非酸化性雰囲気中、例えば、He雰囲気(酸素濃度
10ppm)において、約250℃まで加熱溶融する。
元々、はんだ表面の酸化膜が数nm以下に抑えられてい
ることと、非酸化性雰囲気中における再酸化防止によ
り、溶融したはんだボール1は、体積膨張により、薄い
酸化膜を破って、電極3a表面にぬれ広がって行き、図
4(c)に示す通り、はんだがフラックスレスで供給さ
れる。
【0031】<実施例5>図5は、加熱溶融工程におい
て接続完了後に気化する液体4を、電極ごとに塗布して
はんだ供給を行う断面工程図である。
て接続完了後に気化する液体4を、電極ごとに塗布して
はんだ供給を行う断面工程図である。
【0032】図5(a)に示す通り、例えば、Au20
wt%Sn組成のはんだボール1を、図1(a)のよう
に、はんだを供給する電極3aに対応させた整列治具2
上に振り込んだ後、真空吸引して反転させる。また、加
熱溶融工程において、接続完了後に気化する液体4をプ
リント回路基板3上のはんだを供給する電極3aごと
に、例えば、メタルマスク印刷により、塗布する。そし
て、はんだボール1とそれに対応した電極3aを位置合
わせ、搭載後、真空吸引を止めて整列治具2を取り外
す。搭載されたはんだボール1は、図5(b)に示す通
り、電極3aごとに塗布された液体4により、整列治具
2による保持を必要とせずに仮固定される。そして、加
熱溶融を行うことにより、図5(c)のように、電極3
a上にはんだがフラックスレスで供給される。
wt%Sn組成のはんだボール1を、図1(a)のよう
に、はんだを供給する電極3aに対応させた整列治具2
上に振り込んだ後、真空吸引して反転させる。また、加
熱溶融工程において、接続完了後に気化する液体4をプ
リント回路基板3上のはんだを供給する電極3aごと
に、例えば、メタルマスク印刷により、塗布する。そし
て、はんだボール1とそれに対応した電極3aを位置合
わせ、搭載後、真空吸引を止めて整列治具2を取り外
す。搭載されたはんだボール1は、図5(b)に示す通
り、電極3aごとに塗布された液体4により、整列治具
2による保持を必要とせずに仮固定される。そして、加
熱溶融を行うことにより、図5(c)のように、電極3
a上にはんだがフラックスレスで供給される。
【0033】<実施例6>図6は、加熱溶融工程におい
て接続完了後に気化する液体4を、はんだボール1側に
供給する断面工程図である。
て接続完了後に気化する液体4を、はんだボール1側に
供給する断面工程図である。
【0034】まず、例えば、Sn3.5wt%組成のは
んだボール1を、図1(a)のように、はんだを供給す
る電極3aに対応させた整列治具2上に振り込んだ後、
真空吸引して反転させる。そして、加熱溶融工程におい
て接続完了後に気化する液体4の浴に、はんだボール1
を装着した整列治具2を浸すことにより、図6(a)の
ように液体4をはんだボール1へ塗布する。
んだボール1を、図1(a)のように、はんだを供給す
る電極3aに対応させた整列治具2上に振り込んだ後、
真空吸引して反転させる。そして、加熱溶融工程におい
て接続完了後に気化する液体4の浴に、はんだボール1
を装着した整列治具2を浸すことにより、図6(a)の
ように液体4をはんだボール1へ塗布する。
【0035】次に図6(b)に示す通り、はんだボール
1と対応する電極3aを位置合わせ、搭載することで、
はんだおよび電極表面が液体4により覆われる。これに
より、再酸化が防止され、加熱溶融することで、図6
(c)に示す通りフラックスレスではんだボール1が電
極3aに供給される。
1と対応する電極3aを位置合わせ、搭載することで、
はんだおよび電極表面が液体4により覆われる。これに
より、再酸化が防止され、加熱溶融することで、図6
(c)に示す通りフラックスレスではんだボール1が電
極3aに供給される。
【0036】<実施例7>図7は、本発明において、整
列治具による保持や液体の表面張力等による仮固定をせ
ずに、はんだボールを電極に供給する断面工程図であ
る。
列治具による保持や液体の表面張力等による仮固定をせ
ずに、はんだボールを電極に供給する断面工程図であ
る。
【0037】まず、図7(a)において、例えば、Sn
とPbの共晶組成(融点183℃)のはんだボール1を
図4(a)と同様に振り込み、反転させる。一方、プリ
ント回路基板3は、電極3a以外の基板表面に、配線を
酸化や腐食から保護するためにレジスト7をコーティン
グし、その厚さは、はんだボール1が搭載された際に振
動等により電極3a上から脱落しない程度の厚さだけ形
成する。そして、図7(a)に示すように、はんだを供
給するプリント回路基板3の電極3a上に、加熱溶融工
程において気化する液体4、例えば、ベンジルアルコー
ル(沸点206℃)をディスペンサー等により、はんだ
が溶融するときに、はんだおよび電極表面を覆うだけ残
っている量だけ塗布する。そして、はんだボール1の装
着された整列治具2と対応する電極3aとを位置合わ
せ、搭載し、整列治具2をはんだボール1から離脱させ
る。
とPbの共晶組成(融点183℃)のはんだボール1を
図4(a)と同様に振り込み、反転させる。一方、プリ
ント回路基板3は、電極3a以外の基板表面に、配線を
酸化や腐食から保護するためにレジスト7をコーティン
グし、その厚さは、はんだボール1が搭載された際に振
動等により電極3a上から脱落しない程度の厚さだけ形
成する。そして、図7(a)に示すように、はんだを供
給するプリント回路基板3の電極3a上に、加熱溶融工
程において気化する液体4、例えば、ベンジルアルコー
ル(沸点206℃)をディスペンサー等により、はんだ
が溶融するときに、はんだおよび電極表面を覆うだけ残
っている量だけ塗布する。そして、はんだボール1の装
着された整列治具2と対応する電極3aとを位置合わ
せ、搭載し、整列治具2をはんだボール1から離脱させ
る。
【0038】これにより、整列治具2による保持や液体
4の表面張力等による仮固定に因らず、図7(b)に示
すように、はんだボールの脱落を防ぐことができる。そ
して、約220℃まで加熱溶融させることで、図7
(c)に示すように、ベンジルアルコールの還元作用に
よる表面初期酸化膜除去作用と再酸化防止効果によっ
て、はんだが溶融時に電極3a表面にぬれ広がるととも
に、液体4は気化し、フラックスレスではんだ供給され
る。
4の表面張力等による仮固定に因らず、図7(b)に示
すように、はんだボールの脱落を防ぐことができる。そ
して、約220℃まで加熱溶融させることで、図7
(c)に示すように、ベンジルアルコールの還元作用に
よる表面初期酸化膜除去作用と再酸化防止効果によっ
て、はんだが溶融時に電極3a表面にぬれ広がるととも
に、液体4は気化し、フラックスレスではんだ供給され
る。
【0039】<実施例8>図8は、本発明における、加
熱溶融工程において気化する液体とはんだ粉末を混合し
てペースト状にすることで、はんだを供給する断面工程
図である。
熱溶融工程において気化する液体とはんだ粉末を混合し
てペースト状にすることで、はんだを供給する断面工程
図である。
【0040】例えば、Sn3.5wt%Agのはんだ粉
末と、加熱溶融工程において気化し、かつ、粘性の大き
い液体4とを混合し、ペースト状にする。これにより、
従来のはんだペーストと同様に、はんだを供給する電極
に対応したマスク等により、図8(a)に示すように印
刷し、そのペーストを必要な量だけ供給する。
末と、加熱溶融工程において気化し、かつ、粘性の大き
い液体4とを混合し、ペースト状にする。これにより、
従来のはんだペーストと同様に、はんだを供給する電極
に対応したマスク等により、図8(a)に示すように印
刷し、そのペーストを必要な量だけ供給する。
【0041】そして、図8(b)に示すように、約25
0℃まで加熱溶融する。はんだが溶融すると、はんだ粉
末が凝集してボール状になり、電極3aにぬれ広がって
いくとともに、液体は加熱溶融工程が終了するまでに、
気化してしまい、図8(c)のように、フラックスレス
ではんだが供給される。
0℃まで加熱溶融する。はんだが溶融すると、はんだ粉
末が凝集してボール状になり、電極3aにぬれ広がって
いくとともに、液体は加熱溶融工程が終了するまでに、
気化してしまい、図8(c)のように、フラックスレス
ではんだが供給される。
【0042】<実施例9>図9は、本発明における、加
熱溶融工程において気化する液体と、異方導電性フィル
ムを組み合わせてはんだを供給する断面工程図である。
熱溶融工程において気化する液体と、異方導電性フィル
ムを組み合わせてはんだを供給する断面工程図である。
【0043】まず、図9(a)に示す通り、はんだを供
給する電極3aのピッチに対応して、例えば、SnとP
bの共晶組成(融点183℃)のはんだを必要な量だけ
形成した異方性導電フィルム8を、図9(b)のよう
に、加熱溶融工程において気化する液体4、例えば、ト
リメチレングリコール(沸点214℃)をプリント回路
基板3上に塗布した後、位置合わせ密着させる。
給する電極3aのピッチに対応して、例えば、SnとP
bの共晶組成(融点183℃)のはんだを必要な量だけ
形成した異方性導電フィルム8を、図9(b)のよう
に、加熱溶融工程において気化する液体4、例えば、ト
リメチレングリコール(沸点214℃)をプリント回路
基板3上に塗布した後、位置合わせ密着させる。
【0044】そして、約220℃まで加熱溶融すること
で、トリメチレングリコールの還元作用による表面の初
期酸化膜除去作用と再酸化防止効果によって、溶融した
はんだは、電極3aにぬれ広がり、フィルム8を取り外
すことにより、図9(c)のように、基板3上にはんだ
が供給される。なお、供給されるはんだの変形を防ぐた
め、隣のはんだとブリッジしない程度に、異方導電性フ
ィルム8に形成されるはんだの径は、最終的に電極上に
形成されるはんだボール1の径よりも大きくしておくこ
とが望ましい。
で、トリメチレングリコールの還元作用による表面の初
期酸化膜除去作用と再酸化防止効果によって、溶融した
はんだは、電極3aにぬれ広がり、フィルム8を取り外
すことにより、図9(c)のように、基板3上にはんだ
が供給される。なお、供給されるはんだの変形を防ぐた
め、隣のはんだとブリッジしない程度に、異方導電性フ
ィルム8に形成されるはんだの径は、最終的に電極上に
形成されるはんだボール1の径よりも大きくしておくこ
とが望ましい。
【0045】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、本発明で
は、残渣除去や装置治具等へ付着のために洗浄工程が必
須であるフラックスを用いることなくはんだを供給でき
る、電子回路装置の製造方法が得られる。さらに、加熱
溶融工程において気化する液体として、還元性を有する
液体を用いることで、表面酸化膜除去工程を必要とせず
にはんだ付けに必要なはんだ量を供給できる。このた
め、作業性、量産性に優れ、低コストのフラックスレス
はんだ供給を可能とした電子回路装置の製造方法が得ら
れる。
は、残渣除去や装置治具等へ付着のために洗浄工程が必
須であるフラックスを用いることなくはんだを供給でき
る、電子回路装置の製造方法が得られる。さらに、加熱
溶融工程において気化する液体として、還元性を有する
液体を用いることで、表面酸化膜除去工程を必要とせず
にはんだ付けに必要なはんだ量を供給できる。このた
め、作業性、量産性に優れ、低コストのフラックスレス
はんだ供給を可能とした電子回路装置の製造方法が得ら
れる。
【図1】本発明の原理説明と第一の実施例とを兼ねた電
子回路装置の製造方法の工程を示す断面図である。
子回路装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図2】同じく第二の実施例の電子回路装置の製造方法
の工程を示す断面図である。
の工程を示す断面図である。
【図3】同じく第三の実施例の電子回路装置の製造方法
の工程を示す断面図である。
の工程を示す断面図である。
【図4】同じく第四の実施例の電子回路装置の製造方法
の工程を示す断面図である。
の工程を示す断面図である。
【図5】同じく第五の実施例の電子回路装置の製造方法
の工程を示す断面図である。
の工程を示す断面図である。
【図6】同じく第六の実施例の電子回路装置の製造方法
の工程を示す断面図である。
の工程を示す断面図である。
【図7】同じく第七の実施例の電子回路装置の製造方法
の工程を示す断面図である。
の工程を示す断面図である。
【図8】同じく第八の実施例の電子回路装置の製造方法
の工程を示す断面図である。
の工程を示す断面図である。
【図9】同じく異方導電性フィルムを使用した第九の実
施例の電子回路装置の製造方法の工程を示す断面図であ
る。
施例の電子回路装置の製造方法の工程を示す断面図であ
る。
1…はんだ、1a…表面酸化膜、1b…はんだ粉末、2
…整列治具、3…プリント回路基板、3a…電極、4…
加熱溶融工程において気化する液体、5…表面酸化膜除
去、6…電極保護膜、7…レジスト、8…異方導電性フ
ィルム
…整列治具、3…プリント回路基板、3a…電極、4…
加熱溶融工程において気化する液体、5…表面酸化膜除
去、6…電極保護膜、7…レジスト、8…異方導電性フ
ィルム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 白井 貢 神奈川県秦野市堀山下1番地株式会社日立 製作所汎用コンピュータ事業部内 (72)発明者 谷口 雄三 東京都千代田区神田駿河台四丁目6番地株 式会社日立製作所内 (72)発明者 井上 康介 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所生産技術研究所内
Claims (8)
- 【請求項1】電子部品や回路基板等の電極にはんだ材を
供給する電子回路装置の製造方法において、上記はんだ
材及び上記電極の表面の初期表面酸化膜や有機汚染膜を
除去する工程と、上記はんだ材の加熱溶融工程において
接続完了後に気化する液体を用いて、上記はんだ材及び
上記電極からなる被はんだ供給部を覆うことにより、接
合部表面の再酸化を防止する工程と、上記はんだ材を加
熱溶融する工程とを備え、フラックスを用いずにはんだ
接続を行うことを特徴とする電子回路装置の製造方法。 - 【請求項2】上記加熱溶融工程において、接続完了後に
気化する液体として、上記はんだ材や上記電極の表面の
酸化膜および有機物汚染膜を除去するような還元性を有
するものを使用することを特徴とする請求項1記載の電
子回路装置の製造方法。 - 【請求項3】上記加熱溶融工程において、接続完了後に
気化する液体の表面張力や粘性力により、上記はんだ材
を被はんだ供給部に仮固定し、はんだ材のその搭載後か
ら加熱溶融工程における接続が完了するまでずれを防止
することを特徴とする請求項1記載の電子回路装置の製
造方法。 - 【請求項4】加熱溶融工程において接続完了後に気化す
る上記液体を、はんだ材を供給する電極ごとに塗布する
ことではんだ材を仮固定することを特徴とする請求項3
記載の電子回路装置の製造方法。 - 【請求項5】上記電極の周辺のレジストの厚さを厚く形
成して、はんだ材を搭載した後から加熱溶融工程におい
て接続が完了するまで、はんだ材が上記電極上から脱落
することを防止するようになしたことを特徴とする請求
項1記載の電子回路装置の製造方法。 - 【請求項6】電子部品や回路基板等の電極にはんだ材を
供給する電子回路装置の製造方法において、加熱溶融工
程において接続完了後に気化するとともに、はんだ材や
電極表面の酸化膜および有機物汚染膜を除去するような
還元性を有する液体と、はんだ粉末とを混合してペース
ト状にし、そのペーストを被はんだ供給部に印刷あるい
は塗布する工程と、上記ペーストを加熱溶融する工程と
を備え、フラックスを用いずにはんだ接続を行うことを
特徴とする電子回路装置の製造方法。 - 【請求項7】初期酸化膜が薄く形成されたはんだ材を、
酸化を防止する膜を表面に形成した被はんだ供給部の電
極に位置合わせして搭載した後、上記はんだ材を非酸化
性雰囲気中で加熱溶融することを特徴とする電子回路装
置の製造方法。 - 【請求項8】はんだを供給する電極に対応してはんだが
形成された異方導電性フィルムを、加熱溶融工程におい
て接続完了後に気化する液体を塗布した電極上に位置合
わせして搭載密着させ、上記はんだを加熱溶融するよう
になしたことを特徴とする電子回路装置の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8040930A JPH09232742A (ja) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | 電子回路装置の製造方法 |
KR1019980706155A KR100322823B1 (ko) | 1996-02-28 | 1997-02-28 | 전자회로장치의제조방법 |
PCT/JP1997/000614 WO1997032457A1 (en) | 1996-02-28 | 1997-02-28 | Method for manufacturing electronic circuit device |
EP97903633A EP0884936A4 (en) | 1996-02-28 | 1997-02-28 | METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICES |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8040930A JPH09232742A (ja) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | 電子回路装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09232742A true JPH09232742A (ja) | 1997-09-05 |
Family
ID=12594226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8040930A Pending JPH09232742A (ja) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | 電子回路装置の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0884936A4 (ja) |
JP (1) | JPH09232742A (ja) |
KR (1) | KR100322823B1 (ja) |
WO (1) | WO1997032457A1 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11204926A (ja) * | 1998-01-08 | 1999-07-30 | Hitachi Ltd | はんだ付け方法および電子装置の製造方法 |
JP2004006818A (ja) * | 2002-04-16 | 2004-01-08 | Tadatomo Suga | リフロー法とソルダペースト |
JP2009111399A (ja) * | 2002-04-16 | 2009-05-21 | Tadatomo Suga | リフロー法 |
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