JP5754752B2 - 帯状体の端部位置検出装置及び帯状体の端部位置検出方法 - Google Patents

帯状体の端部位置検出装置及び帯状体の端部位置検出方法 Download PDF

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Description

本発明は、上下動を行いながら一方向に走行する帯状体の幅方向における端部の位置及び高さ方向における端部の位置を検出する装置及び方法に関する。
例えば、帯状体(例えば、フィルムその他のシート状素材)の表面に印刷されたパターンが正確に印刷されたものであるか否かの検査は、帯状体を一方向に走行させ、帯状体の上方から各パターンを撮像し、撮像されたパターンを解析することにより(例えば、基準となるパターンと比較することにより)、行われる。この検査の際には、走行中の帯状体の端部の位置を検出する必要があるため、従来は、帯状体の上方にカメラその他の撮像装置を配置し、この撮像装置により帯状体を撮像し、その画像から帯状体の端部の位置を検出していた。
走行中の帯状体は常に一定の高さを維持して走行している訳ではなく、走行中に部分的に浮き上がったり、あるいは、波打ったりすることがある。すなわち、走行中の帯状体は部分的に上下方向に変位することがある。
帯状体を撮像する撮像装置は帯状体が一定の高さに位置していることを前提として配置いるため、帯状体が上下方向に変位すると、撮像装置の視野における帯状体の端部の位置が変化し、端部の位置検出における誤差を生じる原因となっていた。
このような問題を解決するため、同一物を二つの異なる視点から見ることによって、その三次元的な位置を計測する(これを「ステレオ視」と呼ぶ)帯状体の端部位置検出装置が提案されている。この端部位置検出装置によれば、帯状体が上下方向に変位しても、2個のカメラによるステレオ視が行われているため、帯状体の上下方向における変動に影響されることなく、帯状体の端部の位置を正確に検出することができる。
しかしながら、この端部位置検出装置は一つの端部に対して2個のカメラを必要とするという構造上の問題点がある。
この問題点を解決するため、例えば、特開2007−170948号公報は一つの端部に対して1個のカメラでその端部を検出することを可能にする帯状体の端部位置検出装置を提案している。
図16は上記公報に記載されている帯状体の端部位置検出装置の構成を示す概略図である。
図16に示す端部位置検出装置1000は、図16の紙面と直交する方向に走行する帯状体2000の両端の位置ひいては帯状体2000の幅Wを検出する。
端部位置検出装置1000は、帯状体2000の一方の端部を撮像する第一カメラ1100と、帯状体2000の他方の端部を撮像する第二カメラ1200と、帯状体2000の下方に配置され、帯状体2000にその幅方向(図16の左右方向)において帯状に光を照射する照明装置1300と、第一カメラ1100及び第二カメラ1200が撮像した画像に基づいて帯状体2000の両端の位置(または帯状体2000の幅W)を算出する演算装置1400と、から構成されている。
照明装置1300は、帯状体2000の幅方向に延びる発光体を備える光源1301と、光源1301と帯状体2000との間に配置されたハーフミラー1302と、から構成されている。
ハーフミラー1302は、光を透過させる下面1302Aと、光を反射させる上面1302Bとを有している。
光源1301から発せられた光の一部は、帯状体2000に遮断されることなく、ハーフミラー1302を通過して直接に第一カメラ1100及び第二カメラ1200によって受光され、残りの光は、ハーフミラー1302を通過した後、帯状体2000の裏面で反射し、さらに、ハーフミラー1302の上面1302Bで反射した後、第一カメラ1100及び第二カメラ1200によって受光される。
演算装置1400は、第一カメラ1100及び第二カメラ1200によって受光された光の量に応じて、帯状体2000の両端の位置を検出する。
図17(A)及び図17(B)は図16に示した端部位置検出装置1000の測定原理を示す概略図であり、具体的には、図17(A)は第一カメラ1100、帯状体2000、ハーフミラー1302及び光源1301相互間の光学的な位置関係を示し、図17(B)は第一カメラ1100において検出される信号のレベルを示す。
各点を以下のように定める。
Pc:第一カメラ1100の受光レンズの主点
Po:第一カメラ1100の光軸とハーフミラー1302を含む平面との交点
Pe:帯状体2000の下部コーナー
Pd:点Pcと点Peとを結ぶ延長線がハーフミラー1302を含む平面と交わる点
Pee:ハーフミラー1302を含む面に対して点Peと対称位置にある点
Pr:点Pcと点Peeとを結ぶ線がハーフミラー1302と交わる点
第一カメラ1100が点Poから点Pdまで走査を行うと、図17(B)に示す信号が得られる。
具体的には、第一カメラ1100が点Poから点Prまで走査を行うと、光源1301から発せられ、ハーフミラー1302を透過した光が直接に第一カメラ1100に入射する。これにより、信号レベルv1が得られる。
次いで、第一カメラ1100が点Prから点Pdまで走査を行うと、ハーフミラー1302を透過して第一カメラ1100で受光された光の信号レベルv1と、ハーフミラー1302を透過した光が帯状体2000の下面で反射し、この反射光がさらにハーフミラー1302の上面1302Bで反射し、第一カメラ1100で受光される光の信号レベルv2との和である(v1+v2)の信号レベルとなる。
さらに、第一カメラ1100が点Pdを越えて走査を行うと、光源1301からの光は帯状体2000により遮断されるので、第一カメラ1100は光を受光せず、信号レベルv0となる。
点Po、点Pr及び点Pdに対応する時刻T0、T1及びT2は、予め定められた信号レベルvt12と各信号レベルとを比較することにより、検出される。
このようにして第一カメラ1100の走査により得られた信号レベルから、点Poと点Prとの間の距離Wa1、点Poと点Pdとの間の距離Wa2が求められ、これらの距離Wa1及び距離Wa2に基づいて、帯状体2000の端部の位置が算出される。
特開2007−170948号公報
図16、図17(A)及び図17(B)に示した従来の端部位置検出装置1000は一つのカメラ1100または1200によって帯状体2000の一つの端部を検出することを可能にはしているものの、ハーフミラー1302を用いるため、構造が複雑にならざるを得ない。
また、従来の端部位置検出装置1000においては、帯状体2000の端部の位置を算出するために、図17(B)に示した信号レベルに基づく複雑な演算を行う必要があり、演算装置1400の高性能化及び演算の長時間化を避けることができない。
本発明はこのような従来の端部位置検出装置1000における問題点に鑑みてなされたものであり、構造を複雑にすることなく、すなわち、ハーフミラー1302を用いることなく、さらに、複雑な演算を行うことなく、帯状体の端部の位置を検出することを可能にする帯状体の端部位置検出装置及び帯状体の端部位置検出方法を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明は、上下動を行いながら一方向に走行する帯状体の幅方向における前記帯状体の端部の位置である第一位置及び高さ方向における前記帯状体の端部の位置である第二位置を検出する装置であって、前記帯状体の前記端部に光を照射する第一光源と、前記第一光源から発せられた光が照射されている領域内において前記帯状体の上方から前記帯状体の表面の前記端部に線形光を照射する第二光源と、前記第二光源から発せられた前記線形光が前記帯状体の表面の前記端部に照射された領域を含む領域を撮像し、前記第二光源の前記線形光の照射角と異なる入射角を有する撮像装置と、前記第一光源から発せられる光から得られる画像と前記第二光源からの反射光から得られる画像とから前記帯状体の前記端部の前記第一位置及び前記第二位置を算出する端部位置算出装置とを備え、前記端部位置算出装置は、前記第一光源と前記帯状体から得られる画像における明領域と暗領域との境界線と前記第二光源から得られる線形画像との交点に基づいて前記帯状体の前記端部の前記第一位置を算出するとともに、前記線形画像の基準位置からのズレに基づいて前記帯状体の前記端部の前記第二位置を算出する、ことを特徴とする帯状体の端部位置検出装置を提供する。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第二光源の前記照射角と前記撮像装置の前記入射角との差は5度以上かつ75度以下であることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第二光源及び前記撮像装置の何れか一方は前記帯状体の表面に対して鉛直方向を向いていることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第一光源は前記帯状体の下方から前記帯状体に対して光を照射することが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第一光源が光を照射する方向は前記撮像装置の向きと一致していることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記帯状体と前記第一光源との間に配置された光拡散部材をさらに備えることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第一光源は前記帯状体の上方から前記帯状体の表面に光を照射するものであることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第二光源から発せられる光の輝度は前記第一光源から発せられる光の輝度より大きいことが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第二光源から発せられる光の波長は前記第一光源から発せられる光の波長とは異なるものであり、前記撮像装置はカラー画像を撮像可能であることが好ましい。
さらに、本発明は、上下動を行いながら一方向に走行し、自ら光を発する帯状体の幅方向における前記帯状体の端部の位置である第一位置及び高さ方向における前記帯状体の端部の位置である第二位置を検出する装置であって、前記帯状体の上方から前記帯状体の表面の前記端部に線形光を照射する第二光源と、前記第二光源から発せられた線形光が前記帯状体の表面の前記端部に照射された領域を含む領域を撮像し、前記第二光源の前記線形光の照射角と異なる入射角を有する撮像装置と、前記帯状体から発せられる光から得られる画像と前記第二光源からの反射光から得られる画像とから前記帯状体の前記端部の前記第一位置及び前記第二位置を算出する端部位置算出装置とを備え、前記端部位置算出装置は、前記帯状体とその周辺から得られる画像における明領域と暗領域との境界線と前記第二光源から得られる線形画像との交点に基づいて前記帯状体の前記端部の第一位置を算出するとともに、前記線形画像の基準位置からのズレに基づいて前記帯状体の前記端部の第二位置を算出する、ことを特徴とする帯状体の端部位置検出装置を提供する。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第二光源から発せられる光の輝度は前記帯状体から発せられる光の輝度より大きいことが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記第二光源から発せられる光の波長は前記帯状体から発せられる光の波長とは異なるものであり、前記撮像装置はカラー画像を撮像可能であることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記撮像装置が前記帯状体の表面に対して鉛直方向を向いていることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置においては、前記撮像装置は二次元カメラであることが好ましい。
さらに、本発明は、上下動を行いながら一方向に走行する帯状体の幅方向における前記帯状体の端部の位置である第一位置及び高さ方向における前記帯状体の端部の位置である第二位置を検出する方法であって、前記帯状体の前記端部に光を照射する第一の過程と、前記第一の過程において発せられた光が照射されている領域内において前記帯状体の上方から前記帯状体の表面の前記端部に線形光を照射する第二の過程と、前記第二の過程において発せられた前記線形光が前記帯状体の表面の前記端部に照射された領域を含む領域を、前記第二の過程における前記線形光の照射角とは異なる入射角で撮像する第三の過程と、
前記第一の過程における照射で得られる画像と前記第二の過程における照射で得られる画像とから前記帯状体の前記端部の前記第一位置び前記第二位置を算出する第四の過程とを備え、前記第四の過程は、前記第一の過程における照射で得られる画像における明領域と暗領域との境界線と前記第二の過程における照射で得られる線形画像との交点に基づいて前記帯状体の前記端部の前記第一位置を算出するとともに、前記第二の過程における照射で得られる線形画像の基準位置からのズレに基づいて前記帯状体の前記端部の第二位置を算出する、ことを特徴とする帯状体の端部位置検出方法を提供する。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記照射角と前記入射角との差は5度以上かつ75度以下であることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記第二の過程における前記線形光の照射及び前記第三の過程における撮像の何れか一方は前記帯状体の表面に対して鉛直方向に行われるものであることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記第一の過程においては前記帯状体の下方から前記帯状体に対して光を照射することが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記帯状体に到達する前に前記光を拡散させる過程を備えることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記第一の過程においては前記帯状体の上方から前記帯状体の表面に光を照射するものであることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記第二の過程において発せられる光の輝度を前記第一の過程において発せられる光の輝度より大きい輝度に設定する過程を備えることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記第二の過程において発せられる光の波長を前記第一の過程において発せられる光の波長と異なる波長に設定する過程を備えることが好ましい。
上下動を行いながら一方向に走行し、自ら光を発する帯状体の幅方向における前記帯状体の端部の位置である第一位置及び高さ方向における前記帯状体の端部の位置である第二位置を検出する方法であって、前記帯状体の上方から前記帯状体の表面に線形光を照射する第一の過程と、前記第一の過程において発せられた線形光が前記帯状体の表面の前記端部に照射された領域を含む領域を、前記第二の過程における前記線形光の照射角とは異なる入射角で撮像する第二の過程と、前記第一の過程における照射で得られる画像と前記帯状体からの光により得られる画像とから前記帯状体の前記端部の前記第一位置及び前記第二位置を算出する第三の過程とを備え、前記第三の過程は、前記帯状体とその周辺から得られる画像における明領域と暗領域との境界線と前記第一の過程における照射で得られる線形画像との交点に基づいて前記帯状体の前記端部の前記第一位置を算出するとともに、前記第一の過程における照射で得られる線形画像の基準位置からのズレに基づいて前記帯状体の前記端部の前記第二位置を算出する、ことを特徴とする帯状体の端部位置検出方法を提供する。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記照射角と前記入射角との差は5度以上かつ75度以下であることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記第一の過程における前記線形光の照射及び前記第二の過程における撮像の何れか一方は前記帯状体の表面に対して鉛直方向に行われるものであることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記第一の過程において発せられる光の輝度を前記帯状体から発せられる光の輝度より大きい輝度に設定する過程を備えることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出方法においては、前記第一の過程において発せられる光の波長を前記帯状体から発せられる光の波長と異なる波長に設定する過程を備えることが好ましい。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置及び帯状体の端部位置検出方法は、図16に示した従来の端部位置検出装置1000とは異なり、ハーフミラー1302のような付随的要素を用いることなく、さらに、帯状体の上下方向における変位に影響されることなく、走行中の帯状体の幅方向における両端の位置を正確に求めることを可能にする。
さらに、本発明に係る帯状体の端部位置検出装置及び帯状体の端部位置検出方法によれば、走行中の帯状体が上方に変位している場合には、帯状体の両端の高さ(基準高さからの高さ)を求めることが可能である。
本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置の構成を示す概略図である。 本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置における第一光源、第二光源及び撮像装置の3次元的な位置関係を示す斜視図である。 本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置における撮像装置が撮像した帯状体の画像の一例である。 本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置における端部位置算出装置の構造の一例を示すブロック図である。 帯状体が走行中に上方に変位した場合の状況を示す概略図である。 帯状体が高さHを走行している場合に撮像装置が撮像する画像の一例である。 撮像装置をその光軸が帯状体の表面と直交するように配置し、第二光源をその光軸が帯状体の表面に対して傾斜するように配置するように配置した場合の構成を示す概略図である。 図8(A)は撮像装置を帯状体の表面に対して傾斜して配置した場合の画像を示し、図8(B)は撮像装置を帯状体の表面に対して鉛直に配置した場合の画像を示す。 本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置の変形例の構成を示す概略図である。 本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置の変形例の構成を示す概略図である。 本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置の第一変形例の構成を示す概略図である。 本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置の第二変形例の構成を示す概略図である。 本発明の第二の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置の構成を示す概略図である。 本発明の第二の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置における撮像装置が撮像した帯状体の画像の一例である。 本発明の第三の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置の構成を示す概略図である。 従来の端部位置検出装置の構成を示す概略図である。 図17(A)は従来の端部位置検出装置における第一カメラ、帯状体、ハーフミラー及び光源相互間の光学的な位置関係を示し、図17(B)は第一カメラにおいて検出される信号のレベルを示す。
(第一の実施形態)
図1は本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100の構成を示す概略図である。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100は、図1の右方向Sに走行する帯状体2000の幅方向における両端(図1の紙面と直交する方向における両端)の位置及び高さ(上下方向における位置)を検出する。
帯状体2000は常に一定の高さを維持して走行している訳ではなく、走行中に部分的に浮き上がったり、あるいは、波打ったりすることがある。すなわち、走行中の帯状体2000は部分的に上下方向に変位することがある。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100は、帯状体2000の下方から帯状体2000に対して光を照射する第一光源110と、帯状体2000の上方から帯状体2000の表面に対して鉛直方向に線形光を照射する第二光源120と、撮像装置130と、帯状体2000の端部の位置を算出する端部位置算出装置140と、から構成されている。
第一光源110は帯状体2000の下方に配置されており、帯状体2000の幅方向(図1の紙面と直交する方向)に延びる長さを有している。第一光源110は帯状体2000の全幅よりも大きい長さを有しており、帯状体2000の全幅にわたって帯状体2000の下面に対して面状に光を照射する。
第二光源120はその光軸が帯状体2000と直交するように帯状体2000の上方に配置されており、帯状体2000の表面に対して鉛直に扇状の光(ラインビーム)を照射する。図2に示すように、第二光源120から発せられる光は帯状体2000の表面に線形をなして照射される。
第二光源120としては、例えば、ラインレーザーを用いることができる。
第二光源120は、第一光源110により光が照射されている領域内において、帯状体2000の表面に線形光を照射する。
撮像装置130は、例えば、CCDカメラその他の二次元カメラからなる。
撮像装置130は帯状体2000の表面と直交する方向に対して予め定められた傾斜角の方向に向けられており、常にその視野の中に第二光源120から発せられた線形光が帯状体2000に照射される領域を捉えている。すなわち、第二光源120から発せられた線形光を中心としてその周囲の領域を撮像する。
端部位置算出装置140は、第一光源110から発せられる光から得られる画像と、第二光源120からの反射光から得られる画像とから帯状体2000の幅方向における帯状体2000の端部の位置及び帯状体2000の高さ方向における端部の位置を算出する。
図4は端部位置算出装置140の構造の一例を示すブロック図である。
端部位置算出装置140は、中央処理装置(CPU)141と、第一のメモリ142と、第二のメモリ143と、各種命令及びデータを中央処理装置141に入力するための入力インターフェイス144と、中央処理装置141により実行された処理の結果を出力する出力インターフェイス145と、中央処理装置141と第一のメモリ142、第二のメモリ143、入力インターフェイス144、出力インターフェイス145とを接続するバス147と、から構成されている。
第一のメモリ142及び第二のメモリ143の各々は、リード・オンリー・メモリ(ROM)、ランダム・アクセス・メモリ(RAM)またはICメモリーカードなどの半導体記憶装置、フレキシブルディスクなどの記憶媒体、ハードディスク、あるいは、光学磁気ディスクなどからなる。本実施形態においては、第一のメモリ142はROMからなり、第二のメモリ143はRAMからなる。
第一のメモリ142は中央処理装置141が実行するための各種の制御用プログラムその他の固定的なデータを格納している。第二のメモリ143は様々なデータ及びパラメータを記憶しているとともに、中央処理装置141に対する作動領域を提供する、すなわち、中央処理装置141がプログラムを実行する上で一時的に必要とされるデータを格納している。
中央処理装置141は第一のメモリ142からプログラムを読み出し、そのプログラムを実行する。すなわち、中央処理装置141は第一のメモリ142に格納されているプログラムに従って作動する。
図2は第一光源110、第二光源120及び撮像装置130の3次元的な位置関係を示す斜視図である。
図3は撮像装置130が撮像した帯状体2000の画像の一例である。端部位置算出装置140は、図3に示す画像を用いて、帯状体2000の端部の位置を算出する。
以下、図1乃至図3を参照して、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100の動作を説明する。
図1及び図2に示すように、第一光源110は方向Sに走行している帯状体2000の下面に光を面状に照射し、第二光源120は帯状体2000の上方から、第一光源110が光を照射している領域内において、帯状体2000の表面に鉛直に線形光を照射する。
撮像装置130は鉛直方向に対して所定の傾斜角の方向から第二光源120から発せられている線形光が照射されている領域を中心とする領域を撮像する。このようにして撮像された画像150の一例が図3に示すものである。
図3に示すように、画像150のほぼ中央には第二光源120からの線形光による線形画像151が延びている。
また、画像150は暗領域152(斜線で示す領域)と明領域153(斜線なしの領域)とに二分されている。
暗領域152は第一光源110からの光が帯状体2000の下面に照射されている領域を示し、明領域153は第一光源110からの光が直接に(すなわち、帯状体2000により遮断されずに)撮像装置130に入射した領域を示す。
第二光源120からの線形光は帯状体2000の表面上に照射されているため、線形画像151は常に暗領域152の内部に位置している。
撮像装置130により撮像された画像150は端部位置算出装置140に送られる。
端部位置算出装置140は撮像装置130から送られてきた画像150の輝度(明度)を検出し、輝度の相違に基づいて、画像150中の暗領域152と明領域153とを検出し、暗領域152と明領域153との境界線154(破線で示す)を画定する。
さらに、端部位置算出装置140は、輝度の差によって、暗領域152中にある線形画像151(正確には、線形画像151の中心線)を抽出する。
次いで、端部位置算出装置140は線形画像151と境界線154との交点155を抽出する。
図3から明らかであるように、暗領域152は帯状体2000が存在する領域を示し、線形画像151は第二光源120からの線形光を示している。このため、暗領域152と明領域153との境界を示す境界線154と線形画像151との交点155は帯状体2000の端部の位置を示す。
端部位置算出装置140は、このようにして求めた交点155の撮像装置130の視野内における座標を、撮像装置130、第一光源110、第二光源120の位置関係及び予め設定されている校正データに基づいて、実際の空間座標に変換し、帯状体2000の端部の位置を決定する。
図3は帯状体2000の一端の位置のみを示しているが、他端の位置も同様にして決定される。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100は以上のようにして帯状体2000の幅方向における両端の位置を求めることができる。
なお、境界線154を画定する場合、線形画像151の終端の近傍のみにおいて画像処理を行うことにより、画像処理の効率と信頼性を向上させることができる。
上述のように、帯状体2000は走行中に上下方向に変位する。
図5は、帯状体2000が走行中に上方に変位した場合の状況を示す概略図である。図5は帯状体2000の進行方向S(図5の紙面と直交する方向)と直交する方向から見た帯状体2000を示す。
帯状体2000が走行する際の基準高さをHとすると、帯状体2000は部分的に基準高さHからHだけ高い高さHを走行することがある。このような場合、撮像装置130は帯状体2000が基準高さHにある場合を想定して配置されているため、帯状体2000が実際には高さHを走行している場合には、撮像装置130と帯状体2000との間の位置関係が変化するため、撮像装置130の視野における帯状体2000の相対的位置が変化する。
帯状体2000が基準高さHを走行している場合には、撮像装置130は帯状体2000のエッジ2001を視野角θaで捉えている。
これに対して、帯状体2000が高さHを走行している場合には、撮像装置130は帯状体2000のエッジ2001を視野角θbで捉えることになる。この場合、撮像装置130は帯状体2000が基準高さHに位置していることを想定しているため、撮像装置130は、高さHにある帯状体2000のエッジ2001を通る視野角θbの直線の延長線が基準高さHにある帯状体2000の表面の高さと交差する点2002を帯状体2000のエッジ2001の位置として把握する。
このように、撮像装置130は、点2002と実際のエッジ2001の水平間距離Eだけ外側にずれた点を帯状体2000のエッジ2001の位置として誤認する。
図5に示すように、撮像装置130の光軸と帯状体2000のエッジ2001との間の水平距離をA、高さHを走行している帯状体2000の表面と撮像装置130との高さの差をBとすると、
H/E=(H+B)/(E+A)
H及びEはともに微小長さであるので、上式の近似式をとると
H/E=B/A
すなわち、
E=HA/B
となる。
例えば、A=200mm、B=1000mm、H=5mmである場合には、
E=1mm
となる。
図6は帯状体2000が高さHを走行している場合に撮像装置130が撮像する画像150Aの一例を示す。
図6に示す画像150Aにおいても、図3に示した画像150と同様に、第二光源120からの線形光に基づく線形画像151Aが得られるが、画像150Aの全体における線形画像151Aの相対的位置は画像150の全体における線形画像151の相対的位置とは異なっている。
具体的には、図3と図6との比較から明らかであるように、画像150A中における線形画像151Aの相対的位置は画像150における線形画像151の相対的位置から上方に距離Dだけずれている。
さらに、帯状体2000が高さHを走行することにより、鉛直方向において高さHの分だけ撮像装置130に近づくことになるため、線形画像151Aの端点は線形画像151の端点と比較して距離E(図5参照)だけ外側に移行する。
距離Dは高さHに対応している。このため、高さHと距離Dとの間の対応関係(この対応関係は帯状体2000と撮像装置130との間の位置関係に応じて変化する)を予め求めておけば、端部位置算出装置140は距離Dを測定することにより、高さHを算出することが可能になる。
高さHが算出された後、さらに、端部位置算出装置140は、帯状体2000が基準高さHにある場合の帯状体2000と撮像装置130との間の相対的な位置関係に基づいて、帯状体2000の端部の位置を補正し、帯状体2000の端部の正確な位置を算出する。
なお、基準高さHとしては、帯状体2000が剛性体である場合には、帯状体2000が取り得る高さのうち、最も低い高さに設定することが好ましい。
通常、帯状体2000が剛性体である場合には、帯状体2000はローラー上を搬送される。このため、帯状体2000がローラー上にある場合の高さを基準高さHとすることにより、帯状体2000が基準高さHよりも低い位置に変位することはなく、基準高さHよりも高い位置のみを考えればよいことになる。
これに対して、帯状体2000がフィルム、紙などのように容易に変形する材質のものである場合には、帯状体2000に張力を作用させ、帯状体2000は複数のローラーで巻き取られるようにして搬送される。このような場合には、ローラー間における帯状体2000の走行位置は、自重による撓み、張力の変動、帯状体2000の平面度、搬送機械の振動などの要因により変動する。このため、帯状体2000が変形可能な材質からなるものである場合には、基準高さHとしては、帯状体2000の走行中における平均的な高さを採用する。従って、この場合には、帯状体2000の高さは基準高さHと比較してプラスとマイナスの両方向に変化する。
以上のように、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100によれば、図16に示した従来の端部位置検出装置1000とは異なり、ハーフミラー1302のような付随的要素を用いることなく、さらに、帯状体2000の上下方向における変位に影響されることなく、走行中の帯状体2000の幅方向における両端の位置を正確に求めることが可能である。さらに、走行中の帯状体2000が上方に変位している場合には、帯状体2000の両端の高さH(基準高さHからの高さ)を求めることが可能である。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100は上記の構造に限定されるものではなく、種々の改変が可能である。
例えば、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100においては、第二光源120はその光軸が帯状体2000の表面と直交するように配置され、撮像装置130はその光軸が帯状体2000の表面に対して傾斜するように配置されているが、これとは逆に、撮像装置130をその光軸が帯状体2000の表面と直交するように配置し、第二光源120をその光軸が帯状体2000の表面に対して傾斜するように配置するように配置することが可能である。
図7は第二光源120及び撮像装置130をそのように配置した場合の概略図である。
帯状体2000の表面に対して鉛直方向に配置した撮像装置130により帯状体2000の端部を撮像すると、境界線154は画像150の幅方向(図3の左右方向)における位置にかかわらず、画像150内において常に同一角度で捉えることが可能になる。
図8(A)は撮像装置130を帯状体2000の表面に対して傾斜して配置した場合の画像150(図3に示した画像150)を示し、図8(B)は撮像装置130を帯状体2000の表面に対して鉛直に配置した場合の画像150Sを示す。
図8(A)に示すように、画像150においては、画像150内において境界線154を同一角度で捉えることができないため、境界線154は画像150の上下方向に対して傾斜した線をなしている。
これに対して、図8(B)に示すように、画像150Sにおいては、画像150S内において境界線154を常に同一角度で捉えることが可能であるため、境界線154は画像150の上下方向に平行な線をなす。
このため、図8(A)に示す画像150においては、境界線154の全域を捉えるための領域(画像処理領域)は長方形156となり、図8(B)に示す画像150Sにおいては、境界線154の全域を捉えるための領域(画像処理領域)は長方形157となる。画像150Sにおける境界線154は上下方向に平行であるため、長方形157は長方形156よりも明らかに小さい。
すなわち、撮像装置130をその光軸が帯状体2000の表面と直交するように配置することにより、撮像装置130をその光軸が帯状体2000の表面に対して傾斜するように配置する場合と比較して、境界線154を抽出するための画像処理領域を狭い範囲に限定することができ、端部位置算出装置140による画像処理に要する時間を短縮化することができる。さらに、より狭い領域内において境界線154を認識することになるため、帯状体2000の表面の欠陥や照明ムラによる誤認識の確率または誤差を小さくすることも可能である。
あるいは、第二光源120または撮像装置130の光軸が帯状体2000の表面と直交するように配置することは必ずしも必要ではなく、双方の光軸が一致しない限りにおいて、第二光源120及び撮像装置130を任意の位置に配置することができる。
図9は、第二光源120及び撮像装置130の光軸の何れもが帯状体2000の表面と直交しないように配置されている場合の帯状体の端部位置検出装置100の構成を示す概略図である。
図9に示すように、第二光源120が線形光を照射する照射角θ(線形光が水平面となす角度、0≦θ≦180)と撮像装置130の入射角θ(撮像装置130に入射する反射光が水平面となす角度、0≦θ≦180)とが異なるものであれば、第二光源120及び撮像装置130を帯状体2000の表面に対して任意の方向に配置することができる。照射角θと入射角θとの差(θ−θ)が大きくなるほど、高さ方向の分解能(図5に示した高さの差Hを検出する精度)を上げることができる。
このため、第二光源120から照射される線形光の照射角θと反射光が撮像装置130に入射する入射角θとの差は5度以上かつ75度以下であることが好ましい。
以下に、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100の変形例を示す。
(第一の実施形態の第一変形例)
図11は本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100の第一変形例の構成を示す概略図である。
第一変形例においては、図11に示すように、第一光源110は、光を照射する方向が撮像装置130の光軸131の向きと一致するように、傾斜して配置されている。
第一光源110をこのように配置することにより、帯状体2000の下面を効果的に照射することが可能になる。
(第一の実施形態の第二変形例)
図12は本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100の第二変形例の構成を示す概略図である。
第二変形例においては、図12に示すように、帯状体2000と第一光源110との間に光拡散板170が配置されている。
このように光拡散板170を配置することにより、第一光源110の光照射面のサイズを小さくすることが可能になる。
(第二の実施形態)
図13は本発明の第二の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置200の構成を示す概略図である。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置200は、第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100と比較して、第一光源110に代えて、第一光源210を備えている。この点を除いて、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置200は第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100と同様の構成を備えている。このため、第一の実施形態と同一の構成要素に対しては同一の参照符号を用いる。
第一光源210は帯状体2000の上方に配置されており、帯状体2000の表面に、第二光源120からの線形光の周囲に面状に光を照射する。
また、第二光源120から発せられる光の輝度は第一光源210から発せられる光の輝度よりも大きく設定されている。
以下、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置200の動作を説明する。
図13に示すように、第一光源210は方向Sに走行している帯状体2000の表面に光を面状に照射し、第二光源120は帯状体2000の上方から第一光源210が光を照射している領域内において帯状体2000の表面に鉛直に線形光を照射する。
撮像装置130は鉛直方向に対して所定の傾斜角の方向から第二光源120から発せられている線形光が照射されている領域を中心とする領域を撮像する。このようにして撮像された画像150Bの一例が図14に示すものである。
図14に示すように、画像150Bのほぼ中央には第二光源120からの線形光による線形画像151が延びている。
また、画像150Bは暗領域152(斜線で示す領域)と明領域153(斜線なしの領域)とに二分されている。
暗領域152は第一光源210及び第二光源120からの光が反射しない領域、すなわち、第一光源210及び第二光源120からの光が帯状体2000に反射せず、撮像装置130に到達しない領域を示し、明領域153は第一光源210及び第二光源120からの光が反射し、撮像装置130に到達した領域を示す。
第二光源120からの線形光は帯状体2000の表面上に照射されているため、線形画像151は常に明領域153の内部に位置している。
なお、第二光源120から発せられる光の輝度は第一光源210から発せられる光の輝度よりも大きく設定されているため、線形画像151は明領域153の中にあっても周囲とは識別可能である。
撮像装置130により撮像された画像150Bは端部位置算出装置140に送られる。
端部位置算出装置140は撮像装置130から送られてきた画像150Bの輝度を検出し、画像150B中の暗領域152と明領域153とを検出し、暗領域152と明領域153との境界線154(破線で示す)を画定する。
さらに、端部位置算出装置140は明領域153中にある線形画像151を抽出する。
次いで、端部位置算出装置140は線形画像151と境界線154との交点155を抽出する。
図14から明らかであるように、明領域153は帯状体2000が存在する領域を示し、線形画像151は第二光源120からの線形光を示している。このため、暗領域152と明領域153との境界を示す境界線154と線形画像151との交点155は帯状体2000の端部の位置を示す。
端部位置算出装置140は、このようにして求めた交点155の撮像装置130の視野内における座標を、撮像装置130、第一光源210、第二光源120の位置関係及び予め設定されている校正データに基づいて、実際の空間座標に変換し、帯状体2000の端部の位置を決定する。
図14は帯状体2000の一端の位置のみを示しているが、他端の位置も同様にして決定される。
帯状体2000の端部の高さは第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100の場合と同様にして決定される。
以上のように、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置200は、第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100と同様に、走行中の帯状体2000の幅方向における両端の位置及び帯状体2000の両端の高さ(基準高さHからの高さ)を求めることが可能である。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置200は上記の構造に限定されるものではなく、種々の改変が可能である。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置200においては、第一光源110から発せられる光の波長と第二光源120から発せられる光の波長は同一に設定されているが、それらの波長を相互に異なる波長に設定することが可能である。これにより、端部位置算出装置140による画像150Bの処理において、輝度ではなく、色による線形画像151及び境界線154の画定を行うことが可能になる。
例えば、第一光源110は青色光を発し、第二光源120は赤色光を発する場合を想定する。端部位置算出装置140による画像処理の際に適切なフィルターを使用することにより、第一光源110からの青色光により得られた画像と第二光源120からの赤色光により得られた画像とを容易に分離することが可能になるため、輝度に基づいて線形画像151及び境界線154を抽出する場合と比較して、容易に、かつ、確実に線形画像151及び境界線154を抽出することが可能になる。
なお、色による画像処理を行う場合には、撮像装置130としては、カラー画像を撮像可能なものを用いることが必要になる。
(第三の実施形態)
図15は本発明の第三の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置300の構成を示す概略図である。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置300は、第一及び第二の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100、200が自発光を行わない帯状体2000を対象とするものであるのに対して、自ら光を発する帯状体すなわち自発光を行う帯状体2001を対象とするものである点において異なる。
このため、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置300は、第一実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100と比較して、第一光源110を備えていない点においてのみ構造的に異なる。
本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置300においては、帯状体2001から発せられる光2002が第一光源110から発せられる光に代わる。このため、本実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置300も第一実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置100と同様の効果を奏する。
本発明に係る帯状体の端部位置検出装置及び端部位置検出方法によれば、走行中の帯状体の端部の位置を正確に検出することが可能である。このため、本発明を実施することにより、帯状体(例えば、鋼板、金属箔、フィルム、紙その他)の生産ラインにおいて、走行中の帯状体の両端部の位置を検出し、帯状体の両端部の位置のみならず、帯状体の中心位置をも所定の位置になるように位置制御を行うことが可能になる。
さらに、帯状体の両端部の位置を検出することにより、帯状体の幅を算出することも可能になり、走行中の帯状体が一定の幅を有しているか否かを継続的にモニタリングすることも可能である。
100 本発明の第一の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置
110 第一光源
120 第二光源
130 撮像装置
140 端部位置算出装置
141 中央処理装置
142 第一のメモリ
143 第二のメモリ
144 入力インターフェイス
145 出力インターフェイス
150 画像
150A 画像
150B 画像
151 線形画像
151A 線形画像
152 暗領域
153 明領域
154 境界線
155 交点
170 光拡散板
200 本発明の第二の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置
210 第一光源
300 本発明の第三の実施形態に係る帯状体の端部位置検出装置

Claims (29)

  1. 上下動を行いながら一方向に走行する帯状体の幅方向における前記帯状体の端部の位置である第一位置及び高さ方向における前記帯状体の端部の位置である第二位置を検出する装置であって、
    前記帯状体の前記端部に光を照射する第一光源と、
    前記第一光源から発せられた光が照射されている領域内において前記帯状体の上方から前記帯状体の表面の前記端部に線形光を照射する第二光源と、
    前記第二光源から発せられた前記線形光が前記帯状体の表面の前記端部に照射された領域を含む領域を撮像し、前記第二光源の前記線形光の照射角と異なる入射角を有する撮像装置と、
    前記第一光源から発せられる光から得られる画像と前記第二光源からの反射光から得られる画像とから前記帯状体の前記端部の前記第一位置及び前記第二位置を算出する端部位置算出装置とを備え、
    前記端部位置算出装置は、前記第一光源と前記帯状体から得られる画像における明領域と暗領域との境界線と前記第二光源から得られる線形画像との交点に基づいて前記帯状体の前記端部の前記第一位置を算出するとともに、前記線形画像の基準位置からのズレに基づいて前記帯状体の前記端部の前記第二位置を算出する、
    ことを特徴とする帯状体の端部位置検出装置。
  2. 前記第二光源の前記照射角と前記撮像装直の前記入射角との差は5度以上かつ75度以下であることを特徴とする請求項1に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  3. 前記第二光源及び前記撮像装置の何れか一方は前記帯状体の表面に対して鉛直方向を向いていることを特徴とする請求項1または2に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  4. 前記第一光源は前記帯状体の下方から前記帯状体に対して光を照射することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  5. 前記第一光源が光を照射する方向は前記撮像装置の向きと一致していることを特徴とする請求項4に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  6. 前記帯状体と前記第一光源との間に配置された光拡散部材をさらに備えることを特徴とする請求項4または5に貫己載の帯状体の端部位置検出装置。
  7. 前記第一光源は前記帯状体の上方から前記帯状体の表面に光を照射するものであることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  8. 前記第二光源から発せられる光の輝度は前記第一光源から発せられる光の輝度より大きいことを特徴とする請求項7に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  9. 前記第二光源から発せられる光の波長は前記第一光源から発せられる光の波長とは異なるものであり、前記撮像装置はカラー画像を撮像可能であることを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  10. 上下動を行いながら一方向に走行し、自ら光を発する帯状体の幅方向における前記帯状体の端部の位置である第一位置及び高さ方向における前記帯状体の端部の位置である第二位置を検出する装置であって、
    前記帯状体の上方から前記帯状体の表面の前記端部に線形光を照射する第二光源と、
    前記第二光源から発せられた線形光が前記帯状体の表面の前記端部に照射された領域を含む領域を撮像し、前記第二光源の前記線形光の照射角と異なる入射角を有する撮像装置と、
    前記帯状体から発せられる光から得られる画像と前記第二光源からの反射光から得られる画像とから前記帯状体の前記端部の前記第一位置及び前記第二位置を算出する端部位置算出装置とを備え、
    前記端部位置算出装置は、前記帯状体とその周辺から得られる画像における明領域と暗領域との境界線と前記第二光源から得られる線形画像との交点に基づいて前記帯状体の前記端部の第一位置を算出するとともに、前記線形画像の基準位置からのズレに基づいて前記帯状体の前記端部の第二位置を算出する、
    ことを特徴とする帯状体の端部位置検出装置。
  11. 前記第二光源の前記照射角と前記撮像装置の前記入射角との差は5度以上かつ75度以下であることを特徴とする請求項10に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  12. 前記第二光源及び前記撮像装置の何れか一方は前記帯状体の表面に対して鉛直方向を向いていることを特徴とする請求項10または11に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  13. 前記第二光源から発せられる光の輝度は前記帯状体から発せられる光の輝度より大きいことを特徴とする請求項10乃至12の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  14. 前記第二光源から発せられる光の波長は前記帯状体から発せられる光の波長とは異なるものであり、
    前記撮像装置はカラー画像を撮像可能であることを特徴とする請求項10乃至13の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  15. 前記撮像装置が前記帯状体の表面に対して鉛直方向を向いていることを特徴とする請求項1乃至14の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  16. 前記撮像装置は二次元カメラであることを特徴とする請求項1乃至15の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出装置。
  17. 上下動を行いながら一方向に走行する帯状体の幅方向における前記帯状体の端部の位置である第一位置及び高さ方向における前記帯状体の端部の位置である第二位置を検出する方法であって、
    前記帯状体の前記端部に光を照射する第一の過程と、
    前記第一の過程において発せられた光が照射されている領域内において前記帯状体の上方から前記帯状体の表面の前記端部に線形光を照射する第二の過程と、
    前記第二の過程において発せられた前記線形光が前記帯状体の表面の前記端部に照射された領域を含む領域を、前記第二の過程における前記線形光の照射角とは異なる入射角で撮像する第三の過程と、
    前記第一の過程における照射で得られる画像と前記第二の過程における照射で得られる画像とから前記帯状体の前記端部の前記第一位置び前記第二位置を算出する第四の過程とを備え、
    前記第四の過程は、前記第一の過程における照射で得られる画像における明領域と暗領域との境界線と前記第二の過程における照射で得られる線形画像との交点に基づいて前記帯状体の前記端部の前記第一位置を算出するとともに、前記第二の過程における照射で得られる線形画像の基準位置からのズレに基づいて前記帯状体の前記端部の第二位置を算出する、
    ことを特徴とする帯状体の端部位置検出方法。
  18. 前記照射角と前記入射角との差は5度以上かつ75度以下であることを特徴とする請求項17に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  19. 前記第二の過程における前記線形光の照射及び前記第三の過程における撮像の何れか一方は前記帯状体の表面に対して鉛直方向に行われるものであることを特徴とする請求項19または20に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  20. 前記第一の過程においては前記帯状体の下方から前記帯状体に対して光を照射することを特徴とする請求項17乃至19の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  21. 前記帯状体に到達する前に前記光を拡散させる過程を備えることを特徴とする請求項20に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  22. 前記第一の過程においては前記帯状体の上方から前記帯状体の表面に光を照射するものであることを特徴とする請求項17乃至19の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  23. 前記第二の過程において発せられる光の輝度を前記第一の過程において発せられる光の輝度より大きい輝度に設定する過程を備えることを特徴とする請求項22に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  24. 前記第二の過程において発せられる光の波長を前記第一の過程において発せられる光の波長と異なる波長に設定する過程を備えることを特徴とする請求項17乃至23の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  25. 上下動を行いながら一方向に走行し、自ら光を発する帯状体の幅方向における前記帯状体の端部の位置である第一位置及び高さ方向における前記帯状体の端部の位置である第二位置を検出する方法であって、
    前記帯状体の上方から前記帯状体の表面に線形光を照射する第一の過程と、
    前記第一の過程において発せられた線形光が前記帯状体の表面の前記端部に照射された領域を含む領域を、前記第二の過程における前記線形光の照射角とは異なる入射角で撮像する第二の過程と、
    前記第一の過程における照射で得られる画像と前記帯状体からの光により得られる画像とから前記帯状体の前記端部の前記第一位置及び前記第二位置を算出する第三の過程とを備え、
    前記第三の過程は、前記帯状体とその周辺から得られる画像における明領域と暗領域との境界線と前記第一の過程における照射で得られる線形画像との交点に基づいて前記帯状体の前記端部の前記第一位置を算出するとともに、前記第一の過程における照射で得られる線形画像の基準位置からのズレに基づいて前記帯状体の前記端部の前記第二位置を算出する、
    ことを特徴とする帯状体の端部位置検出方法。
  26. 前記照射角と前記入射角との差は5度以上かつ75度以下であることを特徴とする請求項25に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  27. 前記第一の過程における前記線形光の照射及び前記第二の過程における撮像の何れか一方は前記帯状体の表面に対して鉛直方向に行われるものであることを特徴とする請求項25または26に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  28. 前記第一の過程において発せられる光の輝度を前記帯状体から発せられる光の輝度より大きい輝度に設定する過程を備えることを特徴とする請求項25乃至27の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出方法。
  29. 前記第一の過程において発せられる光の波長を前記帯状体から発せられる光の波長と異なる波長に設定する過程を備えることを特徴とする請求項25乃至28の何れか一項に記載の帯状体の端部位置検出方法。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2718211B1 (de) * 2011-06-07 2015-09-30 CareFusion Germany 326 GmbH Vorrichtung zum vereinzeln von in ein automatisiertes lager einzulagernden stückgütern
MY182335A (en) 2011-07-22 2021-01-19 Abbott Lab Galactooligosaccharides for preventing injury and/or promoting healing of the gastrointestinal tract
JP6236819B2 (ja) * 2013-03-19 2017-11-29 大日本印刷株式会社 検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラム
JP6163806B2 (ja) * 2013-03-19 2017-07-19 大日本印刷株式会社 検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラム
US11044390B2 (en) * 2016-02-10 2021-06-22 Karl Storz Imaging, Inc. Imaging system for identifying a boundary between active and inactive portions of a digital image
JP2017190991A (ja) * 2016-04-13 2017-10-19 Jfeスチール株式会社 鋼板の平坦度測定方法及び平坦度測定装置
WO2018168700A1 (ja) * 2017-03-14 2018-09-20 Jfeスチール株式会社 帯状体の蛇行量測定方法および装置並びに帯状体の蛇行異常検出方法および装置
CN107466475B (zh) * 2017-04-28 2019-02-26 香港应用科技研究院有限公司 用于检查透光光学组件的设备和方法
AU2019268718A1 (en) * 2018-05-14 2020-11-26 Yoshino Gypsum Co., Ltd. Inspection device, plate-like object manufacturing device, inspection method, and plate-like object manufacturing method
CN112179295A (zh) * 2019-07-05 2021-01-05 青岛海尔电冰箱有限公司 门体表面平整度的检测方法与装置
CN112945149B (zh) * 2021-01-26 2023-07-25 宁波诺视智能科技有限公司 一种链条铆钉铆接面积的检测装置及其检测方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5225265B2 (ja) * 1972-11-18 1977-07-06
JPS56142404A (en) * 1980-04-09 1981-11-06 Nec Corp System for measuring plate width
JPH04351907A (ja) * 1991-05-30 1992-12-07 Mitsui Toatsu Chem Inc 幅変化率測定方法
JP2976672B2 (ja) * 1992-02-19 1999-11-10 日本鋼管株式会社 帯状帯のエッジ割れ、穴明き検出装置
JPH0774967A (ja) * 1993-09-03 1995-03-17 Canon Inc ファクシミリ装置及びその復号化方法
JP2707047B2 (ja) * 1993-11-18 1998-01-28 本田技研工業株式会社 ワークのエッジ部の位置計測方法
JPH07270125A (ja) * 1994-03-30 1995-10-20 Kawasaki Steel Corp 板材の板幅・蛇行量検出装置
US5699161A (en) * 1995-07-26 1997-12-16 Psc, Inc. Method and apparatus for measuring dimensions of objects on a conveyor
JP2994232B2 (ja) * 1995-07-28 1999-12-27 ウシオ電機株式会社 マスクとマスクまたはマスクとワークの位置合わせ方法および装置
JP3418054B2 (ja) * 1996-02-16 2003-06-16 三井金属鉱業株式会社 配線パターン線幅測定装置
KR100267665B1 (ko) * 1997-08-28 2001-01-15 하나와 요시카즈 표면검사장치
JP2002228764A (ja) * 2001-02-02 2002-08-14 Fuji Photo Film Co Ltd 透光性シート体検出装置
JP2005324915A (ja) * 2004-05-13 2005-11-24 Sumitomo Metal Ind Ltd 帯状体の端部位置検出方法及び装置、並びに、帯状体の巻き取り方法
JP2006046941A (ja) * 2004-07-30 2006-02-16 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 表面検査装置
CN101052858B (zh) * 2004-11-08 2011-08-31 株式会社尼利可 用于测量条形体沿宽度方向的端部位置的方法和装置,以及用于测量条形体沿宽度方向的中心位置的方法和装置
US20080156619A1 (en) * 2006-12-01 2008-07-03 Mehul Patel Range finder
JP2009091157A (ja) * 2007-09-20 2009-04-30 Komori Corp 帯状体印刷機の制御装置及び制御方法
CZ2009133A3 (cs) 2009-03-03 2009-07-08 Witrins S.R.O. Zarízení, zpusob merení vnejších rozmeru testovaného výrobku a použití tohoto zarízení

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