JP6121581B2 - マイクロリソグラフィのための投影露光装置に使用するファセットミラー - Google Patents
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Description
21 個別ミラー
x,y 傾斜軸
Claims (14)
- マイクロリソグラフィのための投影露光装置(1)のための照明光学系(4)であって、
マイクロリソグラフィのための投影露光装置(1)の光学構成要素として使用するための少なくとも一つのファセットミラーを備え、
前記少なくとも一つのファセットミラーは、複数の個別ミラー(21;69)を備え、
前記複数の個別ミラーは、入射照射光(10)の個々の偏向のために、個別作動によって少なくとも1つの傾斜軸(x,y)の回りに傾斜可能である方法で少なくとも1つのアクチュエータ(24)に接続され、
前記少なくとも一つのファセットミラーは、少なくとも2つの個別ミラーの個別ミラー群(19;31;32、33;34から37;38から45;46;48;50;60;61)への前記個別ミラー(21;69)の所定のグループ分けを設定するように構成され、前記アクチュエータ(24)に接続した制御デバイス(28)を更に備え、
前記制御デバイス(28)は、1つの個別ミラー群の個々の個別ミラーの動作が、前記個別ミラー群の残りの個別ミラーの動作と個々に異なるように構成され、
前記個別ミラー群は、個別ファセットを形成し、
前記個別ミラー群(74,75)が、物体視野(5)内で隣接する物体視野部分(73;76)を照射し、かつ組み合わされて該物体視野全体を形成する個別ミラー照射チャンネルに割り当てられ、
前記ファセットミラー(13,14;47;64;67,70)は、前記照明光学系(4)の視野面に配置されることを特徴とする照明光学系(4)。 - 前記個別ミラー群は、前記投影露光装置(1)において照射される物体視野(5)の視野形状に対応するファセット形状を有する個別ファセット(19;31;32、33;34から37;38から45;46;50)を形成することを特徴とする請求項1に記載の照明光学系(4)。
- 前記個別ミラー群は、前記投影露光装置(1)において照射される物体視野(5)の視野形状に対応するファセット形状を有する個別ファセット(19;31;32、33;34から37;38から45;46;50)を形成し、
前記個別ミラー群のサイズ及び形状に応じて、照射される物体視野の対応するサイズ及び形状が取得可能であることを特徴とする請求項1に記載の照明光学系(4)。 - 前記個別ミラー群(19;31;32、33;34から37;38から45;46)は、矩形エンベロープを有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の照明光学系(4)。
- 前記個別ミラー群(48;49;50)は、弓形、環状、又は円形のエンベロープ(51)を有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の照明光学系(4)。
- 前記個別ミラー群は、前記投影露光装置(1)において照射される物体視野(5)内の照射角度分布に対応する配列を有するミラー領域(48;49;60;61)を形成することを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の照明光学系(4)。
- 前記個別ミラー(21)は、多角形であり、かつタイル張りの方式で個別ファセット又はミラー領域を網羅することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の照明光学系(4)。
- 前記物体視野の照明の均一性が、個々の個別ミラーの動作によって、前記物体視野にわたる前記照明の強度に関して補正されることを可能にすることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の照明光学系(4)。
- 前記物体視野の照明の均一性が、個々の個別ミラーの動作によって、特定の視野依存の照射の強度分布を調節することに関して補正されることを可能にすることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の照明光学系(4)。
- 照射される視野の大きさ若しくは視野の形状に依存して、瞳平面の照射の強度分布を設定することができるように、個別ミラーが、個々に作動されることを可能にすることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の照明光学系(4)。
- 請求項1から10のいずれか1項に記載の照明光学系(4)と、
照射及び結像光(10)を発生させるための放射線源(3)と、
投影露光装置の物体視野(5)を像視野(8)内に結像するための投影光学系(7)と、
を含むことを特徴とする投影露光装置。 - ファセットミラーが、前記放射線源(3)と前記物体視野(5)の間の前記照射光(10)のビーム経路に配置された鏡面反射器(64;70)であることを特徴とする請求項11に記載の投影露光装置。
- 投影露光中に、パターンが投影されるウェーハを保持するためのウェーハホルダが、投影される該パターンを備えるレチクルを保持するためのレチクルホルダと同期して変位される走査方向(yscan)が、物体視野(5)及び投影露光装置(1)の像視野(8)の長視野軸(x)に対する法線(y)に対して角度(α)で延びることを特徴とする請求項11又は請求項12に記載の投影露光装置。
- マイクロ構造化又はナノ構造化構成要素を製造する方法であって、
少なくとも一部に対して感光材料の層が付加されたウェーハを準備する段階と、
結像される構造を含むレチクルを準備する段階と、
請求項11から請求項13のいずれか1項に記載の投影露光装置(1)を準備する段階と、
前記投影露光装置(1)の投影光学系(7)を用いて、前記レチクルの少なくとも一部を前記層のある一定の領域上に投影する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
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DE102009045135A1 (de) * | 2009-09-30 | 2011-03-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Mikrolithographie |
DE102009045694B4 (de) | 2009-10-14 | 2012-03-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Mikrolithographie sowie Beleuchtungssystem und Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen Beleuchtungsoptik |
DE102009054540B4 (de) * | 2009-12-11 | 2011-11-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Mikrolithographie |
DE102009054888A1 (de) * | 2009-12-17 | 2011-06-22 | Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 | Optisches Element mit einer Mehrzahl von refletiven Facettenelementen |
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DE102010001388A1 (de) * | 2010-01-29 | 2011-08-04 | Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 | Facettenspiegel zum Einsatz in der Mikrolithografie |
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DE102011004615A1 (de) * | 2010-03-17 | 2011-09-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
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DE102011085132A1 (de) | 2010-11-24 | 2012-05-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe für die Projektionslithografie |
DE102010062720B4 (de) | 2010-12-09 | 2012-07-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Lithographiesystem |
DE102011003928B4 (de) * | 2011-02-10 | 2012-10-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
DE102011004326A1 (de) | 2011-02-17 | 2012-08-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe für eine Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
DE102011005840A1 (de) | 2011-03-21 | 2012-09-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Steuerbare Mehrfachspiegelanordnung, optisches System mit einer steuerbaren Mehrfachspiegelanordnung sowie Verfahren zum Betreiben einer steuerbaren Mehrfachspiegelanordnung |
JP6093753B2 (ja) * | 2011-03-23 | 2017-03-08 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euvミラー機構、euvミラー機構を備えた光学系、及びeuvミラー機構を備えた光学系を操作する方法 |
DE102011077234A1 (de) | 2011-06-08 | 2012-12-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Spiegelanordnung, optisches System mit EUV-Spiegelanordnung und Verfahren zum Betreiben eines optischen Systems mit EUV-Spiegelanordnung |
DE102011005940A1 (de) | 2011-03-23 | 2012-09-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Spiegelanordnung, optisches System mit EUV-Spiegelanordnung und Verfahren zum Betreiben eines optischen Systems mit EUV-Spiegelanordnung |
DE102011006100A1 (de) * | 2011-03-25 | 2012-09-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel-Array |
WO2012139649A1 (en) * | 2011-04-14 | 2012-10-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facet mirror device |
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DE102011078928A1 (de) | 2011-07-11 | 2013-01-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102011080052A1 (de) | 2011-07-28 | 2013-01-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel, optisches System mit Spiegel und Verfahren zur Herstellung eines Spiegels |
DE102011082065A1 (de) | 2011-09-02 | 2012-09-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel-Array |
DE102011086513A1 (de) | 2011-11-16 | 2013-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsverfahren und Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
JP6168614B2 (ja) | 2011-12-28 | 2017-07-26 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのためのマスク及び走査投影露光方法 |
DE102012201235B4 (de) | 2012-01-30 | 2013-08-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Einstellen einer Beleuchtungsgeometrie für eine Be-leuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithographie |
DE102012202536A1 (de) | 2012-02-20 | 2013-08-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsverfahren und Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
KR102291997B1 (ko) | 2012-03-09 | 2021-08-23 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | Euv 투영 리소그래피용 조명 옵틱스 및 이러한 조명 옵틱스를 갖는 광학 시스템 |
DE102012203716A1 (de) | 2012-03-09 | 2013-09-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie sowie optisches System mit einer derartigen Beleuchtungsoptik |
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DE102012204273B4 (de) | 2012-03-19 | 2015-08-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie |
DE102012204833A1 (de) | 2012-03-27 | 2013-02-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Glatte euv-spiegel und verfahren zu ihrer herstellung |
DE102012206612A1 (de) | 2012-04-23 | 2013-10-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement zur Führung eines Strahlungsbündels |
DE102012206609B4 (de) | 2012-04-23 | 2023-08-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Strahlführungsoptik für ein Vielstrahlsystem sowie Verfahren |
DE102012207511A1 (de) | 2012-05-07 | 2013-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel |
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DE102012213515A1 (de) | 2012-08-01 | 2014-02-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Betreiben einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102012213937A1 (de) | 2012-08-07 | 2013-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel-Austauscharray |
DE102012219936A1 (de) | 2012-10-31 | 2014-04-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Lichtquelle zur Erzeugung eines Nutz-Ausgabestrahls für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102012220596A1 (de) | 2012-11-13 | 2014-05-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Zuordnen einer Pupillenfacette eines Pupillenfacettenspiegels einer Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage zu einer Feldfacette eines Feldfacettenspiegels der Beleuchtungsoptik |
DE102013202590A1 (de) | 2013-02-19 | 2014-09-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Lichtquelle zur Erzeugung eines Nutz-Ausgabestrahls für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102013204305A1 (de) | 2013-03-13 | 2014-09-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung zur Aktuierung wenigstens eines Elementes in einem optischen System |
WO2014139814A1 (en) | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Illumination optical unit for projection lithography |
WO2014139872A1 (en) | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Illumination optical unit for projection lithography |
DE102014204388A1 (de) | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
DE102013209442A1 (de) | 2013-05-22 | 2014-11-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
DE102013218748A1 (de) | 2013-09-18 | 2014-10-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
DE102013211268B4 (de) | 2013-06-17 | 2014-11-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtunsoptik für die lithografische Projektionsbelichtung |
DE102013212613B4 (de) * | 2013-06-28 | 2015-07-23 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Beleuchtungsoptik für ein Metrologiesystem sowie Metrologiesystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik |
DE102013213545A1 (de) * | 2013-07-10 | 2015-01-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102013217269A1 (de) * | 2013-08-29 | 2015-03-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikrospiegel-Array |
DE102013218131A1 (de) * | 2013-09-11 | 2015-03-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik sowie Beleuchtungssystem für die EUV-Projektionslithographie |
DE102013218130A1 (de) | 2013-09-11 | 2015-03-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie |
DE102013218749A1 (de) * | 2013-09-18 | 2015-03-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungssystem sowie Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie |
DE102013219057A1 (de) | 2013-09-23 | 2015-03-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102013219986A1 (de) | 2013-10-02 | 2015-04-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsverfahren und Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
DE102014220203A1 (de) | 2013-11-21 | 2015-05-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage |
EP2876499B1 (en) * | 2013-11-22 | 2017-05-24 | Carl Zeiss SMT GmbH | Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus |
DE102013224435A1 (de) | 2013-11-28 | 2015-05-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messanordnung zur Messung optischer Eigenschaften eines reflektiven optischen Elements, insbesondere für die Mikrolithographie |
DE102014201622A1 (de) | 2014-01-30 | 2015-08-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Herstellen eines Spiegelelements |
DE102014203189A1 (de) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel-Array |
DE102014203187A1 (de) * | 2014-02-21 | 2015-08-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102014206589A1 (de) | 2014-04-04 | 2015-10-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Justieren eines Spiegels einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014210609A1 (de) | 2014-06-04 | 2015-12-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches System, insbesondere für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage |
NL2015073A (en) | 2014-07-15 | 2016-04-12 | Asml Netherlands Bv | Lithography apparatus and method of manufacturing devices. |
DE102014215088A1 (de) | 2014-07-31 | 2016-02-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungseinrichtung für ein Projektionsbelichtungssystem |
DE102014222884A1 (de) | 2014-11-10 | 2016-05-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungseinrichtung für ein Projektionsbelichtungssystem |
DE102014216802A1 (de) * | 2014-08-25 | 2016-02-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektions-Lithographie |
DE102014217608A1 (de) | 2014-09-03 | 2014-11-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Zuordnen einer zweiten Facette eines im Strahlengang zweiten facettierten Elements einer Beleuchtungsoptik |
DE102014217610A1 (de) * | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102014217611A1 (de) * | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102014217612A1 (de) | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungoptik für die Projektonslithograpfie |
DE102014221173A1 (de) | 2014-10-17 | 2016-04-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Strahlungsquellenmodul |
DE102014221175A1 (de) * | 2014-10-17 | 2016-04-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für ein Projektionsbelichtungssystem |
DE102014223326B4 (de) | 2014-11-14 | 2018-08-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Vorhersage mindestens eines Beleuchtungsparameters zur Bewertung eines Beleuchtungssettings und Verfahren zur Optimierung eines Beleuchtungssettings |
WO2016078818A1 (en) | 2014-11-18 | 2016-05-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optical subsystem for projection lithography and illumination optical unit for projection lithography |
DE102014223453A1 (de) | 2014-11-18 | 2016-05-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithographie |
DE102014226272A1 (de) | 2014-12-17 | 2016-06-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel-Einrichtung |
DE102014226917A1 (de) | 2014-12-23 | 2015-12-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungssystem für die EUV-Projektionslithographie |
DE102014226921A1 (de) | 2014-12-23 | 2016-06-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Strahlungsquellenmodul |
DE102014226920A1 (de) | 2014-12-23 | 2016-06-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Komponente |
DE102014226918A1 (de) | 2014-12-23 | 2016-06-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Komponente |
TWI701517B (zh) | 2014-12-23 | 2020-08-11 | 德商卡爾蔡司Smt有限公司 | 光學構件 |
DE102015201870A1 (de) * | 2015-02-03 | 2016-08-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung zur Positionsmanipulation eines Elementes, insbesondere in einem optischen System |
DE102015202411A1 (de) | 2015-02-11 | 2016-08-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie |
DE102015208571A1 (de) | 2015-05-08 | 2016-11-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie |
CN107223217B (zh) | 2015-02-11 | 2020-06-02 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | Euv投射光刻的照明光学系统 |
DE102015203469A1 (de) | 2015-02-26 | 2015-04-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Erzeugung einer gekrümmten optischen Spiegelfläche |
DE102015208514A1 (de) | 2015-05-07 | 2016-11-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel für die EUV-Projektionslithografie sowie Beleuchtungsoptik mit einem derartigen Facettenspiegel |
DE102015209175A1 (de) | 2015-05-20 | 2016-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Pupillenfacettenspiegel |
DE102015212658A1 (de) | 2015-07-07 | 2017-01-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Lithographieanlage und verfahren zum betreiben einer lithographieanlage |
DE102015212878A1 (de) | 2015-07-09 | 2017-01-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Strahlführungsvorrichtung |
DE102015213275A1 (de) | 2015-07-15 | 2017-01-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelanordnung für eine Lithographiebelichtungsanlage und Spiegelanordnung umfassendes optisches System |
DE102015216438A1 (de) | 2015-08-27 | 2017-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Sensoranordnung für eine Lithographieanlage, Lithographieanlage und Verfahren zum Betreiben einer Lithographieanlage |
WO2017050360A1 (en) | 2015-09-23 | 2017-03-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method of operating a microlithographic projection apparatus and illuminations system of such an apparatus |
DE102016217555A1 (de) | 2015-12-04 | 2016-11-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system einer mikrolithographischen projektionsanlage sowie verfahren zum messen eines kippwinkels |
DE102015224598A1 (de) | 2015-12-08 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik |
DE102015224742B4 (de) | 2015-12-09 | 2020-06-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anlage und Verfahren zum Betreiben einer Anlage |
DE102015225510A1 (de) | 2015-12-16 | 2017-01-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelelement, insbesondere für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage |
US11099483B2 (en) | 2016-05-19 | 2021-08-24 | Nikon Corporation | Euv lithography system for dense line patterning |
DE102016212260A1 (de) | 2016-07-05 | 2017-06-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Messung einer Ausrichtung eines Moduls |
DE102016215300A1 (de) | 2016-08-17 | 2016-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik |
DE102016217426A1 (de) | 2016-09-13 | 2017-08-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Strahlteiler |
DE102016222033A1 (de) | 2016-11-10 | 2016-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Zuordnung von Feldfacetten zu Pupillenfacetten zur Schaffung von Beleuchtungslicht-Ausleuchtungskanälen in einem Be-leuchtungssystem in einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
JP2018091759A (ja) * | 2016-12-05 | 2018-06-14 | リコーエレメックス株式会社 | 光切断検査装置 |
DE102017200428B3 (de) | 2017-01-12 | 2018-06-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage sowie Verfahren zum Vermessen eines Abbildungsfehlers |
DE102017200663A1 (de) | 2017-01-17 | 2017-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Zuordnung von Ausgangs-Kippwinkeln von kippbaren Feldfacetten eines Feldfacettenspiegels für eine Projektionsbelich-tungsanlage für die Projektionslithografie |
DE102017200658A1 (de) | 2017-01-17 | 2017-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage |
WO2018141382A1 (de) | 2017-02-01 | 2018-08-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anlage und verfahren zum betreiben einer anlage |
DE102017202930A1 (de) | 2017-02-23 | 2017-04-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Regelung einer Beleuchtungsdosis einer Beleuchtung eines Objekt-feldes einer Projektionsbelichtungsanlage sowie Projektionsbelichtungsanlage zur Durchführung des Verfahrens |
US11537051B2 (en) | 2017-03-16 | 2022-12-27 | Nikon Corporation | Control apparatus and control method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method, data generating method and program |
US11934105B2 (en) | 2017-04-19 | 2024-03-19 | Nikon Corporation | Optical objective for operation in EUV spectral region |
US11054745B2 (en) | 2017-04-26 | 2021-07-06 | Nikon Corporation | Illumination system with flat 1D-patterned mask for use in EUV-exposure tool |
US11300884B2 (en) | 2017-05-11 | 2022-04-12 | Nikon Corporation | Illumination system with curved 1d-patterned mask for use in EUV-exposure tool |
WO2018208912A2 (en) * | 2017-05-11 | 2018-11-15 | Nikon Corporation | Illumination system with curved 1d-patterned mask for use in euv-exposure tool |
DE102017210162A1 (de) | 2017-06-19 | 2017-08-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithographie |
DE102017210686B4 (de) | 2017-06-26 | 2020-01-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Justieren eines Beleuchtungssystems für die Mikrolithographie |
EP3422102A1 (en) | 2017-06-26 | 2019-01-02 | ASML Netherlands B.V. | Methods and patterning devices and apparatuses for measuring focus performance of a lithographic apparatus, device manufacturing method |
DE102017212352A1 (de) | 2017-07-19 | 2018-07-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Reinigungsmodul und Verfahren zur in situ Reinigung einer Quellkammer einer EUV-Strahlungsquelle, Strahlungsquellenmodul und Beleuchtungssystem für eine Projektionsbelichtungsanlage sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102017215664A1 (de) | 2017-09-06 | 2019-03-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102017216703A1 (de) | 2017-09-21 | 2019-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Charakterisierung mindestens einer optischen Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102017217266A1 (de) * | 2017-09-28 | 2019-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Bestimmung von Eigenschaften einer EUV-Quelle |
DE102017219217B4 (de) | 2017-10-26 | 2021-03-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Masken für die Mikrolithographie, Verfahren zur Bestimmung von Kantenpositionen der Bilder der Strukturen einer derartigen Maske und System zur Durchführung eines derartigen Verfahrens |
DE102017220586A1 (de) | 2017-11-17 | 2019-05-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Pupillenfacettenspiegel, Beleuchtungsoptik und optisches System für eine Projek-tionsbelichtungsanlage |
DE102018200167A1 (de) | 2018-01-08 | 2019-07-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Pupillenfacettenspiegel, Beleuchtungsoptik und optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102018201457A1 (de) | 2018-01-31 | 2019-08-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
DE102018211077A1 (de) | 2018-07-05 | 2018-10-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Lithographieanlage und verfahren zum betreiben einer lithographieanlage |
DE102018212224A1 (de) | 2018-07-23 | 2020-01-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Rückkopplung von emittierter Strahlung in eine Laserquelle |
DE102018221128A1 (de) | 2018-12-06 | 2020-06-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Tauschen eines Spiegels in einer Projektionsbelichtungsanlage sowie Lagedaten-Messeinrichtung zum Durchführen des Verfahrens |
DE102019200193B3 (de) | 2019-01-09 | 2020-02-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102019217507A1 (de) | 2019-02-04 | 2020-08-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel und Verfahren zu dessen Herstellung |
DE102020116091A1 (de) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Abstimmbare beleuchtungsvorrichtung fürlithographiesysteme |
DE102020205123A1 (de) | 2020-04-23 | 2021-10-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facetten-Baugruppe für einen Facettenspiegel |
DE102020206876B4 (de) | 2020-06-03 | 2022-01-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Strahlungsquelle, Einsatz für eine EUV-Strahlungsquelle und Einsatz für einen Einsatz für eine EUV-Strahlungsquelle |
DE102020212351A1 (de) | 2020-09-30 | 2022-03-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikrospiegel-Array für eine beleuchtungsoptische Komponente einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102020213837A1 (de) | 2020-11-04 | 2021-08-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel-Vorrichtung |
CN116710847A (zh) | 2021-01-19 | 2023-09-05 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 设置投射曝光系统的方法、投射曝光方法以及用于微光刻的投射曝光系统 |
DE102021212394A1 (de) | 2021-11-03 | 2023-05-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches system, lithographieanlage und verfahren |
DE102021213827A1 (de) | 2021-12-06 | 2023-06-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Optimierung einer Pupillen-Blendenform zur Nachbildung von Beleuchtungs- und Abbildungseigenschaften eines optischen Produktionssystems bei der Beleuchtung und Abbildung eines Objekts mittels eines optischen Messsystems |
DE102021214366A1 (de) | 2021-12-15 | 2023-06-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Vermeidung einer Degradation einer optischen Nutzoberfläche eines Spiegelmoduls, Projektionssystem, Beleuchtungssystem sowie Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022213100A1 (de) | 2022-01-13 | 2023-07-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Aktuator-/sensor-vorrichtung, optikmodul und lithographieanlage |
DE102022204098A1 (de) | 2022-04-27 | 2023-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithografie |
DE102022204996A1 (de) | 2022-05-19 | 2023-11-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung eines Restgases mittels eines Restgasanalyseverfahrens in einem Vakuum einer Vakuumkammer |
DE102022207546B3 (de) | 2022-07-25 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel-Baugruppe, Beleuchtungsoptik, optisches System, Projektionsbelichtungsanlage, Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Bauteils sowie Bauteil |
DE102022209214A1 (de) | 2022-09-05 | 2024-03-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Einzelspiegel eines Pupillenfacettenspiegels und Pupillenfacettenspiegel für eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage |
WO2024056600A1 (en) | 2022-09-13 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method to adjust an illumination beam path within an illumination optics and illumination optics having an adjustment system |
DE102022209908A1 (de) | 2022-09-21 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel, Beleuchtungsoptik, Anordnung eines Facettenspiegels, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Herstellung eines nanostrukturierten Bauelements |
DE102023208870A1 (de) | 2022-09-23 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Betreiben einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023202360A1 (de) | 2023-03-15 | 2023-06-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe für eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102023203095A1 (de) | 2023-04-04 | 2023-05-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Vorgeben einer Soll-Verteilung einer Beleuchtungs-Intensität über eine Feldhöhe eines Feldes einer Projektionsbelichtungsanlage |
Family Cites Families (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3060357B2 (ja) * | 1994-06-22 | 2000-07-10 | キヤノン株式会社 | 走査型露光装置及び該走査型露光装置を用いてデバイスを製造する方法 |
JPH0881168A (ja) | 1994-09-14 | 1996-03-26 | Mitsubishi Denki Bill Techno Service Kk | 多速度型引戸に於ける異物挟み込み検出装置 |
US6438299B1 (en) | 1997-09-30 | 2002-08-20 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Assembly and method for furcating optical fibers |
JPH11150051A (ja) * | 1997-11-17 | 1999-06-02 | Nikon Corp | 露光方法及び装置 |
DE10138313A1 (de) | 2001-01-23 | 2002-07-25 | Zeiss Carl | Kollektor für Beleuchtugnssysteme mit einer Wellenlänge < 193 nm |
WO2002027405A2 (en) * | 2000-09-29 | 2002-04-04 | Carl Zeiss | Illumination system particularly for microlithography |
US6438199B1 (en) | 1998-05-05 | 2002-08-20 | Carl-Zeiss-Stiftung | Illumination system particularly for microlithography |
US6859515B2 (en) * | 1998-05-05 | 2005-02-22 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading | Illumination system, particularly for EUV lithography |
DE10053587A1 (de) * | 2000-10-27 | 2002-05-02 | Zeiss Carl | Beleuchtungssystem mit variabler Einstellung der Ausleuchtung |
US20050002090A1 (en) * | 1998-05-05 | 2005-01-06 | Carl Zeiss Smt Ag | EUV illumination system having a folding geometry |
US6195201B1 (en) * | 1999-01-27 | 2001-02-27 | Svg Lithography Systems, Inc. | Reflective fly's eye condenser for EUV lithography |
DE19931848A1 (de) * | 1999-07-09 | 2001-01-11 | Zeiss Carl Fa | Astigmatische Komponenten zur Reduzierung des Wabenaspektverhältnisses bei EUV-Beleuchtungssystemen |
WO2001009684A1 (de) * | 1999-07-30 | 2001-02-08 | Carl Zeiss | Steuerung der beleuchtungsverteilung in der austrittspupille eines euv-beleuchtungssystems |
JP4401060B2 (ja) * | 2001-06-01 | 2010-01-20 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リトグラフ装置、およびデバイス製造方法 |
EP1289273A1 (de) | 2001-08-28 | 2003-03-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Scanning-Kamera |
US7090362B2 (en) * | 2001-11-09 | 2006-08-15 | Carl Zeiss Smt Ag | Facet mirror having a number of mirror facets |
EP1442330A1 (en) * | 2001-11-09 | 2004-08-04 | Carl Zeiss SMT AG | Tilting mirror |
TWI253545B (en) * | 2001-11-30 | 2006-04-21 | Asml Netherlands Bv | Imaging apparatus |
DE50214375D1 (de) * | 2002-02-09 | 2010-05-27 | Zeiss Carl Smt Ag | Facettenspiegel mit mehreren spiegelfacetten |
DE10219514A1 (de) * | 2002-04-30 | 2003-11-13 | Zeiss Carl Smt Ag | Beleuchtungssystem, insbesondere für die EUV-Lithographie |
US6700644B2 (en) * | 2002-06-05 | 2004-03-02 | Euv Llc | Condenser for photolithography system |
KR100480620B1 (ko) | 2002-09-19 | 2005-03-31 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 미러 어레이를 구비한 노광 장치 및 이를 이용한노광 방법 |
DE10317667A1 (de) | 2003-04-17 | 2004-11-18 | Carl Zeiss Smt Ag | Optisches Element für ein Beleuchtungssystem |
EP1486824A1 (en) * | 2003-06-11 | 2004-12-15 | ASML Netherlands B.V. | A movable stage system for in a lithographic projection apparatus, lithographic projection apparatus and device manufacturing method |
WO2005026843A2 (en) * | 2003-09-12 | 2005-03-24 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system for a microlithography projection exposure installation |
US6977718B1 (en) * | 2004-03-02 | 2005-12-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Lithography method and system with adjustable reflector |
JP2006080109A (ja) * | 2004-09-07 | 2006-03-23 | Nikon Corp | 照明装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 |
US7136214B2 (en) * | 2004-11-12 | 2006-11-14 | Asml Holding N.V. | Active faceted mirror system for lithography |
EP1814147A4 (en) * | 2004-11-17 | 2010-06-02 | Nikon Corp | LIGHTING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD FOR MANUFACTURING MICRO DEVICE |
JP2006253487A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Nikon Corp | 照明装置、投影露光方法、投影露光装置、及びマイクロデバイスの製造方法 |
JP2006253486A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Nikon Corp | 照明装置、投影露光方法、投影露光装置、及びマイクロデバイスの製造方法 |
JP5061903B2 (ja) * | 2005-10-11 | 2012-10-31 | 株式会社ニコン | 多層膜反射鏡、多層膜反射鏡の製造方法、光学系、露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2007234717A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Nikon Corp | 露光装置 |
GB2438601B (en) * | 2006-05-24 | 2008-04-09 | Exitech Ltd | Method and unit for micro-structuring a moving substrate |
KR20090013746A (ko) * | 2006-05-25 | 2009-02-05 | 가부시키가이샤 니콘 | 조명 광학 장치, 노광 장치 및 디바이스 제조방법 |
DE102006036064A1 (de) * | 2006-08-02 | 2008-02-07 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungssystem für eine Projektionsbelichtungsanlage mit Wellenlängen ≦ 193 nm |
US8937706B2 (en) * | 2007-03-30 | 2015-01-20 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method |
KR101593712B1 (ko) | 2008-02-15 | 2016-02-12 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피용 투영 노광 장치에 사용하기 위한 패싯 미러 |
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