JP7340520B2 - 投影リソグラフィシステム用の瞳ファセットミラー、光学システム、および照明光学系 - Google Patents
投影リソグラフィシステム用の瞳ファセットミラー、光学システム、および照明光学系 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7340520B2 JP7340520B2 JP2020526922A JP2020526922A JP7340520B2 JP 7340520 B2 JP7340520 B2 JP 7340520B2 JP 2020526922 A JP2020526922 A JP 2020526922A JP 2020526922 A JP2020526922 A JP 2020526922A JP 7340520 B2 JP7340520 B2 JP 7340520B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical unit
- facet mirror
- pupil
- illumination
- mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 136
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 title claims description 114
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims description 75
- 238000001459 lithography Methods 0.000 title 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 30
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 23
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 13
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 6
- 238000009304 pastoral farming Methods 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 241000276498 Pollachius virens Species 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/702—Reflective illumination, i.e. reflective optical elements other than folding mirrors, e.g. extreme ultraviolet [EUV] illumination systems
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70075—Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/09—Multifaceted or polygonal mirrors, e.g. polygonal scanning mirrors; Fresnel mirrors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/0891—Ultraviolet [UV] mirrors
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70091—Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
- G03F7/70116—Off-axis setting using a programmable means, e.g. liquid crystal display [LCD], digital micromirror device [DMD] or pupil facets
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Lenses (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
α(φ)=-Asin(3φ)
0.005<A<0.02である。
)型の照明が示されている。視野ファセット13aを用いて、遠視野は、複数の物体視野5に分解される。視野ファセット13aは、それぞれに割り当てられた瞳ファセット14a上に中間焦点の複数の像を生成する。
φEPK-MM2=φEPK+φMM2
ここで、以下が適用され、
α(φ)=-Asin(3φ)
0.005<A<0.02である。
Claims (15)
- 放射線源(3)から物体平面(6)に照明放射線(10)を導くための照明光学ユニット(4)であって、
1.1 第1のファセットミラー(13)と、
1.2 ビーム経路内で前記第1のファセットミラー(13)の下流に配置された第2のファセットミラー(14)と、
1.3 前記ビーム経路内で前記第2のファセットミラー(14)の下流に配置された伝達光学ユニット(15)と、
を備え、
1.4 前記伝達光学ユニット(15)が、接線方向および矢状(サジタル)方向に異なる屈折力(Rtan、Rsag)を有し、
前記第2のファセットミラー(14)が備える瞳ファセット(14a)の全体が、前記瞳ファセット(14a)を取り囲む最小の楕円エッジ曲線を有し、前記楕円エッジ曲線が1.1~1.68の範囲の軸比a/bを有する、
照明光学ユニット(4)。 - 放射線源(3)から物体平面(6)に照明放射線(10)を導くための照明光学ユニット(4)であって、
1.1 第1のファセットミラー(13)と、
1.2 ビーム経路内で前記第1のファセットミラー(13)の下流に配置された第2のファセットミラー(14)と、
1.3 前記ビーム経路内で前記第2のファセットミラー(14)の下流に配置された伝達光学ユニット(15)と、
を備え、
1.4 前記伝達光学ユニット(15)が、接線方向および矢状(サジタル)方向に異なる屈折力(R tan 、R sag )を有し、
前記第2のファセットミラー(14)が備える瞳ファセット(14a)の少なくとも部分集合が、接線方向および矢状(サジタル)方向に異なる屈折力を有する、
照明光学ユニット(4)。 - 前記伝達光学ユニット(15)が、1つ、2つ、または更に多くのミラーを備えることを特徴とする、請求項1~3のいずれか1項に記載の照明光学ユニット(4)。
- 前記伝達光学ユニット(15)が、1つまたは2つの法線入射ミラー(NIミラー)および/または1つまたは2つのかすめ入射ミラー(GIミラー)を備えることを特徴とする、請求項1~4のいずれか1項に記載の照明光学ユニット(4)。
- 前記伝達光学ユニットは、トーリックコンデンサミラーを備えるコンデンサシステムを形成する、請求項1~5のいずれか1項に記載の照明光学ユニット(4)。
- 前記伝達光学ユニットは、前記第2のファセットミラーを投影光学ユニットの入射瞳へと結像するためのコンデンサシステムを形成する、請求項1~6のいずれか1項に記載の照明光学ユニット(4)。
- 8.1 請求項1~7のいずれか1項に記載の照明光学ユニット(4)と、
8.2 前記物体平面(6)に配置されたレチクル(20)を像平面(9)に配置されたウェーハ(22)上に結像するための投影光学ユニット(7)と、
を備えた、投影露光装置(1)用の光学システム。 - 9.1 前記第2のファセットミラー(14)上のフットプリント(31)が第1のアスペクト比AV1を有する包線を有し、
9.2 前記投影光学ユニット(7)が第2のアスペクト比AV2を有する入射瞳を有し、
9.3 ここで、AV1≠AV2である、
請求項8に記載の光学システム。 - 投影光学ユニット(7)がアナモルフィックな様式で結像することを特徴とする、請求項8~10のいずれか1項に記載の投影露光装置(1)用の光学システム。
- 前記第2のファセットミラー(14)が、平均折り曲げ角度φMM2が20°~35°となるように、前記第1のファセットミラー(13)に対して傾斜している、請求項8~11のいずれか1項に記載の光学システム。
- 14.1 請求項1~7のいずれか1項に記載の照明光学ユニット(4)、または
14.2 請求項8~13のいずれか1項に記載の光学システム
を備える、マイクロリソグラフィ投影露光装置(1)。 - 15.1 請求項14に記載の投影露光装置(1)を用意するステップと、
15.2 結像される構造を有するレチクル(20)を用意するステップと、
15.3 感光性材料で作られた層が少なくとも1つの領域に付けられたウェーハ(22)を用意するステップと、
15.4 前記投影露光装置(1)を用いて、前記レチクル(20)の少なくとも一部を基板の感光層の領域上に投影するステップと、
を含む、マイクロ構造化またはナノ構造化構成要素を製造する方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102017220586.5 | 2017-11-17 | ||
DE102017220586.5A DE102017220586A1 (de) | 2017-11-17 | 2017-11-17 | Pupillenfacettenspiegel, Beleuchtungsoptik und optisches System für eine Projek-tionsbelichtungsanlage |
PCT/EP2018/080492 WO2019096654A1 (de) | 2017-11-17 | 2018-11-07 | Pupillenfacettenspiegel, optisches system und beleuchtungsoptik für eine projektionsbelichtungsanlage |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021503623A JP2021503623A (ja) | 2021-02-12 |
JP7340520B2 true JP7340520B2 (ja) | 2023-09-07 |
Family
ID=64277667
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020526922A Active JP7340520B2 (ja) | 2017-11-17 | 2018-11-07 | 投影リソグラフィシステム用の瞳ファセットミラー、光学システム、および照明光学系 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11169445B2 (ja) |
JP (1) | JP7340520B2 (ja) |
KR (1) | KR102707885B1 (ja) |
CN (1) | CN111512188B (ja) |
DE (1) | DE102017220586A1 (ja) |
WO (1) | WO2019096654A1 (ja) |
Families Citing this family (196)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102020212351A1 (de) | 2020-09-30 | 2022-03-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikrospiegel-Array für eine beleuchtungsoptische Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102020213837A1 (de) | 2020-11-04 | 2021-08-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel-Vorrichtung |
DE102021213096A1 (de) | 2021-01-28 | 2022-07-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum herstellen eines mechanischen systems für eine lithographieanlage |
DE102021201203A1 (de) | 2021-02-09 | 2022-08-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021201396A1 (de) | 2021-02-15 | 2022-08-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines mehrteiligen Spiegels einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
DE102021202802B3 (de) | 2021-03-23 | 2022-03-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit einer Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentration von atomarem Wasserstoff |
DE102021202849A1 (de) | 2021-03-24 | 2022-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102021203475A1 (de) | 2021-04-08 | 2022-10-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Spiegels einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
DE102021203721A1 (de) | 2021-04-15 | 2022-10-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Aktuator-sensor-vorrichtung und lithographieanlage |
DE102021203723A1 (de) | 2021-04-15 | 2022-04-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verbindungsanordnung, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102022108541A1 (de) | 2021-04-23 | 2022-10-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Beprobungselementes und Beprobungselement |
DE102021204265A1 (de) | 2021-04-29 | 2022-11-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zu Reinigung einer Oberfläche eines Elementes und Reinigungsvorrichtung |
DE102021204582B3 (de) | 2021-05-06 | 2022-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021205104A1 (de) | 2021-05-19 | 2022-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit deformierbarem Element und Verfahren zur Herstellung eines Elements |
DE102021205149B3 (de) | 2021-05-20 | 2022-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualifizierung eines Facettenspiegels |
DE102021205278B4 (de) | 2021-05-21 | 2023-05-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Einstellbarer Abstandshalter, Optisches System, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren |
DE102021205368A1 (de) | 2021-05-27 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie und Verfahren zur Auslegung der Komponente |
DE102021205809B3 (de) | 2021-06-09 | 2022-08-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Verschraubung eines Aktuator-Sensor-Moduls einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102021206427A1 (de) | 2021-06-22 | 2022-12-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102022115356A1 (de) | 2021-06-24 | 2022-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Temperierung eines Bauteils |
DE102022204833A1 (de) | 2021-07-02 | 2023-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102021206953A1 (de) | 2021-07-02 | 2022-06-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum betreiben eines optischen systems |
DE102021207522A1 (de) | 2021-07-15 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Beschichtung einer Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage und Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102021208562A1 (de) | 2021-08-06 | 2023-02-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Temperaturmessvorrichtung, lithographieanlage und verfahren zum messen einer temperatur |
DE102021208563A1 (de) | 2021-08-06 | 2022-09-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und verfahren zum bestimmen einer temperatur in einer lithographieanlage |
DE102021208664A1 (de) | 2021-08-10 | 2023-02-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel für eine Projektionsbelichtungsanlage der Mikrolithographie |
DE102021120747B4 (de) | 2021-08-10 | 2024-07-11 | Carl Zeiss Sms Ltd. | Verfahren zur Entfernung eines Partikels von einem Maskensystem |
DE102021208801B3 (de) | 2021-08-11 | 2022-08-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Auslegung einer Klebstoffschicht |
DE102021208843A1 (de) | 2021-08-12 | 2023-02-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie mit einem Verbindungselement |
DE102021208879A1 (de) | 2021-08-13 | 2023-02-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches element, projektionsoptik und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021209099A1 (de) | 2021-08-19 | 2023-02-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021209098A1 (de) | 2021-08-19 | 2022-05-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Schutzschlauch und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022121000B4 (de) | 2021-08-23 | 2024-03-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelanordnung für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage mit einer Schutzvorrichtung zum Schutz der optischen Wirkfläche und EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102021210104A1 (de) | 2021-09-14 | 2022-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102021210103B3 (de) | 2021-09-14 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren, optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102021210470B3 (de) | 2021-09-21 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102021210577A1 (de) | 2021-09-23 | 2023-03-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102021210708A1 (de) | 2021-09-24 | 2022-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Dosiervorrichtung und verfahren zum herstellen einer lithographieanlage |
DE102022205758A1 (de) | 2021-10-07 | 2023-04-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und verfahren |
DE102021212394A1 (de) | 2021-11-03 | 2023-05-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102021212553A1 (de) | 2021-11-08 | 2023-05-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102022210796A1 (de) | 2021-11-11 | 2023-05-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Initialisierung einer Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102021212971A1 (de) | 2021-11-18 | 2023-05-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102021213168A1 (de) | 2021-11-23 | 2023-05-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren |
DE102021213441A1 (de) | 2021-11-29 | 2022-09-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102021213458A1 (de) | 2021-11-30 | 2022-08-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102021213612A1 (de) | 2021-12-01 | 2023-06-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, testgerät, lithographieanlage, anordnung und verfahren |
DE102021213610A1 (de) | 2021-12-01 | 2023-06-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren, optisches system, testgerät und anordnung |
DE102021213827A1 (de) | 2021-12-06 | 2023-06-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Optimierung einer Pupillen-Blendenform zur Nachbildung von Beleuchtungs- und Abbildungseigenschaften eines optischen Produktionssystems bei der Beleuchtung und Abbildung eines Objekts mittels eines optischen Messsystems |
DE102021213864A1 (de) | 2021-12-07 | 2022-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Schutz einer Klebstoffverbindung |
DE102021214665A1 (de) | 2021-12-20 | 2022-12-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie mit einer Temperierstruktur |
DE102021214981A1 (de) | 2021-12-23 | 2023-06-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und trockenvorrichtung |
DE102022213100A1 (de) | 2022-01-13 | 2023-07-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Aktuator-/sensor-vorrichtung, optikmodul und lithographieanlage |
DE102022211909A1 (de) | 2022-01-25 | 2023-07-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum betreiben eines optischen systems |
DE102022200976A1 (de) | 2022-01-31 | 2023-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kalibrierkörper und Verfahren zur Kalibrierung |
DE102023200212A1 (de) | 2022-02-01 | 2023-08-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Manipulation von Schwingungen |
DE102022201304A1 (de) | 2022-02-08 | 2023-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Bestimmung des Endes einer Aufwärmphase eines optischen Elementes |
DE102022201301A1 (de) | 2022-02-08 | 2023-08-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Projektionsbelichtungsanlage mit einer Heizvorrichtung |
DE102023200336A1 (de) | 2022-02-08 | 2023-08-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie mit einem Verbindungselement |
DE102022212721A1 (de) | 2022-02-16 | 2023-08-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren |
DE102023201200A1 (de) | 2022-03-01 | 2023-09-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102022202116A1 (de) | 2022-03-02 | 2023-02-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022202241A1 (de) | 2022-03-04 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023201812A1 (de) | 2022-03-09 | 2023-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Lösen einer Klebstoffverbindung |
DE102022202424A1 (de) | 2022-03-10 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Prüfsystem zur Analyse von Dichtungssystemen |
DE102023201828A1 (de) | 2022-03-14 | 2023-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Steckeraufnahme, Heizvorrichtung und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023201560A1 (de) | 2022-03-21 | 2023-09-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Bauteil und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022202938A1 (de) | 2022-03-24 | 2023-09-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022203257A1 (de) | 2022-04-01 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Ansteuervorrichtung, optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102022203299A1 (de) | 2022-04-01 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Überprüfung der Qualität einer Verschraubung |
DE102022203254B3 (de) | 2022-04-01 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Wasserführendes system, projektionsbelichtungsanlage und messvorrichtung |
DE102022203298A1 (de) | 2022-04-01 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur chemischen Bearbeitung einer Oberfläche |
DE102022203255A1 (de) | 2022-04-01 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Ansteuervorrichtung, optisches system und lithographieanlage |
DE102022203369A1 (de) | 2022-04-05 | 2023-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung, Verfahren und Computerprogrammprodukt zur Kalibrierung von Facettenspiegeln |
DE102022203393A1 (de) | 2022-04-06 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Ausrichtung von zwei Komponenten |
DE102022208738A1 (de) | 2022-08-24 | 2024-02-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Ausrichtung von zwei Komponenten |
WO2023194220A1 (en) | 2022-04-06 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Device and method for aligning two components |
DE102022203881A1 (de) | 2022-04-20 | 2023-04-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Leiterplatte für ein optisches system, optisches system, lithographieanlage und verfahren zum herstellen einer leiterplatte für ein optisches system |
DE102022204095A1 (de) | 2022-04-27 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Vermessen einer Beleuchtungswinkelverteilung auf einem Objektfeld sowie Beleuchtungsoptik mit einer hierüber vorgegebenen Beleuchtungskanal-Zuordnung |
DE102022204268A1 (de) | 2022-04-29 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauteil für eine Lithographieanlage |
DE102022204580A1 (de) | 2022-05-11 | 2023-04-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum herstellen oder betreiben eines spiegels in einer lithographieanlage |
DE102022204643A1 (de) | 2022-05-12 | 2023-11-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage mit einem optischen system und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102023203580A1 (de) | 2022-05-31 | 2023-11-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlmittelleitung zur Bereitstellung eines Fluids zur Temperierung von Bauteilen |
DE102022214283A1 (de) | 2022-06-07 | 2023-12-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches System für eine Lithographieanlage und Lithographieanlage |
DE102022205815A1 (de) | 2022-06-08 | 2023-12-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022206065B3 (de) | 2022-06-15 | 2023-02-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102022206038A1 (de) | 2022-06-15 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Kompensation von Aktuatoreffekten von Aktuatoren |
DE102022206110A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102022206124A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und verfahren zum bearbeiten einer oberfläche eines optischen elements einer lithographieanlage |
DE102022206126A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-03-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Bauteil zum Einsatz in einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022206112A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102022206198A1 (de) | 2022-06-21 | 2022-09-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualifizierung einer Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie |
DE102022208286A1 (de) | 2022-08-09 | 2024-02-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers für die Halbleiterlithografie, optisches Element und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022116693A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Element mit schwingungsmindernden Abschnitten von Fluidleitungen und Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers eines optischen Elementes sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022116698B3 (de) | 2022-07-05 | 2023-09-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102022116696A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Grundkörper für ein optisches Element mit einer Anbindungsgeometrie und Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers eines optischen Elementes sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022116699A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Element und Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102022206832A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum regeln einer position einer optischen komponente einer lithographieanlage |
DE102022116700A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe, Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie und Verfahren |
DE102022116695A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Grundkörper für ein optisches Element und Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers für ein optisches Element sowie Projektionsbelichtungsanlage |
WO2024008676A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur herstellung eines grundkörpers eines optischen elementes für die halbleiterlithografie, grundkörper, optisches element und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022116694A1 (de) | 2022-07-05 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers eines optischen Elementes, Grundkörper sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102022207027A1 (de) | 2022-07-11 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und verfahren zur bereitstellung von sensordaten eines optischen systems, optisches system und lithographieanlage mit einem optischen system |
DE102023206334A1 (de) | 2022-07-11 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Steuervorrichtung und optisches system |
DE102022207123A1 (de) | 2022-07-12 | 2024-01-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Zapfen für ein Spannsystem |
DE102022207148A1 (de) | 2022-07-13 | 2024-01-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie |
DE102022207312A1 (de) | 2022-07-18 | 2024-01-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022207348A1 (de) | 2022-07-19 | 2022-09-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und justierelementsatz |
DE102023205175A1 (de) | 2022-07-22 | 2024-01-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Bestimmen eines Gesamtschwerpunkts einer Verteilung von Lichtintensitäten |
DE102022207555A1 (de) | 2022-07-25 | 2024-01-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage mit einem optischen system und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102022207689A1 (de) | 2022-07-27 | 2022-09-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren, Vorrichtung und Computerprogrammprodukt zur Identifikation von Kontaminationen bei Komponenten einer EUV-Lithografie-Anlage |
DE102022208010A1 (de) | 2022-08-03 | 2024-02-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Aufbringung eines Fluids und Komponente |
DE102022208239A1 (de) | 2022-08-08 | 2024-02-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Sensorischen Messung Chemischer und/oder Physikalischer Eigenschaften einer Klebeschicht und/oder eines die Klebeschicht Kontaktierenden Mediums, sowie Verfahren zur Herstellung einer entsprechenden Vorrichtung und Verfahren zur Sensorischen Messung |
DE102022208206A1 (de) | 2022-08-08 | 2024-02-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Stabilisierung einer Klebstoffverbindung einer optischen Baugruppe |
DE102022208231B3 (de) | 2022-08-08 | 2023-06-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Ansteuervorrichtung, optisches system und lithographieanlage |
DE102022208204A1 (de) | 2022-08-08 | 2023-08-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Kompensation von Abbildungsfehlern einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022209453A1 (de) | 2022-09-09 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Faserstrang für einen Sektorheizer, Sektorheizer und Projektionsvorrichtung |
DE102023203506A1 (de) | 2022-09-12 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vakuumkammer für Komponenten für die Halbleiterlithografie und Verfahren zur automatisierten Reinigung der Vakuumkammer |
DE102023206503A1 (de) | 2022-09-14 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
DE102023208854A1 (de) | 2022-09-20 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlvorrichtung zum kühlen einer positionssensitiven komponente einer lithographieanlage |
DE102022209868A1 (de) | 2022-09-20 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische baugruppe, optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022209908A1 (de) | 2022-09-21 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel, Beleuchtungsoptik, Anordnung eines Facettenspiegels, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Herstellung eines nanostrukturierten Bauelements |
DE102022209922A1 (de) | 2022-09-21 | 2023-09-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Reflektometervorrichtung, messanordnung, verfahren zum herstellen eines optischen referenzelements und verfahren zum vermessen einer probe einer lithographieanlage |
DE102022210037A1 (de) | 2022-09-23 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung zum Tempern mindestens eines Teilbereichs eines optischen Elementes |
DE102022210158A1 (de) | 2022-09-26 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung, Verfahren und Computerprogrammprodukt zur Kalibrierung von Facettenspiegeln |
DE102022210132A1 (de) | 2022-09-26 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie und Verfahren zur Herstellung der Komponente |
DE102022210171A1 (de) | 2022-09-27 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches element, optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022210274A1 (de) | 2022-09-28 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung und messverfahren zum messen einer in einem optischen system abfallenden spannung, optisches system und lithographieanlage |
DE102022210356A1 (de) | 2022-09-29 | 2022-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage mit einem optischen system und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102022125354A1 (de) | 2022-09-30 | 2024-04-04 | Asml Netherlands B.V. | Kühlvorrichtung zum Kühlen einer positionssensitiven Komponente einer Lithographieanlage |
DE102022211226A1 (de) | 2022-10-24 | 2024-04-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie und Verfahren |
DE102022211334A1 (de) | 2022-10-26 | 2023-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Ansteuerung eines Aktuators und Aktuator |
DE102023207047A1 (de) | 2022-10-27 | 2024-05-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlleitungsvorrichtung für eine lithographieanlage, lithographieanlage und verfahren zum steuern eines drucks einer kühlflüssigkeit in einer kühlleitung einer lithographieanlage |
DE102023208302A1 (de) | 2022-11-02 | 2024-05-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System für eine lithographieanlage und lithographieanlage |
DE102022211696A1 (de) | 2022-11-07 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und lithographieanlage mit einem optischen system |
DE102023208848A1 (de) | 2022-11-07 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungssystem für eine lithographieanlage, lithographieanlage und verfahren zum betreiben eines beleuchtungssystems einer lithographieanlage |
DE102023208851A1 (de) | 2022-11-08 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102022211799A1 (de) | 2022-11-08 | 2022-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Manipulator, optisches system, projektionsbelichtungsanlage und verfahren |
DE102022211875A1 (de) | 2022-11-09 | 2024-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Korrektur lokaler Oberflächenerhebungen auf spiegelnden Oberflächen |
DE102022212136A1 (de) | 2022-11-15 | 2023-01-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Ermittlung von Bildfehlern hochauflösender Abbildungssysteme per Wellenfrontmessung |
DE102022212120A1 (de) | 2022-11-15 | 2023-11-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und fasereinblasvorrichtung |
DE102022212167A1 (de) | 2022-11-16 | 2023-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Quellen-Modul für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022212168A1 (de) | 2022-11-16 | 2024-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Optik-Modul für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022212257A1 (de) | 2022-11-17 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Grundkörpers und Grundkörper mit einer Leichtbaustruktur sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022212377A1 (de) | 2022-11-21 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Dichtungsvorrichtung, verfahren und verwendung |
DE102022212463A1 (de) | 2022-11-22 | 2024-05-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum betreiben eines optischen systems einer lithographieanlage |
DE102022212537A1 (de) | 2022-11-24 | 2024-05-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage mit einem optischen system und anordnung mit einem optischen system |
WO2024120941A1 (en) | 2022-12-09 | 2024-06-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mirror socket, optical system and projection exposure apparatus |
DE102023100393A1 (de) | 2023-01-10 | 2024-07-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelbuchse, optisches System und Projektionsbelichtungsanlage |
US12117731B2 (en) | 2022-12-13 | 2024-10-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method for producing a mirror of a microlithographic projection exposure apparatus |
DE102022213681A1 (de) | 2022-12-15 | 2024-06-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlvorrichtung für eine lithographieanlage |
DE102022213987A1 (de) | 2022-12-20 | 2023-12-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Montage einer optischen Baugruppe, optische Baugruppe und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022214184A1 (de) | 2022-12-21 | 2024-06-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023200146A1 (de) | 2023-01-11 | 2023-03-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und justagesystem zur justage einer position eines facettenspiegels einer lithographieanlage |
DE102023200235A1 (de) | 2023-01-12 | 2024-07-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und lithographieanlage |
DE102023200234A1 (de) | 2023-01-12 | 2024-07-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren zum herstellen eines optischen systems |
DE102023200329B3 (de) | 2023-01-17 | 2024-05-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe, Verfahren zur Montage der optischen Baugruppe und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023200423A1 (de) | 2023-01-20 | 2023-12-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlvorrichtung für eine lithographieanlage, lithographieanlage und verfahren zum dämpfen einer druckschwankung einer flüssigkeit in einer flüssigkeitsleitung einer kühlvorrichtung einer lithographieanlage |
DE102023200422A1 (de) | 2023-01-20 | 2024-07-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Modul für eine Projektionsbelichtungsanlage, Verfahren und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023200933A1 (de) | 2023-02-06 | 2024-08-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Kühlvorrichtung zum kühlen einer positionssensitiven komponente einer lithographieanlage und lithographieanlage |
DE102023200970A1 (de) | 2023-02-07 | 2024-08-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches element mit polierschicht |
DE102023210779A1 (de) | 2023-02-08 | 2024-08-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Lagervorrichtung zur Lagerung eines optischen Moduls an einem Tragrahmen |
DE102023201138A1 (de) | 2023-02-13 | 2024-08-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System mit einer lithographieanlage und einer anzahl von elektronikmodulen und verfahren zum betreiben eines systems |
DE102023201137A1 (de) | 2023-02-13 | 2024-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung und Verfahren zum Schutz einer Klebstoffverbindung |
DE102023201315A1 (de) | 2023-02-16 | 2024-08-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mechatronisches Element, Spiegel, Spiegelanordnung sowie Verfahren zu deren Herstellung |
DE102023201860A1 (de) | 2023-03-01 | 2023-04-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe und Verfahren zur Verbindung zweier Bauteile |
DE102023201840A1 (de) | 2023-03-01 | 2024-02-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe für die Halbleitertechnik und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023201858A1 (de) | 2023-03-01 | 2024-09-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023201859A1 (de) | 2023-03-01 | 2024-09-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische baugruppe, optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023202127A1 (de) | 2023-03-09 | 2024-09-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023202493A1 (de) | 2023-03-21 | 2024-09-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Ansteuervorrichtung, optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102023203205A1 (de) | 2023-04-06 | 2024-10-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines MEMS-Spiegelarrays und MEMS-Spiegelarray |
DE102023203223A1 (de) | 2023-04-06 | 2024-10-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102023203225A1 (de) | 2023-04-06 | 2024-10-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102023203224A1 (de) | 2023-04-06 | 2024-10-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102023203830A1 (de) | 2023-04-25 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Distanzvorrichtung, optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102023203832A1 (de) | 2023-04-25 | 2024-04-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023203897A1 (de) | 2023-04-27 | 2024-04-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum herstellen einer komponente einer lithographieanlage, komponente und lithographieanlage |
DE102023204394A1 (de) | 2023-05-11 | 2024-05-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Minimierung von Druckschwankungen und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023204481A1 (de) | 2023-05-12 | 2024-07-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur automatisierten Defektcharakterisierung von optischen Elementen |
DE102023205426A1 (de) | 2023-06-12 | 2024-05-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Modul mit zwei Fügepartnern für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren |
DE102023205570A1 (de) | 2023-06-14 | 2024-06-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023206042A1 (de) | 2023-06-27 | 2024-08-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Steuervorrichtung |
DE102023116899A1 (de) | 2023-06-27 | 2024-06-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023116893A1 (de) | 2023-06-27 | 2024-07-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Kompensation von Pendelkräften |
DE102023116896A1 (de) | 2023-06-27 | 2024-07-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Verbesserung der Abbildungseigenschaften eines optischen Moduls, Ansteuerung, optisches Modul und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023116894A1 (de) | 2023-06-27 | 2024-07-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Aufnahme eines optischen Elementes, optisches Modul und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023116898A1 (de) | 2023-06-27 | 2024-06-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023206344A1 (de) | 2023-07-04 | 2024-06-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023206565A1 (de) | 2023-07-11 | 2024-05-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Wasserführendes system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023207629A1 (de) | 2023-08-09 | 2024-08-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023207630A1 (de) | 2023-08-09 | 2024-07-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023208980A1 (de) | 2023-09-15 | 2024-08-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | MEMS-Mikrospiegeleinheit und Facettenspiegel |
DE102023209257A1 (de) | 2023-09-22 | 2024-09-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system und projektionsbelichtungsanlage |
DE102023209608A1 (de) | 2023-09-29 | 2024-09-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit austauschbaren Modulen umfassend optische Elemente |
DE102023128365A1 (de) | 2023-10-17 | 2024-09-12 | Asml Netherlands B.V. | Verfahren und Steuervorrichtung zum Steuern einer Position eines Substrathalters einer Lithographieanlage, Positioniersystem und Lithographieanlage |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006082738A1 (ja) | 2005-02-03 | 2006-08-10 | Nikon Corporation | オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置、および露光方法 |
JP2009044146A (ja) | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Nikon Corp | 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 |
US20130063716A1 (en) | 2010-05-18 | 2013-03-14 | Hans-Jürgen Mann | Illumination optics for a metrology system for examining an object using euv illumination light and metrology system comprising an illumination optics of this type |
CN104317169A (zh) | 2014-11-03 | 2015-01-28 | 北京理工大学 | 一种极紫外光刻波纹板照明系统 |
JP2017507356A (ja) | 2014-02-21 | 2017-03-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
US20170248851A1 (en) | 2014-11-18 | 2017-08-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Illumination optical unit for euv projection lithography |
JP2017526969A (ja) | 2014-08-25 | 2017-09-14 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3371511B2 (ja) * | 1994-02-23 | 2003-01-27 | 株式会社ニコン | 照明装置及び投影露光装置 |
US6859515B2 (en) * | 1998-05-05 | 2005-02-22 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading | Illumination system, particularly for EUV lithography |
DE10100265A1 (de) * | 2001-01-08 | 2002-07-11 | Zeiss Carl | Beleuchtungssystem mit Rasterelementen unterschiedlicher Größe |
DE102008054582A1 (de) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Carl Zeiss Smt Ag | Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage |
DE102008009600A1 (de) | 2008-02-15 | 2009-08-20 | Carl Zeiss Smt Ag | Facettenspiegel zum Einsatz in einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikro-Lithographie |
KR101593712B1 (ko) | 2008-02-15 | 2016-02-12 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피용 투영 노광 장치에 사용하기 위한 패싯 미러 |
DE102009032194A1 (de) * | 2008-10-16 | 2010-04-22 | Carl Zeiss Smt Ag | Optischer Spiegel mit einer Mehrzahl benachbarter Spiegelelemente und Verfahren zur Herstellung eines derartigen Spiegels |
WO2014139872A1 (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Illumination optical unit for projection lithography |
DE102014223453A1 (de) * | 2014-11-18 | 2016-05-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithographie |
-
2017
- 2017-11-17 DE DE102017220586.5A patent/DE102017220586A1/de not_active Ceased
-
2018
- 2018-11-07 KR KR1020207017522A patent/KR102707885B1/ko active IP Right Grant
- 2018-11-07 CN CN201880082025.7A patent/CN111512188B/zh active Active
- 2018-11-07 WO PCT/EP2018/080492 patent/WO2019096654A1/de unknown
- 2018-11-07 JP JP2020526922A patent/JP7340520B2/ja active Active
-
2020
- 2020-05-12 US US15/930,406 patent/US11169445B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006082738A1 (ja) | 2005-02-03 | 2006-08-10 | Nikon Corporation | オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置、および露光方法 |
JP2009044146A (ja) | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Nikon Corp | 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 |
US20130063716A1 (en) | 2010-05-18 | 2013-03-14 | Hans-Jürgen Mann | Illumination optics for a metrology system for examining an object using euv illumination light and metrology system comprising an illumination optics of this type |
JP2017507356A (ja) | 2014-02-21 | 2017-03-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
JP2017526969A (ja) | 2014-08-25 | 2017-09-14 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
CN104317169A (zh) | 2014-11-03 | 2015-01-28 | 北京理工大学 | 一种极紫外光刻波纹板照明系统 |
US20170248851A1 (en) | 2014-11-18 | 2017-08-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Illumination optical unit for euv projection lithography |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111512188A (zh) | 2020-08-07 |
DE102017220586A1 (de) | 2019-05-23 |
US11169445B2 (en) | 2021-11-09 |
KR20200079335A (ko) | 2020-07-02 |
KR102707885B1 (ko) | 2024-09-23 |
WO2019096654A1 (de) | 2019-05-23 |
JP2021503623A (ja) | 2021-02-12 |
US20200272058A1 (en) | 2020-08-27 |
CN111512188B (zh) | 2023-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7340520B2 (ja) | 投影リソグラフィシステム用の瞳ファセットミラー、光学システム、および照明光学系 | |
JP6963642B2 (ja) | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット | |
KR100991049B1 (ko) | 프로젝션 노광 장치 | |
JP5030944B2 (ja) | マイクロリソグラフィ露光装置のための照明システム | |
KR101422882B1 (ko) | 마이크로리소그래피 도구를 위한 반사 일루미네이션 시스템 | |
JP6221159B2 (ja) | コレクター | |
TWI694311B (zh) | 投影微影的光學次系統與投影微影的照明光學單元 | |
TWI497221B (zh) | 微影投射曝光裝置 | |
US20060208206A1 (en) | Illumination system particularly for microlithography | |
US9810992B2 (en) | Illumination system | |
US20150160561A1 (en) | Mirror | |
US20230221649A1 (en) | Digital micromirror device for an illumination optical component of a projection exposure system | |
WO2009052925A1 (en) | Imaging optical system, projection exposure installation for micro-lithography comprising an imaging optical system of this type, and method for producing a microstructured component with a projection exposure installation of this type | |
US9810890B2 (en) | Collector | |
CN107636537B (zh) | Euv投射光刻的分面反射镜和包含该分面反射镜的照明光学单元 | |
TW202401170A (zh) | 用於將物場成像到像場的成像euv光學單元 | |
TW202414108A (zh) | 用於將物場成像到像場的成像euv光學單元 | |
US20160187786A1 (en) | Illumination optical unit for euv projection lithography | |
US10018917B2 (en) | Illumination optical unit for EUV projection lithography | |
JP2002107630A (ja) | 6枚の反射鏡を用いたマイクロリソグラフィ用の投影光学系 | |
KR101992516B1 (ko) | 마이크로리소그래피 장치의 작동 방법 | |
JP2017526969A5 (ja) | ||
TW201626111A (zh) | 用以照明一照明場的照明光學單元以及包含此類照明光學單元的投射曝光裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200807 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211105 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220927 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221102 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20230126 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230501 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230629 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20230705 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230828 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7340520 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |