JP2976672B2 - 帯状帯のエッジ割れ、穴明き検出装置 - Google Patents
帯状帯のエッジ割れ、穴明き検出装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、帯状体のエッジ割れ、
穴明きを検出する検出装置に関するものである。
穴明きを検出する検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】冷延鋼板に発生するエッジ割れや穴明き
等の欠陥は、前工程であるスラブ鋳造時の非金属介在
物、熱間圧延時のスケール噛み込み或いは不適性温度域
での圧延等に起因しており、これらの欠陥を無くすべく
いろいろな対策が実施されている。
等の欠陥は、前工程であるスラブ鋳造時の非金属介在
物、熱間圧延時のスケール噛み込み或いは不適性温度域
での圧延等に起因しており、これらの欠陥を無くすべく
いろいろな対策が実施されている。
【０００３】しかしながら、これらの欠陥を皆無にする
ことは困難である。そのため、これらの欠陥の存在によ
り、冷延鋼板の連続焼鈍ラインにおいてストリップの破
断が発生することがある。このようなトラブルを未然に
防止するためには、連続焼鈍ラインの前工程である冷間
圧延ラインでこれらの欠陥を発見し、不良部の削除や装
入の中止等の処理をとる必要がある。
ことは困難である。そのため、これらの欠陥の存在によ
り、冷延鋼板の連続焼鈍ラインにおいてストリップの破
断が発生することがある。このようなトラブルを未然に
防止するためには、連続焼鈍ラインの前工程である冷間
圧延ラインでこれらの欠陥を発見し、不良部の削除や装
入の中止等の処理をとる必要がある。
【０００４】このような欠陥の検出装置として、冷延鋼
板を挟んで下側に投光器を、上側に板幅方向にフォトダ
イオードを一列に並べた受光器を配置した光学式の欠陥
検出装置がある。例えば、特開昭６４−３２０４５５号
公報の帯状体のエッジ割れ、穴明き検出装置は、光学手
段により検出する検出器である。この装置を図４〜図６
に示す。この装置は、帯状体に光を投光する投光部１に
は発光体５と投光面を覆うガラス板６とガラス板６の表
面に洗浄液７を供給する洗浄供給装置８が設けられてい
る。
板を挟んで下側に投光器を、上側に板幅方向にフォトダ
イオードを一列に並べた受光器を配置した光学式の欠陥
検出装置がある。例えば、特開昭６４−３２０４５５号
公報の帯状体のエッジ割れ、穴明き検出装置は、光学手
段により検出する検出器である。この装置を図４〜図６
に示す。この装置は、帯状体に光を投光する投光部１に
は発光体５と投光面を覆うガラス板６とガラス板６の表
面に洗浄液７を供給する洗浄供給装置８が設けられてい
る。
【０００５】また、受光部２には集光レンズ１１と集光
レンズ１１の焦点近傍に設けられた受光素子１２と受光
面に設けられたガラス板１４とガラス板の表面に洗浄液
１８を吹き付ける洗浄液吹き付け装置１５、１６、１７
が設けられている。洗浄は３〜４時間ピッチで行なわれ
る。信号処理部２２には、受光素子１２よりの信号の低
周波成分を除去するハイパスフィルタ２７と、ハイパス
フィルタ２７を通過した信号のレベルを規定値と比較
し、規定値より高いときには、信号を発する手段が設け
られている。
レンズ１１の焦点近傍に設けられた受光素子１２と受光
面に設けられたガラス板１４とガラス板の表面に洗浄液
１８を吹き付ける洗浄液吹き付け装置１５、１６、１７
が設けられている。洗浄は３〜４時間ピッチで行なわれ
る。信号処理部２２には、受光素子１２よりの信号の低
周波成分を除去するハイパスフィルタ２７と、ハイパス
フィルタ２７を通過した信号のレベルを規定値と比較
し、規定値より高いときには、信号を発する手段が設け
られている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の帯状体
のエッジ割れ、穴明き検出装置は光を投光する投光部
と、帯状体を挟んで投光部と対向する受光部と、これら
投光部、受光部を洗浄する洗浄装置、受光部の信号処理
部とから構成されているが、次のような問題点があっ
た。
のエッジ割れ、穴明き検出装置は光を投光する投光部
と、帯状体を挟んで投光部と対向する受光部と、これら
投光部、受光部を洗浄する洗浄装置、受光部の信号処理
部とから構成されているが、次のような問題点があっ
た。
【０００７】受光部または投光部の表面が何らかの要因
で汚れた場合、洗浄装置が設けられているが、汚れが発
生し次の洗浄タイミングまでに時間差があり、その間、
光量が低下し、受光部の検出信号レベルが低下して検出
不能となる。
で汚れた場合、洗浄装置が設けられているが、汚れが発
生し次の洗浄タイミングまでに時間差があり、その間、
光量が低下し、受光部の検出信号レベルが低下して検出
不能となる。
【０００８】本発明は、上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、冷延鋼板のエッジ割れや穴明き
等の欠陥を常時精度良く検出できる検出装置を提供する
ことを目的とする。
ためになされたもので、冷延鋼板のエッジ割れや穴明き
等の欠陥を常時精度良く検出できる検出装置を提供する
ことを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を以下
の装置により達成する。第１の装置は、発光体と投光面
を覆うガラス板と、該ガラス板の表面に洗浄水を供給す
る洗浄水供給装置とを有する投光部と、帯状体を挟んで
前記投光部に対向して設置された欠陥検出用集光レンズ
と、該欠陥検出用集光レンズの焦点近傍に設けられた欠
陥検出用受光素子と、受光面に設けられたガラス板と、
このガラス板の表面に洗浄液を吹き付ける装置を有する
受光部と、前記欠陥検出用受光素子よりの信号の低周波
成分を除去するハイパスフィルタと、該ハイパスフィル
タを通過した信号のレベルを欠陥検出用規定値と比較
し、信号レベルが欠陥検出用規定値以上のとき信号を発
する手段と、帯状体を挟んで前記投光部に対向して設置
された汚れ検出用集光レンズと、該汚れ検出用集光レン
ズの焦点近傍に設けられた汚れ検出用受光素子と、該汚
れ検出用受光素子よりの信号レベルがが信号比較器の汚
れ検出用しきい値より高く汚れ検出用規定値より低いと
きに、前記投光部および前記受光部の洗浄を行わせる信
号を信号比較器より出力させる手段を有する信号処理部
とを備えたことを特徴とする帯状体のエッジ割れ、穴明
き検出装置。第２の装置は、第１の装置において、帯状
体を挟んで前記投光部に対向して設置された汚れ検出用
集光レンズと、該汚れ検出用集光レンズの焦点距離の近
傍に設けられた汚れ検出用受光素子とが、帯状体の幅方
向に複数対設置されている帯状体のエッジ割れ、穴明き
検出装置である。
の装置により達成する。第１の装置は、発光体と投光面
を覆うガラス板と、該ガラス板の表面に洗浄水を供給す
る洗浄水供給装置とを有する投光部と、帯状体を挟んで
前記投光部に対向して設置された欠陥検出用集光レンズ
と、該欠陥検出用集光レンズの焦点近傍に設けられた欠
陥検出用受光素子と、受光面に設けられたガラス板と、
このガラス板の表面に洗浄液を吹き付ける装置を有する
受光部と、前記欠陥検出用受光素子よりの信号の低周波
成分を除去するハイパスフィルタと、該ハイパスフィル
タを通過した信号のレベルを欠陥検出用規定値と比較
し、信号レベルが欠陥検出用規定値以上のとき信号を発
する手段と、帯状体を挟んで前記投光部に対向して設置
された汚れ検出用集光レンズと、該汚れ検出用集光レン
ズの焦点近傍に設けられた汚れ検出用受光素子と、該汚
れ検出用受光素子よりの信号レベルがが信号比較器の汚
れ検出用しきい値より高く汚れ検出用規定値より低いと
きに、前記投光部および前記受光部の洗浄を行わせる信
号を信号比較器より出力させる手段を有する信号処理部
とを備えたことを特徴とする帯状体のエッジ割れ、穴明
き検出装置。第２の装置は、第１の装置において、帯状
体を挟んで前記投光部に対向して設置された汚れ検出用
集光レンズと、該汚れ検出用集光レンズの焦点距離の近
傍に設けられた汚れ検出用受光素子とが、帯状体の幅方
向に複数対設置されている帯状体のエッジ割れ、穴明き
検出装置である。
【００１０】
【作用】次に本発明の作用を説明する。固定式の投光部
から投光された光の大部分は、鋼板で遮られるが、欠陥
部を通過した光は、受光部の欠陥検出用集光レンズを通
って欠陥検出用受光素子で受けられる。欠陥検出用集光
レンズ及び欠陥検出用受光素子は一対となって板幅方向
に複数対設置してある。欠陥検出用受光素子で受けられ
た光量変化量は、信号処理部に送られ電圧に変換された
後、ハイパスフィルタにかけられた投光部以外からの光
による低周波成分を除去し、光量の変化に対応する電圧
信号のみを加算器で加算するようにしている。
から投光された光の大部分は、鋼板で遮られるが、欠陥
部を通過した光は、受光部の欠陥検出用集光レンズを通
って欠陥検出用受光素子で受けられる。欠陥検出用集光
レンズ及び欠陥検出用受光素子は一対となって板幅方向
に複数対設置してある。欠陥検出用受光素子で受けられ
た光量変化量は、信号処理部に送られ電圧に変換された
後、ハイパスフィルタにかけられた投光部以外からの光
による低周波成分を除去し、光量の変化に対応する電圧
信号のみを加算器で加算するようにしている。
【００１１】こうすることにより、完全に光をうけてい
る部分及び完全に光を受けていない部分の電圧信号は無
視できることになり、実際に欠陥部を通過して光量が変
化した部分の電圧信号のみを取り出すことができる。そ
して、ハイパスフィルタを通過した信号のレベルが規定
値以上のときは信号が発せられるようになっている。
る部分及び完全に光を受けていない部分の電圧信号は無
視できることになり、実際に欠陥部を通過して光量が変
化した部分の電圧信号のみを取り出すことができる。そ
して、ハイパスフィルタを通過した信号のレベルが規定
値以上のときは信号が発せられるようになっている。
【００１２】また、投光部及び受光部の前面はそれぞれ
ガラス板で覆われており、欠陥検出中は投光部及び受光
部に設けられた洗浄吹き付け装置により、このガラス板
が洗浄されている。これらのガラス板表面が汚れた場合
は、受光部に設けられている汚れ検出用受光素子と汚れ
検出用集光レンズと一対になって、板幅方向に複数対設
置して汚れ検出部により、汚れがひどくなると、汚れ検
出用受光素子の光量低下し、信号処理部で電圧に変換さ
れた電圧信号が低下する。この電圧信号を比較器で比較
して、汚れ検出用しきい値より高く、汚れ検出用規定値
より低くなれば信号を発し、自動的にまたは手動にてガ
ラス板の洗浄を行うようにしているので、欠陥の検出能
が非常に高くなっている。ここで、汚れ検出用規定値と
は、ガラス板の汚れを検出するための基準となる値で、
これにより光量が低下すると汚れと判定するものであ
り、汚れ検出用しきい値とは、通常のしきい値と同様、
バックグランドを除去するための値である。この汚れ検
出用しきい値を使用することにより、ガラス板が汚れて
いないにもかかわらずガラス板の洗浄を行うのを防ぐこ
とができる。
ガラス板で覆われており、欠陥検出中は投光部及び受光
部に設けられた洗浄吹き付け装置により、このガラス板
が洗浄されている。これらのガラス板表面が汚れた場合
は、受光部に設けられている汚れ検出用受光素子と汚れ
検出用集光レンズと一対になって、板幅方向に複数対設
置して汚れ検出部により、汚れがひどくなると、汚れ検
出用受光素子の光量低下し、信号処理部で電圧に変換さ
れた電圧信号が低下する。この電圧信号を比較器で比較
して、汚れ検出用しきい値より高く、汚れ検出用規定値
より低くなれば信号を発し、自動的にまたは手動にてガ
ラス板の洗浄を行うようにしているので、欠陥の検出能
が非常に高くなっている。ここで、汚れ検出用規定値と
は、ガラス板の汚れを検出するための基準となる値で、
これにより光量が低下すると汚れと判定するものであ
り、汚れ検出用しきい値とは、通常のしきい値と同様、
バックグランドを除去するための値である。この汚れ検
出用しきい値を使用することにより、ガラス板が汚れて
いないにもかかわらずガラス板の洗浄を行うのを防ぐこ
とができる。
【００１３】
【実施例】次に、本発明の一実施例を図１〜図３により
説明する。図１は、本発明の一実施例の帯状体のエッジ
割れ、穴明き検出装置の信号処理部を除いた投光部及び
受光部の断面図である。投光部１及び受光部２は、帯状
体（この例ではストリップ）３を挟むように、投光部１
がストリップ３の下部に、受光部２がストリップ３の上
部に位置するように配置されている。そして、図１では
省略されているが、投光部１及び受光部２はストリップ
３の両エッジに位置するように２組配置されている。
説明する。図１は、本発明の一実施例の帯状体のエッジ
割れ、穴明き検出装置の信号処理部を除いた投光部及び
受光部の断面図である。投光部１及び受光部２は、帯状
体（この例ではストリップ）３を挟むように、投光部１
がストリップ３の下部に、受光部２がストリップ３の上
部に位置するように配置されている。そして、図１では
省略されているが、投光部１及び受光部２はストリップ
３の両エッジに位置するように２組配置されている。
【００１４】受光部２側の構成は次のようになってい
る。受光部２は、フレーム１０に取付けられており、複
数の欠陥検出用集光レンズ１１と汚れ検出用集光レンズ
１１ａ及び各々の集光レンズ１１、１１ａに対応する複
数の欠陥検出用受光素子１２と汚れ検出用受光素子１２
ａから引き出されている信号線１３、１３ａとから構成
されている。そして、複数の欠陥検出用集光レンズ１
１、汚れ検出用集光レンズ１１ａの下面に近接して、ガ
ラス板１４が水平に取付けられている。このガラス板１
４の下面には、洗浄液供給ポンプ１５により洗浄液タン
ク１６から供給され、ノズル１７から噴射される洗浄液
１８が当たるようになっている。
る。受光部２は、フレーム１０に取付けられており、複
数の欠陥検出用集光レンズ１１と汚れ検出用集光レンズ
１１ａ及び各々の集光レンズ１１、１１ａに対応する複
数の欠陥検出用受光素子１２と汚れ検出用受光素子１２
ａから引き出されている信号線１３、１３ａとから構成
されている。そして、複数の欠陥検出用集光レンズ１
１、汚れ検出用集光レンズ１１ａの下面に近接して、ガ
ラス板１４が水平に取付けられている。このガラス板１
４の下面には、洗浄液供給ポンプ１５により洗浄液タン
ク１６から供給され、ノズル１７から噴射される洗浄液
１８が当たるようになっている。
【００１５】さらには、このガラス板１４に汚物が付着
しないようにガラス板１４の下面にノズル１９により、
圧縮空気２０を吹き付けている。このガラス板１４の下
面を洗浄中に滴下する洗浄液がストリップ３を濡らさな
いように、洗浄液受皿２１が進退自在に取り付けられて
いる。
しないようにガラス板１４の下面にノズル１９により、
圧縮空気２０を吹き付けている。このガラス板１４の下
面を洗浄中に滴下する洗浄液がストリップ３を濡らさな
いように、洗浄液受皿２１が進退自在に取り付けられて
いる。
【００１６】図２は、信号処理部の概略説明図である。
信号処理部２２には、欠陥検出受光素子１２からの信号
線１３により信号が入力され、この信号とプロセス用演
算器２３から入力されるライン速度やコイルＮｏ等の情
報とから欠陥の位置がＣＲＴ２４上に映し出されたり、
プリンタ２５で記録紙にプリントされたりすると共に、
有害な欠陥がある場合には、警報ランプ２６が点灯され
るようになっている。また、投光部のガラス板６、受光
部のガラス板１４が汚れた場合には、汚れ検出用受光素
子１２ａから信号線１３ａより信号が入力され信号処理
部２２で比較され、汚れがひどい場合は汚れ検出ランプ
３４が点灯し、自動的または手動で洗浄装置が動作し洗
浄するようになっている。
信号処理部２２には、欠陥検出受光素子１２からの信号
線１３により信号が入力され、この信号とプロセス用演
算器２３から入力されるライン速度やコイルＮｏ等の情
報とから欠陥の位置がＣＲＴ２４上に映し出されたり、
プリンタ２５で記録紙にプリントされたりすると共に、
有害な欠陥がある場合には、警報ランプ２６が点灯され
るようになっている。また、投光部のガラス板６、受光
部のガラス板１４が汚れた場合には、汚れ検出用受光素
子１２ａから信号線１３ａより信号が入力され信号処理
部２２で比較され、汚れがひどい場合は汚れ検出ランプ
３４が点灯し、自動的または手動で洗浄装置が動作し洗
浄するようになっている。
【００１７】本発明は以上のように構成されているの
で、光学的方法でストリップのエッジ割れや穴明きを検
出する場合に問題となっていた圧延油等による欠陥検出
能の低下を防止することができる。
で、光学的方法でストリップのエッジ割れや穴明きを検
出する場合に問題となっていた圧延油等による欠陥検出
能の低下を防止することができる。
【００１８】すなわち、本実施例の場合、投光部１はガ
ラス板６で覆われており、毎分１０リットルの洗浄液７
がガラス板６の上面に連続的に流れている。この洗浄液
７は図１では示していないが、洗浄液供給装置８の内部
に多数設けられた小さい孔や隙間をくぐり抜けて、洗浄
液供給装置８の上部に近づくにつれて、乱流や泡立ちが
無くなり、洗浄液供給装置８の上部に設けられた約１ｍ
ｍ幅のスリットからガラス板６の上に均一な層流となっ
て流れ出る。このようにしているので、ガラス板６は、
常に洗浄液７で洗われている状態にあり、ガラス板６が
汚れて欠陥検出能が低下することがない。なお、排水溝
９に流出した洗浄液は、回収して圧延油の濃度調整に使
用している。
ラス板６で覆われており、毎分１０リットルの洗浄液７
がガラス板６の上面に連続的に流れている。この洗浄液
７は図１では示していないが、洗浄液供給装置８の内部
に多数設けられた小さい孔や隙間をくぐり抜けて、洗浄
液供給装置８の上部に近づくにつれて、乱流や泡立ちが
無くなり、洗浄液供給装置８の上部に設けられた約１ｍ
ｍ幅のスリットからガラス板６の上に均一な層流となっ
て流れ出る。このようにしているので、ガラス板６は、
常に洗浄液７で洗われている状態にあり、ガラス板６が
汚れて欠陥検出能が低下することがない。なお、排水溝
９に流出した洗浄液は、回収して圧延油の濃度調整に使
用している。
【００１９】受光部２は、投光部１のように圧延油が滴
下するという問題は無いが、圧延油の飛散や霧化により
やはり汚染されるので、ガラス板１４が受光部２の下部
に設けられている。
下するという問題は無いが、圧延油の飛散や霧化により
やはり汚染されるので、ガラス板１４が受光部２の下部
に設けられている。
【００２０】洗浄のタイミングは、３〜４時間ピッチで
行なわれるロール組み替え時間を利用する定期的な洗浄
と、汚れ検出用受光素子１２ａの信号により規定値以下
になった場合の２つの場合がある。これらの洗浄時に、
ノズル１７から洗浄液１８をガラス板１４の下面に噴射
し、ガラス板１４に付着した圧延油等の汚れを洗い落と
すようにしている。ガラス板に当たった洗浄液１８が下
方に落下してストリップ３を汚すことがないよう、洗浄
時には洗浄液受皿２１がライン外から受光部２下部にス
ライドし、洗浄液１８を受けるようにしている。さらに
は、ノズル１９により圧縮空気２０をガラス板１４に吹
き付け、汚物が付着しないようにしている。このように
しているので、受光部２も圧延油等で欠陥検出能が低下
するほど汚染されることは無い。なお、洗浄液には、市
販の揮発性の高い洗浄液を使用すればよい。
行なわれるロール組み替え時間を利用する定期的な洗浄
と、汚れ検出用受光素子１２ａの信号により規定値以下
になった場合の２つの場合がある。これらの洗浄時に、
ノズル１７から洗浄液１８をガラス板１４の下面に噴射
し、ガラス板１４に付着した圧延油等の汚れを洗い落と
すようにしている。ガラス板に当たった洗浄液１８が下
方に落下してストリップ３を汚すことがないよう、洗浄
時には洗浄液受皿２１がライン外から受光部２下部にス
ライドし、洗浄液１８を受けるようにしている。さらに
は、ノズル１９により圧縮空気２０をガラス板１４に吹
き付け、汚物が付着しないようにしている。このように
しているので、受光部２も圧延油等で欠陥検出能が低下
するほど汚染されることは無い。なお、洗浄液には、市
販の揮発性の高い洗浄液を使用すればよい。
【００２１】以上のように、良好な欠陥検出環境下で欠
陥検出受光素子１２に受信された光量は、電圧に変換さ
れ信号線１３により信号処理部２２に導かれる。そし
て、信号処理部２２では、この信号とプロセス用演算器
２３から入力されるライン速度やコイルＮｏ等の情報か
らストリップ３のエッジ割れや穴明きの位置及びその大
きさを判断する。そして、その結果は、ＣＲＴ２４に映
し出されたり、プリンタ２５で記録紙にプリントされた
りする。
陥検出受光素子１２に受信された光量は、電圧に変換さ
れ信号線１３により信号処理部２２に導かれる。そし
て、信号処理部２２では、この信号とプロセス用演算器
２３から入力されるライン速度やコイルＮｏ等の情報か
らストリップ３のエッジ割れや穴明きの位置及びその大
きさを判断する。そして、その結果は、ＣＲＴ２４に映
し出されたり、プリンタ２５で記録紙にプリントされた
りする。
【００２２】信号処理部２２での信号の処理状況を図３
により詳述すると、電圧に変換された光量の変化量は、
ハイパスフィルタ２７にかけられ、投光部１以外からの
光による低周波成分を除去し、実際に欠陥部を通過して
光量が変化した部分の電圧信号のみが取り出される。そ
して、この取り出された信号は、ストリップ３の幅方向
に加算器２８で加算される。この加算された信号は、ス
トリップ３が毎分１８００ｍで通過している時に１ｍｍ
径の穴を検出しようとする場合には、３３μｓｅｃのパ
ルス波となり、後処理が困難となるので信号のピーク値
のみをピークホルダ２９で２０ｍｓｅｃホールドするよ
うにしている。ホールド後の信号は、Ａ／Ｄ変換器３０
で変換され演算器３１に入力される。
により詳述すると、電圧に変換された光量の変化量は、
ハイパスフィルタ２７にかけられ、投光部１以外からの
光による低周波成分を除去し、実際に欠陥部を通過して
光量が変化した部分の電圧信号のみが取り出される。そ
して、この取り出された信号は、ストリップ３の幅方向
に加算器２８で加算される。この加算された信号は、ス
トリップ３が毎分１８００ｍで通過している時に１ｍｍ
径の穴を検出しようとする場合には、３３μｓｅｃのパ
ルス波となり、後処理が困難となるので信号のピーク値
のみをピークホルダ２９で２０ｍｓｅｃホールドするよ
うにしている。ホールド後の信号は、Ａ／Ｄ変換器３０
で変換され演算器３１に入力される。
【００２３】演算器３１では、前記のように、ストリッ
プ３のエッジ割れや穴明きの位置及び大きさを判断し、
それがＣＲＴ２４に映し出されたり、プリンタ２５で記
録紙にプリントされたりする。さらには、演算器３１に
は、あらかじめ異常欠陥の規定値が入力されており、こ
の入力された信号とが比較され、信号がこの規定値より
高いときには、警報ランプ２６が点灯されるようになっ
ている。
プ３のエッジ割れや穴明きの位置及び大きさを判断し、
それがＣＲＴ２４に映し出されたり、プリンタ２５で記
録紙にプリントされたりする。さらには、演算器３１に
は、あらかじめ異常欠陥の規定値が入力されており、こ
の入力された信号とが比較され、信号がこの規定値より
高いときには、警報ランプ２６が点灯されるようになっ
ている。
【００２４】また、投光部のガラス板６および受光部の
ガラス板１４が何らかの要因で汚れた場合、投光部１か
らの光量が低下するので、ストリップ３のエッジ部から
外側に位置する汚れ検出用受光素子１２ａの信号より信
号処理部２２の信号変換器３２で電圧に変換され、比較
器３３で信号が汚れ検出用しきい値より高く汚れ検出用
規定値より低いときには、汚れ検出用ランプ３４が点灯
され、洗浄指令を出して自動洗浄または、手動にて受光
部を洗浄するようにしている。
ガラス板１４が何らかの要因で汚れた場合、投光部１か
らの光量が低下するので、ストリップ３のエッジ部から
外側に位置する汚れ検出用受光素子１２ａの信号より信
号処理部２２の信号変換器３２で電圧に変換され、比較
器３３で信号が汚れ検出用しきい値より高く汚れ検出用
規定値より低いときには、汚れ検出用ランプ３４が点灯
され、洗浄指令を出して自動洗浄または、手動にて受光
部を洗浄するようにしている。
【００２５】なお、投光部及び受光部は、固定式でもよ
いがストリップの幅に応じてストリップの幅方向に移動
するようにすれば、より効果的に欠陥検出を行なうこと
ができる。
いがストリップの幅に応じてストリップの幅方向に移動
するようにすれば、より効果的に欠陥検出を行なうこと
ができる。
【００２６】
【発明の効果】本発明の帯状体のエッジ割れ、穴明き検
出装置は、圧延油等により投光部及び受光部が汚染され
る悪環境下において、投光部、受光部のガラス板表面の
汚れ検出を付加しており、帯状体のエッジ割れ、穴明き
を高い検出能で検出することができると共に、安価でコ
ンパクトな検出装置を提供することができるので、その
工業的な効果は大きい。
出装置は、圧延油等により投光部及び受光部が汚染され
る悪環境下において、投光部、受光部のガラス板表面の
汚れ検出を付加しており、帯状体のエッジ割れ、穴明き
を高い検出能で検出することができると共に、安価でコ
ンパクトな検出装置を提供することができるので、その
工業的な効果は大きい。
【図１】本発明の一実施例の検出器の断面図である。
【図２】本発明の信号処理部の概略図である。
【図３】本発明の信号処理部の詳細説明図である。
【図４】従来の一実施例の検出器の断面図である。
【図５】従来の信号処理部の概略図である。
【図６】従来の信号処理部の詳細説明図である。
１ 投光部 ２ 受光部 ３ ストリップ ４、１０ フレーム ５ 発光ダイオードまたは直流式蛍光灯 ６、１４ ガラス板 ７、１８ 洗浄液 ８ 洗浄液供給装置 ９ 排水溝 １１ 欠陥検出用集光レンズ １１ａ 汚れ検出用集光レンズ １２ 欠陥検出用受光素子 １２ａ 汚れ検出用受光素子 １３ 欠陥検出用信号線 １３ａ 汚れ検出用信号線 １５ 洗浄液供給ポンプ １６ 洗浄液タンク １７、１９ ノズル ２０ 圧縮空気 ２１ 洗浄液受皿 ２２ 信号処理部 ２３ プロセス用演算器 ２４ ＣＲＴ ２５ プリンタ ２６ 警報ランプ ２７ ハイパスフィルタ ２８ 加算器 ２９ ピークホルダ ３０ Ａ／Ｄ変換器 ３１ 演算器 ３２ 信号変換器 ３３ 比較器 ３４ 汚れ検出ランプ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村上 明彦 東京都千代田区丸の内１丁目１番２号 日本鋼管株式会社内 (72)発明者 原田 好美 東京都千代田区丸の内１丁目１番２号 日本鋼管株式会社内 審査官 樋口 宗彦 (56)参考文献 特開 平１−320455（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−192207（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/90
Claims (2)
- 【請求項１】 発光体と投光面を覆うガラス板と、該ガ
ラス板の表面に洗浄水を供給する洗浄水供給装置とを有
する投光部と、帯状体を挟んで前記投光部に対向して設
置された欠陥検出用集光レンズと、該欠陥検出用集光レ
ンズの焦点近傍に設けられた欠陥検出用受光素子と、受
光面に設けられたガラス板と、このガラス板の表面に洗
浄液を吹き付ける装置を有する受光部と、前記欠陥検出
用受光素子よりの信号の低周波成分を除去するハイパス
フィルタと、該ハイパスフィルタを通過した信号のレベ
ルを欠陥検出用規定値と比較し、信号レベルが欠陥検出
用規定値以上のとき信号を発する手段と、 帯状体を挟んで前記投光部に対向して設置された汚れ検
出用集光レンズと、該汚れ検出用集光レンズの焦点近傍
に設けられた汚れ検出用受光素子と、該汚れ検出用受光
素子よりの信号レベルが信号比較器の汚れ検出用しきい
値より高く汚れ検出用規定値より低いときに、前記投光
部および前記受光部の洗浄を行わせる信号を信号比較器
より出力させる手段を有する信号処理部とを備えたこと
を特徴とする帯状体のエッジ割れ、穴明き検出装置。 - 【請求項２】 帯状体を挟んで前記投光部に対向して設
置された汚れ検出用集光レンズと、該汚れ検出用集光レ
ンズの焦点距離の近傍に設けられた汚れ検出用受光素子
とが、帯状体の幅方向に複数対設置されていることを特
徴とする請求項１記載の帯状体のエッジ割れ、穴明き検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4032148A JP2976672B2 (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | 帯状帯のエッジ割れ、穴明き検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4032148A JP2976672B2 (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | 帯状帯のエッジ割れ、穴明き検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05232045A JPH05232045A (ja) | 1993-09-07 |
| JP2976672B2 true JP2976672B2 (ja) | 1999-11-10 |
Family
ID=12350829
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4032148A Expired - Fee Related JP2976672B2 (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | 帯状帯のエッジ割れ、穴明き検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2976672B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
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|---|---|---|---|---|
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| US7154265B2 (en) | 2004-12-21 | 2006-12-26 | General Electric Company | Eddy current probe and inspection method |
| GB0515605D0 (en) | 2005-07-29 | 2005-09-07 | Qinetiq Ltd | Laser measurement device and method |
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Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60192207A (ja) * | 1984-03-13 | 1985-09-30 | Nittan Co Ltd | 防災用検出装置 |
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-
1992
- 1992-02-19 JP JP4032148A patent/JP2976672B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05232045A (ja) | 1993-09-07 |
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