JP5373835B2 - ガスセンサ素子及びガスセンサ - Google Patents
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Description
又、この多孔質保護層を2層とし、下層の気孔率を上層の気孔率よりも大きくすることで、気孔によって粗面化された下層上にアンカー効果で上層を密着させる技術が開発されている(特許文献1、2参照)。
しかしながら、ガスセンサ素子の被水という現象としては、上記したように水滴(例えば、排気管内で結露した凝縮水)が飛散してガスセンサ素子へ付着するだけでなく、多孔質保護層内に水が浸みて凍結する場合がある。例えば、寒冷地等で内燃機関が放置されると、排気管に装着されるガスセンサ素子で結露が生じ、多孔質保護層内に水が浸みて凍結する場合がある。かかる場合に多孔質保護層の下層の気孔率が上層よりも大きいと、下層(内側多孔質層)に水は浸み込み易い傾向にある。このとき、積層体の周方向を被覆する内側多孔質層において、局所的に気孔率が過大な部分が存在すると、その過大な部分に水が多量に浸入した状態で凍結し、その後にガスセンサ素子をヒータ加熱した際にその部分の水分が局所的に膨張して多孔質保護層や素子の割れを引き起こすおそれがあることが本発明者らの検討により判明した。つまり、内側多孔質層の各部位において気孔率が大きくばらつくと、ガスセンサ素子の凍結に起因した耐被水性の低下につながることがある。
そこで、本発明は、多孔質保護層を複数層にした際に生ずる、多孔質保護層に浸み込んだ水の凍結に起因した多孔質保護層やガスセンサ素子の割れを防止したガスセンサ素子及びガスセンサの提供を目的とする。
このように、内側多孔質層の気孔率を外側多孔質層の気孔率より高くすると、積層体側の内側多孔質層の空隙の合計体積が外側多孔質層に対して大きくなって断熱性が高まり、外側多孔質層側が被水して冷却されてもガスセンサ素子が急冷され難くなる。一方、外側多孔質層の気孔率を内側保護層に対して相対的に小さくすることで、被毒物質や水滴は気孔率を小さくした外側多孔質層で効果的に捕捉されるので、検出素子まで到達し難い。
又、本発明のガスセンサ素子では、外側多孔質層に対して気孔率が大きい内側多孔質層の気孔率の関係が、横断面が略矩形状をなす積層体の2つの短辺及び2つの長辺上における4部位の気孔率を比較したときに、4つの気孔率の差が10%以内を満たすようにしている。このように内側多孔質層の主要な4部位といえる、2つの短辺及び2つの長辺上に位置する内側多孔質層の4部位の気孔率の差(4部位の気孔率の最大値と最小値との差)を10%以下とすることで、内側多孔質層が水を吸収しても、局所的に水が浸み込む部位が生じてその部位にて凍結が生じることが防止ないしは抑制され、ヒータ加熱時に水分が膨張する際に発生する熱応力が内側保護層の全体に対して均一に近付くので、多孔質保護層やガスセンサ素子が割れ難くなる。
図1は本発明の実施形態に係るガスセンサ(酸素センサ)1の長手方向(軸線L方向)に沿う断面図、図2は検出素子300及びヒータ200の模式分解斜視図、図3は検出素子300の軸線L方向に直交する断面図である。
図3は、図1のガスセンサ素子100の先端側の部分拡大断面図であり、多孔質保護層20は、検出素子部300とヒータ部200との積層体の表面直上に設けられる内側多孔質層21と、内側多孔質層21の外表面を覆って形成される外側多孔質層23とを備えている。
多孔質保護層20は、上述したように、内側多孔質層21と、内側多孔質層21を覆って形成される外側多孔質層23とを備えており、内側多孔質層21の気孔率が外側多孔質層23の気孔率より高くなっている。なお、多孔質保護層20に形成される気孔は、ガス透過が可能なように三次元網目構造をなしている。さらに、本実施の形態では、外側多孔質層23に対して気孔率が大きい内側多孔質層21の気孔率の関係が、横断面が略矩形状をなす積層体の2つの短辺及び2つの長辺上における4部位の気孔率を比較したときに、4つの気孔率の最大値と最小値との差が10%以内を満たすようにしている。この点については後述する。
このように、内側多孔質層21の気孔率を外側多孔質層23の気孔率より高くすると、積層体側の内側多孔質層21の空隙の合計体積が大きくなって断熱性が高まり、外側多孔質層23側が被水して冷却されてもガスセンサ素子100が急冷され難くなる。一方、外側多孔質層23の気孔率を内側多孔質層よりも小さくすることがで、被毒物質や水分は気孔率を小さくした外側多孔質層23で捕捉されるので、ガスセンサ素子100まで到達し難い。
そこで、内側多孔質層21の気孔率の関係を、横断面が略矩形状をなす積層体の2つの短辺及び2つの長辺上における4部位の気孔率を比較したときに、4つの気孔率の差が10%以内(より好ましくは5%以内)となるようにすることで、内側多孔質層21が水を吸収しても、局所的に水が浸み込む部分が生じるのを抑制でき、ヒータ加熱時に水分が膨張する際に発生する熱応力が内側多孔質層23全体で略均一になるので、多孔質保護層20やガスセンサ素子100が割れ難くなる。
又、後述する画像解析で求めた内側多孔質層21の気孔率を35〜70%とすると、内側多孔質層21に断熱性を良好に確保できるので好ましい。内側多孔質層21の気孔率が35%未満であると、空隙の合計体積が小さくなって断熱層としての効果が低下し、70%を超える皮膜を製造することが難しくなることがある。
又、内側多孔質層21の厚みは、100〜800μmとすると好ましい。
特に、粗粒子と該粗粒子より粒径が小さい微粒子から外側多孔質層23を形成すると、後述するようにこの微粒子が内側多孔質層21側に移行し、内側多孔質層21との密着性をさらに向上させることができる。
又、後述する画像解析で求めた外側多孔質層23の気孔率を10〜50%とすると、被毒物質や水滴のバリア性を確保しつつガス透過性を低下させないので好ましい。外側多孔質層23の気孔率が10%未満であると被毒物質によって目詰まりし易く、50%を超えると水が外側多孔質層23内部に浸入して耐被水性が低下することがある。
又、外側多孔質層23の厚みは、100〜800μmとすると好ましい。
このようなことから、スラリーに含まれる上記セラミック粒子の粒度分布のバラツキとして、D90/D10(90%累積度数分布粒子径/10%累積度数分布粒子径)を6以下すると好ましい。
又、スラリーを調製する際の攪拌時間は、スラリーの組成や粘度によっても変化するが、3時間以上(好ましくは5時間以上)に設定すると好ましい。
まず、後述する実施例1の多孔質保護層20の断面写真(SEM像、図5参照)に基づき、多孔質保護層20の厚み方向の2値化を市販の画像解析ソフトを用いて行い、断面写真の黒色部の割合を求めてゆく。なお、多孔質保護層20の断面写真は、まず、ガスセンサ素子100を長手方向に直交する向きの断面(横断面)を採り、その横断面において、外側多孔質層23及び内側多孔質層21のうち積層体の各辺の中央部位上に位置する部位を代表にして断面写真(SEM像)を撮った後、画像解析を通じて4部位の気孔率を求めた。断面写真の黒色部(図5の矢視CA、CBに相当)は気孔に対応し、白色部は皮膜の骨格に対応するので、黒色部が多いほど気孔率が大きいことを示す。
なお、図5の例では、詳しくは後述する図7のようにして多孔質保護層20の製造を行ったため、外側多孔質層23の内側多孔質層21側に中間領域22が形成されているが特に差支えない。
なお、図4の例では、断面(横断面)が矩形状のガスセンサ素子100において、内側多孔質層21のうち積層体の各辺(4面)の中央部位上に位置する部位を含む領域a〜dの4箇所の断面SEM像を撮影して画像解析を行い、領域a〜dの気孔率の差(即ち、各領域間の差)を求めている。これは、上記したスラリー中の粒子の粒度分布やスラリーの攪拌時間を管理した状態であれば、スラリーを塗布した後に焼成して得られる被膜の気孔率が各部位でほぼ一定であるため、内側多孔質層21の代表的な位置(例えば、検出素子10の4面のそれぞれ中央部)の断面SEM像を撮影すれば、内側多孔質層21の全体の気孔率の差が10%以下であるとみなしてよいからである。従って、内側多孔質層21における断面SEM像の撮影位置は限定されず、例えば、内側多孔質層21の周方向に一定間隔の複数の位置で断面SEM像を撮影してもよく、検出素子10の4面につき、それぞれ中央部と両端部で断面SEM像を撮影してもよい。
まず、ガスセンサ素子100の先端部の表面全周にわたって内側多孔質層21を形成する(図7(a))。この際、内側多孔質層21が外側多孔質層23に対して高い気孔率となるよう、上記した内側多孔質層23を形成するためのスラリーに焼失性の造孔材を添加したものを焼結するとよく、造孔材が焼失した部分が三次元網目構造の比較的大きな気孔CAを形成する。なお、内側多孔質層23を形成するためのスラリーは、ディップ法によりガスセンサ素子100に塗布することができる。
次に、内側多孔質層21の表面に外側多孔質層23となるスラリー23xをディップ法により塗布する(図7(b))。スラリー23xは、粗粒子231と、粗粒子231より粒径が小さい微粒子232とを含む。このとき、スラリー23x中の微粒子232が、内側多孔質層21との界面近傍の気孔CA内の一部に入り込む。この状態で外側多孔質層23を焼結して形成する(図7(c))。
なお、外側多孔質層23のうち、中間領域22側の部分では微粒子232が減少するが、粗粒子231が残存して皮膜の骨格を形成するので、外側多孔質層23が安定して形成される。粗粒子231や微粒子232の隙間が外側多孔質層23の三次元網目構造をなす気孔CBを形成する。
なお、外側多孔質層23となるスラリー2が粗粒子と微粒子とを共に含むことが必須でないのはいうまでもない。
スラリーA:アルミナ粉末(D10:0.24μm、D50:0.40μm、D90:0.60μmの粒度分布)40vol%、カーボン粉末(D10:10.5μm、D50:20.6μm、D90:42.2μmの粒度分布)60vol%、アルミナゾル(外配合)10wt%を秤量し、さらにエタノールを添加して攪拌して調製した。
スラリーB:スピネル粉末(D10:24.6μm、D50:44μm、D90:88μm)60vol%、アルミナ粉末(D10:0.24μm、D50:0.40μm、D90:0.60μm)40vol%、アルミナゾル(外配合)10wt%を秤量し、さらにエタノールを添加して10時間攪拌して調製した。
なお、スラリーA及びスラリーBを構成する各粉末の粒度分布は、各セラミック粒子(粉末)、カーボン粉末をレーザ回折散乱法により測定した累積粒度分布の微粒側から10%累積度数分布粒子径をD10、50%累積度数分布粒子径をD50、90%累積度数分布粒子径をD90として表した。
得られた断面写真に基づき、外側多孔質層23側及び内側多孔質層21の画像解析を行い、断面写真のに占める黒色部の割合を求めた。個々の画像解析は100×100μmの領域について行った。なお、断面写真の取得位置及び気孔率の求め方は、上述した通りである。
このようにして、外側多孔質層23及び内側多孔質層21の気孔率(平均気孔率)を決定した。次いで、内側多孔質層21については、図6に示す各領域a〜dの断面SEM像に基づき、各領域a〜dの気孔率のばらつき(即ち、気孔率の最大値と最小値との差)を算出した。
スラリーC:アルミナ粉末(D10:0.48μm、D50:1.26μm、D90:3.78μmの粒度分布)40vol%、カーボン粉末(D10:10.5μm、D50:20.6μm、D90:42.2μmの粒度分布)60vol%、アルミナゾル(外配合)で10wt%を秤量し、さらにエタノールを添加して10時間攪拌して調製した。
実施例と同様にして、比較例の多孔質保護層の断面SEMを撮影し、外側多孔質層23及び内側多孔質層21の気孔率を決定した。又、内側多孔質層21の各領域a〜dの気孔率のばらつきを算出した。
まず、常温のガスセンサ素子の多孔質保護層を水に浸し、30分間減圧下で放置した。その後、−20℃の環境試験機内にガスセンサ素子を投入し、水が完全に凍結するまで放置した。水が凍結したことを確認した後、ガスセンサ素子のヒータ部に12Vの電圧を印加し、センサ素子温が800℃になってからヒータ部の通電制御を継続して5分間保持した。なお、センサ素子温が800℃になったことは酸素濃度検出セルのインピーダンスの値をもとに判断した。
試験終了後、拡大鏡にて多孔質保護層の外観を観察し、多孔質保護層の損傷(ハガレやカケ)の有無を目視で判定した。
得られた結果を表1に示す。なお、表1において、被水試験の結果は、5本のガスセンサ素子の試験で多孔質保護層の損傷が生じた本数を示す。
一方、内側多孔質層の気孔率のばらつきが10%を超えた比較例の場合、半数以上に多孔質保護層の損傷が見られ、耐被水性に劣った。これは、図8に示すように、比較例の場合、内側多孔質層となるスラリー中の粒子(アルミナ粉末)の累積粒度分布が実施例1,2に比べてブロードであったためと考えられる。
20 多孔質保護層
21 内側多孔質層
23 外側多孔質層
30 ハウジング
104、105、108、110 一対の電極
105、109 固体電解質体
100 ガスセンサ素子
200 ヒータ部
300 検出素子部
L 軸線方向
a〜d 内側多孔質層における4部位
Claims (2)
- 固体電解質体と該固体電解質体に配置された一対の電極とを有する検出素子部、及び、絶縁セラミック体に通電により発熱するヒータを設けてなるヒータ部を積層してなると共に、長手方向に延びて当該長手方向に直交する向きの横断面が略矩形状をなす積層体と、前記積層体のうち測定対象ガスに晒される先端部の全周を被覆してなる多孔質保護層と、を備えるガスセンサ素子であって、
前記多孔質保護層は、検出素子側に設けられる内側多孔質層と、該内側多孔質層上に形成される外側多孔質層とを備え、
前記内側多孔質層の気孔率が前記外側多孔質層の気孔率より高く、
さらに、前記横断面において、前記積層体の2つの短辺及び2つの長辺上に位置する前記内側多孔質層における4部位の気孔率の差が10%以下であるガスセンサ素子。 - 被測定ガス中の特定ガス成分の濃度を検出するセンサ素子と、該センサ素子を保持するハウジングとを備えるガスセンサにおいて、
前記センサ素子は、請求項1に記載のガスセンサ素子を用いることを特徴とするガスセンサ。
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