JP4842823B2

JP4842823B2 - 試験装置、コンフィグレーション方法、及びデバイスインターフェース

Info

Publication number: JP4842823B2
Application number: JP2006531797A
Authority: JP
Inventors: 信栄鷲津; 敦章渋谷
Original assignee: Advantest Corp
Current assignee: Advantest Corp
Priority date: 2004-08-20
Filing date: 2005-08-15
Publication date: 2011-12-21
Anticipated expiration: 2025-08-15
Also published as: EP1790990A1; US7913002B2; CN101031807A; KR20070053274A; CN101031807B; US20060041694A1; WO2006019082A1; JPWO2006019082A1; EP1790990A4

Description

本発明は、電子デバイスを試験する試験装置、当該試験装置に用いるデバイスインターフェース、及び当該試験装置のコンフィグレーション方法に関する。また、本発明は下記の米国特許出願に関連する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の記載の一部とする。
出願番号１０／９２３，６３４出願日２００４年８月２０日

従来、半導体回路等の電子デバイスを試験する試験装置の構成として、電子デバイスを載置するデバイスインターフェースと、デバイスインターフェースを介して電子デバイスと接続され、電子デバイスに入力する入力信号の生成等を行うテストモジュールと、テストモジュールを制御するための信号を供給する制御部とを備える構成が知られている。テストモジュールは、デバイスインターフェースと制御部との間に設けられたスロットに設置される。

通常このような構成では、デバイスインターフェースにおいて電子デバイスと接続されるコネクタと、それぞれのスロットとの接続は固定されており、ユーザが自由に設定することはできなかった。このため、ユーザの使用目的に対応することが出来ない場合があり、スケーラビリティの観点で劣るものであった。

このような構成に対し、スケーラビリティの向上のため、それぞれのスロットと、デバイスインターフェースにおけるコネクタとの接続を自由に設定できる構成が考えられる。当該構成にした場合、スロットとコネクタとがユーザの設定通りに接続されているかを診断する必要が生じる。従来の試験装置では、このような構成を想定していないため、スロットとコネクタとの接続関係を診断する機能は実現されていない。

このため本発明は、上述した課題を解決することのできる試験装置、コンフィグレーション方法、及びデバイスインターフェースを提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置であって、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号をバススイッチ部に入力し、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する制御部と、複数の出力ポートに対応して設けられ、電子デバイスに入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタを有し、複数のスロットを、いずれのコネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフェースとを備え、デバイスインターフェースは、診断用のテストモジュールが設置されたスロットから受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタを介して、それぞれのテストモジュールに順次供給する診断用デコーダを更に有し、制御部は、対応するコネクタを介して診断用信号を受け取ったことに応じてテストモジュールが出力する所定の信号をバススイッチ部を介して受け取り、いずれの出力ポートから所定の信号を受け取ったかに基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタに接続されているかを検出する、試験装置を提供する。

試験装置は、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタと接続されるべきかを示すコンフィグレーションファイルを予め格納するコンフィグレーションメモリを更に備え、制御部は、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタに接続されているかの検出結果と、コンフィグレーションファイルとを比較することにより、複数の出力ポートと、複数のコネクタとが正しく接続されているか否かを判定してよい。

試験装置は、それぞれのスロットに設けられ、診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を制御部に出力する診断用回路を有する複数のテストモジュールを更に備えてよい。診断用回路は、所定の信号を、当該スロットと対応する出力ポートを介して制御部に出力し、制御部は、いずれの出力ポートから所定の信号を受け取ったかに基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタに接続されているかを検出してよい。

コンフィグレーションメモリは、それぞれのスロットに設置されるべきテストモジュールを識別するモジュール識別情報を更に示すコンフィグレーションファイルを格納し、テストモジュールは、当該テストモジュールのモジュール識別情報を格納する識別メモリを更に有し、診断用回路は、診断用信号を受け取った場合に、識別メモリに格納されたモジュール識別情報を制御部に更に出力し、制御部は、それぞれのスロットに設置されたテストモジュールから受け取ったモジュール識別情報と、当該スロットに設置されるべきテストモジュールのモジュール識別情報とを比較し、それぞれのスロットに正しいテストモジュールが設置されているか否かを更に判定してよい。

テストモジュールは、制御信号に基づいて入力信号を生成するデバイス試験用回路を更に有し、それぞれのコネクタは、デバイス試験用回路と電子デバイスとを接続するデバイスピンと、診断用回路と診断用デコーダとを接続する診断用ピンとを有してよい。

本発明の第２の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置のコンフィグレーションを行うコンフィグレーション方法であって、試験装置は、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号をバススイッチ部に入力し、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する制御部と、複数の出力ポートに対応して設けられ、電子デバイスに入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタを有し、複数のスロットを、いずれのコネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフェースとを備え、コンフィグレーション方法は、それぞれのコネクタを介してそれぞれのテストモジュールに、診断用信号を順次供給させる診断用信号供給ステップと、対応するコネクタを介して診断用信号を受け取ったことに応じてテストモジュールが出力する所定の信号をバススイッチ部を介して受け取り、いずれの出力ポートから所定の信号を受け取ったかに基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタに接続されているかを検出する位置検出ステップとを備えるコンフィグレーション方法を提供する。

診断用信号供給ステップは、所定のスロットに配置された診断用のテストモジュールに、他のテストモジュールに供給する診断用信号を順次生成させてよい。

本発明の第３の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置において、電子デバイスと試験装置本体とを接続するデバイスインターフェースであって、試験装置本体は、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号をバススイッチ部に入力し、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する制御部と、複数の出力ポートに対応して設けられ、電子デバイスに入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットとを備え、デバイスインターフェースは、電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタと、複数のスロットを、いずれのコネクタに接続するかを切り替えるスイッチ回路と、診断用のテストモジュールが設置されたスロットから受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタを介して、それぞれのテストモジュールに順次供給する診断用デコーダとを備え、制御部に、対応するコネクタを介して診断用信号を受け取ったことに応じてテストモジュールが出力する所定の信号をバススイッチ部を介して受け取らせ、いずれの出力ポートから所定の信号を受け取ったかに基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタに接続されているかを検出させる、デバイスインターフェースを提供する。

なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。

本発明によれば、電子デバイスに接続されるコネクタと、テストモジュールが設置されるスロット等とが、正しく接続されているかを診断することができる。また、それぞれのスロットに、正しいテストモジュールが設置されているかを診断することができる。

本発明の実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。パフォーマンスボード３４の構成の一例を示す図である。診断用のテストモジュール５０−１の構成の一例を示す図である。他のテストモジュール５０の構成の一例を示す図である。コネクタ３６の構成の一例を示す図である。コンフィグレーションファイルのデータ構造の一例を示す図である。試験装置１００のコンフィグレーション方法の一例を示すフローチャートである。Ｓ３０８、Ｓ３１０、Ｓ３１２の処理の詳細を説明するフローチャートである。

符号の説明

１０・・・システムコントローラ、１２・・・コンフィグレーションメモリ、１４・・・ハブ、１６・・・サイト、１８・・・バススイッチ部、２０・・・スロット、３０・・・デバイスインターフェース、３２・・・スイッチ回路、３４・・・パフォーマンスボード、３６・・・コネクタ、３８・・・診断用デコーダ、５０・・・テストモジュール、５２・・・診断用信号生成部、５４・・・バッファ、５６・・・電圧シフト回路、５８・・・デバイス試験用回路、６０・・・制御部、６２・・・ロケーションセンス回路、６４・・・識別メモリ、６６・・・バッファ、６８・・・プルアップ抵抗、７０・・・診断用回路、７２・・・デバイスピン、７４・・・診断用ピン、８０・・・診断用デコーダ、１００・・・試験装置、２００・・・電子デバイス

以下、発明の実施形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本発明の実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。試験装置１００は、例えば半導体チップ等の複数の電子デバイス（２００−１〜２００−８、以下２００と総称する）を試験する装置であって、制御部６０、バススイッチ部１８、複数のスロット（２０−１〜２０−６４、以下２０と総称する）、複数のテストモジュール（５０−１〜５０−６４、以下５０と総称する）、及びデバイスインターフェース３０を備える。

制御部６０は、電子デバイス２００を試験するために予め定められた試験プログラムに応じて、複数の制御信号をバススイッチ部１８に入力する。制御部６０は、システムコントローラ１０、コンフィグレーションメモリ１２、ハブ１４、及び複数のサイト（１６−１〜１６−８、以下１６と総称する）を有する。

システムコントローラ１０は、試験プログラムに応じて試験装置１００の動作を制御する。即ち、試験プログラムに応じた制御信号を生成する。複数のサイト１６は、試験するべき複数の電子デバイス２００に対応して設けられ、対応する電子デバイス２００に接続されるテストモジュール５０を制御し、当該テストモジュール５０と信号の授受を行う。ハブ１４は、システムコントローラ１０が生成した制御信号を、それぞれのサイト１６に分配する。また、コンフィグレーションメモリ１２は、試験装置１００の設定を示すコンフィグレーションファイルを予め格納する。ここで、コンフィグレーションファイルは、試験装置１００のユーザが予め格納するファイルであってよく、試験装置１００の設定とは、例えばバススイッチ部１８の設定、使用するテストモジュール５０の情報、デバイスインターフェース３０の設定、バススイッチ部１８の出力ポートがデバイスインターフェース３０のいずれのコネクタと接続されるべきかを示す情報、それぞれのスロット２０に設置されるべきテストモジュール５０を識別するモジュール識別情報等である。

バススイッチ部１８は、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替える。即ち、バススイッチ部１８は、それぞれのサイト１６に、いずれの出力ポートを割り当てるかを設定する。本例におけるバススイッチ部１８は一例として、サイト１６−１に、出力ポート１〜８を割り当て、サイト１６−２に、出力ポート９〜１６を割り当て、以下同様にそれぞれのサイト１６に８個のポートを割り当てる。制御部６０は、バススイッチ部１８を制御することにより、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する。

複数のスロット２０は、テストモジュール５０が設置されるスロットであって、バススイッチ部１８の複数の出力ポートに対応して設けられる。それぞれのテストモジュール５０は、対応する電子デバイス２００と信号の授受を行うモジュールであり、電子デバイス２００を試験するためのそれぞれの機能毎に設けられる。例えばテストモジュール５０は、対応する電子デバイス２００に入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、対応する電子デバイス２００が出力する出力信号を受け取り、当該電子デバイス２００の良否を判定するモジュールであってよく、また電子デバイス２００に電源電力を供給するモジュールであってもよい。またテストモジュール５０は、アナログ又はディジタルの信号の授受を電子デバイス２００と行うモジュールであってよく、直流又は交流の信号の授受を電子デバイス２００と行うモジュールであってもよい。

デバイスインターフェース３０は、電子デバイス２００を載置するボードであって、電子デバイス２００とテストモジュール５０とを電気的に接続する。デバイスインターフェース３０は、複数の電子デバイス２００が接続される複数のコネクタが設けられるパフォーマンスボード３４と、複数のスロット２０をいずれのコネクタに接続するかを切り替えるスイッチ回路３２とを有する。パフォーマンスボード３４は、一般にロードボードと呼ばれる場合もある。

本例における試験装置１００によれば、バススイッチ部１８を切り替えることにより、バススイッチ部１８の入力ポートと、出力ポート及びスロット２０とを任意に接続することができる。またスイッチ回路３２を切り替えることにより、バススイッチ部１８の出力ポート及びスロット２０と、デバイスインターフェース３０のコネクタとを任意に接続することができる。スイッチ回路３２は、例えば複数のケーブルを有しており、ケーブルの配線を変更することによって、スロット２０と当該コネクタとの接続を変更してよい。なお、スイッチ回路３２を、テストフィクスチャと呼ぶ場合もある。

図２は、パフォーマンスボード３４の構成の一例を示す図である。パフォーマンスボード３４は、複数のコネクタ（３６−１〜３６−６４、以下３６と総称する）と、診断用デコーダ３８とを有する。複数のコネクタ３６は、スイッチ回路３２を介してテストモジュール５０に接続され、当該テストモジュール５０と電子デバイス２００とを電気的に接続する。前述したように、スイッチ回路３２を設定することにより、任意のテストモジュール５０と、任意のコネクタ３６とを接続することができる。

本例における試験装置１００は、電子デバイス２００を試験する試験モードと、バススイッチ部１８の出力ポートとコネクタ３６との接続関係を確認するための診断モードとを有する。試験モードで動作する場合、それぞれのテストモジュール５０は、対応するコネクタ３６を介して電子デバイス２００と信号の授受を行う。

診断モードで動作する場合、試験装置１００は、所定のスロット２０に診断用のテストモジュール５０を設置し、診断用のテストモジュール５０は、それぞれのコネクタ３６から、スイッチ回路３２、他のテストモジュール５０、バススイッチ部１８の出力ポートの順に診断用の信号を伝送させる。制御部６０は、それぞれのコネクタ３６に供給した診断用信号が、他のテストモジュール５０のいずれに伝送されるかを検出し、スイッチ回路３２の設定が、コンフィグレーションメモリ１２が格納したコンフィグレーションファイルと整合するかを確認する。即ち、制御部６０は、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタ３６に接続されているかの検出結果と、コンフィグレーションファイルとを比較することにより、複数の出力ポートと、複数のコネクタ３６とが正しく接続されているか否かを判定する。複数の出力ポートと複数のコネクタ３６とが正しく接続されていない場合、制御部６０は試験装置１００のユーザにその旨を通知する。

診断用デコーダ３８は、診断用のテストモジュール５０が設置されたスロット２０から受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタ３６を介して、それぞれのテストモジュール５０に順次供給する。診断用のテストモジュール５０が設置されるスロット２０は予め定められており、本例においては、診断用のテストモジュール５０はスロット２０−１に設置される。

そして、診断用デコーダ３８は、複数のコネクタ３６のうち、予め定められたコネクタ３６−１を介してスロット２０−１から受け取る診断用信号を、それぞれのテストモジュール５０に順番に供給する。ここで、試験装置１００が診断モードで動作する場合、制御部６０は、診断用のテストモジュール５０−１が設置されるべきスロット２０−１と、複数のコネクタ３６のうちの当該予め定められたコネクタ３６−１とを接続するようにスイッチ回路３２を制御し、診断用のテストモジュール５０−１に診断用信号を生成させるための制御信号を供給する。

診断用のテストモジュール５０−１は、与えられる制御信号に応じて、それぞれのコネクタ３６を指定する診断用信号を生成する。例えば診断用テストモジュール５０−１は、それぞれのコネクタ３６を２進数で指定する複数ビットの診断用信号を生成する。診断用デコーダ８０は、２進数の診断用信号を、当該２進数で示されるビットのみが１となる複数ビットの診断用信号にデコードする。診断用デコーダ８０が出力する診断用信号のそれぞれのビットは、複数のコネクタ３６のいずれかに対応付けられており、当該診断用信号のそれぞれのビットは、対応するコネクタ３６を介してテストモジュール５０に供給される。例えば、診断用のテストモジュール５０−１は、１ずつ増加する２進数の診断用信号を順次生成することにより、それぞれのテストモジュール５０に、所定の論理値を示す診断用信号を順次供給することができる。以下、一例としてＨ論理の診断用信号を用いて説明する。

図３は、診断用のテストモジュール５０−１の構成の一例を示す図である。診断用のテストモジュール５０−１は、診断用信号生成部５２、バッファ５４、及び電圧シフト回路５６を有する。診断用信号生成部５２は、前述したように、バススイッチ部１８を介して制御部６０から与えられる制御信号に応じて診断用信号を生成する。

例えば制御部６０は、それぞれのコネクタ３６を順次指定する複数の制御信号を、診断用信号生成部５２に順次供給し、診断用信号生成部５２は、それぞれの制御信号において指定されたコネクタ３６に対応する２進数の診断用信号を順次生成する。バッファ５４は、診断用信号生成部５２と電圧シフト回路５６との間に設けられ、診断用信号生成部５２が生成した診断用信号を、コネクタ３６−１を介して診断用デコーダ３８に供給する。また電圧シフト回路５６は、バッファ５４が出力する診断用信号の電圧レベルを任意のレベルに調整する。

図４は、他のテストモジュール５０の構成の一例を示す図である。ここで、他のテストモジュール５０とは、診断用のテストモジュール５０−１が設置されるべきスロット２０ではないスロット２０に設置されるテストモジュール５０である。

テストモジュール５０は、電子デバイス２００を試験するためのデバイス試験用回路５８と、Ｈ論理を示す診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を制御部６０に出力する診断用回路７０とを有する。デバイス試験用回路５８は、試験装置１００が試験モードで動作する場合に制御部６０から与えられる制御信号により制御される。またデバイス試験用回路５８は、電子デバイス２００を試験した結果を、バススイッチ部１８を介して制御部６０に通知する。

診断用回路７０は、Ｈ論理を示す診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を制御部６０に出力する。本例において診断用回路７０は、当該所定の信号を、当該テストモジュール５０が設置されたスロット２０と対応する、バススイッチ部１８の出力ポート及び入力ポートを介して制御部６０に出力する。ここで、当該所定の信号とは、診断用信号であってもよい。また、診断用回路７０は、当該テストモジュール５０の情報を併せて制御部６０に出力してもよい。

制御部６０は、診断用回路７０が出力する信号を、バススイッチ部１８のいずれの出力ポートを介して受け取ったかにより、制御信号により指定したコネクタ３６が、バススイッチ部１８のいずれの出力ポートと接続されているかを検出することができる。また制御部６０は、診断用回路７０が出力する信号を、バススイッチ部１８のいずれの入力ポートを介して受け取ったかにより、バススイッチ部１８の入力ポート、出力ポート、スロット２０、及びコネクタ３６の接続が、コンフィグレーションファイルと整合するかを判定することができる。

診断用回路７０は、プルアップ抵抗６８、バッファ６６、ロケーションセンス回路６２、及び識別メモリ６４を有する。バッファ６６は診断用信号をロケーションセンス回路６２に入力する。ロケーションセンス回路６２は、診断用信号が入力される入力端子（Loc_SENSE1）を有し、当該入力端子にＨ論理が入力された場合に、制御部６０に所定の信号を出力する。

識別メモリ６４は、当該テストモジュール５０の、モジュール識別情報、製造者識別情報、製造型番、製造番号等を格納する。診断用回路７０は、Ｈ論理の診断用信号を受け取った場合に、これらのテストモジュール５０の情報を制御部６０に併せて出力する。この場合、制御部６０は、それぞれのスロット２０に設置されたテストモジュール５０から受け取ったモジュール識別情報と、コンフィグレーションファイルにおける当該スロット２０に設置されるべきテストモジュール５０のモジュール識別情報とを比較し、それぞれのスロット２０に正しいテストモジュール５０が設置されているか否かを更に判定することができる。

また、テストモジュール５０が複数のコネクタ３６と接続されている場合、ロケーションセンス回路６２は、当該複数のコネクタ３６と接続される複数の入力端子を有する。この場合、ロケーションセンス回路６２は、それぞれの入力端子に入力される信号毎に、所定の信号を出力することが好ましい。例えば、ロケーションセンス回路６２が２つの入力端子（Loc_SENSE1、LOC_SENSE2）を有している場合、ロケーションセンス回路６２は、入力端子（Loc_SENSE1）に入力された信号の論理値がＨであるか否かを示す情報、及び入力端子（LOC_SENSE2）に入力された信号の論理値がＨであるか否かを示す情報を、制御部６０に通知することが好ましい。また、ロケーションセンス回路６２が複数の入力端子を有する場合において、一のコネクタ３６と接続される場合には、当該コネクタ３６と接続されるロケーションセンス回路６２の入力端子以外の入力端子には、Ｌ論理の信号が与えられる。

図５は、コネクタ３６の構成の一例を示す図である。コネクタ３６は、デバイス試験用回路５８と電子デバイス２００とを接続するためのデバイスピン７２、及び診断用回路７０と診断用デコーダ３８とを接続するための診断用ピン７４とを有する。このような構成により、電子デバイス２００を試験するために試験装置１００を設定した後、当該設定を変更せずに、試験装置１００が正しく設定されたか否かを確認することができる。それぞれのコネクタ３６において、デバイスピン７２と診断用ピン７４とは、予め定められたピン配列で設けられていることが好ましい。また、診断用のテストモジュール５０−１が接続されるコネクタ３６は、診断用ピン７４により、診断用デコーダ３８と診断用のテストモジュール５０−１とを接続する。

図６は、コンフィグレーションファイルのデータ構造の一例を示す図である。図６に示すように、コンフィグレーションメモリ１２は、スロット２０の識別番号（Slot)、それぞれのスロット２０に設置されるべきテストモジュール名（Board Name）、それぞれのスロット２０にテストモジュール５０が設置されるかを示す存在情報（Existence）、当該テストモジュール５０の製造者識別情報（Vendor ID)、当該テストモジュール５０の識別情報（Module ID）、当該テストモジュール５０が設置されるべき物理的な位置を示す物理番号（Physical）、当該テストモジュール５０の製造型番（Product ID）、当該テストモジュール５０の製造番号（Product S/N）、当該テストモジュール５０に接続されるべきバススイッチ部１８の入力ポート番号、当該テストモジュール５０に接続されるべきコネクタ３６の識別番号（PB１、PB２）、及び当該テストモジュール５０に接続されるべきバススイッチ部１８の出力ポート番号（Bus Port）を対応付けたコンフィグレーションファイルを予め格納する。

図７は、試験装置１００のコンフィグレーション方法の一例を示すフローチャートである。まず、電子デバイス２００を試験するためにスイッチ回路３２の設定を行い、当該設定を固定する。次に、当該設定が固定されたか否かを判定する（Ｓ３００）。当該設定が固定されていない場合、フェイル処理（Ｓ３０４）を行い、コンフィグレーションを終了する。当該設定が固定されている場合、所定のスロット２０に、診断用のテストモジュール５０−１が設置されているかを判定する（Ｓ３０２）。

診断用のテストモジュール５０−１が所定のスロット２０に設置されていない場合、フェイル処理（Ｓ３０４）を行い、コンフィグレーションを終了する。診断用のテストモジュール５０−１が所定のスロット２０に設置されている場合、コンフィグレーションファイルに設定されている物理番号の最大値（Module_max）を取得する（Ｓ３０６）。

次に、物理番号を１からModule_maxまで変化させ、それぞれの物理番号に対応するコネクタ３６に、Ｈ論理となる診断用信号を順次供給し、それぞれのテストモジュール５０に診断用信号を順次供給する（診断用信号供給ステップＳ３０８）。

次に、図１から図６において説明したように、それぞれのコネクタ３６を介した診断用信号が、いずれのテストモジュール５０に供給されたかを検出する（信号検出ステップＳ３１０）。そして、信号検出ステップＳ３１０における検出結果に基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタ３６に接続されているかを検出する（位置検出ステップＳ３１２）。Ｓ３１０及びＳ３１２の処理は、Ｓ３０８において、いずれかのコネクタ３６に診断用信号を供給する毎に、繰り返し行われてよい。

図８は、Ｓ３０８、Ｓ３１０、Ｓ３１２の処理の詳細を説明するフローチャートである。まず、接続関係を診断するべきコネクタ３６を指定する（Ｓ３１４）。ここでは、コネクタ識別番号１（PB_Jno=1）を指定する。

そして、指定したコネクタ３６に供給する診断用信号を、診断用のテストモジュール５０−１に生成させる（Ｓ３１６）。コネクタ識別番号１を指定した場合、例えばテストモジュール５０−１は、２進数で１を示す診断用信号を生成する。

次に、物理番号を指定する（Ｓ３１８）。ここでは、物理番号１（module_no=1）を指定する。そして、当該物理番号に対応するコネクタ３６の識別番号（PB_connector=PB_1）を、コンフィグレーションファイルから取得する（Ｓ３２０)。ここで、当該テストモジュール５０が複数のコネクタ３６と接続される場合、Ｓ３２０においては、当該物理番号に対して複数のコネクタ識別番号が取得される（例えば、PB_connector=PB_1 and PB_2）。

次に、Ｓ３１４において指定したコネクタ識別番号（PB_Jno）と、Ｓ３２０において取得したコネクタ識別番号(PB_cpnnector）とを比較する（Ｓ３２２）。PB_cpnnector=PB_Jnoである場合、当該物理番号に対応するテストモジュール５０の診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されたかを検出する（Ｓ３２４）。当該テストモジュール５０の診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されたかは、例えば当該診断用回路７０から当該物理番号に対応するバススイッチ部１８の出力ポートに出力される信号に基づいて検出することができる。つまり、出力ポートに出力される信号に基づいて、診断用回路７０の入力端子（Loc_SENSE）にＨ論理の診断用信号が入力されたかを検出する。

PB_cpnnector=PB_Jnoである場合、スイッチ回路３２の設定が正しく行われていれば、当該物理番号に対応するテストモジュール５０にＨ論理の診断用信号が供給されるため、当該診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されたことを検出した場合、Ｐａｓｓ処理（Ｓ３２６）を行い、検出されなかった場合、Ｆａｉｌ処理（Ｓ３３０）を行う。

また、Ｓ３２２においてPB_cpnnector=PB_Jnoでない場合、当該物理番号に対応するテストモジュール５０の診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されていないかを検出する（Ｓ３２４）。PB_cpnnector=PB_Jnoでない場合、スイッチ回路３２の設定が正しく行われていれば、当該物理番号に対応するテストモジュール５０にはＬ論理の信号が供給されるため、当該診断用回路７０にＨ論理の診断用信号が供給されたことを検出した場合、Ｆａｉｌ処理（Ｓ３３０）を行い、Ｌ論理の信号が供給されたことを検出した場合、Ｐａｓｓ処理（Ｓ３２６）を行う。

そして、指定した物理番号が、Ｓ３０６において所得した物理番号の最大値に１を加えたものと等しいか否かを判定することにより、全ての物理番号を走査したかを判定し（Ｓ３３２）、未走査の物理番号が有る場合には、指定した当該物理番号に１を加え（Ｓ３３４）、Ｓ３２０〜Ｓ３３２の処理を繰り返す。全ての物理番号を走査した場合には、指定したコネクタ識別番号が、既知のコネクタ数より大きくなったか否かを判定することにより、全てのコネクタ３６に対して診断を行ったかを判定し（Ｓ３３６）、未診断のコネクタ３６が有る場合には、指定したコネクタ識別番号に１を加え（Ｓ３３８）、Ｓ３１６〜Ｓ３３６の処理を繰り返す。全てのコネクタ３６に対して診断が終了した場合には、コンフィグレーションの処理を終了する。

このような処理により、全てのコネクタ３６に対して、正しい出力ポートやスロット２０等と接続されているかを診断することができる。

以上、実施形態を用いて本発明を説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。

以上から明らかなように、本発明によれば、電子デバイスに接続されるコネクタと、テストモジュールが設置されるスロット等とが、正しく接続されているかを診断することができる。また、それぞれのスロットに、正しいテストモジュールが設置されているかを診断することができる。

Claims

電子デバイスを試験する試験装置であって、
複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの前記出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、
前記電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号を前記バススイッチ部に入力し、それぞれの前記制御信号をいずれの前記出力ポートから出力するかを制御する制御部と、
前記複数の出力ポートに対応して設けられ、前記電子デバイスに入力するべき入力信号を前記制御信号に基づいて生成し、前記電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、
前記電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタを有し、前記複数のスロットを、いずれの前記コネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフェースと
を備え、
前記デバイスインターフェースは、診断用の前記テストモジュールが設置された前記スロットから受け取る診断用信号を、それぞれの前記コネクタを介して、それぞれの前記テストモジュールに順次供給する診断用デコーダを更に有し、
前記制御部は、対応する前記コネクタを介して前記診断用信号を受け取ったことに応じて前記テストモジュールが出力する所定の信号を前記バススイッチ部を介して受け取り、いずれの出力ポートから前記所定の信号を受け取ったかに基づいて、それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかを検出する、試験装置。
それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタと接続されるべきかを示すコンフィグレーションファイルを予め格納するコンフィグレーションメモリを更に備え、
前記制御部は、それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかの検出結果と、前記コンフィグレーションファイルとを比較することにより、前記複数の出力ポートと、前記複数のコネクタとが正しく接続されているか否かを判定する
請求項１に記載の試験装置。
それぞれの前記スロットに設けられ、前記診断用信号を受け取った場合に、前記所定の信号を前記制御部に出力する診断用回路を有する複数の前記テストモジュールを更に備える
請求項２に記載の試験装置。
前記診断用回路は、前記所定の信号を、当該スロットと対応する前記出力ポートを介して前記制御部に出力し、
前記制御部は、いずれの前記出力ポートから前記所定の信号を受け取ったかに基づいて、それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかを検出する
請求項３に記載の試験装置。
前記診断用デコーダは、それぞれの前記コネクタに対して当該コネクタを指定する前記診断用信号を供給し、
前記診断用回路は、前記所定の信号として、受け取った前記診断用信号を含む信号を前記制御部に出力し、
前記制御部は、何れの前記出力ポートから前記所定の信号を受け取ったか、および、前記所定の信号に含まれる前記診断用信号により何れの前記コネクタが指定されているかに基づいて、それぞれの前記出力ポートが、何れの前記コネクタに接続されているかを検出する
請求項４に記載の試験装置。
前記コンフィグレーションメモリは、それぞれの前記スロットに設置されるべき前記テストモジュールを識別するモジュール識別情報を更に示す前記コンフィグレーションファイルを格納し、
前記テストモジュールは、当該テストモジュールのモジュール識別情報を格納する識別メモリを更に有し、
前記診断用回路は、前記診断用信号を受け取った場合に、前記識別メモリに格納された前記モジュール識別情報を前記制御部に更に出力し、
前記制御部は、それぞれの前記スロットに設置された前記テストモジュールから受け取った前記モジュール識別情報と、当該スロットに設置されるべき前記テストモジュールの前記モジュール識別情報とを比較し、それぞれの前記スロットに正しい前記テストモジュールが設置されているか否かを更に判定する
請求項３または４に記載の試験装置。
前記テストモジュールは、前記制御信号に基づいて前記入力信号を生成するデバイス試験用回路を更に有し、
それぞれの前記コネクタは、
前記デバイス試験用回路と前記電子デバイスとを接続するデバイスピンと、
前記診断用回路と前記診断用デコーダとを接続する診断用ピンと
を有する
請求項３から５のいずれか１項に記載の試験装置。
電子デバイスを試験する試験装置のコンフィグレーションを行うコンフィグレーション方法であって、
前記試験装置は、
複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの前記出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、
前記電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号を前記バススイッチ部に入力し、それぞれの前記制御信号をいずれの前記出力ポートから出力するかを制御する制御部と、
前記複数の出力ポートに対応して設けられ、前記電子デバイスに入力するべき入力信号を前記制御信号に基づいて生成し、前記電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、
前記電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタを有し、前記複数のスロットを、いずれの前記コネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフェースと
を備え、
前記コンフィグレーション方法は、
それぞれの前記コネクタを介してそれぞれの前記テストモジュールに、診断用信号を順次供給させる診断用信号供給ステップと、
対応する前記コネクタを介して前記診断用信号を受け取ったことに応じて前記テストモジュールが出力する所定の信号を前記バススイッチ部を介して受け取り、いずれの出力ポートから前記所定の信号を受け取ったかに基づいて、それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかを検出する位置検出ステップと
を備えるコンフィグレーション方法。
前記診断用信号供給ステップは、所定の前記スロットに配置された診断用の前記テストモジュールに、他の前記テストモジュールに供給する前記診断用信号を順次生成させる
請求項８に記載のコンフィグレーション方法。
電子デバイスを試験する試験装置において、前記電子デバイスと前記試験装置本体とを接続するデバイスインターフェースであって、
前記試験装置本体は、
複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの前記出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、
前記電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号を前記バススイッチ部に入力し、それぞれの前記制御信号をいずれの前記出力ポートから出力するかを制御する制御部と、
前記複数の出力ポートに対応して設けられ、前記電子デバイスに入力するべき入力信号を前記制御信号に基づいて生成し、前記電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと
を備え、
前記デバイスインターフェースは、
前記電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタと、
前記複数のスロットを、いずれの前記コネクタに接続するかを切り替えるスイッチ回路と、
診断用の前記テストモジュールが設置された前記スロットから受け取る診断用信号を、それぞれの前記コネクタを介して、それぞれの前記テストモジュールに順次供給する診断用デコーダと
を備え、
前記制御部に、対応する前記コネクタを介して前記診断用信号を受け取ったことに応じて前記テストモジュールが出力する所定の信号を前記バススイッチ部を介して受け取らせ、いずれの出力ポートから前記所定の信号を受け取ったかに基づいて、それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかを検出させる、
デバイスインターフェース。