JPH0799296A - 固体撮像装置およびその製造方法 - Google Patents
固体撮像装置およびその製造方法Info
- Publication number
- JPH0799296A JPH0799296A JP5241030A JP24103093A JPH0799296A JP H0799296 A JPH0799296 A JP H0799296A JP 5241030 A JP5241030 A JP 5241030A JP 24103093 A JP24103093 A JP 24103093A JP H0799296 A JPH0799296 A JP H0799296A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- microlens
- photoelectric conversion
- concave
- solid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 95
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 34
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 34
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 35
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 27
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 12
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 6
- 238000013007 heat curing Methods 0.000 claims description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 2
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 claims 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 15
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 abstract description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 147
- 239000010408 film Substances 0.000 description 28
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 12
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 5
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 208000024891 symptom Diseases 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/1462—Coatings
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/0006—Arrays
- G02B3/0012—Arrays characterised by the manufacturing method
- G02B3/0018—Reflow, i.e. characterized by the step of melting microstructures to form curved surfaces, e.g. manufacturing of moulds and surfaces for transfer etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L27/14627—Microlenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14683—Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
- H01L27/14685—Process for coatings or optical elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/148—Charge coupled imagers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0232—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L31/02327—Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
よびその製造方法を提供する。 【構成】 (A)光電変換部41の上に、絶縁膜42,転
送電極43,遮光膜44,保護膜45,平坦化層51を形
成し、平坦化層51上に凹レンズ層52を格子状パター
ンに形成する。(B)格子状の凹レンズ層52を熱溶融し
て、凹型マイクロレンズ52にする。(C)凹型レンズ5
2の上に、凹型レンズ52よりも屈折率が小さな樹脂層
53とバッファー層54と凸型マイクロレンズ57を順
に形成する。 【効果】 凸型マイクロレンズ57が集光した光を、凹
型マイクロレンズ52が、光電変換部41に対する垂直
入射光に近づける。
Description
その製造方法に関し、より詳しくは、マイクロレンズが
光電変換部上に形成された固体撮像装置およびその製造
方法に関する。
の恩恵により飛躍的な感度の向上を果たした。
置としては、図8(A)に示すものがある。図8(A)は、
上記固体撮像装置の単位画素における光学系を示す。図
8(A)において、181は光電変換部、182は層間絶
縁膜、183は信号電荷の転送電極、184は転送電極
上部の遮光部、185は保護膜、186はマイクロレン
ズ支持層である透明樹脂層、187はマイクロレンズ、
188はレンズ端部での垂直入射光、189は斜入射光
である。
は、上記マイクロレンズ187によって、上記垂直入射
光188を光電変換部181に導き、感度を向上させる
ようにしている。
置の光電変換部への光の入射状況を示す。図8(B)にお
いて、190は通常絞りでの入射光束、191は実効光
電変換領域、192は実際に光電変換が行われている領
域、193は絞りを開いたときに信号電荷転送領域付近
へ侵入する斜入射状態の長波長光を示す。194は遮光
膜等からなる実質上の開口絞りである。
置の用途は、ビデオムービーから監視用カメラ等にまで
用いられ、用途が多様であるので、あらゆる光学系への
対応を迫られているのが現状である。
ば、光学系の絞りを変えるという従来ではあまり問題に
しなかった系内での光学的変化が、画質や画面の明るさ
等に重大な影響を及ぼすことがわかってきた。このこと
に関連して、上記従来の固体撮像装置には、以下に説明
する欠点がある。
クロレンズ光学系の設計はレンズの絞りの小さい状態に
対して最適になるように行われていることが多い。つま
り、図8(A)に示したレンズ端部への垂直入射光188
が、蹴られることなく光電変換部181に入射するよう
にする設計を最適と見なしていた。
レンズを解放に近い状態で使用する場合には、図8(A)
に参照番号189で示したような斜入射光が全入射光に
占める割合が著しく増加する。すると、上記斜入射光1
89のように、開口周辺の構造物により蹴られて光電変
換部181に入射しない光の割合が高くなるので、実質
上感度が低下するという問題がある。
置である場合には、ホワイトバランスがずれるといった
症状を併発する問題もある。
は、撮像条件の変化に伴う画質劣化が有るという欠点が
ある。
レンズ構造では、図8(B)に示すように、入射光束が光
電変換部191を通過する領域192が中心付近に限定
される。したがって、発生キャリアが光電変換部191
の中心部で局所的に過飽和に近い状態に陥り、その部分
での電子の遷移確率が、キャリアの拡散時間のオーダー
で低下する恐れがある。なぜならば、基本的には完全に
空乏状態である部分が最高の電子遷移確率を有すると考
えられるからである。
層であり、光電変換部191の端部周辺はP型層に囲ま
れている。このため、光電変換部191の端部周辺は、
電位勾配が大きく、電子の遷移確率が高い。ところが、
上記従来の固体撮像装置は、上述したように上記端部周
辺の部分を光電変換に使用できないので、素子感度の面
からみて効率的であるとは言えない。
は、基本的に光電変換部に対して斜入射となる。したが
って、可視領域の長波長光が光電変換部を含む基板に侵
入する深さ(5〜10μm)を考えると、光電変換部に隣
接する信号電荷転送部の内部もしくは信号電荷転送部の
極く近傍で上記入射光に関する光電変換が行われる確率
が少なくない。このことは、スミア抑制の立場からする
と、必ずしも良好であるとは言えない。
め、光電変換領域とマイクロレンズ光学系双方のマッチ
ングをとる必要がある。
直径(この直径は入射瞳の直径と考えて良い。)が同一で
あれば焦点距離が短いほど明るいレンズ、すなわち像面
の照度が高いレンズであるといわれている。分かりやす
く言い換えれば、マイクロレンズの曲率が大きい程、素
子感度が高くなる。したがって、従来例では、かなり曲
率が大きなマイクロレンズを備えている。
ると、個々のマイクロレンズ周辺のエッヂ部分では、レ
ンズに入射光が入射する点での上記レンズの接平面に対
する上記入射光の入射角度が大きくなる。すると、屈折
率1.6の物質に対するs成分の反射率Rs及びp成分
の反射率Rpを示す図10に示すように、通常、入射角
θが60°程度以上になると反射率が無視できなくなり
(たとえばこの場合、Rs=約21%)、マイクロレンズ
表面での光の反射が無視できなくなって、感度の低下を
招く。
用率に関する解決すべき課題も含んでいる。
の利用率の高い固体撮像装置およびその製造方法を提供
することにある。
に、請求項1に記載の発明の固体撮像装置は、光電変換
部を含む複数の画素を有し、上記光電変換部の上に凸型
マイクロレンズが設けられた固体撮像装置において、上
記光電変換部と上記凸型マイクロレンズとの間に形成さ
れ、上記凸型マイクロレンズを支持する支持層と、上記
支持層の直下に連なり、少なくとも上記支持層を構成す
る材料よりも屈折率の高い材料で作製した凹型マイクロ
レンズ層とを備えたことを特徴としている。
置の製造方法は、光電変換部の上に、凹型マイクロレン
ズと、支持層と、凸型マイクロレンズ層とを順次形成す
る固体撮像装置の製造方法であって、上記光電変換部の
上に、透明で、上記凸型マイクロレンズを構成する材料
および上記支持層を構成する材料のいずれよりも屈折率
の高い材料を平坦に形成することによって平坦層を形成
し、上記平坦層の表面に、上記光電変換部に対向する領
域が貫通した格子状パターンに形成された感光性樹脂か
らなる格子状パターン層を形成し、上記格子状パターン
層を熱溶融することによって、上記格子状パターン層
を、複数の凹型マイクロレンズ形状の凹部を有する凹型
マイクロレンズパターン層にし、上記凹型マイクロレン
ズパターン層をエッチングすることによって、上記凹型
マイクロレンズパターン層の凹型マイクロレンズ形状
を、上記凹型マイクロレンズパターン層の下の上記平坦
層に転写して、上記平坦層を上記凹型マイクロレンズ層
にすることを特徴としている。
部を含む複数の画素を有し、上記光電変換部の上に凸型
マイクロレンズが設けられた固体撮像装置において、上
記凸型マイクロレンズを支持する支持層と、上記光電変
換部と上記支持層との間に形成され、上記凸型マイクロ
レンズ及び支持層を支持するレンズ台座層と、上記レン
ズ台座層の直下に連なる凹型マイクロレンズ層とを備
え、上記凸型マイクロレンズを構成する材料の屈折率と
上記支持層を構成する材料の屈折率と上記凹型マイクロ
レンズ層を構成する材料の屈折率が、上記レンズ台座層
を構成する材料の屈折率よりも高く設定されていること
を特徴としている。
部の上に、凹型マイクロレンズ層と、レンズ台座層と、
凸型マイクロレンズとを順次形成する固体撮像装置の製
造方法であって、上記光電変換部の上に、レンズを構成
できるように光透過率が高く、上記レンズ台座層を構成
する材料よりも屈折率の大きな材料で作製された感光性
樹脂からなり、上記光電変換部に対向する領域が貫通し
た格子状パターン層を形成し、上記格子状パターン層を
熱溶融し、上記熱溶融と上記熱溶融に続く熱硬化とによ
って、上記格子状パターン層を上記凹型マイクロレンズ
層にすることを特徴としている。
部の上に、凹型マイクロレンズと、レンズ台座層と、凸
型マイクロレンズとを順次形成する固体撮像装置の製造
方法であって、上記光電変換部の上に、感光性を有する
樹脂を格子状にパターニングし硬化させて、上記光電変
換部に対向する領域が貫通した格子状パターン層を形成
し、上記格子状パターン層の上に、透明樹脂からなるオ
ーバーコート層を形成することによって、上記オーバー
コート層を上記凹型マイクロレンズ層にすることを特徴
としている。
凹型マイクロレンズが、上記凸型マイクロレンズで集光
した光を、上記光電変換部に対する垂直入射光に近づけ
るように平行化する。
記集光光が上記光電変換部上に対向する空間の周囲に存
在する絞り部に衝突することが防がれる。したがって、
感度が向上する。
て、上記集光光が成す光束が上記光電変換部に入射する
面積が増大させられる。したがって、光電変換部の有効
利用面積が増大し、感度が向上する。
置の製造方法によれば、格子状パターン層を熱溶融して
凹型マイクロレンズパターン層にし、上記凹型マイクロ
レンズパターン層をエッチングして、平坦層に凹型マイ
クロレンズ形状を転写して凹型マイクロレンズ層を作成
して、請求項1に記載の発明の固体撮像装置が作製され
る。
れば、請求項1の発明と同様に、凹型マイクロレンズ
が、凸型マイクロレンズで集光した光を、光電変換部に
対する垂直入射光に近づけるように平行化する。
材料の屈折率が上記レンズ台座層を構成する材料の屈折
率よりも高く設定されているので、上記凸型マイクロレ
ンズが収束させた光束が、上記レンズ台座層によって広
げられることがない。したがって、集光特性の向上が図
れる。
ターン層を熱溶融して、上記格子状パターン層を凹型マ
イクロレンズ層にし、請求項1の発明の固体撮像装置が
作製される。
ターン層を熱溶融することなく、凹型マイクロレンズ層
が作成されるので、凹型マイクロレンズ層を再現性良く
形成できる。
に、図9(A)に従来の単位画素の断面モデルを示し、図
9(B)に本発明の代表的な断面モデルを示す。図9(A)
に示した従来モデルと、図9(B)に示した本発明モデル
とは、実質上の絞りと、開口と、凸型マイクロレンズと
を、それぞれ同一の形成寸法にした。そして、図9(B)
に示すように、本発明モデルは凸型マイクロレンズ19
7の直下に凹型マイクロレンズ195を備えている点
が、従来モデルとの唯一の相異点である。
マイクロレンズ端部での垂直入射光,斜入射光である。
垂直入射光198は、図9(A)に示す従来モデルでは、
光電変換領域dの表面の中心部で焦点を結ぶように設計
されている。これに対し、図9(B)に示す本発明モデル
では、凹型マイクロレンズ195によって垂直入射光1
98が屈折させられて光電変換領域いっぱいに広範囲に
光束が拡がる。
モデルでは、絞り204で蹴られて光電変換部207に
入射しないのに対して、図9(B)の本発明モデルでは、
斜入射光199は、凹型マイクロレンズ195によって
屈折させられて光電変換部207に入射する。
を比較する。図8(A)に示すように、固体撮像素子の
単位画素の幾何学的構造は、遮光膜や電極で構成される
実効的な絞りが複雑に配置されている。図8(B)は、従
来例に対応し、図8(A)に対応している。また、図8
(C)は、本発明に対応している。
01を含む光電変換部の直上に、高屈折率の凹型マイク
ロレンズ205を形成した本発明によれば、上記凹型マ
イクロレンズ205の上方に設けられている凸型マイク
ロレンズによって屈折されて凸型マイクロレンズの焦点
に向かって収束しつつある光束210が、上記凹型マイ
クロレンズ205によって屈折されて、上記光束210
は垂直方向に対して平行に近づけられる。したがって、
本発明によれば、上記凸型マイクロレンズによって屈折
させられて収束過程にある入射光束を、上記凹型マイク
ロレンズによって進行方向を平行に近づけて、光電変換
部と同程度の断面積を有する略平行な光線束に変換す
る。したがって、本発明によれば、実効光電変換領域2
01に光束通過領域202が占める割合が、従来例に比
べて増大させられる。つまり、実効光電変換領域の利用
効率が向上し、感度が向上する。
レンズとその支持層の直下に、上記凸型マイクロレンズ
および支持層に比較して高屈折率の透明樹脂を用いて凹
型マイクロレンズが形成されているから、上記凸型マイ
クロレンズを通過して収束状態にある光束を、光電変換
部上方で平行光線にコリメートすることができる。
凸型マイクロレンズの支持層を上記凸型マイクロレンズ
および支持層に比較して屈折率の低い透明樹脂で作製し
た。したがって、上記コリメート効果が一層顕著なもの
になる。尚、上記支持層直下に中間層として、凸型マイ
クロレンズおよび支持層に比較して屈折率の低い透明樹
脂をもちいた平坦層を形成してもよい。
ロレンズの直下に、上記凸型マイクロレンズに比較して
屈折率が小さい材料で作製した凹型マイクロレンズを形
成した場合には、上記凹型マイクロレンズを形成しない
場合に比べて、焦点距離の増大を招くことなく、凸型マ
イクロレンズの曲率を小さくできる。したがって、上記
凸型マイクロレンズの表面での入射光の反射が抑制され
る。
方法を図示の実施例により詳細に説明する。
装置の製造方法の実施例を示す。図1には、上記固体撮
像装置の単位画素セルを示している。
に、光電変換部1を含む基板上に、上記光電変換部1の
非対向領域に、層間絶縁膜2を介して転送電極3を設
け、この転送電極3を覆う遮光膜4を設け、この遮光膜
4及び上記光電変換部1を覆う保護膜5を設ける。この
保護膜5は、下地白黒デバイスを保護するものである。
上記保護膜5を形成した直後に、水素雰囲気中でアニー
ルを行う。このアニールは、上記光電変換部1の活性領
域と酸化膜との界面での格子不整合による界面準位のリ
ラクゼーション(緩和)の1つである。そして、上記保護
膜5の上に平坦化層16を形成する。この平坦化層16
は、熱熔融性低融点ガラスもしくはSOG(スピンオン
グラス)膜で構成されており、電極3等によって発生し
た段差を緩和するために形成されるものである。そし
て、上記平坦化層16の上に、化学気相法等により、窒
化シリコンからなる膜厚1.5μm程度の窒化シリコン
層17を形成する。上記窒化シリコン層17の膜厚は、
上記段差の程度に依存するが、通常は1.5〜2.0μ
mに設定される。上記窒化シリコン層17の屈折率は、
上記窒化シリコン層17の成長条件により異なるが、通
常は、2.0以上である。この窒化シリコン層17は、
この後の工程を経て、高屈折率の凹型マイクロレンズに
なされる。
グラフィーによって、上記層17の上に、上記光電変換
部1に対向する画素部分が貫通した格子状にパターニン
グされた感光性レジスト18を形成する。このレジスト
18を、上方斜めから見た様子を図2に示す。上記レジ
スト18は、ノボラック樹脂に代表される熱可塑性樹脂
からなる。上記レジスト18を、180℃程度のベーキ
ングにより熱溶融させて、図1(B)に破線で示す凹型マ
イクロレンズ形状のレジスト層19にする。この熱溶融
後のレジスト層19を、上方斜めから見た様子を図3に
示す次に、図1(C)に示すように、上記レジスト層19
をフッ素系(CF4+O2、SF6、CHF3+O2など)の
ガス20によって、ドライエッチングする。このドライ
エッチングによって、上記レジスト層19の凹型マイク
ロレンズ形状を、層19の下の窒化シリコン層17に転
写する。具体的には、例えば、出力約200WでのSF
6をもちいてのプラズマエッチングの場合、選択比はお
よそ2:1以上であるので、上記窒化シリコン層17が
最終的に得る形状は、概ねレジスト層19の凹型マイク
ロレンズ形状を縦方向に2倍拡張した形状になる。
上記窒化シリコン層17の最終形状を示す。
は、再現性が高く、安定している。しかし、凹型マイク
ロレンズ17の直下と光電変換部1との間に、比較的低
屈折率(通常約1.5)のガラスで作製された平坦化層1
6を挟み込んでいるので、この平坦化層16が凹型マイ
クロレンズ17のコリメート能力を低下させてしまう可
能性がある。
ステップカバーレッジの良さを利用して、上記保護膜5
上に直接に、窒化シリコン層17を形成した場合には、
図1(E)に示すように、2.0μm程度の膜厚の疑似的
な凹型マイクロレンズ170が得られる。そして、この
凹型マイクロレンズ170を、図1(B)〜(C)に示した
格子形状のレジスト18を熱溶融しエッチングする転写
方法を使用して、凹型形状を強調し、上記凹型マイクロ
レンズ170を、図1(D)に示したような良好な形状の
凹型マイクロレンズ17と同様の形状にする。これによ
り、上記レンズ170をコリメート能力の高い凹型マイ
クロレンズに形成することができる。そして、上記凹型
マイクロレンズ170の表面をPMMA等の透明平坦化
樹脂で平坦にオーバーコートし、上記平坦化樹脂の表面
上に凸型マイクロレンズを、従来と同様に形成すること
により本発明の固体撮像装置が作製される。上記凹型マ
イクロレンズ170は、上記透明平坦化樹脂および上記
凸型マイクロレンズのどちらよりも屈折率の高い材料で
作製されている。
射光199を、電極を含む実質上の絞り204の上で、
凹型マイクロレンズ170によってコリメートすること
ができるので、上記斜入射光199を光電変換部に入射
させることができる。したがって、上記固体撮像装置
は、従来例では絞り204で蹴られて光電変換部に入射
しなかった斜入射光199を、光電変換部に入射させる
ことができる。したがって、上記固体撮像装置によれ
ば、感度が向上する。
像装置のマイクロレンズのような特殊な光学系において
は、固体撮像装置の受光部開口に相当する像面絞りを実
質的に拡大する役目をしている。
電変換部の表面で焦点を結んでいた光束を、図9(B)や
図8(C)に示すように、光電変換部への入射断面積の大
きな平行光束に変換することができる。
示す従来例の光束通過領域192を図9(C)に示す光束
通過領域202に拡大させることができる。したがっ
て、光束通過領域202における単位体積当たりのフォ
トン密度を低減することができる。したがって、発生信
号電子の局所的な過飽和(NSAT)が発生することを防ぐ
ことができ、光電変換率の一時的な低下を防止できる。
示すように、従来例に比べて、入射光束210を光電変
換領域201の表面に平行な横方向に拡げることができ
るから、光電交換部の周辺端部の電位勾配の大きい部分
すなわち遷移確率が高い完全空乏化領域で光電変換を行
うことができる。したがって、光電変換効率を向上でき
る。
ば、図8(B)に示したスミアーの原因となる小角度の斜
入射光193を、上記凹型マイクロレンズ170によっ
てコリメートすることができるから、スミアーの低減を
図ることができる。
装置の製造方法の第2実施例を説明する単位画素セルの
凹型マイクロレンズ形成プロセスを示す。
うに、光電変換部41を含む基板上に、上記光電変換部
41に対して非対向の領域に、層間絶縁膜42を介して
転送電極43を設け、この転送電極43を覆う遮光膜4
4を設け、この遮光膜44及び上記光電変換部41を覆
う保護膜45を設ける。次に、上記転送電極43等によ
る段差を軽減するために、上記保護膜45の上に、例え
ばポリスチレンのような高屈折率の樹脂よりなる平坦化
層51を形成し、この平坦化層51によって、凹凸表面
のプレイナライゼイションを行う。次に、凹レンズ層5
2を形成する。上記凹レンズ層52は、例えばノボラッ
ク樹脂やポリスチレン等のような熱可塑性樹脂(臨界温
度:120〜180℃、屈折率:1.6以上)をベースと
する感光性樹脂をスピンコート等の方法によって、上記
平坦化層51上に塗布し、その後フォトリソグラフィー
によってパターニングすることにより格子形状に形成さ
れる。
格子状にするのが一般的であるが、例えば抜き部分を矩
形ではなく楕円形にすると、抜き部分のピッチが細かく
ても解像が容易になり、かつ、図4(B)に示すように、
熱溶融によって、理想的な凹レンズ形状を得ることが容
易になる。
何学的構成に大きく依存し、最終的にはそれらを踏まえ
て決定されるが、コリメート能力等を考えると最低1μ
m以上にすることが望ましい。
2を、熱溶融によって、凹レンズ形状にした後に、図4
(C)に示すように、上記凹レンズ層52の上に、凹レン
ズ層52よりも屈折率が小さな透明な低屈折率樹脂層5
3を形成する。
率である必要性によって、大きな制約を受ける。屈折率
は構成分子の分極率および分子量に大きく依存し、上記
両者が小さいほうが、低屈折率にするためには良い。現
在では旭硝子(株)製のサイトップ(登録商標)などの透明
フッ素樹脂が約1.34程度の低屈折率を有するものと
して知られている。しかし、上記フッ素樹脂は、その撥
水撥油性から分かるように、表面エネルギーがかなり低
いので、極めて密着性が低い。したがって、密着度を強
化するために、界面活性剤などで構成した密着強化薄膜
を、上記低屈折率樹脂層53に隣接し密着させて挿入す
ることが望ましい。
ー層54を形成する。このバッファー層54は、その上
下両側の層との密着性およびその他の物理化学的なマッ
チングをとる役割を果たす非常に重要な層である。上記
バッファー層54は、アクリル系樹脂で作製することが
望ましい。
マイクロレンズ57を形成する。
(C)に示す固体撮像装置は、上記低屈折率樹脂層53の
存在によって、凹レンズ層52のコリメート効果を高め
ることができる。
体撮像装置の製造方法の第3実施例である単位画素セル
の凹型マイクロレンズの形成プロセスを示す。この実施
例は、高屈折率の平坦化層71の形成までの工程は、上
述の第2実施例と同じであるので、説明を省略する。
記平坦化層71の上に、凹型マイクロレンズ層の土台と
なる格子状パターンのレジスト層75を形成する。この
レジスト層75は、基本的に感光性をもつレジストによ
り光電変換部61に対向する受光領域を取り囲むように
パターン形成される。
を吸収する染料を含有させた材料で作製した場合には、
マイクロレンズ形成工程のリソグラフィー処理におい
て、高反射率の遮光膜54による反射を防止でき、ハレ
ーションを防止する効果を期待できる。また、上記レジ
スト層75を、ノボラック樹脂で作製した場合にも、g,
i線吸収の効果がある。
スト層75および平坦化層71の上に、高屈折率の樹脂
(例えばポリスチレン)をスピンコート等により塗布し、
凹型マイクロレンズ層76を形成する。上記凹型マイク
ロレンズ層76は、上記レジスト層75のレジストパタ
ーンの線幅および上記高屈折樹脂の粘度とのみによって
制御可能であるので、比較的再現性良く形成できるとい
う利点がある。
(C)に示したように、上記凹型マイクロレンズ層76よ
りも屈折率が小さな樹脂からなる低屈折率樹脂層とバッ
ファー層と凸型マイクロレンズとを順に形成して、固体
撮像装置の作製を完了する。
装置の製造方法の第4実施例による凹型マイクロレンズ
の形成プロセスを示す。
81,転送電極83,層間絶縁膜82,遮光膜84の上
に形成された保護膜85の上に、高屈折率の凹型マイク
ロレンズ86を形成する。そして、この凹型マイクロレ
ンズ86の上に、第3実施例のレジスト層75と同じ樹
脂で作製されたレジスト95を塗布し、このレジスト9
5を、フォトリソグラフィー技術により、露光し、図7
(B)に示すように、上記光電変換部81に対向する領域
である開口部分を囲む格子状のパターンに形成する。
のパターンに形成したレジスト95を、熱処理等によっ
て十分に硬化させる。
ト95の表面および上記凹型マイクロレンズ86の表面
上に、レンズ86の材質よりも屈折率の小さな低屈折率
樹脂(例えば上記サイトップ)をオーバーコートして、凹
型台座100を形成する。
台座100の表面を、第3実施例でオーバーコート材と
して使用した高屈折率の樹脂(例えばポリスチレン)10
1でオーバーコートし、凹型台座100の段差を平坦化
する。そして、上記樹脂101の上に曲率の小さい凸型
マイクロレンズ97を形成する。
イクロレンズ97を構成する材料よりも屈折率の小さな
材料で作製されている。
像装置の集光動作概念を、図6を参照して説明する。図
6(A)は従来例の集光動作概念を示し、図6(B)は本発
明の第1〜第3実施例の集光動作概念を示し、図6(C)
は本発明の第4実施例の集光動作概念を示す。
ッジ部仰角が60°未満であることで定義される比較的
曲率の小さい凸型マイクロレンズを有している。この凸
型マイクロレンズの曲率及び実効焦点距離OF1(点O
と点F1との間の距離)は、ケースバイケースで様々な
値を取り得る。
る入射光の蹴られを改善することが本発明の課題のポイ
ントの1つである。そして、上記入射光の蹴られの改善
の基本コンセプトは、図6(A)に示す“絞り位置"より
も光進行方向手前で入射光を集光することと、上記入射
光の光束を上記“絞り位置”から“像面"までコリメー
トさせることとにある。
は、いわゆる結像光学系の範疇には属していない。つま
り、固体撮像装置のマイクロレンズは、マイクロレンズ
表面に入射する放射束(この放射束の物理量はエネルギ
ーである)を損失無く光電交換領域に導くために設けら
れた特殊な光学系である。
減させるという観点から見て、図6(A)の従来例では、
次の(i)〜(iii)の3つの欠点を含んでいる。すなわ
ち、(i) 光の導波設備が確立されていないので、斜め入
射光は絞り74によって確実に損失を受ける。(ii) 焦
点距離と密接な関係にある像の横倍率が長焦点レンズ系
では大きいので、イメージが像面絞りより大きくなって
しまう。すなわちマイクロレンズの大きな役割の1つで
ある集光という意味では非効率的である。(iii)レンズ
の曲率が大きく(レンズのエッジの仰角が60°以上と
定義)した場合には、レンズの表面での入射光の反射が
無視できなくなる。
第1実施例及び第2実施例によって改善することが可能
である。また、上記欠点の(ii)は、図6(B)に示すよう
に、凸型マイクロレンズの曲率を大きくすることによっ
て克服できる。
クロレンズの曲率を大きくすると、レンズ表面での反射
光により大きなロスが発生し、上記欠点(iii)を克服で
きない。
よる固体撮像装置は、低屈折率(約1.3)の材料で作製
された凹型レンズ台座100を、高屈折率(約1.6)の
材料で作製された曲率の小さい凸型マイクロレンズ97
の直下に設けた。
束が、凹型レンズ台座100の表面で屈折されて、凹型
マイクロレンズ86がない場合の仮想焦点Fで焦点を結
ぶような光学系となる。すなわち、図6(C)の構造は、
凸型マイクロレンズの最表面の曲率が、図6(B)の構造
に比べて小さいにもかかわらず、図6(B)の構造と光学
的に同等の集光特性を持つことができる。なぜならば、
図6(C)の周縁光線が仮想焦点Fに対して成す角度ψ
は、図6(B)の周縁光線が仮想焦点Fに対して成す角度
ψと同じであるからである。
6(B)の構造に比べて、凸型マイクロレンズの表面での
反射を低減でき、かつ、図6(B)の構造と同等の集光特
性を実現できる。
明の固体撮像装置は、光電変換部と凸型マイクロレンズ
との間に形成され、上記凸型マイクロレンズを支持する
支持層と、上記支持層の直下に連なり、上記凸型マイク
ロレンズおよび上記支持層のいずれよりも屈折率の高い
材料で作製された凹型マイクロレンズ層を備えたもので
ある。
置は、上記凹型マイクロレンズが、上記凸型マイクロレ
ンズで集光した光を、上記光電変換部に対する垂直入射
光に近づけるように平行化する。
記集光光が上記光電変換部上に対向する空間の周囲に存
在する絞り部に衝突することを防止できる。したがっ
て、感度が向上する。
て、上記集光光が成す光束が上記光電変換部に入射する
面積を増大させることができる。したがって、光電変換
部の有効利用面積が増大し、感度が向上する。
置の製造方法によれば、格子状パターン層を熱溶融して
凹型マイクロレンズパターン層にし、上記凹型マイクロ
レンズパターン層をエッチングして、平坦層に凹型マイ
クロレンズ形状を転写して凹型マイクロレンズ層を作成
して、請求項1に記載の発明の固体撮像装置を作製でき
る。
れば、請求項1の発明と同様に、凹型マイクロレンズ
が、凸型マイクロレンズで集光した光を、光電変換部に
対する垂直入射光に近づくように平行化できる。
材料の屈折率が上記レンズ台座層を構成する材料の屈折
率よりも高く設定されているので、上記凸型マイクロレ
ンズが収束させた光束が、上記レンズ台座層によって広
げられることがない。したがって、集光特性の向上を図
ることができる。
造方法は、格子状パターン層を熱溶融して、上記格子状
パターン層を凹型マイクロレンズ層にし、請求項1の発
明の固体撮像装置を作製できる。
造方法は、格子状パターン層の上に、透明樹脂からなる
オーバーコート層を形成し、このオーバーコート層を凹
型マイクロレンズ層にする。したがって、格子状パター
ン層を熱溶融することなく、凹型マイクロレンズ層を作
成できるので、凹型マイクロレンズ層を再現性良く形成
できる。
撮像装置は、光電変換直上にコリメーターを装備させる
ことにより、図8(C)に示すように、入射光束を効率良
く光電変換させ、スミア因子となる光電変換部への斜入
射光を抑えることができる。また、図9に示すように、
斜入射光の蹴られを防止するにより総合的な感度の向上
と、スミアの抑制を同時に実現できる。
を小さくすることと低屈折率の凹型台座を組み合わせる
ことによって、集光率を損なうことなく表面の反射を抑
制することができる。
例を説明する工程図である。
トの斜視図である。
である。
施例の工程図である。
施例の工程図である。
である。
施例の工程図である。
較する図である。
較する図である。
の入射角度依存性を示す特性図である。
層間絶縁膜、3,43,83…転送電極、4,44,6
4,84…遮光膜、5,45,85…保護膜、16,5
1,71…平坦化層、17…窒化シリコン層(凹型マイ
クロレンズ)、18…感光性レジスト、19,75…レ
ジスト層、52…凹レンズ層、53…低屈折率樹脂層、
54…バッファー層、57…凸型マイクロレンズ、76
…凹型マイクロレンズ層、86,170…凹型マイクロ
レンズ、95…レジスト、97…凸型マイクロレンズ、
100…凹型レンズ台座、101…樹脂。
Claims (5)
- 【請求項1】 光電変換部を含む複数の画素を有し、上
記光電変換部の上に凸型マイクロレンズが設けられた固
体撮像装置において、 上記光電変換部と上記凸型マイクロレンズとの間に形成
され、上記凸型マイクロレンズを支持する支持層と、 上記支持層の直下に連なり、少なくとも上記支持層を構
成する材料よりも屈折率の高い材料で作製した凹型マイ
クロレンズ層とを備えたことを特徴とする固体撮像装
置。 - 【請求項2】 光電変換部の上に、凹型マイクロレンズ
層と、支持層と、凸型マイクロレンズとを順次形成する
固体撮像装置の製造方法であって、 上記光電変換部の上に、透明で、上記凸型マイクロレン
ズを構成する材料および上記支持層を構成する材料のい
ずれよりも屈折率の高い材料を平坦に形成することによ
って平坦層を形成し、 上記平坦層の表面に、上記光電変換部に対向する領域が
貫通した格子状パターンに形成された感光性樹脂からな
る格子状パターン層を形成し、 上記格子状パターン層を熱溶融することによって、上記
格子状パターン層を、複数の凹型マイクロレンズ形状の
凹部を有する凹型マイクロレンズパターン層にし、 上記凹型マイクロレンズパターン層をエッチングするこ
とによって、上記凹型マイクロレンズパターン層の凹型
マイクロレンズ形状を、上記凹型マイクロレンズパター
ン層の下の上記平坦層に転写して、上記平坦層を上記凹
型マイクロレンズ層にすることを特徴とする固体撮像装
置の製造方法。 - 【請求項3】 光電変換部を含む複数の画素を有し、上
記光電変換部の上に凸型マイクロレンズが設けられた固
体撮像装置において、 上記凸型マイクロレンズを支持する支持層と、 上記光電変換部と上記支持層との間に形成され、上記凸
型マイクロレンズ及び支持層を支持するレンズ台座層
と、 上記レンズ台座層の直下に連なる凹型マイクロレンズ層
とを備え、 上記凸型マイクロレンズを構成する材料の屈折率と上記
支持層を構成する材料の屈折率と上記凹型マイクロレン
ズ層を構成する材料の屈折率が、上記レンズ台座層を構
成する材料の屈折率よりも高く設定されていることを特
徴とする固体撮像装置。 - 【請求項4】 光電変換部の上に、凹型マイクロレンズ
層と、レンズ台座層と、凸型マイクロレンズとを順次形
成する固体撮像装置の製造方法であって、 上記光電変換部の上に、レンズを構成できるように光透
過率が高く、上記レンズ台座層を構成する材料よりも屈
折率の大きな材料で作製された感光性樹脂からなり、上
記光電変換部に対向する領域が貫通した格子状パターン
層を形成し、 上記格子状パターン層を熱溶融し、上記熱溶融と上記熱
溶融に続く熱硬化とによって、上記格子状パターン層を
上記凹型マイクロレンズ層にすることを特徴とする固体
撮像装置の製造方法。 - 【請求項5】 光電変換部の上に、凹型マイクロレンズ
層と、レンズ台座層と、凸型マイクロレンズとを順次形
成する固体撮像装置の製造方法であって、 上記光電変換部の上に、感光性を有する樹脂を格子状に
パターニングし硬化させて、上記光電変換部に対向する
領域が貫通した格子状パターン層を形成し、 上記格子状パターン層の上に、透明樹脂からなるオーバ
ーコート層を形成することによって、上記オーバーコー
ト層を上記凹型マイクロレンズ層にすることを特徴とす
る固体撮像装置の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5241030A JP2950714B2 (ja) | 1993-09-28 | 1993-09-28 | 固体撮像装置およびその製造方法 |
KR1019940025246A KR0184687B1 (ko) | 1993-09-28 | 1994-09-28 | 고체촬상장치 및 그 제조방법 |
US08/449,835 US5593913A (en) | 1993-09-28 | 1995-05-24 | Method of manufacturing solid state imaging device having high sensitivity and exhibiting high degree of light utilization |
US08/641,203 US5691548A (en) | 1993-09-28 | 1996-04-30 | Solid state imaging device having high sensitivity and exhibiting high degree of light utilization and method of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5241030A JP2950714B2 (ja) | 1993-09-28 | 1993-09-28 | 固体撮像装置およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0799296A true JPH0799296A (ja) | 1995-04-11 |
JP2950714B2 JP2950714B2 (ja) | 1999-09-20 |
Family
ID=17068286
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5241030A Expired - Fee Related JP2950714B2 (ja) | 1993-09-28 | 1993-09-28 | 固体撮像装置およびその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5593913A (ja) |
JP (1) | JP2950714B2 (ja) |
KR (1) | KR0184687B1 (ja) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH098266A (ja) * | 1995-06-26 | 1997-01-10 | Sony Corp | オンチップレンズの製造方法 |
EP0795912A2 (en) * | 1996-03-11 | 1997-09-17 | Eastman Kodak Company | Method for forming inorganic lens array for solid state imager |
EP0795913A2 (en) * | 1996-03-11 | 1997-09-17 | Eastman Kodak Company | Solid state imager with inorganic lens array |
WO2000001990A1 (fr) | 1998-07-02 | 2000-01-13 | Kabushiki Kaisha Saginomiya Seisakusho | Robinet selecteur de circuit de flux et procede de selection et d'entrainement de robinet, compresseur a robinet selecteur, et dispositif regulateur de cycle de refrigeration |
KR20000003501A (ko) * | 1998-06-29 | 2000-01-15 | 김영환 | 마이크로 오목렌즈를 갖는 이미지센서 및 그 제조방법 |
JP2002231923A (ja) * | 2001-01-30 | 2002-08-16 | Sony Corp | 固体撮像素子及びその製造方法 |
KR100399971B1 (ko) * | 2001-11-06 | 2003-09-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 이미지 센서 및 그 제조방법 |
JP2006073605A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Tokyo Electron Ltd | マイクロレンズの形成方法 |
KR100598756B1 (ko) * | 1998-04-15 | 2006-07-11 | 소니 가부시끼 가이샤 | 고체 촬상 소자 |
JP2007208059A (ja) * | 2006-02-02 | 2007-08-16 | Fujifilm Corp | マイクロレンズ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子およびその製造方法 |
JP2007264069A (ja) * | 2006-03-27 | 2007-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | オンチップレンズの形成方法および固体撮像装置の製造方法 |
JP2013149758A (ja) * | 2012-01-18 | 2013-08-01 | Canon Inc | 固体撮像装置およびその製造方法ならびにカメラ |
KR101481268B1 (ko) * | 2012-11-06 | 2015-01-21 | 가부시끼가이샤 도시바 | 고체 촬상 장치의 제조 방법 및 고체 촬상 장치 |
WO2016185902A1 (ja) * | 2015-05-15 | 2016-11-24 | ソニー株式会社 | 撮像装置、撮像方法、並びにプログラム |
Families Citing this family (112)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5933276A (en) * | 1994-04-13 | 1999-08-03 | Board Of Trustees, University Of Arkansas, N.A. | Aberration-free directional image window sheet |
JP3405620B2 (ja) * | 1995-05-22 | 2003-05-12 | 松下電器産業株式会社 | 固体撮像装置 |
JPH0964325A (ja) * | 1995-08-23 | 1997-03-07 | Sony Corp | 固体撮像素子とその製造方法 |
JP2821421B2 (ja) * | 1996-05-21 | 1998-11-05 | 日本電気株式会社 | 固体撮像装置 |
JP2917920B2 (ja) * | 1996-06-27 | 1999-07-12 | 日本電気株式会社 | 固体撮像装置およびその製造方法 |
KR100223853B1 (ko) * | 1996-08-26 | 1999-10-15 | 구본준 | 고체촬상소자의 구조 및 제조방법 |
EP1666935A1 (en) * | 1996-10-25 | 2006-06-07 | Omron Corporation | Surface light source device and liquid crystal display device, portable telephone and information terminal using surface light source device |
JP3680512B2 (ja) * | 1997-01-09 | 2005-08-10 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子 |
JP3547280B2 (ja) * | 1997-02-25 | 2004-07-28 | 松下電器産業株式会社 | 固体撮像装置 |
JPH10270672A (ja) * | 1997-03-25 | 1998-10-09 | Sony Corp | 固体撮像素子 |
JP3397287B2 (ja) * | 1997-03-27 | 2003-04-14 | 株式会社アドバンスト・ディスプレイ | 液晶表示装置およびその製造方法 |
JPH1168074A (ja) * | 1997-08-13 | 1999-03-09 | Sony Corp | 固体撮像素子 |
JP3620237B2 (ja) * | 1997-09-29 | 2005-02-16 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子 |
JP3180748B2 (ja) | 1997-12-11 | 2001-06-25 | 日本電気株式会社 | 固体撮像装置 |
JP3571909B2 (ja) * | 1998-03-19 | 2004-09-29 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
JPH11284158A (ja) * | 1998-03-27 | 1999-10-15 | Sony Corp | 固体撮像素子と固体撮像素子の製造方法 |
TW396645B (en) * | 1998-06-16 | 2000-07-01 | United Microelectronics Corp | Manufacturing method of CMOS sensor devices |
KR100303774B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2001-11-15 | 박종섭 | 개선된 광감도를 갖는 씨모스이미지센서 제조방법 |
US6583438B1 (en) * | 1999-04-12 | 2003-06-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Solid-state imaging device |
US6307243B1 (en) * | 1999-07-19 | 2001-10-23 | Micron Technology, Inc. | Microlens array with improved fill factor |
US6541749B1 (en) * | 1999-10-29 | 2003-04-01 | United Microelectronics Corp. | Photodetector pixel cell |
FR2803395A1 (fr) * | 1999-12-30 | 2001-07-06 | Commissariat Energie Atomique | Microsysteme optique solide a face plane et procede de realisation d'un tel microsysteme |
JP2002064193A (ja) * | 2000-08-22 | 2002-02-28 | Sony Corp | 固体撮像装置および製造方法 |
KR100477784B1 (ko) * | 2000-08-31 | 2005-03-22 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 트렌치 내부의 공기로 이루어지는 집광층을 구비하는이미지 센서 및 그 제조 방법 |
US6482669B1 (en) * | 2001-05-30 | 2002-11-19 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Colors only process to reduce package yield loss |
EP1410089A4 (en) * | 2001-07-20 | 2005-06-01 | Michel Sayag | OPTICALLY COUPLED TO A PICTURE SENSOR LENS SYSTEM |
US6950242B2 (en) * | 2001-07-20 | 2005-09-27 | Michel Sayag | Design and fabrication process for a lens system optically coupled to an image-capture device |
KR20030038838A (ko) * | 2001-11-06 | 2003-05-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 이미지 센서 및 그 제조방법 |
JP2003197897A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-11 | Fuji Film Microdevices Co Ltd | 半導体光電変換装置 |
KR100749251B1 (ko) * | 2001-12-29 | 2007-08-13 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 감도를 개선시키기 위한 보호막을 갖는 이미지센서 |
JP3789365B2 (ja) * | 2002-01-31 | 2006-06-21 | シャープ株式会社 | 層内レンズ付き半導体装置およびその製造方法 |
JP2003264284A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体撮像素子及びその製造方法 |
US6737719B1 (en) * | 2002-10-25 | 2004-05-18 | Omnivision International Holding Ltd | Image sensor having combination color filter and concave-shaped micro-lenses |
US20040192876A1 (en) * | 2002-11-18 | 2004-09-30 | Nigel Hacker | Novolac polymer planarization films with high temparature stability |
JP2004200965A (ja) * | 2002-12-18 | 2004-07-15 | Sanyo Electric Co Ltd | カメラモジュール及びその製造方法 |
JP2004253573A (ja) * | 2003-02-19 | 2004-09-09 | Sharp Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
US6803250B1 (en) * | 2003-04-24 | 2004-10-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd | Image sensor with complementary concave and convex lens layers and method for fabrication thereof |
EP1649322A4 (en) * | 2003-07-17 | 2007-09-19 | Honeywell Int Inc | PLANARIZATION FILMS FOR ADVANCED MICROELECTRONIC DEVICES AND APPLICATIONS AND METHODS FOR PRODUCING SAID FILMS |
JP4499385B2 (ja) * | 2003-07-29 | 2010-07-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 裏面入射型光検出素子及び裏面入射型光検出素子の製造方法 |
US6934065B2 (en) * | 2003-09-18 | 2005-08-23 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic devices and methods for packaging microelectronic devices |
FR2862426B1 (fr) * | 2003-11-17 | 2006-03-03 | St Microelectronics Sa | Capteur d'image |
US7583862B2 (en) * | 2003-11-26 | 2009-09-01 | Aptina Imaging Corporation | Packaged microelectronic imagers and methods of packaging microelectronic imagers |
US7253397B2 (en) * | 2004-02-23 | 2007-08-07 | Micron Technology, Inc. | Packaged microelectronic imagers and methods of packaging microelectronic imagers |
US7535649B2 (en) * | 2004-03-09 | 2009-05-19 | Tang Yin S | Motionless lens systems and methods |
US20050224694A1 (en) * | 2004-04-08 | 2005-10-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. | High efficiency microlens array |
CN1300857C (zh) * | 2004-04-14 | 2007-02-14 | 中华电信股份有限公司 | 一种微光学透镜的制造方法 |
US7253957B2 (en) * | 2004-05-13 | 2007-08-07 | Micron Technology, Inc. | Integrated optics units and methods of manufacturing integrated optics units for use with microelectronic imagers |
US8092734B2 (en) * | 2004-05-13 | 2012-01-10 | Aptina Imaging Corporation | Covers for microelectronic imagers and methods for wafer-level packaging of microelectronics imagers |
US7280278B2 (en) * | 2004-06-02 | 2007-10-09 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for manufacturing positive or negative microlenses |
US20050275750A1 (en) | 2004-06-09 | 2005-12-15 | Salman Akram | Wafer-level packaged microelectronic imagers and processes for wafer-level packaging |
US7498647B2 (en) | 2004-06-10 | 2009-03-03 | Micron Technology, Inc. | Packaged microelectronic imagers and methods of packaging microelectronic imagers |
US7199439B2 (en) * | 2004-06-14 | 2007-04-03 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imagers and methods of packaging microelectronic imagers |
US7262405B2 (en) * | 2004-06-14 | 2007-08-28 | Micron Technology, Inc. | Prefabricated housings for microelectronic imagers |
US7232754B2 (en) | 2004-06-29 | 2007-06-19 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic devices and methods for forming interconnects in microelectronic devices |
US7294897B2 (en) * | 2004-06-29 | 2007-11-13 | Micron Technology, Inc. | Packaged microelectronic imagers and methods of packaging microelectronic imagers |
JP4609985B2 (ja) * | 2004-06-30 | 2011-01-12 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体チップおよびその製造方法ならびに半導体装置 |
US7416913B2 (en) * | 2004-07-16 | 2008-08-26 | Micron Technology, Inc. | Methods of manufacturing microelectronic imaging units with discrete standoffs |
US7189954B2 (en) * | 2004-07-19 | 2007-03-13 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imagers with optical devices and methods of manufacturing such microelectronic imagers |
US7402453B2 (en) * | 2004-07-28 | 2008-07-22 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imaging units and methods of manufacturing microelectronic imaging units |
US20060023107A1 (en) * | 2004-08-02 | 2006-02-02 | Bolken Todd O | Microelectronic imagers with optics supports having threadless interfaces and methods for manufacturing such microelectronic imagers |
US7364934B2 (en) | 2004-08-10 | 2008-04-29 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imaging units and methods of manufacturing microelectronic imaging units |
US7223626B2 (en) * | 2004-08-19 | 2007-05-29 | Micron Technology, Inc. | Spacers for packaged microelectronic imagers and methods of making and using spacers for wafer-level packaging of imagers |
US7397066B2 (en) * | 2004-08-19 | 2008-07-08 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imagers with curved image sensors and methods for manufacturing microelectronic imagers |
US7425499B2 (en) * | 2004-08-24 | 2008-09-16 | Micron Technology, Inc. | Methods for forming interconnects in vias and microelectronic workpieces including such interconnects |
US7115961B2 (en) * | 2004-08-24 | 2006-10-03 | Micron Technology, Inc. | Packaged microelectronic imaging devices and methods of packaging microelectronic imaging devices |
US7429494B2 (en) | 2004-08-24 | 2008-09-30 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imagers with optical devices having integral reference features and methods for manufacturing such microelectronic imagers |
US7276393B2 (en) | 2004-08-26 | 2007-10-02 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imaging units and methods of manufacturing microelectronic imaging units |
US7511262B2 (en) * | 2004-08-30 | 2009-03-31 | Micron Technology, Inc. | Optical device and assembly for use with imaging dies, and wafer-label imager assembly |
US20070148807A1 (en) | 2005-08-22 | 2007-06-28 | Salman Akram | Microelectronic imagers with integrated optical devices and methods for manufacturing such microelectronic imagers |
US7646075B2 (en) * | 2004-08-31 | 2010-01-12 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imagers having front side contacts |
US7300857B2 (en) * | 2004-09-02 | 2007-11-27 | Micron Technology, Inc. | Through-wafer interconnects for photoimager and memory wafers |
KR100577430B1 (ko) | 2004-09-03 | 2006-05-08 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이 장치 |
KR100642764B1 (ko) * | 2004-09-08 | 2006-11-10 | 삼성전자주식회사 | 이미지 소자 및 그 제조 방법 |
US20060057765A1 (en) * | 2004-09-13 | 2006-03-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Image sensor including multiple lenses and method of manufacture thereof |
US7029944B1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-04-18 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods of forming a microlens array over a substrate employing a CMP stop |
JP4822683B2 (ja) * | 2004-10-08 | 2011-11-24 | パナソニック株式会社 | 固体撮像装置およびその製造方法 |
US7592645B2 (en) | 2004-12-08 | 2009-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoelectric conversion device and method for producing photoelectric conversion device |
US7271482B2 (en) * | 2004-12-30 | 2007-09-18 | Micron Technology, Inc. | Methods for forming interconnects in microelectronic workpieces and microelectronic workpieces formed using such methods |
KR100640958B1 (ko) * | 2004-12-30 | 2006-11-02 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 보호막을 이용한 씨모스 이미지 센서 및 그 제조방법 |
JP4843951B2 (ja) * | 2005-01-27 | 2011-12-21 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置の製造方法、固体撮像装置およびカメラ |
US20060169870A1 (en) * | 2005-02-01 | 2006-08-03 | Silsby Christopher D | Image sensor with embedded optical element |
US7214919B2 (en) * | 2005-02-08 | 2007-05-08 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imaging units and methods of manufacturing microelectronic imaging units |
US20060177999A1 (en) * | 2005-02-10 | 2006-08-10 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic workpieces and methods for forming interconnects in microelectronic workpieces |
US7303931B2 (en) * | 2005-02-10 | 2007-12-04 | Micron Technology, Inc. | Microfeature workpieces having microlenses and methods of forming microlenses on microfeature workpieces |
US7190039B2 (en) * | 2005-02-18 | 2007-03-13 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imagers with shaped image sensors and methods for manufacturing microelectronic imagers |
US7264976B2 (en) * | 2005-02-23 | 2007-09-04 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Advance ridge structure for microlens gapless approach |
US20060198008A1 (en) * | 2005-03-07 | 2006-09-07 | Micron Technology, Inc. | Formation of micro lens by using flowable oxide deposition |
US20060290001A1 (en) * | 2005-06-28 | 2006-12-28 | Micron Technology, Inc. | Interconnect vias and associated methods of formation |
US7795134B2 (en) | 2005-06-28 | 2010-09-14 | Micron Technology, Inc. | Conductive interconnect structures and formation methods using supercritical fluids |
JP4469781B2 (ja) * | 2005-07-20 | 2010-05-26 | パナソニック株式会社 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
US7622377B2 (en) | 2005-09-01 | 2009-11-24 | Micron Technology, Inc. | Microfeature workpiece substrates having through-substrate vias, and associated methods of formation |
US7288757B2 (en) * | 2005-09-01 | 2007-10-30 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic imaging devices and associated methods for attaching transmissive elements |
US7262134B2 (en) | 2005-09-01 | 2007-08-28 | Micron Technology, Inc. | Microfeature workpieces and methods for forming interconnects in microfeature workpieces |
US7999291B2 (en) * | 2005-09-05 | 2011-08-16 | Sony Corporation | Method of manufacturing solid state imaging device, solid state imaging device, and camera using solid state imaging device |
US20070139792A1 (en) * | 2005-12-21 | 2007-06-21 | Michel Sayag | Adjustable apodized lens aperture |
JP2007180157A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子 |
KR100826452B1 (ko) * | 2006-12-18 | 2008-04-29 | 삼성전기주식회사 | 광학 부품 및 그 제조방법 |
US8395686B2 (en) * | 2007-12-06 | 2013-03-12 | Sony Corporation | Solid-state imaging device, method of manufacturing the same, and camera |
US8003428B2 (en) * | 2008-03-27 | 2011-08-23 | International Business Machines Corporation | Method of forming an inverted lens in a semiconductor structure |
JP5086877B2 (ja) * | 2008-04-11 | 2012-11-28 | シャープ株式会社 | 固体撮像素子およびその製造方法、電子情報機器 |
US7710667B2 (en) * | 2008-06-25 | 2010-05-04 | Aptina Imaging Corp. | Imaging module with symmetrical lens system and method of manufacture |
US20100194465A1 (en) * | 2009-02-02 | 2010-08-05 | Ali Salih | Temperature compensated current source and method therefor |
CN101872033B (zh) * | 2009-04-24 | 2014-04-30 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 遮光片阵列、遮光片阵列制造方法及镜头模组阵列 |
JP5568934B2 (ja) * | 2009-09-29 | 2014-08-13 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法、電子機器、レンズアレイ |
JP2012204354A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-10-22 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法及び電子機器 |
US8716823B2 (en) * | 2011-11-08 | 2014-05-06 | Aptina Imaging Corporation | Backside image sensor pixel with silicon microlenses and metal reflector |
JP2014207253A (ja) * | 2012-04-17 | 2014-10-30 | キヤノン株式会社 | イメージセンサおよび撮像装置 |
JP2014011304A (ja) * | 2012-06-29 | 2014-01-20 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
US8921964B1 (en) | 2013-08-22 | 2014-12-30 | Arecont Vision, Llc. | Dual layer pixel lens for low light cameras |
CN110112297B (zh) * | 2014-07-17 | 2022-11-18 | 索尼公司 | 光电转换元件及其制造方法、成像装置、光学传感器 |
WO2016194405A1 (ja) * | 2015-05-29 | 2016-12-08 | シチズン電子株式会社 | 発光装置およびその製造方法 |
CN106601765B (zh) * | 2016-12-16 | 2018-05-08 | 深圳市华海技术有限公司 | 黑白cmos图像传感器及提高其感光度的制造方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4667092A (en) * | 1982-12-28 | 1987-05-19 | Nec Corporation | Solid-state image device with resin lens and resin contact layer |
US4694185A (en) * | 1986-04-18 | 1987-09-15 | Eastman Kodak Company | Light sensing devices with lenticular pixels |
JPH02103962A (ja) * | 1988-10-13 | 1990-04-17 | Toshiba Corp | 固体撮像装置及びその製造方法 |
JPH02280376A (ja) * | 1989-04-20 | 1990-11-16 | Matsushita Electron Corp | 固体撮像装置 |
WO1991004505A1 (fr) * | 1989-09-18 | 1991-04-04 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Procede de production d'un filtre de couleur et reserve pour film d'ecran antilumiere utilise par ce procede |
US5239412A (en) * | 1990-02-05 | 1993-08-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Solid image pickup device having microlenses |
US5118924A (en) * | 1990-10-01 | 1992-06-02 | Eastman Kodak Company | Static control overlayers on opto-electronic devices |
KR960000223B1 (ko) * | 1990-11-16 | 1996-01-03 | 가부시키가이샤 도시바 | 고체촬상장치 및 그 제조방법 |
JP2558389B2 (ja) * | 1990-11-29 | 1996-11-27 | 松下電器産業株式会社 | 固体撮像装置 |
KR920013734A (ko) * | 1990-12-31 | 1992-07-29 | 김광호 | 칼라필터의 제조방법 |
JP3200856B2 (ja) * | 1991-02-12 | 2001-08-20 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
JPH04278582A (ja) * | 1991-03-06 | 1992-10-05 | Matsushita Electron Corp | 固体撮像装置およびその製造方法 |
JPH04334056A (ja) * | 1991-05-09 | 1992-11-20 | Toshiba Corp | 固体撮像装置の製造方法 |
JPH0521768A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-01-29 | Sharp Corp | 固体撮像素子 |
JPH05134111A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-05-28 | Sharp Corp | 固体撮像装置 |
JP2833941B2 (ja) * | 1992-10-09 | 1998-12-09 | 三菱電機株式会社 | 固体撮像装置とその製造方法 |
-
1993
- 1993-09-28 JP JP5241030A patent/JP2950714B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-09-28 KR KR1019940025246A patent/KR0184687B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-05-24 US US08/449,835 patent/US5593913A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-04-30 US US08/641,203 patent/US5691548A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH098266A (ja) * | 1995-06-26 | 1997-01-10 | Sony Corp | オンチップレンズの製造方法 |
EP0795912A2 (en) * | 1996-03-11 | 1997-09-17 | Eastman Kodak Company | Method for forming inorganic lens array for solid state imager |
EP0795913A2 (en) * | 1996-03-11 | 1997-09-17 | Eastman Kodak Company | Solid state imager with inorganic lens array |
EP0795913A3 (ja) * | 1996-03-11 | 1997-10-29 | Eastman Kodak Co | |
EP0795912A3 (ja) * | 1996-03-11 | 1997-10-29 | Eastman Kodak Co | |
KR100598756B1 (ko) * | 1998-04-15 | 2006-07-11 | 소니 가부시끼 가이샤 | 고체 촬상 소자 |
KR20000003501A (ko) * | 1998-06-29 | 2000-01-15 | 김영환 | 마이크로 오목렌즈를 갖는 이미지센서 및 그 제조방법 |
WO2000001990A1 (fr) | 1998-07-02 | 2000-01-13 | Kabushiki Kaisha Saginomiya Seisakusho | Robinet selecteur de circuit de flux et procede de selection et d'entrainement de robinet, compresseur a robinet selecteur, et dispositif regulateur de cycle de refrigeration |
JP2002231923A (ja) * | 2001-01-30 | 2002-08-16 | Sony Corp | 固体撮像素子及びその製造方法 |
JP4686864B2 (ja) * | 2001-01-30 | 2011-05-25 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
KR100399971B1 (ko) * | 2001-11-06 | 2003-09-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 이미지 센서 및 그 제조방법 |
JP2006073605A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Tokyo Electron Ltd | マイクロレンズの形成方法 |
JP2007208059A (ja) * | 2006-02-02 | 2007-08-16 | Fujifilm Corp | マイクロレンズ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子およびその製造方法 |
JP2007264069A (ja) * | 2006-03-27 | 2007-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | オンチップレンズの形成方法および固体撮像装置の製造方法 |
JP4705499B2 (ja) * | 2006-03-27 | 2011-06-22 | パナソニック株式会社 | オンチップレンズの形成方法および固体撮像装置の製造方法 |
JP2013149758A (ja) * | 2012-01-18 | 2013-08-01 | Canon Inc | 固体撮像装置およびその製造方法ならびにカメラ |
KR101481268B1 (ko) * | 2012-11-06 | 2015-01-21 | 가부시끼가이샤 도시바 | 고체 촬상 장치의 제조 방법 및 고체 촬상 장치 |
WO2016185902A1 (ja) * | 2015-05-15 | 2016-11-24 | ソニー株式会社 | 撮像装置、撮像方法、並びにプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2950714B2 (ja) | 1999-09-20 |
KR0184687B1 (ko) | 1999-03-20 |
US5691548A (en) | 1997-11-25 |
US5593913A (en) | 1997-01-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2950714B2 (ja) | 固体撮像装置およびその製造方法 | |
JP2833941B2 (ja) | 固体撮像装置とその製造方法 | |
KR100590124B1 (ko) | 고체촬상소자 | |
JP5736755B2 (ja) | 固体撮像装置とその製造方法、及び電子機器 | |
US7777260B2 (en) | Solid-state imaging device | |
US6831311B2 (en) | Solid-state imaging device | |
JP2009021379A (ja) | 固体撮像装置およびそれを備えたカメラ、固体撮像装置の製造方法 | |
US20090250777A1 (en) | Image sensor and image sensor manufacturing method | |
JP5342821B2 (ja) | 固体撮像素子 | |
JPH0964325A (ja) | 固体撮像素子とその製造方法 | |
WO2019179509A1 (zh) | 探测基板及其制备方法、光电检测设备 | |
JP3693162B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2742185B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
KR100791842B1 (ko) | 마이크로렌즈의 쉬프트가 필요 없는 이미지센서 및 그 제조방법 | |
JP2000164839A (ja) | 固体撮像装置 | |
JPH08139300A (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2000357786A (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2001077339A (ja) | 固体撮像素子 | |
CN110164892A (zh) | 图像传感器及其形成方法 | |
JP2820074B2 (ja) | 固体撮像装置及びその製造方法 | |
JPH05283661A (ja) | 固体撮像装置 | |
JP3386286B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JP4136374B2 (ja) | 固体撮像装置および撮像システム | |
JP2005203676A (ja) | 固体撮像素子およびその製造方法 | |
JPH05259425A (ja) | イメージセンサ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070709 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080709 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080709 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090709 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100709 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110709 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110709 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120709 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120709 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709 Year of fee payment: 14 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |