JPH03227400A - ロジン系ハンダフラックスの洗浄剤及び洗浄方法 - Google Patents
ロジン系ハンダフラックスの洗浄剤及び洗浄方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
ッセンブリー用ロジン系ハンダフラックスの洗浄剤に関
する。
配線基板等のモジュールの製作にあたって使用される。
着強度を高めたり、接点の酸化を防止して導電性を維持
するためであり、かかるハンダ処理の実効を図らんとし
てハンダ付けに際してロジン系ハンダフラックスが使用
される。
的にしかも完全に除去すべく洗浄剤が使用される。すな
わち、フラックスの洗浄が不充分である場合には、残留
フラックスによる悪影響として、回路腐食が起こったり
、あるいは基板表面の電気絶縁性が低下し、最終的には
回路破損につながるという不利がある。そのため、洗浄
剤を使用して、残留フラックス、特にそれに含有されて
いる活性剤成分を除去することにより、前記不利を解消
している。
クロロエチレン、トリクロロトリフルオロエタン等のい
わゆるフロン等のハロゲン化炭化水素溶剤が使用されて
いる。ところが、オゾン層破壊等の環境汚染の問題から
、かかるハロゲン化炭化水素溶剤の使用規制が本格化さ
れつつあり、電気業界においてもいわゆるフロン代替の
ハンダフラックスの洗浄剤の開発が急務となってきた。
発されているが、洗浄力、毒性、臭気、引火性等のすべ
ての要求性能を完全に満足しうるちのは未だ見出されて
いないのが現状である。
性等の点でも実質上満足しうる非ハロゲン系のハンダフ
ラックス洗浄剤を提供することを目的とする。
果、意外にも特定のグリコールエーテル系化合物とノニ
オン性界面活性剤とを必須成分として使用した場合には
、前記課題を悉く解決しうろことを見出し、本発明を完
成するに至った。
基を、R2は炭素数1〜5のアルキル基を、R3は水素
原子またはメチル基を、nは2〜4の整数を示す。〕 で表わされるグリコールエーテル系化合物の少なくとも
1種、および (B)ノニオン性界面活性剤の少なくとも1種からなる
混合物を有効成分として含有することを特徴とするロジ
ン系ハンダフラックスの洗浄剤に係る。
フラックスに接触させることを特徴とするロジン系ハン
ダフラックスの洗浄方法を提供するものでもある。
ち、前記一般式(1)で表わされるグリコールエーテル
系化合物としては、ジエチレングリコールモノメチルエ
ーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエ
チレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリ
コールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチル
エチルエーテル、ジエチレングリコールモノプロビルエ
ーテル、ジエチレングリコールジプロピルエーテル、ジ
エチレングリコールメチルプロビルエーテル、ジエチレ
ングリコールエチルプロピルエーテル、ジエチレングリ
コールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールジブ
チルエーテル、ジエチレングリコールメチルブチルエー
テル、ジエチレングリコールエチルブチルエーテル、ジ
エチレングリコールプロピルブチルエーテル、ジエチレ
ングリコールモノペンチルエーテル、ジエチレングリコ
ールジブチルエーテル、ジエチレングリコールメチルペ
ンチルエーテル、ジエチレングリコールエチルペンチル
エーテル、ジエチレングリコールプロピルペンチルエー
テル、ジエチレングリコールブチルペンチルエーテル;
これらに対応するトリーもしくはテトラエチレングリコ
ールエーテル類;これらに対応するジー トリーもしく
はテトラプロピレングリコールエーテル類を例示できる
。これら化合物は単独でまたは2種以上を適宜組み合わ
せて使用できる。これら一般式(1)のグリコールエー
テル系化合物は、いずれも公知であるかまたは公知方法
に従い製造できるものである。
ち、ノニオン性界面活性剤としては、そのイオン性がノ
ニオン性である限り特に制限はなく、各種公知のものを
採用しうる。その具体例としては、ポリオキシエチレン
アルキルエーテル(そのアルキル基が炭素数6以上のも
の)、ポリオキシエチレンフェニルエーテル、ポリオキ
シエチレンアルキルフェニルエーテル等のポリエチレン
グリコールエーテル型ノニオン性界面活性剤;ポリエチ
レングリコールモノエステル、ポリエチレングリコール
ジエステル等のポリエチレングリコールエステル型ノニ
オン性界面活性剤;高級脂肪族アミンのエチレンオキサ
イド付加物;脂肪酸アミドのエチレンオキサイド付加物
:ソルビタン脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステル等
の多価アルコール型ノニオン性界面活性剤;脂肪酸アル
カノールアミド等、更にはこれらに対応するポリオキシ
プロピレン系ノニオン性界面活性剤及びポリオキシエチ
レンポリオキシプロピレン共重合体型ノニオン性界面活
性剤等を挙げることができる。
組合せて使用できる。
いものとしては、ポリエチレングリコールエーテル型ノ
ニオン性界面活性剤であり、更に好ましいものとしては
下記一般式(2)で表わされるものが該当する。
、炭素数6〜20、好ましくは10〜14の直鎖もしく
は分枝のアルキル基、フェニル基、または炭素数7〜1
2の直鎖もしくは分枝鎖アルキル基で置換されたフェニ
ル基を、nは2〜20、好ましくは5〜20、より好ま
しくは3〜9の整数を示す。〕 前記グリコールエーテル系化合物(A)と前記各種のノ
ニオン性界面活性剤(B)との使用割合は、特に制限は
されないが、通常はA:Bが95〜10重量%程度:5
〜90重量%程度、好ましくは90〜70重量%程度:
10〜30重量%程度である。
活性剤から構成される本発明の洗浄剤は、ロジン系ハン
ダフラックス、特にアッセンブリー用ロジン系ハンダフ
ラックスの洗浄に適用される。
類を主成分とする非活性ロジンフラックス、該ロジン類
と活性化剤(例えば、トリエタノールアミン塩酸塩、ト
リエチレンテトラミン塩酸塩等)とを主成分として構成
された活性ロジンフラックスが一般的であるが、本発明
の洗浄剤は、特にアッセンブリー用の活性ロジンフラッ
クスに適用した場合その使用意義が大きい。
るには以下の手段を採用しうる。すなわち、本発明の有
効成分たるグリコールエーテル系化合物とノニオン性界
面活性剤のみからなる洗浄剤をそのままで使用するか、
または水に溶解して、有効成分の濃度が通常100重量
%未満〜50重量%程度となるよう調整して使用する。
その他の添加剤を配合することもできる。かかる添加剤
は、使用する場合、本発明洗浄剤に対し約0.1重量%
以下の量で使用される。かくして得られた水溶液又は有
効成分そのものに基板を直接浸漬して洗浄する方法、該
水溶液又は有効成分そのものをスプレー装置を使用して
フラッシュする方法、あるいは機械的手段によりブラッ
シングしながら有効成分そのもの又は上記水溶液を接触
させる方法などを適宜選択して採用することができる。
洗浄剤中の有効成分濃度、除去すべきフラックスの種類
、基板の表面積や形状等、基板に対するフラックス付着
量等により適宜選択すれば良<、一般に、除去すべきフ
ラックスを洗浄除去するに有効な温度と時間で洗浄剤を
フラックスに接触させる。洗浄剤の使用時の温度は、室
温程度から80℃程度であり、通常、室温程度とするの
が好ましい。基板上のハンダフラックスを、例えば室温
程度の温度において浸漬法により除去する場合、一般に
は、本発明の洗浄剤にハンダフラックスを有する基板を
約1〜5分程度浸漬すれば、良好に除去することができ
る。勿論引火点を越えない範囲で更に加温することによ
り、洗浄に要する時間を減少させ、洗浄効率を向上させ
ることもできる。
して、水洗を行ない、残留している可能性のある洗浄剤
を完全に除去するのが好ましい。
いものとなる。
、超音波照射下に水中に浸漬する方法、水を噴霧する方
法等により行なうことができる。
のとし、これにより高いレベルの洗浄度を達成するよう
にする。水洗処理は、通常、室温に約70℃の温度にて
行なうのが好ましい。水洗処理を噴霧法又は浸漬法によ
り行なう場合、水洗に要する時間は、通常30秒〜5分
程度である。いずれにせよ、水洗処理は、所望の目的に
対して充分な洗浄度が得られるまで行なえばよい。
剤を用いた場合と同等またはそれ以上のフラックス洗浄
効果を発揮し、高レベルの基板清浄度を達成する。
ため、フロン系の洗浄剤に見られるようなオゾン層破壊
の問題がない。
ルエーテル系化合物を含有しているため若干引火性を有
しているが、該化合物の引火点は70℃程度であり、日
本国消防法でいう第三石油類に属するものであるため、
防爆設計された専用の洗浄装置を使用する必要はなく、
従来のフロンを用いた各種市販の洗浄装置を、そのまま
で又は若干の仕様変更を行なって、使用できる。
でも満足できる。
環境破壊、引火性、臭気等の点でも十分満足できる非ハ
ロゲン系のハンダフラックス洗浄剤、および該洗浄剤を
用いるハンダフラックス洗浄方法が提供される。
本発明はこれら実施例のみに限定されるものではない。
リエチレングリコールアルキルエーテル型ノニオン性界
面活性剤(第−工業製薬味型、商品名フィテンrET−
135J、一般式(2)において、Rが炭素数12〜1
4の分枝アルキル基であり、nが9である界面活性剤)
10重量部を混合して本発明の洗浄剤を調製した。
ルダレジストで被覆された非回路部分を有するプリント
配線基板の全面に、ロジン系ハンダフラックス(LON
CO社製、商品名[Re5inFlux #77−25
J )を塗布し、130℃で2分間乾燥した後、26
0℃で5秒間、ハンダフローを行ない供試基板を調製し
た。
ラックスの除去の度合いを以下の判定基準に基づき目視
判定した。結果は第1表に示す。
乾燥した後、オメガメーター600 SE (KENK
O社製、商品名)を用いて、基板の清浄度(残留イオン
濃度)を測定した。結果は第1表に示す。
時の浸漬温度をそれぞれ第1表に示すように変化させた
他は同様にして評価を行った。結果は第1表に示す。
エチレングリコールノニルフェニルエーテル型ノニオン
性界面活性剤(第一工業製薬■製、商品名「フィテンE
A−120J、一般式(2)において、Rがノニルフェ
ニル基であり、n=5の界面活性剤)、ポリエチレング
リコールドデシルフェニルエーテル型ノニオン性界面活
性剤(第一工業製薬■製、商品名[ノイゲンEA−14
3J一般式(2)において、Rがドデシルフェニル基で
あり、n−10の界面活性剤)に変化させた他は同様に
してフラックスの除去の度合い及び基板の清浄度の評価
を行った。結果は第1表に示す。
オキンエチレンフェニルエーテル(エチレンオキシド付
加モル数=7、実施f111)、ポノオキンエチレンソ
ルビタンモノラウレート(商品名[ゾルゲンTW20J
、第−工業製薬掃製、エチレンオキシド付加モル数=1
2、実施例12)又はポリオキシエチレンポリオキシプ
ロピレンブロックコポリマー(商品名「エパン420」
、第−工業製楽観、実施例13)を使用する以外は同様
にして、フラックスの除去の度合い及び基板の清浄度を
評価した。
ル DEGDEE ニジエチレングリコールジエチルエーテ
ル DEGMBEニジエチレングリコールモノブチルエーテ
ル DPGMMEニジプロピレングリコールモノメチルエー
テル TPGMME : )リプロピレングリコールモノメチ
ルエーテル を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 [1](A)一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ 〔式中、R^1は水素原子または炭素数1〜5のアルキ
ル基を、R^2は炭素数1〜5のアルキル基を、R^3
は水素原子またはメチル基を、nは2〜4の整数を示す
。〕 で表わされるグリコールエーテル系化合物の少なくとも
1種、および (B)ノニオン性界面活性剤の少なくとも1種からなる
混合物を有効成分として含有するロジン系ハンダフラッ
クスの洗浄剤。 [2]ノニオン性界面活性剤が、一般式 R−O−(CH_2CH_2O)_n−H (2)〔式
中、Rは、炭素数6〜20の直鎖もしくは分枝のアルキ
ル基、フェニル基、または炭素数7〜12の直鎖もしく
は分枝のアルキル基で置換されたフェニル基を示し、n
は、2〜20の整数を示す。〕 で表わされる界面活性剤である請求項1に記載の洗浄剤
。 [3]混合物が、一般式(1)のグリコールエーテル系
化合物95〜10重量%とノニオン性界面活性剤5〜9
0重量%の混合物である請求項1に記載の洗浄剤。 [4]請求項1乃至3のいずれかに記載の洗浄剤を、基
板上のロジン系ハンダフラックスと接触させることを特
徴とするロジン系ハンダフラックスの洗浄方法。
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