JP2009074867A - 計測装置およびその計測方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】色収差による焦点差を利用して、被検物の3次元形状を短時間に測定する計測装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る計測装置60は、平面状に並んだ複数の画素領域21を有したイメージセンサー20と、被検物62の表面からの光を入射させてイメージセンサー上に被検物の表面の像を結像させる色出しレンズ11と、イメージセンサーを構成する複数の画素のそれぞれが受光した光の強度に基づいて、被検物の表面の高さを算出して被検物の3次元形状を測定する演算処理部30とを備えて構成されている。複数の画素は受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出し、演算処理部は複数の画素において検出された波長毎の受光強度のうち、2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出し、強度レベルの差を基に被検物の表面の垂直方向距離を測定して被検物の3次元形状を求める。
【選択図】図9
【解決手段】本発明に係る計測装置60は、平面状に並んだ複数の画素領域21を有したイメージセンサー20と、被検物62の表面からの光を入射させてイメージセンサー上に被検物の表面の像を結像させる色出しレンズ11と、イメージセンサーを構成する複数の画素のそれぞれが受光した光の強度に基づいて、被検物の表面の高さを算出して被検物の3次元形状を測定する演算処理部30とを備えて構成されている。複数の画素は受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出し、演算処理部は複数の画素において検出された波長毎の受光強度のうち、2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出し、強度レベルの差を基に被検物の表面の垂直方向距離を測定して被検物の3次元形状を求める。
【選択図】図9
Description
本発明は、被検物の3次元形状を計測する計測装置、およびその計測装置を用いた計測方法に関する。
従来より、3次元計測は、ロボットビジョンにおける物体認識、人の動きを解析するモーションピクチャ、車載カメラにおける周囲画像処理および建築物のアーカイブ等の様々な分野において、応用され活用されている重要な技術である。3次元計測方法の例としては、三角測量の原理を用いるステレオカメラ、レーザスリット光を用いる光切断法、色収差による焦点差を利用した計測法等がある。上記色収差による焦点差を利用した3次元計測方法としては、例えば特許文献1に示すようなものが知られており、図11に、色収差による焦点差を利用して被検物の3次元形状を計測する装置の一例としての計測装置200を示す。
以下の計測装置200の説明において、説明の便宜上、図11に示す矢印方向を左右上下として以下に説明する。計測装置200は、光源201から発射された複数の波長成分を含む照明光が、ピンホール202を通過しビームスプリッタ203を透過した後、結像レンズ系レンズ204で集光されて被検物205に照射されるように構成されている。そして、被検物205で反射した照明光は、ビームスプリッタ203において反射し、ピンホール206を通過して光検出器207に入射する。
ここで、一般にレンズの焦点距離fは、レンズを構成するガラス材質の屈折率n、レンズの曲率半径r1、r2を用いて近似的に式(1)に示すように、
(1/f)=(n−1)×{(1/r1)−(1/r2)} (1)
と表される。ここで、焦点距離fはレンズの屈折率nに依存し、さらにレンズの屈折率nは通過する照明光の波長に依存するので、結果的に照明光の焦点位置は波長に応じて光軸方向に異なる位置となる。これが色収差であり、計測装置200においては、波長の異なる照明光同士の焦点位置が光軸方向にずれて位置することを利用して、被検物205の表面を計測するように構成されている。
(1/f)=(n−1)×{(1/r1)−(1/r2)} (1)
と表される。ここで、焦点距離fはレンズの屈折率nに依存し、さらにレンズの屈折率nは通過する照明光の波長に依存するので、結果的に照明光の焦点位置は波長に応じて光軸方向に異なる位置となる。これが色収差であり、計測装置200においては、波長の異なる照明光同士の焦点位置が光軸方向にずれて位置することを利用して、被検物205の表面を計測するように構成されている。
図11に、結像レンズ系204で集光された、波長λ1の青色照明光201B、波長λ2の緑色照明光201Gおよび波長λ3の赤色照明光201Rが、被検物205に照射されている状態を示す。なお、各波長はλ1<λ2<λ3の大小関係となっている。ここで、波長λ2の緑色照明光201Gが、被検物205の頂部において合焦しており、緑色照明光201Gよりも短い波長λ1の青色照明光201Bは、焦点距離が短いため被検物205の頂部より左側部分で合焦する。一方、緑色照明光201Gよりも長い波長λ3の赤色照明光201Rは、被検物205の頂部より右側部分で合焦する。そして、上記3つの照明光201B、201G、201Rのうちで、被検物205の頂部において合焦した緑色照明光201Gが最も多くビームスプリッタ203で反射されて光検出器207に入射する。光検出器207において、緑色照明光201Gが最も多く受光されることで、被検物205の(左右方向の)高さを緑色照明光201Gの合焦位置として求める構成となっている。
しかし、計測装置200では、被検物205の光軸方向の高さ測定は限られた(点)領域ごとに行う構成となっており、被検物表205の表面を広範囲にわたって高さ測定するためには、計測回数が増えることにより計測時間が長くなるという課題があった。また、計測装置200は、被検物205の光軸方向の高さを測定するのみであって、被検物205の3次元形状を求める構成となっていないという課題もあった。
以上のような課題に鑑みて、本発明では色収差による焦点差を利用して、被検物の3次元形状を短時間に測定する計測装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明に係る計測装置は、平面状に並んだ複数の画素を有したイメージセンサーと、被検物の表面からの光を入射させて前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像させる結像レンズ系と、前記結像レンズ系に入射した光が前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像した状態において、前記イメージセンサーを構成する前記複数の画素のそれぞれが受光した光の強度に基づいて、前記被検物の表面の高さを算出して前記被検物の3次元形状を測定する演算処理部とを備えて構成されている。そして、前記複数の画素は受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出し、前記演算処理部は前記複数の画素において検出された前記波長毎の受光強度のうち、2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出し、前記強度レベルの差を基に前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を求める。
上記構成の計測装置において、前記複数の画素はそれぞれ、赤色光、緑色光および青色光を受光する3つのカラーセンサーを有しており、前記演算処理部は、前記3つのカラーセンサーのうち2つのカラーセンサーにおける受光強度から強度レベルの差を検出する構成が好ましい。また、上記構成の計測装置において、前記複数の画素はそれぞれ、光の強度を検出するモノクロセンサーを有し、特定波長の光を透過させるフィルタが前記被検物の表面からの光の光路上に配置されており、前記フィルタを透過した光が前記モノクロセンサーにおいて受光されるように構成されていることが好ましい。
上記構成の計測装置を用いた計測方法において、受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出する受光強度検出ステップと、前記複数の画素において検出された前記波長毎の受光強度のうち2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出するレベル差検出ステップと、前記強度レベルの差を基に前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を測定する測定ステップとから構成されていることが好ましい。
本発明に係る計測装置は、平面状に並んだ複数の画素を有したイメージセンサーと、被検物の表面に照明光を照射する照明光学系と、前記照明光が照射された前記被検物の表面からの光を入射させて前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像させる結像レンズ系と、前記結像レンズ系に入射した光が前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像した状態において、前記イメージセンサーを構成する前記複数の画素のそれぞれが受光した光の強度に基づいて、前記被検物の表面の高さを算出して前記被検物の3次元形状を測定する演算処理部とを備えて構成されている。そして、前記複数の画素は受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出し、前記演算処理部は前記複数の画素において検出された前記波長毎の受光強度のうち、2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出し、前記強度レベルの差を基に前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を求める。
上記構成の計測装置において、前記照明光は、複数のドット状または格子状に形成されて前記被検物の表面に照射され、前記演算処理部は、前記被検物の表面のうちで複数のドット状または格子状の前記照明光が照射された部分における、前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を求める構成が好ましい。また、上記構成の計測装置において、前記複数の画素はそれぞれ、赤色光、緑色光および青色光を受光する3つのカラーセンサーを有しており、前記演算処理部は、前記3つのカラーセンサーのうち2つのカラーセンサーにおける受光強度から強度レベルの差を検出する構成が好ましい。
また、上記構成の計測装置において、前記複数の画素はそれぞれ、光の強度を検出するモノクロセンサーを有し、特定波長の光を透過させるフィルタが、前記照明光の光路上または前記被検物の表面からの光の光路上に配置されており、前記フィルタを透過した光が前記モノクロセンサーにおいて受光される構成が好ましい。さらに、上記構成の計測装置において、前記複数の画素はそれぞれ、前記モノクロセンサーを有しており、前記照明光学系は特定波長の照明光を前記被検物の表面に照射し、前記結像レンズ系は、前記被検物の表面からの特定波長の光を入射させて前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像させ、前記演算処理部は、前記モノクロセンサーが受光した特定波長の光の強度に基づいて、前記被検物の表面の高さを算出して前記被検物の3次元形状を測定する構成が好ましい。
上記構成の計測装置を用いた計測方法において、前記被検物の表面に前記照明光を照射する照射ステップと、受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出する受光強度検出ステップと、前記複数の画素において検出された前記波長毎の受光強度のうち2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出するレベル差検出ステップと、前記強度レベルの差を基に前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を測定する測定ステップとから構成されていることが好ましい。
本発明に係る計測装置および計測方法によれば、色収差による焦点差を利用して被検物の3次元形状を短時間に測定することが可能となる。
以下に、図1から図10を参照しながら本発明の好ましい実施形態について、実施例1から実施例3を挙げて説明する。説明の便宜上、図1から図9に示した矢印の方向を前後左右上下方向として定義して説明する。
図1に、本発明の第1実施例に係る計測装置1を示す。この計測装置1は、光源5、照明レンズ系6、マルチドットパターン7、ハーフミラー10、色出しレンズ系11、イメージセンサー20および演算処理部30を主体に構成されており、被検物8に測定用補助光を照射する一般にアクティブ方式と呼ばれる構成である。光源5は、照明レンズ系6に向けて照明光5aを発射可能な光源であり、光源5としては、例えばハロゲンランプ等の白色光源、またはRGB(以下において、順にレッド、グリーンおよびブルーを示すこととする)の3色で構成されたLEDが用いられる。照明レンズ系6は、実際には複数のレンズによって構成されており、光源5より発射された(下方から上方へ進行する)照明光5aを集光し、集光された照明光5aがマルチドットパターン7に到達する。
マルチドットパターン7は、平板状に形成されており照明レンズ系6の光軸と垂直に交わるように配置されている。また、マルチドットパターン7は、図7(a)に示すように照明レンズ系6の光軸と交わる面に、前後左右方向に一定間隔を有して規則正しい位置で上下に開口したマルチスポット7aが複数設けられている。ここでマルチドットパターン7は、照明レンズ系6によって集光された照明光5aの合焦位置(合焦面)に配置されている。ハーフミラー10は、入射する光の一部を反射させるとともに一部は透過させる機能を有したミラーであり、反射光と透過光との比率はほぼ1:1となっている。またハーフミラー10は、照明レンズ系6の光軸に対して45度傾斜した状態で設置されている。
色出しレンズ11は、実際には複数のレンズから構成された結像レンズ系によって構成されており、この結像レンズ系は色収差が補正されていない(但し、色収差以外の幾何収差は補正された)レンズ系となっている。イメージセンサー20は、図4に示すように、略正方形の画素領域21が前後上下方向に平面状に複数並んで形成されており、この各画素領域21は、光をRGBの波長別(色別)に受光可能なRGBの各受光部(図示せず)を有している。演算処理部30は、イメージセンサー20の画素領域21において波長別に受光して得られた受光強度を基に、被検物8の3次元形状を算出する処理部であり、具体的な3次元形状の算出方法については後述する。なお、演算処理部30において得られた被検物8の3次元形状データは、例えば計測装置1の外部に設けられたモニタ100に対して出力されることにより、目視によって確認可能となっている。
以上、ここまでは計測装置1の部材構成について説明したが、以下において、光源5から発射された照明光5aおよび被検物8の表面からの反射光5bの進行について説明する。
光源5から発射されて、照明レンズ系6(上方)に向けて進行する照明光5aは、照明レンズ系6に入射して集光された後、マルチドットパターン7に到達する。そして、マルチドットパターン7に到達した照射光5aのうちで、マルチスポット7a部分に到達した照明光5aはマルチドットパターン7を通過し、その他の部分に到達した5aはマルチドットパターン7を通過しない構成となっている。マルチドットパターン7を通過した照明光5aは、ハーフミラー10の表面で反射されることで、進行方向を上方から左方へと90度変えて進行する。そして、色出しレンズ11に入射した照明光5aは、色収差が補正されることなく被検物8に照射される。
被検物8に照明光5aが照射されると、図1に示すように、被検物8の表面には一定間隔を有して規則正しく配置されるとともに、照明光5aが照射されて明るくなった基準ドット7bが形成される。色出しレンズ11の光軸上に形成されたものを基準ドット7c、光軸上以外の位置に形成されたものを基準ドット7dとし、基準ドット7bは、基準ドット7cおよび基準ドット7dのすべて含んだものを指している。ここで、基準ドット7bの配置位置および形状は、マルチドットパターン7に形成されたマルチスポット7aと対応している。被検物8の表面に照射された照明光5aの一部は、被検物8の表面において反射して反射光5bとなって、色出しレンズ11に入射してハーフミラー10を透過した後、イメージセンサー20上で結像する。イメージセンサー20で結像した反射光5bは、画素領域21に形成されたRGBの各受光部において受光されて、これらの受光結果は演算処理部30に出力される。演算処理部30において、これらの受光結果を基に被検物8の3次元形状を算出するが、この具体的算出方法については後述する。
以上ここまでは、照明光5aおよび被検物8の表面からの反射光5bの進行について説明したが、以下においては、図2および図3を参照しながら、被検物表面における光軸方向の段差等と撮像された像のボケとの関係について説明する。
図2は、計測装置1(一部図示せず)を用いて被検物22、23および24の3次元形状測定を行う状態を示している。ここで、被検物22、23および24の位置関係は、被検物24が光軸方向において最も左方(色出しレンズ11から最も離れている)、中間位置に被検物23、被検物22が最も右方に位置している。これら被検物22、23および24を撮像することにより、イメージセンサー20の画素領域21に形成されたBの受光部において、例えば図3(a)に示す像が得られ、同様にGの受光部において図3(b)、Rの受光部において図3(c)に示す像が得られる。Bの波長の光は、例えば被検物22の左右位置において合焦し被検物23、24の位置では合焦していないので、図3(a)に示すように、被検物22の像22Bが最も明瞭に撮像され、被検物23、24の像23B、24Bはボケている。また、Gの波長の光は被検物23の位置において合焦し、Rの波長の光は被検物24の位置において合焦しており、図3(b)における被検物22、24の像22G、24G、図3(c)における被検物22、23の像22R、23Rはボケている。このように、被検物表面における光軸方向の段差等を、撮像した像がボケることで検出可能となっている。なお、この段差等と像のボケ量との関係は後述する。
以上ここまでは、計測装置1の部材構成について説明したが、以下において、図10に示すフローチャートを参照しながら、計測装置1を用いて被検物8の3次元形状を測定する計測方法について説明する。
ステップ1において、色出しレンズ11の光軸上に形成された基準ドット7cに対する左右方向への相対高さZを求めるためのデータテーブルを作成する。まず照明光5aが、被検物8の表面に照射されている状態で、被検物8の表面において色出しレンズ11の光軸上に形成された基準ドット7cの像が、イメージセンサー20の画素領域21において結像し、RGBの波長ごとに受光強度が検出される。このとき、例えば計測装置1を左右方向(色出しレンズ11の光軸方向)に移動させ、それぞれの移動位置において撮像された基準ドット7cの像を基に、受光した光の各受光強度を求める。その求められた各受光強度が演算処理部30に出力され、演算処理部30において各波長の受光強度ごとに、例えば受光強度の最大値が1となるように規格化する。このように規格化することにより、反射光5bの光強度および被検物8の表面の反射率に影響されない受光強度が得られる。
上記規格化された受光強度について、図4を参照しながら説明すると、イメージセンサー20に基準ドット7cの像が、例えば合焦した左右高さ位置において像22c、合焦位置から左右方向に少しずれた位置における像22b、合焦位置からさらに左右方向に大きくずれた位置における像22aのような円形に撮像されたとする。このとき、例えば像22cの中心部の受光強度が10で、像22cの直径が10であるとすると、受光強度/直径=10/10=1が算出され、この値が規格化された受光強度であるとともに、合焦位置なので受光強度は最大値の1となっている。また、焦点位置から左右方向にずれた位置において結像することで、像の中心部の受光強度は低下するとともに像の直径は大きくなる。例えば像22bの規格化された受光強度は、受光強度/直径=5/15=0.33、また像22aの規格化された受光強度は、受光強度/直径=2/20=0.1のように算出される。
上記のようにして得られた規格化された各受光強度を波長ごとに、受光強度を縦軸に、基準ドット7cに対する左右方向への相対高さZを横軸に取ってグラフ化したものを図6(a)に示している。図6(a)に示す強度曲線8BはBの波長の像、強度曲線8GはGの波長の像、強度曲線8RはRの波長の像からそれぞれ求めた曲線である。ここで、強度曲線8B、8G、8Rは、それぞれ距離Z5、Z0、Z6において受光強度がピーク値1を示している。さらに、強度曲線8Rから強度曲線8Bを引いて差分値を算出することにより、縦軸に差動信号、横軸に基準ドット7cに対する左右方向への相対高さZを表した差動曲線8Sが得られる(図6(b)を参照)。
ここで、図6(a)に示すように、基準ドット7cが位置している左右方向の高さZ0は、強度曲線8Gの受光強度がほぼピークとなる位置(Gの波長の光が合焦)であるとともに、強度曲線8Bと強度曲線8Rとが交差しており差動信号の値が零となる位置でもある。他の基準ドット7dにおける規格化された受光強度を算出して差動信号を求めた上で、差動曲線8Sを参照することにより左右方向も含めた、基準ドット7cに対する左右方向への相対高さZを求めることができる。なお、図6(b)に示すように、基準ドット7cが位置している左右方向の高さZ0を中心としておよそZ5からZ6までの測定可能領域Wにおいて差動曲線8Sはほぼ直線となっており、差動信号と左右方向への相対高さZとの対応関係が高精度に求まる領域となっている。よって、以下に述べる左右方向の相対高さZの算出には、この測定可能領域Wの領域を参照して求めることとする。
ステップ2に進み、色出しレンズ11の光軸上に位置していない基準ドット7dの規格化された受光強度を、上述の基準ドット7cの場合と同様にして求める。そして、この規格化された受光強度を基に基準ドット7dの位置における差動信号s1を求める。
ステップ3に進み、差動曲線8Sの測定可能領域Wを参照することにより、ステップ2において求めた差動信号s1に対応する左右方向への相対高さZ1を求めることができる。ここで、被検物8の表面のうちの、測定対象領域すべての基準ドット7bについても同様に、ステップ2および3を行う。こうすることで、各基準ドット7bについて規格化された受光強度を求めた上で差動信号を算出し、差動曲線8Sを参照して各差動信号に対応する左右方向への相対高さZ1を求める。そうすることにより、色出しレンズ11の光軸上に形成された基準ドット7cの左右方向の高さZ0を基準とした、各基準ドット7bの左右方向への相対高さが算出される。
ステップ4に進み、被検物8の表面に形成された各基準ドット7bと、平面状のイメージセンサー20上において結像した各基準ドット7bの像は、一対一に対応している。よって、ステップ3において算出された各基準ドット7bの左右方向への相対高さと、イメージセンサー20上での前後上下位置とを組み合わせることにより、被検物8の表面の3次元形状が求まりこのフローは終了する。
本発明の第1実施例に係る計測装置1の効果について簡潔にまとめると、第1に、被検物8の表面に照明光5を照射することにより、測定基準となる複数の基準ドット7bが被検物8の測定対象領域に同時に形成される。そして、色収差を利用してこの複数の基準ドット7bの3次元位置情報を同時に求め、これらの3次元位置情報を合成することで、被検物8の3次元形状が算出される構成となっている。よって、測定対象領域に複数の基準ドット7bを同時に形成するとともに、これら基準ドット7bの3次元位置情報が同時に求められるので、測定対象点(基準ドット7b)ごとに被検物8と計測装置1との相対位置を変えることなく、被検物8の3次元形状を短時間に算出することが可能となる。
第2に、一般の光学系において不可避的に発生する色収差を利用して、像のボケ量を定量化することにより被検物表面の凹凸を測定する構成となっている。よって、新たな装置を付加することなく簡素な構成でありながら、高精度な3次元形状測定が可能となっている。第3に、被検物の測定対象領域に測定基準となる複数の基準ドット7bが同時に形成されることにより、表面に特徴点(角および色の変化する部分等)がない被検物に対しても、3次元形状測定が可能となる。
図8に、本発明の第2実施例に係る計測装置50を示す。上述の第1実施例と同一番号を付した構成部材は、第1実施例で述べた通りであり、以下においては、第1実施例とは異なる構成を中心に説明する。
計測装置50の部材構成は、図8に示すように、上部に照明部51が設置されており、この照明部51の内部には、光源、照明レンズ系およびマルチドットパターン(いずれも図示せず)が配置されており、上述の実施例1と同様な照明光5aを被検物8に照射可能となっている。そして、被検物8の表面には、照明光5aが照射されることで複数の基準ドット7bが形成される。また、計測装置50において照明部51とは別の位置に、レンズ収差のうち色収差だけが補正されていない色出しレンズ11が設けられている。このように構成することで、照明部51から照射された照明光5aのうちで、被検物8の表面において反射した反射光5bが、色出しレンズ11を介して、イメージセンサー20の表面上で結像される。また計測装置50は、上述の第1実施例と同様に、図10に示すステップ1からステップ4に沿って、被検物8の3次元形状を算出する。このとき、ステップ1において、例えば色出しレンズ11の光軸上に形成された、基準ドット7cの像を基にデータテーブルを作成する。
本発明の第2実施例に係る計測装置50の効果について簡潔にまとめると、第1実施例に係る効果に加えて、照明部51と色出しレンズ11とを別位置に配置することで、照明光5aの照射角度を任意に構成できる。よって、複雑な形状を有した被検物の表面に対しても、照明光5aを照射してその反射光5bをイメージセンサー20において受光ができるので、複雑な表面形状を有した被検物の3次元形状測定が可能となる。
図9に、本発明の第3実施例に係る計測装置60を示す。上述の第1実施例と同一番号を付した構成部材は、第1実施例で述べた通りであり、以下においては、第1実施例とは異なる構成を中心に説明する。なお、計測装置60により3次元形状測定される被検物62は、例えば何らかの模様、マーク、パターン、エッジおよびコントラスト等の変化が表面に形成されているものとする。
計測装置60の部材構成は、色出しレンズ11、イメージセンサー20および演算処理部30を主体に構成されており、上述の実施例1および2とは異なり照明光学系を有していない。そのため、例えば自然光源61からの自然光を利用し、被検物62の表面からの反射光5bが色出しレンズ11を介してイメージセンサー20において結像されることで、波長の異なる複数の像が得られる構成となっている。また計測装置60は、上述の第1実施例と同様に、図10に示すステップ1からステップ4に沿って、被検物62の3次元形状を算出する。
ステップ1において、自然光源61からの自然光が被検物62の表面において反射し、反射光5bとなって色出しレンズ11に入射している。そして、RGBの波長ごとに被検物62の表面の像を撮像し、撮像された画像中において微小な画素領域21を走査することによって、例えばパターン、エッジおよびコントラスト変化のある部分を抽出する(図3(a)(b)(c)を参照)。そして、図9に示す被検物62の例えばエッジ部分62aの像を基準(実施例1および実施例2に示す基準ドット7c)にして、データテーブルを作成する。ステップ2において、被検物62の表面における例えばパターン、エッジおよびコントラスト変化のある部分(実施例1および実施例2に示す基準ドット7d)の差動信号を算出する。
本発明の第3実施例に係る計測装置60の効果について簡潔にまとめると、自然光源61からの自然光を利用することにより、照明光学系を用いないで計測装置60を構成している。よって、より簡素な構成の計測装置が実現でき、製造コストおよびメンテナンスを含めた維持管理コストをより低減可能となっている。
上述の実施例1から3において、イメージセンサー20の各画素領域21に、RGBの各受光部の代わりに光強度を検出可能なモノクロセンサーを形成するとともに、反射光5bの光路中に特定波長(例えばR、G、Bのいずれか)の光のみを透過させるフィルターを配置する。そして、フィルターを切り換え操作することで、反射光5bをRGBの波長ごとにモノクロセンサーにおいて結像させる。こうすることで、モノクロセンサーにおいて得られた3つの波長の受光強度のうち、2つの波長の受光強度を用いて差動曲線を求め、被検物の3次元形状を測定することも可能である。
上述の実施例1および2において、イメージセンサー20の各画素領域21に、RGBの各受光部の代わりに光強度を検出可能なモノクロセンサーを形成するとともに、照明光5aを発射する光源として、例えばR、G、Bの色別に発光可能なLEDを用いて構成する。そして、RGBの色別に時間的にずらして順次LEDを発光させるとともに、その発光されたLED光を発光と同期して順次波長ごとにモノクロセンサーにおいて受光させる。こうすることで、モノクロセンサーにおいて得られた3つの波長の受光強度のうち、2つの波長の受光強度を用いて差動曲線を求め、被検物の3次元形状を測定することも可能である。
上述の実施例1から3において、イメージセンサー20の画素領域21には、それぞれRGBの各受光部が形成されているが、この構成に限定されず、例えば独立してRGBの各画像が得られる3CCDと呼ばれる3管方式のCCD(イメージセンサー)が形成されている構成でも良い。
上述の実施例1から3において、被検物の表面の一部分(実施例1および実施例2における基準ドット7c)を基準として、ステップ1におけるデータテーブルを作成しているが、この構成に限定されず、例えば形状および各特長点が既知である基準測定対象物を撮像し、この基準測定対象物の表面の一部を基準として、データテーブルを作成しても良い。あるいは、平面ミラーなどを用いればすべて同じ高さとなるので、基準位置はどの表面でも良い。さらにこのとき、基準測定対象物自体が発光する立体であれば、照明光5aを照射しなくても良い。
上述の実施例1または2において、ステップ1で基準ドット7cの受光強度を像の幅で除算することにより、受光強度の規格化を行っているが、受光強度の規格化はこの方法に限定されず、例えば受光強度のピーク値を平均受光強度で除算する方法、像幅を平均受光強度で除算する方法、像面の大きさ(面積)を算出する方法およびフーリエ変換による方法等を用いても良い。
上述の実施例3において、エッジ部分の検出方法として画素領域21を走査させる方法に限定されない。例えばイメージセンサー20において得られた像の画像信号を、FFT(高速フーリエ変換)によりフーリエ変換し、フーリエ面上において高周波成分のみを抽出した後にフーリエ逆変換し、ほぼエッジ部分のみの画像を求める方法でも良い。または、図5(a)に示すような、3×3行列(微分オペレータ)で構成されたソーベルフィルターを使うことにより、上下方向に傾斜境界線が形成されて、前後方向に傾斜するエッジを検出し、図5(b)に示すようなソーベルフィルターを使うことにより、前後方向に境界線が形成されて、上下方向に傾斜するエッジを検出する方法でも良い。さらに、2次元的なエッジ部分の検出方法として、図5(c)および図5(d)に示すようなラプラシアンフィルタを使用することも可能である。
上述の実施例1および2において、被検物8の表面にドット状の基準ドット7bを形成するマルチドットパターン7を用いているが、この構成に限定されず、例えば図7(b)に示す格子パターン3、および図7(c)に示す縞パターン4を用いて計測装置を構成しても良い。さらに格子パターン3を用いた場合、左右格子3aと上下格子3bの交点である格子点3cの像を、被検物8の3次元形状測定の測定点(例えば実施例1および実施例2における基準ドット7b)として用いることが可能である。
上述の実施例1または2において、マルチドットパターン7を用いているが、この構成に限定されず、例えば照明光5aの光軸上に平面状の液晶ディスプレイパネルを配置して、液晶分子により白色の格子状またはマルチスポットパターンを、被検物8の表面に形成させる構成でも良い。さらに、上記液晶パネル自体は平面状の2次元形状であるが、これを光軸に対して斜めに傾斜させて配置することで、奥行き方向も含めた3次元の立体情報が得られるように投影することも可能である。
上述の実施例において、ステップ1でRおよびBの2つの波長を用いてデータテーブルを作成する構成となっているが、データテーブル作成に関しこの2つの波長により作成される構成に限定されず、任意の異なる2つの波長の組み合わせによりデータテーブル作成が可能である。
上述の実施例3において、ステップ1のデータテーブル作成時に、十分な反射光5bの受光強度を得るために、被検物62に対して白色補助光を照射して撮像を行うことも可能である。
上述の実施例において、被検物8および被検物62の表面は単一色で構成されていることが好ましい。
1 計測装置 5a 照明光
5 光源(照明光学系) 6 照明レンズ系(照明光学系)
8 被検物 11 色出しレンズ(結像レンズ系)
20 イメージセンサー 21 画素領域(画素)
30 演算処理部 25 レンズ(光学系)
5 光源(照明光学系) 6 照明レンズ系(照明光学系)
8 被検物 11 色出しレンズ(結像レンズ系)
20 イメージセンサー 21 画素領域(画素)
30 演算処理部 25 レンズ(光学系)
Claims (10)
- 平面状に並んだ複数の画素を有したイメージセンサーと、
被検物の表面からの光を入射させて前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像させる結像レンズ系と、
前記結像レンズ系に入射した光が前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像した状態において、前記イメージセンサーを構成する前記複数の画素のそれぞれが受光した光の強度に基づいて、前記被検物の表面の高さを算出して前記被検物の3次元形状を測定する演算処理部とを備え、
前記複数の画素は受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出し、
前記演算処理部は前記複数の画素において検出された前記波長毎の受光強度のうち、2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出し、前記強度レベルの差を基に前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を求めることを特徴とする計測装置。 - 前記複数の画素はそれぞれ、赤色光、緑色光および青色光を受光する3つのカラーセンサーを有しており、
前記演算処理部は、前記3つのカラーセンサーのうち2つのカラーセンサーにおける受光強度から強度レベルの差を検出することを特徴とする請求項1に記載の計測装置。 - 前記複数の画素はそれぞれ、光の強度を検出するモノクロセンサーを有し、
特定波長の光を透過させるフィルタが、前記被検物の表面からの光の光路上に配置されており、
前記フィルタを透過した光が前記モノクロセンサーにおいて受光されることを特徴とする請求項1に記載の計測装置。 - 平面状に並んだ複数の画素を有したイメージセンサーと、被検物の表面からの光を入射させて前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像させる結像レンズ系と、前記結像レンズ系に入射した光が前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像した状態において、前記イメージセンサーを構成する前記複数の画素のそれぞれが受光した光の強度に基づいて、前記被検物の表面の高さを算出して前記被検物の3次元形状を測定する演算処理部とからなる計測装置の計測方法であって、
受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出する受光強度検出ステップと、前記複数の画素において検出された前記波長毎の受光強度のうち2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出するレベル差検出ステップと、前記強度レベルの差を基に前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を測定する測定ステップとから構成されていることを特徴とする計測方法。 - 平面状に並んだ複数の画素を有したイメージセンサーと、
被検物の表面に照明光を照射する照明光学系と、
前記照明光が照射された前記被検物の表面からの光を入射させて前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像させる結像レンズ系と、
前記結像レンズ系に入射した光が前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像した状態において、前記イメージセンサーを構成する前記複数の画素のそれぞれが受光した光の強度に基づいて、前記被検物の表面の高さを算出して前記被検物の3次元形状を測定する演算処理部とを備え、
前記複数の画素は受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出し、
前記演算処理部は前記複数の画素において検出された前記波長毎の受光強度のうち、2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出し、前記強度レベルの差を基に前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を求めることを特徴とする計測装置。 - 前記照明光は、複数のドット状または格子状に形成されて前記被検物の表面に照射され、
前記演算処理部は、前記被検物の表面のうちで複数のドット状または格子状の前記照明光が照射された部分における、前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を求めることを特徴とする請求項5に記載の計測装置。 - 前記複数の画素はそれぞれ、赤色光、緑色光および青色光を受光する3つのカラーセンサーを有しており、
前記演算処理部は、前記3つのカラーセンサーのうち2つのカラーセンサーにおける受光強度から強度レベルの差を検出することを特徴とする請求項5または6に記載の計測装置。 - 前記複数の画素はそれぞれ、光の強度を検出するモノクロセンサーを有し、
特定波長の光を透過させるフィルタが、前記照明光の光路上または前記被検物の表面からの光の光路上に配置されており、
前記フィルタを透過した光が前記モノクロセンサーにおいて受光されることを特徴とする請求項5または6に記載の計測装置。 - 前記複数の画素はそれぞれ、前記モノクロセンサーを有しており、
前記照明光学系は特定波長の照明光を前記被検物の表面に照射し、
前記結像レンズ系は、前記被検物の表面からの特定波長の光を入射させて前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像させ、
前記演算処理部は、前記モノクロセンサーが受光した特定波長の光の強度に基づいて、前記被検物の表面の高さを算出して前記被検物の3次元形状を測定することを特徴とする請求項5または6に記載の計測装置。 - 平面状に並んだ複数の画素を有したイメージセンサーと、被検物の表面に照明光を照射する照明光学系と、前記照明光が照射された前記被検物の表面からの光を入射させて前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像させる結像レンズ系と、前記結像レンズ系に入射した光が前記イメージセンサー上に前記被検物の表面の像を結像した状態において、前記イメージセンサーを構成する前記複数の画素のそれぞれが受光した光の強度に基づいて、前記被検物の表面の高さを算出して前記被検物の3次元形状を測定する演算処理部とからなる計測装置の計測方法であって、
前記被検物の表面に前記照明光を照射する照射ステップと、受光した光を少なくとも2つの波長毎に分けて波長毎の受光強度を検出する受光強度検出ステップと、前記複数の画素において検出された前記波長毎の受光強度のうち2つの波長の受光強度から強度レベルの差を検出するレベル差検出ステップと、前記強度レベルの差を基に前記被検物の表面の垂直方向距離を測定して前記被検物の3次元形状を測定する測定ステップとから構成されていることを特徴とする計測方法。
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- 2007-09-19 JP JP2007242916A patent/JP2009074867A/ja active Pending
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