JP6502345B2 - 銀粒子の合成方法、銀粒子、導電性ペーストの製造方法、および導電性ペースト - Google Patents

銀粒子の合成方法、銀粒子、導電性ペーストの製造方法、および導電性ペースト Download PDF

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Description

本発明は、銀粒子の合成方法、銀粒子、導電性ペーストの製造方法、および導電性ペーストに関する。
配線の材料や、導電性を有する接合材料として、マイクロメートルオーダーの平均粒径(メジアン径)を有する銀粒子(以下、銀マイクロ粒子と記載する場合がある。)と、低級アルコールとを含む導電性ペーストが知られている(例えば、特許文献1参照。)。ここで、マイクロメートルオーダーは、1μm以上1mm未満を示す。銀マイクロ粒子を得る方法としては、ナノメートルオーダーの平均粒径(メジアン径)を有する銀粒子(以下、銀ナノ粒子と記載する場合がある。)を扁平加工する方法が一般的に利用されている。ここで、ナノメートルオーダーは、1nm以上1μm未満を示す。銀ナノ粒子を得る方法としては、溶解した銀をスプレー法で粉末凝固させる方法(所謂アトマイズ法)が一般的に利用されている。アトマイズ法と扁平加工とを利用して生成された銀マイクロ粒子を含む導電性ペーストの抵抗値は、大気雰囲気の下、200℃以上の温度で焼成又は焼結された場合に、10-6Ω・cmオーダーの抵抗値(体積抵抗値)となる。
特開2009−170277号公報
しかしながら、配線が形成される対象の部品(例えば、配線基板)や、接合対象の部品(例えば、リードフレームと配線基板)の耐熱性が低い場合、焼成又は焼結の際の温度条件の上限値として、150℃程度が要求されることがある。このため、150℃程度の低い温度で焼成又は焼結した場合でも、十分に低い抵抗値を有する導電性ペーストが望まれている。配線材料や接合材料に求められる抵抗値は、一般的に、10-5Ω・cmオーダー以下の抵抗値である。
これに対して、アトマイズ法と扁平加工とを利用して生成された銀マイクロ粒子を含む導電性ペーストの抵抗値は、大気雰囲気の下、180℃以上の温度で焼成又は焼結しないと、十分に低い抵抗値(10-5Ω・cmオーダーの抵抗値)に到達しない。この原因の一つとして、導電性ペーストに含まれる銀粒子のパッキング性(銀粒子の充填密度)が十分でないことが挙げられる。これは、アトマイズ法と扁平加工との組み合わせでは、均一な粒径および形状を有する銀粒子を生成することができないことに起因する。
本発明は、上記問題に鑑み、銀粒子のパッキング性を向上させることができる銀粒子の合成方法、銀粒子、導電性ペーストの製造方法、および導電性ペーストを提供することを目的とする。
本発明にかかる銀粒子の合成方法は、分散剤で被覆された第1銀粒子から前記分散剤を減少させて、第2銀粒子を得る工程と、前記第2銀粒子を含む液相下で第1銀化合物と第1還元剤とを反応させて、前記第2銀粒子よりも粒径が大きい第3銀粒子を合成する工程とを含む。
ある実施形態において、前記第3銀粒子は、多面体の形状を有する。
ある実施形態において、前記第3銀粒子は、マイクロメートルオーダーの粒径を有する。
ある実施形態では、前記第3銀粒子を合成する工程において、前記第3銀粒子とともに、前記第2銀粒子よりも粒径が大きく、かつナノメートルオーダーの粒径を有する第4銀粒子が合成される。
ある実施形態において、前記第1還元剤は第1多価アルコールである。
ある実施形態では、前記第3銀粒子を合成する工程において、前記第1多価アルコール中に前記第1銀化合物を溶解させ、かつ前記第2銀粒子を分散させ、前記第1多価アルコールを加熱して前記第3銀粒子を合成する。
ある実施形態では、前記第3銀粒子を合成する工程において、前記第1銀化合物を溶解させた第2多価アルコールを、前記第2銀粒子を分散させた第3多価アルコールに滴下させ、前記第2多価アルコールと前記第3多価アルコールとを含む前記第1多価アルコールを加熱して前記第3銀粒子を合成する。
ある実施形態では、前記第2多価アルコールの滴下時から前記第3多価アルコールを加熱する。
ある実施形態では、前記分散剤を含む液相下で第2銀化合物と第2還元剤とを反応させて、前記分散剤で被覆された前記第1銀粒子を合成する工程を更に含む。
ある実施形態では、前記第2還元剤が、第4多価アルコールであり、前記第1銀粒子を合成する工程において、前記第4多価アルコール中に前記第2銀化合物を溶解させ、かつ前記分散剤を分散させ、前記第4多価アルコールを加熱して前記第1銀粒子を合成する。
ある実施形態において、前記第2銀粒子は、100ナノメートル以上500ナノメートル以下の粒径を有する。
本発明にかかる銀粒子は、1マイクロメートル以上15マイクロメートル以下の粒径を有する第1銀粒子と、100ナノメートル以上1マイクロメートル未満の粒径を有する第2銀粒子とを備える。
本発明にかかる導電性ペーストの製造方法は、分散剤で被覆された第1銀粒子から前記分散剤を減少させて、第2銀粒子を得る工程と、前記第2銀粒子を含む液相下で銀化合物と還元剤とを反応させて、前記第2銀粒子よりも粒径が大きい第3銀粒子を合成する工程と、前記第3銀粒子とアルコールとを混合して、導電性ペーストを生成する工程とを含む。
本発明にかかる導電性ペーストは、1マイクロメートル以上15マイクロメートル以下の粒径を有する第1銀粒子と、100ナノメートル以上1マイクロメートル未満の粒径を有する第2銀粒子と、アルコールとを備える。
ある実施形態において、前記導電性ペーストは、焼成後の電気抵抗値が10-5Ω・cmオーダー以下となる。
本発明によれば、銀粒子のパッキング性を向上させることができる。
本発明の実施形態にかかる銀核粒子のSEM像の一例を示す図である。 本発明の実施形態にかかる銀粒子のSEM像の一例を示す図である。 (a)は本発明の実施形態にかかる銀粒子のSEM像の他の例を示す図である。(b)は本発明の実施形態にかかる銀粒子のSEM像の更に他の例を示す図である。 本発明の実施形態にかかる銀粒子の粒径分布の一例を示すグラフである。 本発明の実施形態にかかる銀粒子の粒径分布の他の例を示すグラフである。 本発明の実施形態にかかる銀粒子の粒径分布の更に他の例を示すグラフである。 本発明の実施形態にかかる銀粒子のSEM像の更に他の例を示す図である。 比較例1のSEM像の一例を示す図である。 (a)は比較例2のSEM像の一例を示す図である。(b)は図9(a)の一部を拡大して示す図である。 本発明の実施形態にかかる第1接合試料を示す模式図である。 本発明の実施形態にかかる第1剪断強度試験後の銅基板を撮像した像を示す図である。 図11に示すA部を拡大した図である。 (a)は図11に示すB部を拡大した図である。(b)は図13(a)の一部を拡大した図である。 本発明の実施形態にかかる第2接合試料を示す模式図である。 本発明の実施形態にかかる第2接合試料において接合材料として使用されている導電性ペーストの断面のSEM像の一例を示す図である。 本発明の実施形態にかかる第2接合試料において接合材料として使用されている導電性ペーストの断面のSEM像の他の例を示す図である。 本発明の実施形態にかかる第2接合試料において接合材料として使用されている導電性ペーストの断面のSEM像の更に他の例を示す図である。 本発明の実施形態にかかる第2接合試料の剪断強度の変化を示すグラフである。 本発明の実施形態にかかる導電性ペーストの熱分析結果を示すグラフである。 本発明の実施形態にかかる配線の体積抵抗値を示すグラフである。 本発明の実施形態にかかる配線の体積抵抗値の他の例を示すグラフである。
以下、本発明にかかる銀粒子の合成方法、銀粒子、導電性ペーストの製造方法、および導電性ペーストの実施形態を説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されない。
まず、本実施形態にかかる銀粒子の合成方法および銀粒子について説明する。本実施形態にかかる銀粒子の合成方法は、3つの段階に分かれる。第1段階では、銀化合物C1を用いてポリオール法により核となる銀粒子(以下、銀核粒子と記載する。)を合成する。第2段階では、銀核粒子を被覆している分散剤を減少させる。第3段階では、新たな銀源(銀化合物C2)を用いて銀核粒子を成長させる。
詳しくは、まず、銀化合物C1と還元剤R1とを、分散剤Dを含む液相下で反応させる。本実施形態では、還元剤R1は多価アルコールPA1であり、多価アルコールPA1中に銀化合物C1を溶解させ、かつ分散剤Dを分散させた後、多価アルコールPA1を加熱する。これにより、銀化合物C1と多価アルコールPA1との反応(液相還元処理)が進む(第1段階)。この反応により、銀原子同士が合成して、分散剤Dで被覆された銀核粒子P1が生成される(析出される)。また、分散剤Dを使用することにより、銀核粒子P1が分散剤Dで被覆される。これにより、ナノメートルオーダーの平均粒径(メジアン径)を有し、かつ分散性に優れた銀核粒子P1を合成することができる。銀核粒子P1は、好適には、100nm〜500nm程度の平均粒径(メジアン径)を有する。なお、銀粒子の平均粒径(メジアン径)は、レーザーを用いて測定することができる。
銀化合物C1の種類は特に限定されるものではなく、硝酸銀、酢酸銀、又はカルボン酸銀塩等を使用することができる。分散剤Dの種類、および多価アルコールPA1の種類も特に限定されるものではなく、分散剤Dとしてポリビニルピロリドン(PVP)、ポリエチレングリコール(PEG)、又は臭化セチルトリメチルアンモニウム(CTAB)等を使用することができ、多価アルコールPA1として、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、又はグリセリン等を使用することができる。
銀化合物C1、多価アルコールPA1、および分散剤Dのそれぞれの量も特に限定されるものではない。例えば、多価アルコールPA1の量を1g〜100gの範囲から選択した場合、銀化合物C1の量は0.01g〜10gの範囲から選択することができ、分散剤Dの量は0.008g〜8gの範囲から選択することができる。
第1段階で使用される反応温度は特に制限されないが、100℃以上であることが好ましい。反応温度が100℃未満である場合、反応(銀核粒子P1の合成)に要する時間が長くなり過ぎるためである。また、コスト面から、反応温度は200℃以下であることが好ましい。
なお、分散剤Dを含む液相は、多価アルコールPA1に加えて、他の液体、例えば水を含んでもよい。また、還元剤R1として、多価アルコールPA1に加えて、他の還元剤、例えばエタノール、プロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、又はグリセリンが使用されてもよい。また還元剤R1として、多価アルコールPA1以外の還元剤、例えばプロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、グリセリン、グルコース、アスコルビン酸、NaBH4、又はヒドラジンが使用されてもよい。
合成された銀核粒子P1は、例えば、走査型電子顕微鏡(scanning electron microscope:SEM)を用いて観測することができる。図1に、銀核粒子P1のSEM像の一例を示す。図1に示す銀核粒子P1は、次の手順によって合成された。
即ち、まず、50gのエチレングリコール(多価アルコールPA1)中に硝酸銀(銀化合物C1)を1.0g溶解させた。次いで、エチレングリコールPA1中にポリビニルピロリドン(分散剤D)を0.5g分散させた。次いで、エチレングリコールPA1を150℃(反応温度)まで昇温させた後、反応温度150℃を保ちつつ500rpmの回転速度で攪拌しながら1時間反応を行った。このとき、硝酸銀C1とエチレングリコールPA1とが反応することにより、窒素酸化物のガスが発生した。なお、このプロセスにおいて、エチレングリコールPA1は、硝酸銀C1に対する還元剤として作用すると共に、硝酸銀C1の溶媒としても作用する。
以上の手順により、図1に示すように、200nm前後の平均粒径(メジアン径)を有し、かつ分散性に優れた銀核粒子P1を得ることができた。なお、図1に示す銀核粒子P1と同様の手順(処理)を経て合成される銀核粒子P1を、以下、「銀核粒子(反応温度150℃)」と記載する場合がある。
銀核粒子P1の合成後、第2段階が実行される。第2段階では、まず、金属メッシュ等を用いて銀核粒子P1を液相(多価アルコールPA1)から分離させる。次いで、銀核粒子P1を被覆している分散剤Dを減少させる。例えば、水又はエタノールを用いて銀核粒子P1を洗浄することで、分散剤Dを減少させることができる。あるいは、銀核粒子P1を加熱することによって、分散剤Dを減少させることができる。
次に、第3段階が実行される。即ち、銀核粒子P1を含む液相下で、銀化合物C2と還元剤R2とを反応させる。本実施形態では、還元剤R2は多価アルコールPA2であり、多価アルコールPA2中に銀化合物C2を溶解させ、かつ銀核粒子P1を分散させる。そして、多価アルコールPA2を加熱することにより、銀化合物C2と多価アルコールPA2とを反応(液相還元処理)させる。この反応により、銀化合物C2由来の銀粒子が生成されると共に、その生成された銀粒子が銀核粒子P1に合成される。この結果、銀核粒子P1よりも粒径が大きい銀粒子P2が得られる(合成される)。具体的には、銀粒子P2は、マイクロメートルオーダーの平均粒径(メジアン径)を有する。つまり、銀粒子P2は、銀マイクロ粒子であり、好適には、1μm以上15μm以下の粒径を有する。
好ましくは、銀核粒子P1を含む多価アルコールPA2aに対し、銀化合物C2が溶解された多価アルコールPA2bを滴下した後、加熱により、液相還元処理(反応処理)を進める。更に好ましくは、多価アルコールPA2bを滴下する段階から、多価アルコールPA2aを加熱しておく。このように、銀化合物C2が溶解された多価アルコールPA2bを滴下させる場合、その滴下にかかる時間を変化させることによって、銀マイクロ粒子P2の平均粒径を制御することが可能となる。
なお、本実施形態では多価アルコールPA2aおよび多価アルコールPA2bとして、同じ種類の多価アルコールPA2が使用されるが、多価アルコールPA2aと多価アルコールPA2bとは異なる種類であってもよい。
合成された銀マイクロ粒子P2は、好適には平均粒径(メジアン径)および形状(形態)が均一となる。これにより、銀粒子のパッキング性が向上する。また、銀マイクロ粒子P2は、好適には多面体の形状を有する。つまり、平面状の結晶面が銀粒子P2の外観形状を形作る。これにより、銀粒子のパッキング性が向上する。また、銀粒子P2の平均粒径がマイクロメートルオーダーとなることにより、銀粒子の充填密度が大きくなり、パッキング性が向上する。
銀化合物C2の種類は、特に限定されるものではなく、硝酸銀、酢酸銀、又はカルボン酸銀塩等を使用することができる。また、多価アルコールPA2、PA2a、PA2bの種類も特に限定されるものではなく、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、又はグリセリン等を使用することができる。
一方、銀核粒子P1の濃度、および銀化合物C2の濃度によって、銀マイクロ粒子P2の平均粒径や形状(形態)が変わる。例えば、銀核粒子P1の量を0.01g〜5gの範囲から選択した場合、銀化合物C2の量を0.1g〜50gの範囲から選択し、多価アルコールPA2の量を1g〜100gの範囲から選択することで、粒径および形状が均一な銀マイクロ粒子P2を得ることができる。また、銀マイクロ粒子P2の形状を、多面体形状にすることができる。
第3段階で使用される反応温度は、好ましくは200℃以下である。反応温度が200℃を超えると、反応速度が速くなり過ぎて、銀マイクロ粒子P2の形状を所望の形状(多面体)に制御することが困難になるためである。また、第3段階で使用される反応温度は、好適には100℃以上である。反応温度が100℃未満の場合、反応(銀マイクロ粒子P2の合成)に要する時間が長くなり過ぎるためである。
更に、本実施形態では、銀マイクロ粒子P2が合成される過程において、銀マイクロ粒子P2よりも平均粒径が小さい銀粒子P3が合成される。つまり、銀粒子P3は、ナノメートルオーダーの平均粒径(メジアン径)を有する。このように銀粒子P3が合成されることにより、よりパッキング性が向上する。具体的には、銀粒子P3が、銀マイクロ粒子P2間の隙間を埋める役割を果たす。以下、銀粒子P3を銀ナノ粒子P3と記載する場合がある。銀ナノ粒子P3は、好適には、100nm以上1μm未満の平均粒径(メジアン径)を有する。
以上説明した銀粒子の合成方法によれば、マイクロメートルオーダー(好ましくは、1マイクロメートル以上15マイクロメートル以下)の粒径を有し、かつ、多面体の形状を有する銀粒子P2を、扁平加工を実施することなく得ることができる。なお、第3段階において、銀核粒子P1を含む液相は、多価アルコールPA2(又は多価アルコールPA2a)に加えて、他の液体、例えば水を含んでもよい。同様に、多価アルコールPA2bに加えて、他の液体、例えば水を含む液相に銀化合物C2を溶解させて、滴下を行ってもよい。また、還元剤R2として、多価アルコールPA2に加えて、他の還元剤、例えばプロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、又はグリセリンが使用されてもよい。また、還元剤R2として、多価アルコールPA2以外の還元剤、例えばプロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、グリセリン、グルコース、アスコルビン酸、NaBH4、又はヒドラジンが使用されてもよい。
合成された銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3は、例えば、走査型電子顕微鏡を用いて観測することができる。図2に、合成された銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)のSEM像の一例を示す。図2に示す銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)は、次の手順によって合成された。
即ち、まず、500rpmの回転速度で50gのエチレングリコール(多価アルコールPA2)を攪拌しながら、エチレングリコールPA2中に硝酸銀(銀化合物C2)を2.0g溶解させた後、更にエチレングリコールPA2中に銀核粒子P1を0.05g分散させた。ここでは、銀核粒子P1として、銀核粒子(反応温度150℃)を使用した。具体的には、銀核粒子(反応温度150℃)を合成した後、金属メッシュを用いて銀核粒子(反応温度150℃)を液相から分離させた。そして、液相から分離した銀核粒子(反応温度150℃)を、水を用いて洗浄し、洗浄後の銀核粒子(反応温度150℃)を、エチレングリコールPA2中に分散させた。
次いで、エチレングリコールPA2を150℃(反応温度)まで昇温させた後、反応温度150℃を保ちつつ500rpmの回転速度で攪拌しながら1時間反応を行った。このとき、硝酸銀C2とエチレングリコールPA2とが反応することにより、窒素酸化物のガスが発生した。なお、このプロセスにおいて、エチレングリコールPA2は、硝酸銀C2に対する還元剤として作用すると共に、硝酸銀C2の溶媒としても作用する。
以上の手順により、図2に示すように、粒径および形状が均一であると共に、形状として多面体形状を有する銀マイクロ粒子P2を、扁平加工を実施することなく得ることができた。更に、銀マイクロ粒子P2間の隙間が、銀ナノ粒子P3によって埋められた。つまり、良好な分散性およびパッキング性を有する銀粒子が得られた。なお、図2に示す銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)と同様の手順(処理)を経て合成される銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)を、以下、「銀粒子(反応温度150℃)」と記載する場合がある。
続いて、第3段階で使用される反応温度が銀マイクロ粒子P2の粒径および銀ナノ粒子P3の粒径に与える影響について、図2、図3(a)、図3(b)、図4、図5、および図6を参照して説明する。図3(a)は、第3段階で130℃の反応温度が使用されることによって合成された銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)のSEM像の一例を示し、図3(b)は、第3段階で200℃の反応温度が使用されることによって合成された銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)のSEM像の一例を示す。図3(a)および図3(b)に示す銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)は、第3段階で使用される反応温度が異なる以外、銀粒子(反応温度150℃)を合成する手順と同じ手順によって合成された。
なお、図3(a)に示す銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)と同様の手順(処理)を経て合成される銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)を、以下、「銀粒子(反応温度130℃)」と記載する場合がある。また、図3(b)に示す銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)と同様の手順(処理)を経て合成される銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)を、以下、「銀粒子(反応温度200℃)」と記載する場合がある。
図4は、銀粒子(反応温度130℃)の粒径分布を示すグラフである。図5は、銀粒子(反応温度150℃)の粒径分布を示すグラフである。図6は、銀粒子(反応温度200℃)の粒径分布を示すグラフである。図4〜図6において、縦軸は散乱強度(%)を示し、横軸は粒子径(nm)を示す。図4〜図6に示す各粒径分布は、散乱強度分布を解析することにより得た。散乱強度分布は、レーザーを用いて取得した。
図4〜図6に示すように、第3段階で使用される反応温度が130℃、150℃、および200℃のいずれの場合でも、マイクロメートルオーダーの平均粒径を有する銀粒子P2と、ナノメートルオーダーの平均粒径を有する銀粒子P3とが合成された。詳しくは、図4に示すように、第3段階で使用する反応温度が130℃の場合、銀ナノ粒子P3の粒径範囲は200nm〜600nm程度となり、銀マイクロ粒子P2の粒径範囲は1.5μm〜3.8μm程度となった。また、図5に示すように、第3段階で使用する反応温度が150℃の場合、銀ナノ粒子P3の粒径範囲は250nm〜800nm程度となり、銀マイクロ粒子P2の粒径範囲は1.8μm〜5.2μm程度となった。また、図6に示すように、第3段階で使用する反応温度が200℃の場合、銀ナノ粒子P3の粒径範囲は200nm〜600nm程度となり、銀マイクロ粒子P2の粒径範囲は0.9μm〜2.2μm程度となった。このように、第3段階で使用される反応温度によって、得られる銀マイクロ粒子P2および銀粒子P3の各平均粒径が変化したが、図2、図3(a)、および図3(b)に示すように、いずれの反応温度でも、良好な分散性およびパッキング性を有する銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀粒子P3)が得られた。
続いて、銀核粒子(反応温度150℃)、銀粒子(反応温度130℃)、銀粒子(反応温度150℃)、および銀粒子(反応温度200℃)のそれぞれにX線を照射して、X線の回折強度を測定した結果について説明する。この測定の結果、銀核粒子(反応温度150℃)、銀粒子(反応温度130℃)、銀粒子(反応温度150℃)、および銀粒子(反応温度200℃)のいずれにおいても、ミラー指数(111)の結晶面のピーク値(X線の回折強度)が最大となった。また、ミラー指数(200)の結晶面のピーク値(X線の回折強度)が、2番目に大きな値となった。このことは、銀核粒子(反応温度150℃)、銀粒子(反応温度130℃)、銀粒子(反応温度150℃)、および銀粒子(反応温度200℃)のそれぞれの形態(形状)が多面体であることを示している。
以下の表1に、ミラー指数(111)の結晶面とミラー指数(200)の結晶面とのピーク値の比率(強度比率)を示す。
表1において、「Seed」は銀核粒子(反応温度150℃)を示し、「130℃」は銀粒子(反応温度130℃)を示し、「150℃」は銀粒子(反応温度150℃)を示し、「200℃」は銀粒子(反応温度200℃)を示す。また「I(111)/I(200)」は、ミラー指数(111)の結晶面とミラー指数(200)の結晶面とのピーク値の比率(強度比率)を示す。
表1に示すように、第3段階で使用される反応温度によって、ミラー指数(200)の結晶面の割合が若干変化した。これは、第3段階で使用される反応温度によって、最終的に合成される銀粒子の平均粒径や形状(形態)が変わることを示している。
続いて、第3段階において、銀核粒子P1を含む多価アルコールPA2aに対し、銀化合物C2が溶解された多価アルコールPA2bを滴下する場合について説明する。
図7は、銀核粒子P1を含む多価アルコールPA2aに対し、銀化合物C2が溶解された多価アルコールPA2bを滴下した場合に得られた銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)のSEM像の一例を示す図である。図7に示す銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)は、次の手順によって合成された。
即ち、まず、50gのエチレングリコール(多価アルコールPA1a)中にポリビニルピロリドン(分散剤D)を0.5g分散させる一方で、25gのエチレングリコール(多価アルコールPA1b)中に硝酸銀(銀化合物C1)を1.0g溶解させ、エチレングリコールPA1a、PA1bを混合した。次いで、混合後のエチレングリコール(多価アルコールPA1)を150℃(反応温度)まで昇温させた後、反応温度150℃を保ちつつ350rpmの回転速度で攪拌しながら20分間反応を行った。このとき、硝酸銀C1とエチレングリコールPA1とが反応することにより、窒素酸化物のガスが発生した。
その後、金属メッシュを用いて、銀核粒子P1をエチレングリコールPA1から分離させ、次いで、水を用いて銀核粒子P1を洗浄した。そして、5gのエチレングリコール(多価アルコールPA2a)中に、洗浄後の銀核粒子P1を0.01g分散させて、0.2wt%の銀核粒子P1を含むエチレングリコールPA2aを調製した。その一方で、50gのエチレングリコール(多価アルコールPA2b)中に硝酸銀(銀化合物C2)を1.0g溶解させた。次いで、エチレングリコールPA2aを150℃まで昇温させた後、反応温度150℃を保ちつつ、350rpmの回転速度で攪拌しながら、エチレングリコールPA2aに対し、エチレングリコールPA2bを30分間かけて滴下して、エチレングリコールPA2a、PA2bを混合した。
次いで、混合後のエチレングリコール(多価アルコールPA2)を150℃の温度(反応温度)のまま、350rpmの回転速度で攪拌しながら30分間反応を行った。このとき、硝酸銀C2とエチレングリコールPA2とが反応することにより、窒素酸化物のガスが発生した。
以上の手順により、扁平加工を実施することなく、銀マイクロ粒子P2を得ることができた。また、得られた銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)は、図7に示すように、良好な分散性およびパッキング性を有していた。なお、得られた銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)の粒径は、銀粒子(反応温度150℃)とは異なる粒径となった。
続いて、第1段階において分散剤Dを使用しない場合について説明する。図8は、分散剤Dを使用せずに合成した銀粒子(比較例1)のSEM像の一例を示す図である。図8に示す銀粒子は、次の手順によって合成された。
即ち、まず、硝酸銀(銀化合物C1)を1g、50gのエチレングリコール(多価アルコールPA1)中に溶解させた。次いで、エチレングリコールPA1を150℃(反応温度)まで昇温させた後、反応温度150℃を保ちつつ500rpmの回転速度で攪拌しながら1時間反応を行った。このとき、硝酸銀C1とエチレングリコールPA1とが反応することにより、窒素酸化物のガスが発生した。
以上の手順により、図8に示す銀粒子が得られた。しかし、分散剤Dを使用していなため、銀粒子同士が凝集して、大きな塊となった。このように凝集した銀粒子は、ペーストの材料として好ましくない。また、凝集した銀粒子は、大きな凹凸を有し、多面体の形状とならない。したがって、パッキング性を向上させることができない。
続いて、分散剤Dを減少させる工程を経ることなく、銀粒子を合成する場合について説明する。図9(a)は、分散剤Dを減少させる工程を経ることなく合成した銀粒子(比較例2)のSEM像の一例を示す図であり、図9(b)は図9(a)の一部を拡大して示している。図9(a)および図9(b)に示す銀粒子は、次の手順によって合成された。
即ち、まず、25gのエチレングリコール(多価アルコールPA1a)中にポリビニルピロリドン(分散剤D)を0.5g分散させる一方で、25gのエチレングリコール(多価アルコールPA1b)中に硝酸銀(銀化合物C1)を1.0g溶解させ、エチレングリコールPA1a、PA1bを混合した。次いで、混合後のエチレングリコール(多価アルコールPA1)を150℃(反応温度)まで昇温させた後、反応温度150℃を保ちつつ500rpmの回転速度で攪拌しながら20分間反応を行った。このとき、硝酸銀C1とエチレングリコールPA1とが反応することにより、窒素酸化物のガスが発生した。その一方で、50gのエチレングリコール(多価アルコールPA2b)中に硝酸銀(銀化合物C2)を2g溶解させた。
次いで、エチレングリコールPA1の温度を150℃に保ちつつ、500rpmの回転速度で攪拌しながら、エチレングリコールPA1に対し、エチレングリコールPA2bを30分間かけて滴下して、エチレングリコールPA1、PA2bを混合した。
次いで、混合後のエチレングリコール(多価アルコールPA2)を150℃の温度(反応温度)のまま、500rpmの回転速度で攪拌しながら2時間30分反応を行った。このとき、硝酸銀C2とエチレングリコールPA2とが反応することにより、窒素酸化物のガスが発生した。
以上の手順により、図9(a)および図9(b)に示す銀粒子が得られた。しかし、分散剤Dを減少させていないため、分散剤Dを減少させる場合と比べて微細な銀粒子が合成された。したがって、分散剤Dを減少させる場合と比べてパッキング性を向上させることができなかった。
続いて、本実施形態にかかる導電性ペーストの製造方法および導電性ペーストについて説明する。本実施形態にかかる導電性ペーストの製造方法は、上述した銀粒子の合成方法に続いて、合成された銀粒子と、アルコールとを混合する工程を更に含む。したがって、本実施形態にかかる導電性ペーストは、多面体形状の銀マイクロ粒子P2と、アルコールとを含む。より好ましくは、導電性ペーストは、多面体形状の銀マイクロ粒子P2と、銀ナノ粒子P3と、アルコールとを含む。例えば、多価アルコールPA2中で合成した銀粒子P2、P3を、多価アルコールPA2から分離し、分離後の銀粒子P2、P3を水又はエタノールを用いて3回又は4回洗浄する。そして、洗浄後の銀粒子P2、P3をアルコール(例えば、エタノール)に分散させる。これらの手順を経ることにより、導電性ペーストを生成することができる。本実施形態にかかる導電性ペーストは、配線材料や接合材料として使用できる。
導電性ペーストに含まれる銀粒子とアルコールとの割合は、重量部で例えば銀粒子:アルコールが4:1〜16:1、好ましくは6:1〜12:1、より好ましくは8:1〜10:1である。
アルコールは、低級アルコール又は、低級アルコキシ、アミノおよびハロゲンからなる群から選択される1以上の置換基を有する低級アルコールであることが好ましい。低級アルコールとしては、例えば、炭素原子1〜6個を有するアルキル基と、水酸基1〜3個、好ましくは1〜2個とを含むものが挙げられる。低級アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、i−ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、i−ペンチル基、sec−ペンチル基、t−ペンチル基、2−メチルブチル基、n−ヘキシル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、4−メチルペンチル基、1−エチルブチル基、2−エチルブチル基、1,1−ジメチルブチル基、2,2−ジメチルブチル基、3,3−ジメチルブチル基、および1−エチル−1−メチルプロピル基のような直鎖状又は分岐状のアルキル基が挙げられる。炭素原子1〜6個を有するアルキル基と水酸基1〜3個とを有する低級アルコールとしては、メタノール、エタノール、エチレングリコール、n−プロパノール、i−プロパノール、トリエチレングリコール、n−ブタノール、i−ブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール、n−ペンタノール、i−ペンタノール、sec−ペンタノール、t−ペンタノール、2−メチルブタノール、n−ヘキサノール、1−メチルペンタノール、2−メチルペンタノール、3−メチルペンタノール、4−メチルペンタノール、1−エチルブタノール、2−エチルブタノール、1,1−ジメチルブタノール、2,2−ジメチルブタノール、3,3−ジメチルブタノール、および1−エチル−1−メチルプロパノール等が挙げられる。
低級アルコキシ、アミノおよびハロゲンからなる群から選択される1以上の置換基を有する低級アルコールにおいて、置換基については以下のとおりである。低級アルコキシとしては、低級アルキル基に−O−が置換された基が挙げられる。低級アルコキシとしては、メトキシ、エトキシ、n−プロポキシ、i−プロポキシ、n−ブトキシ、i−ブトキシ、sec−ブトキシ、t−ブトキシ、n−ペンチルオキシ等が挙げられる。ハロゲンとしては、フッ素、臭素、塩素およびヨウ素が挙げられる。
低級アルコキシ、アミノおよびハロゲンからなる群から選択される1以上の置換基を有する低級アルコールとしては、メトキシメタノール、2−メトキシエタノール、2−エトキシエタノール、2−クロロエタノール、エタノールアミン等が挙げられる。
続いて、本実施形態にかかる導電性ペーストを接合材料として使用した場合に得られる剪断強度の一例について、図10〜図12、図13(a)および図13(b)を参照して説明する。詳しくは、第1剪断強度試験〜第5剪断強度試験によって測定された各剪断強度について説明する。第1剪断強度試験では、図10に示す第1接合試料1が使用された。図10は、本実施形態にかかる第1接合試料1を示す模式図である。図10に示すように、第1接合試料1は、銀メッキされた銅基板2と、銀メッキされた銅基板3と、導電性ペースト4とを含む。導電性ペースト4は、銅基板2と銅基板3とを接合する。導電性ペースト4の作製には、図7に示す銀粒子P2、P3と同様の手順(処理)を経て合成された銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)が使用された。
具体的には、第1段階〜第3段階を経て、銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)をエチレングリコールPA2中で合成した後、金属メッシュを用いて該銀粒子P2、P3をエチレングリコールPA2から分離した。次いで、分離後の銀粒子P2、P3をエタノールで洗浄した。次いで、洗浄後の銀粒子P2、P3をエチレングリコール中に分散させて導電性ペースト4を作製した。そして、銅基板2上に導電性ペースト4を0.1μmのマスクを用いて印刷した後、印刷された導電性ペースト4上に銅基板3を載置した。次いで、大気雰囲気の下、銅基板2および銅基板3を200℃の温度で60分間加熱して導電性ペースト4を焼成(焼結)し、銅基板2と銅基板3とを接合した。
この後、接合した銅基板2、3に対して剪断力を加えて、剪断強度を測定した。その結果、30MPa以上の剪断強度が得られた。図11は、剪断強度測定後の銅基板2を、導電性ペースト4を塗布した側から撮影した像を示す図であり、図12は、図11に示すA部を拡大した図である。詳しくは、A部は、銅基板3が接合していない部分である。図13(a)は、図11に示すB部を拡大した図である。詳しくは、B部は、銅基板3が接合した部分である。また、図13(b)は図13(a)の一部を拡大して示している。図12、図13(a)および図13(b)に示すように、導電性ペースト4のパッキング性は良好であり、導電性ペースト4に含まれる銀粒子は焼成することによって緻密な膜状となった。このように銀粒子が緻密な膜状となることにより、30MPa以上の剪断強度を達成できたものと考えられる。
続いて、第2剪断強度試験〜第5剪断強度試験によって測定された各剪断強度について説明する。第2剪断強度試験〜第5剪断強度試験では、第1剪断強度試験と同様に第1接合試料1を使用した。第2剪断強度試験〜第5剪断強度試験は、導電性ペースト4に使用する銀粒子が第1剪断強度試験と異なる。詳しくは、第2剪断強度試験では銀粒子(反応温度130℃)が使用され、第3剪断強度試験では銀粒子(反応温度150℃)が使用され、第4剪断強度試験では銀粒子(反応温度200℃)が使用され、第5剪断強度試験では銀核粒子(反応温度150℃)が使用された。なお、第5剪断強度試験では、図1に示す銀核粒子P1と同様の手順(処理)を経て、銀核粒子P1をエチレングリコールPA1中で合成した後、金属メッシュを用いて該銀核粒子P1をエチレングリコールPA1から分離した。次いで、分離後の銀核粒子P1をエタノールで洗浄した。次いで、洗浄後の銀核粒子P1をエチレングリコール中に分散させて導電性ペースト4を作製した。以降、第1剪断強度試験と同様の手順により、銅基板2と銅基板3とを接合した。
第2剪断強度試験の結果、銀粒子(反応温度130℃)を使用した場合、剪断強度は40MPa以上となった。第3剪断強度試験の結果、銀粒子(反応温度150℃)を使用した場合、剪断強度は25MPa以上となった。第4剪断強度試験の結果、銀粒子(反応温度200℃)を使用した場合、剪断強度は30MPa以上となった。一方、第5剪断強度試験の結果、銀核粒子(反応温度150℃)を使用した場合、剪断強度は5MPa以上11MPa以下となった。したがって、銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3を含む導電性ペースト4を使用することにより、25MPa以上の剪断強度を達成できた。特に、銀粒子(反応温度130℃)又は銀粒子(反応温度200℃)を使用することにより、30MPa以上の剪断強度が得られた。
続いて図14〜図17を参照して、接合材料として使用されている導電性ペースト4の断面について説明する。図14は、第2接合試料5を示す模式図である。第2接合試料5は、導電性ペースト4と、銅基板6と、銅ダミーチップ7とを含む。銅基板6は、その一方の主面がチタン/銀層6aによって覆われている。具体的には、銅基板6の一方の主面上に、チタン層および銀層がこの順で積層されている。同様に、銅ダミーチップ7は、その一方の主面がチタン/銀層7aによって覆われている。具体的には、銅ダミーチップ7の一方の主面上に、チタン層および銀層がこの順で積層されている。銅基板6と銅ダミーチップ7とは、チタン/銀層6aとチタン/銀層7aとが対向した状態で、導電性ペースト4によって接合される。
具体的には、第1段階〜第3段階を経て、銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)をエチレングリコールPA2中で合成した後、金属メッシュを用いて該銀粒子P2、P3をエチレングリコールPA2から分離した。次いで、分離後の銀粒子P2、P3をエタノールで洗浄した。次いで、洗浄後の銀粒子P2、P3をエチレングリコール中に分散させて導電性ペースト4を作製した。そして、銅基板6(チタン/銀層6a)上に導電性ペースト4を0.1μmのマスクを用いて印刷した後、印刷された導電性ペースト4上に、銅ダミーチップ7(チタン/銀層7a)を載置した。次いで、大気雰囲気の下、銅基板6および銅ダミーチップ7を250℃の温度で30分間加熱して導電性ペースト4を焼成(焼結)し、銅基板6と銅ダミーチップ7とを接合した。
図15〜図17はそれぞれ、第2接合試料5において接合材料として使用されている導電性ペースト4の断面のSEM像の一例を示す図である。詳しくは、図15は、銀粒子(反応温度130℃)を使用して作製された導電性ペースト4の断面を示し、図16は、銀粒子(反応温度150℃)を使用して作製された導電性ペースト4の断面を示し、図17は、銀粒子(反応温度200℃)を使用して作製された導電性ペースト4の断面を示す。図15〜図17に示すように、銀粒子(反応温度150℃)を使用した場合、銀粒子(反応温度130℃)または銀粒子(反応温度200℃)を使用した場合に比べて、隙間が多くなった。つまり、充填密度が低くなった。このように充填密度が低くなったことに起因して、銀粒子(反応温度130℃)又は銀粒子(反応温度200℃)を使用した場合に比べて、銀粒子(反応温度150℃)を使用した場合に剪断強度が低下したものと考えられる。なお、充填密度が低くなるのは、図4〜図6を参照して説明したように、第3段階の反応温度に130℃又は200℃を使用した場合に比べて、第3段階の反応温度に150℃を使用した場合に、銀マイクロ粒子P2の平均粒径(散乱強度のピーク値)と銀ナノ粒子P3の平均粒径(散乱強度のピーク値)との乖離の程度が大きくなったためであると考えられる。
続いて図18を参照して、第2接合試料5を高温環境下で放置した場合に発生する剪断強度の変化について説明する。図18は、第2接合試料5の剪断強度の変化を示すグラフである。具体的には、図18は、銅基板6および銅ダミーチップ7を250℃の温度で30分間加熱して導電性ペースト4を焼成(焼結)した後、250℃の雰囲気下で第2接合試料5を放置した場合に発生する第2接合試料5の剪断強度の変化を示す。
図18において縦軸は剪断強度(MPa)を示し、横軸は時間(hour)を示す。また、図18において、折れ線L1は、銀粒子(反応温度130℃)を使用して作製された導電性ペースト4を接合材料とする第2接合試料5の剪断強度の変化を示し、折れ線L2は、銀粒子(反応温度200℃)を使用して作製された導電性ペースト4を接合材料とする第2接合試料5の剪断強度の変化を示す。
図18に示すように、銀粒子(反応温度130℃)を使用した場合、導電性ペースト4の焼成直後の剪断強度は、50MPa以上となった。また、銀粒子(反応温度130℃)を使用した場合、時間の経過に伴い剪断強度が低下して、導電性ペースト4の焼成から500時間経過後の剪断強度は40MPa以上45MPa以下となった。一方、銀粒子(反応温度200℃)を使用した場合、導電性ペースト4の焼成直後の剪断強度は、45MPa以上50MPa以下となった。また、銀粒子(反応温度200℃)を使用した場合、時間の経過に伴い剪断強度が増加して、導電性ペースト4の焼成から500時間経過後の剪断強度は55MPa以上60MPa以下となった。したがって、銀粒子(反応温度130℃)又は銀粒子(反応温度200℃)を使用することにより、焼成した導電性ペースト4を高温環境下で放置しても、40MPa以上の剪断強度が得られた。
本実施形態によれば、パッキング性が向上した銀粒子を得ることができ、その銀粒子を用いて導電性ペーストを製造することにより、接合強度の向上を図ることができる。また、このことから、本実施形態に係る導電性ペーストを配線材料として使用した場合、接合強度が高い配線を形成することができる。
続いて、本実施形態にかかる導電性ペースト4を熱分析した結果について、図19を参照して説明する。詳しくは、導電性ペースト4を加熱して、その重量の変化を測定した。本実施形態では、3種類の導電性ペースト4に対して熱分析を行った。3種類の導電性ペースト4は、第3段階で使用する反応温度が異なる。具体的には、第3段階で反応温度130℃を使用して作製した第1導電性ペースト4a、第3段階で反応温度150℃を使用して作製した第2導電性ペースト4b、および第3段階で反応温度200℃を使用して作製した第3導電性ペースト4cに対して熱分析を行った。
図19は、第1導電性ペースト4a〜第3導電性ペースト4cの重量の減少量の変化を示している。図19において、縦軸は第1導電性ペースト4a〜第3導電性ペースト4cの重量の減少量を示し、横軸は第1導電性ペースト4a〜第3導電性ペースト4cの焼成温度を示している。また、図19において、曲線L3は第1導電性ペースト4aの重量の減少量の変化を示し、曲線L4は第2導電性ペースト4bの重量の減少量の変化を示し、曲線L5は第3導電性ペースト4cの重量の減少量の変化を示している。
図19に示すように、第1導電性ペースト4a〜第3導電性ペースト4cはいずれも100℃前後で、重量が約2.9%〜3.8%程度低下した。第1導電性ペースト4a〜第3導電性ペースト4cの重量の減少は、加熱によって有機物が揮発したことによるものと考えられる。揮発する有機物は、エチレングリコールおよびエタノールである。また、銀粒子にポリビニルピロリドンが残っている場合には、ポリビニルピロリドンも揮発する。
一方、100℃〜200℃間では、重量の減少量は、第1導電性ペースト4a〜第3導電性ペースト4cのいずれにおいてもわずかであった。これは、残留している有機物の量がわずかであることを示している。したがって、本実施形態によれば、低い温度(150℃程度)で導電性ペースト4を焼成した場合でも、導電性ペースト4に含まれる有機物の量を減らすことができる。そして、有機物の量が減ることにより、銀粒子が緻密な膜状となる。
続いて、本実施形態にかかる導電性ペースト4を配線材料として使用した場合に得られる体積抵抗値(電気抵抗値)の一例について、図20を参照して説明する。詳しくは、ガラス基板上に形成した導電性ペースト4からなる配線の体積抵抗値を測定した結果について説明する。導電性ペースト4の作製には、図7に示す銀粒子P2、P3と同様の手順(処理)を経て合成される銀粒子(銀マイクロ粒子P2および銀ナノ粒子P3)が使用された。
図20は、3種類の配線の体積抵抗値を示している。3種類の配線は、焼成温度として150℃、180℃、200℃をそれぞれ使用して導電性ペースト4を焼成することにより形成した。図20において、縦軸は体積抵抗値を示し、横軸は焼成温度を示している。
図20に示すように、150℃程度の低い温度で焼成した場合でも、十分に低い抵抗値(10-5Ω・cmオーダーの体積抵抗値)を達成することができた。これは、導電性ペースト4に含まれる銀粒子が良好なパッキング性を有していることを示している。また、焼成温度が高くなるほど体積抵抗値が低くなった。特に、焼成温度が200℃の場合、10-6Ω・cmオーダーの体積抵抗値を達成することができた。
続いて図21を参照して、上述した第1導電性ペースト4a〜第3導電性ペースト4cの各々を配線材料として使用した場合に得られる体積抵抗値(電気抵抗値)の一例について説明する。詳しくは、ガラス基板上に形成した第1導電性ペースト4aからなる配線の体積抵抗値を測定した結果、ガラス基板上に形成した第2導電性ペースト4bからなる配線の体積抵抗値を測定した結果、および、ガラス基板上に形成した第3導電性ペースト4cからなる配線の体積抵抗値を測定した結果について説明する。
図21において、丸印は、第1導電性ペースト4aを配線材料とする3種類の配線の体積抵抗値を示している。3種類の配線は、焼成温度として150℃、180℃、200℃をそれぞれ使用して第1導電性ペースト4aを焼成することにより形成した。同様に、四角印は、焼成温度として150℃、180℃、200℃をそれぞれ使用して第2導電性ペースト4bを焼成することにより形成した3種類の配線の体積抵抗値を示し、三角印は、焼成温度として150℃、180℃、200℃をそれぞれ使用して第3導電性ペースト4cを焼成することにより形成した3種類の配線の体積抵抗値を示す。また、図21において、縦軸は体積抵抗値を示し、横軸は焼成温度を示す。
図21に示すように、150℃程度の低い温度で焼成した場合でも、十分に低い抵抗値(10-5Ω・cmオーダーの体積抵抗値)を達成することができた。また、焼成温度が高くなるほど体積抵抗値が低くなった。特に、焼成温度が200℃の場合、10-6Ω・cmオーダーの体積抵抗値を達成することができた。
なお、焼成温度として150℃を使用した場合、第2導電性ペースト4b(四角印)の体積抵抗値のバラツキが、第1導電性ペースト4a(丸印)および第3導電性ペースト4c(三角印)に比べて大きくなった。同様に、焼成温度として180℃を使用した場合も、第2導電性ペースト4b(四角印)の体積抵抗値のバラツキが、第1導電性ペースト4a(丸印)および第3導電性ペースト4c(三角印)に比べて大きくなった。これは、図4〜図6を参照して説明したように、第3段階の反応温度に150℃を使用した場合、銀マイクロ粒子P2の粒径範囲(バラツキ)と銀ナノ粒子P3の粒径範囲(バラツキ)とがいずれも、第3段階の反応温度に130℃又は200℃を使用した場合に比べて大きくなったためであると考えられる。
以上のように、本実施形態によれば、パッキング性が向上した銀粒子を得ることができ、その銀粒子を用いて導電性ペーストを製造することにより、低い温度(150℃程度)で焼成した場合でも、十分に低い抵抗値(10-5Ω・cmオーダーの体積抵抗値)を達成することができる。また、このことから、本実施形態に係る導電性ペーストを接合材料として使用することにより、接合する部材間の抵抗値を十分に低くすることが可能となる。
なお、本実施形態では、銀核粒子P1を合成する方法として、ポリオール法を用いる場合について説明したが、銀核粒子P1を合成する方法はポリオール法に限定されるものではなく、ナノメートルオーダーの平均粒径(メジアン径)を有する銀核粒子P1を合成することができる限り、銀化合物C1、分散剤D、および還元剤R1の種類は特に限定されない。例えば、銀核粒子P1は水熱合成法等によって合成されてもよい。水熱合成法を用いる場合、銀の金属塩(銀化合物)に対する還元剤としてポリビニルピロリドン(PVP)を使用することができるが、この場合、ポリビニルピロリドンは、還元剤として作用する一方で、分散剤としても作用する。
本発明によれば、銀粒子のパッキング性を向上させることができ、耐熱性の低い部品に形成する配線や、耐熱性の低い部品の接合に有用である。
1 第1接合試料
2、3、6 銅基板
4 導電性ペースト
5 第2接合試料
7 銅ダミーチップ

Claims (8)

  1. 分散剤で被覆された第1銀粒子から前記分散剤を減少させて、100ナノメートル以上500ナノメートル以下の平均粒径を有する第2銀粒子を得る工程と、
    前記第2銀粒子を含む液相下で第1銀化合物と第1還元剤とを反応させて、第1粒径分布を有する多面体形状の第3銀粒子を合成するとともに、前記第1粒径分布とは異なる第2粒径分布を有する第4銀粒子を合成する工程と
    を含み、
    前記第1粒径分布は、1マイクロメートル以上15マイクロメートル以下の範囲に平均粒径を有し、
    前記第2粒径分布は、100ナノメートル以上1マイクロメートル未満の範囲に平均粒径を有する、銀粒子の合成方法。
  2. 前記第1還元剤が第1多価アルコールである、請求項1に記載の銀粒子の合成方法。
  3. 前記第3銀粒子を合成する工程において、前記第1多価アルコール中に前記第1銀化合物を溶解させ、かつ前記第2銀粒子を分散させ、前記第1多価アルコールを加熱して前記第3銀粒子を合成する、請求項に記載の銀粒子の合成方法。
  4. 前記第3銀粒子を合成する工程において、前記第1銀化合物を溶解させた第2多価アルコールを、前記第2銀粒子を分散させた第3多価アルコールに滴下させ、前記第2多価アルコールと前記第3多価アルコールとを含む前記第1多価アルコールを加熱して前記第3銀粒子を合成する、請求項に記載の銀粒子の合成方法。
  5. 前記第2多価アルコールの滴下時から前記第3多価アルコールを加熱する、請求項に記載の銀粒子の合成方法。
  6. 前記分散剤を含む液相下で第2銀化合物と第2還元剤とを反応させて、前記分散剤で被覆された前記第1銀粒子を合成する工程を更に含む、請求項1〜のいずれか1項に記載の銀粒子の合成方法。
  7. 前記第2還元剤が、第4多価アルコールであり、
    前記第1銀粒子を合成する工程において、前記第4多価アルコール中に前記第2銀化合物を溶解させ、かつ前記分散剤を分散させ、前記第4多価アルコールを加熱して前記第1銀粒子を合成する、請求項に記載の銀粒子の合成方法。
  8. 分散剤で被覆された第1銀粒子から前記分散剤を減少させて、100ナノメートル以上500ナノメートル以下の平均粒径を有する第2銀粒子を得る工程と、
    前記第2銀粒子を含む液相下で銀化合物と還元剤とを反応させて、第1粒径分布を有する多面体形状の第3銀粒子を合成するとともに、前記第1粒径分布とは異なる第2粒径分布を有する第4銀粒子を合成する工程と、
    前記第3銀粒子と前記第4銀粒子とアルコールとを混合して、導電性ペーストを生成する工程と
    を含み、
    前記第1粒径分布は、1マイクロメートル以上15マイクロメートル以下の範囲に平均粒径を有し、
    前記第2粒径分布は、100ナノメートル以上1マイクロメートル未満の範囲に平均粒径を有する、導電性ペーストの製造方法。
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