WO2006019082A1

WO2006019082A1 - 試験装置、コンフィグレーション方法、及びデバイスインターフェース

Info

Publication number: WO2006019082A1
Application number: PCT/JP2005/014924
Authority: WO
Inventors: Nobuei Washizu; Atsunori Shibuya
Original assignee: Advantest Corporation
Priority date: 2004-08-20
Filing date: 2005-08-15
Publication date: 2006-02-23
Also published as: JP4842823B2; CN101031807B; US7913002B2; JPWO2006019082A1; EP1790990A1; EP1790990A4; CN101031807A; US20060041694A1; KR20070053274A

Abstract

　入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、試験プログラムに応じた複数の制御信号をバススイッチ部に入力し、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する制御部と、電子デバイスへの入力信号を制御信号に基づいて生成し、電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、複数のスロットをいずれのコネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフェースとを備える試験装置であって、診断用のテストモジュールが設置されたスロットから受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタを介して、それぞれのテストモジュールに順次供給し、それぞれのコネクタを介した診断用信号が、いずれのテストモジュールに供給されたかを検出し、それぞれの出力ポートがいずれのコネクタに接続されているかを検出する。

Description

明細書

試験装置、コンフィグレーション方法、及びデバイスインターフェース技術分野

[0001] 本発明は、電子デバイスを試験する試験装置、当該試験装置に用いるデバイスィンターフェース、及び当該試験装置のコンフィグレーション方法に関する。また、本発明は下記の米国特許出願に関連する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の記載の一部とする。

出願番号 10/923, 634 出願曰 2004年 8月 20曰

背景技術

[0002] 従来、半導体回路等の電子デバイスを試験する試験装置の構成として、電子デバイスを載置するデバイスインターフェースと、デバイスインターフェースを介して電子デバイスと接続され、電子デバイスに入力する入力信号の生成等を行うテストモジュールと、テストモジュールを制御するための信号を供給する制御部とを備える構成が知られている。テストモジュールは、デバイスインターフェースと制御部との間に設けられたスロットに設置される。

発明の開示

発明が解決しょうとする課題

[0003] 通常このような構成では、デバイスインターフェースにおいて電子デバイスと接続されるコネクタと、それぞれのスロットとの接続は固定されており、ユーザが自由に設定することはできなかった。このため、ユーザの使用目的に対応することが出来ない場合があり、スケーラビリティの観点で劣るものであった。

[0004] このような構成に対し、スケーラビリティの向上のため、それぞれのスロットと、デバイスインターフェースにおけるコネクタとの接続を自由に設定できる構成が考えられる。当該構成にした場合、スロットとコネクタとがユーザの設定通りに接続されているかを診断する必要が生じる。従来の試験装置では、このような構成を想定していないため、スロットとコネクタとの接続関係を診断する機能は実現されて、な、。 [0005] このため本発明は、上述した課題を解決することのできる試験装置、コンフィグレーシヨン方法、及びデバイスインターフェースを提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

課題を解決するための手段

[0006] 上記課題を解決するために、本発明の第 1の形態にぉヽては、電子デバイスを試験する試験装置であって、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススィッチ部と、電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号をバススィッチ部に入力し、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する制御部と、複数の出力ポートに対応して設けられ、電子デバイスに入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタを有し、複数のスロットを、、ずれのコネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフエ一スとを備え、デバイスインターフェースは、診断用のテストモジュールが設置されたスロットから受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタを介して、それぞれのテストモジュールに順次供給する診断用デコーダを更に有し、制御部は、それぞれのコネクタを介した診断用信号が、いずれのテストモジュールに供給されたかを検出し、当該検出結果に基づ!/、てそれぞれの出力ポートが、 V、ずれのコネクタに接続されてヽるかを検出する、試験装置を提供する。

[0007] 試験装置は、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタと接続されるべきかを示すコンフィグレーションファイルを予め格納するコンフィグレーションメモリを更に備え

、制御部は、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタに接続されているかの検出結果と、コンフィグレーションファイルとを比較することにより、複数の出力ポートと、複数のコネクタとが正しく接続されて、るか否かを判定してよ、。

[0008] 試験装置は、それぞれのスロットに設けられ、診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を制御部に出力する診断用回路を有する複数のテストモジュールを更に備えてよい。診断用回路は、所定の信号を、当該スロットと対応する出力ポートを介して制御部に出力し、制御部は、いずれの出力ポートから所定の信号を受け取つたかに基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタに接続されているかを検出してよい。

[0009] コンフィグレーションメモリは、それぞれのスロットに設置されるべきテストモジュールを識別するモジュール識別情報を更に示すコンフィグレーションファイルを格納し、テストモジュールは、当該テストモジュールのモジュール識別情報を格納する識別メモリを更に有し、診断用回路は、診断用信号を受け取った場合に、識別メモリに格納されたモジュール識別情報を制御部に更に出力し、制御部は、それぞれのスロットに設置されたテストモジュール力も受け取ったモジュール識別情報と、当該スロットに設置されるべきテストモジュールのモジュール識別情報とを比較し、それぞれのスロットに正、テストモジュールが設置されて!、るか否かを更に判定してよ!、。

[0010] テストモジュールは、制御信号に基づ!/、て入力信号を生成するデバイス試験用回路を更に有し、それぞれのコネクタは、デバイス試験用回路と電子デバイスとを接続するデバイスピンと、診断用回路と診断用デコーダとを接続する診断用ピンとを有してよい。

[0011] 本発明の第 2の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置のコンフィグレーシヨンを行うコンフィグレーション方法であって、試験装置は、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号をバススィッチ部に入力し、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する制御部と、複数の出力ポートに対応して設けられ、電子デバイスに入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタを有し、複数のスロットを、いずれのコネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフェースとを備え、コンフィグレーション方法は、それぞれのコネクタを介してそれぞれのテストモジュールに、診断用信号を順次供給させる診断用信号供給ステップと、それぞれのコネクタを介した診断用信号が、いずれのテストモジュールに供給されたかを検出する信号検出ステップと、検出結果に基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタに接続されているかを検出する位置検出ステップとを備えるコンフィグレーション方法を提供する。

[0012] 診断用信号供給ステップは、所定のスロットに配置された診断用のテストモジユールに、他のテストモジュールに供給する診断用信号を順次生成させてよ!、。

[0013] 本発明の第 3の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置において、電子デバイスと試験装置本体とを接続するデバイスインターフェースであって、試験装置本体は、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススィッチ部と、電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号をバススィッチ部に入力し、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する制御部と、複数の出力ポートに対応して設けられ、電子デバイスに入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットとを備え、デバイスインターフェースは、電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタと、複数のスロットを、いずれのコネクタに接続するかを切り替えるスィッチ回路と、診断用のテストモジュールが設置されたスロットから受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタを介して、それぞれのテストモジュールに順次供給する診断用デコ一ダとを備える、デバイスインターフェースを提供する。

[0014] なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなぐこれらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。

発明の効果

[0015] 本発明によれば、電子デバイスに接続されるコネクタと、テストモジュールが設置されるスロット等とが、正しく接続されているかを診断することができる。また、それぞれのスロットに、正し、テストモジュールが設置されて、るかを診断することができる。図面の簡単な説明

[0016] [図 1]本発明の実施形態に係る試験装置 100の構成の一例を示す図である。

[図 2]パフォーマンスボード 34の構成の一例を示す図である。

[図 3]診断用のテストモジュール 50 - 1の構成の一例を示す図である。

[図 4]他のテストモジュール 50の構成の一例を示す図である。 [図 5]コネクタ 36の構成の一例を示す図である。

[図 6]コンフィグレーションファイルのデータ構造の一例を示す図である。

[図 7]試験装置 100のコンフィグレーション方法の一例を示すフローチャートである。

[図 8]S308、 S310、 S312の処理の詳細を説明するフローチャートである。

符号の説明

[0017] 10 · · 'システムコントローラ、 12· · 'コンフィグレーションメモリ、 14· · ·ハブ、 16 · · ·サイト、 18 · · 'バススィッチ部、 20· · 'スロット、 30· · 'デバイスインターフェース、 32· · · スィッチ回路、 34· · 'パフォーマンスボード、 36 · · 'コネクタ、 38 · · '診断用デコーダ , 50· · 'テストモジュール、 52 · · '診断用信号生成部、 54· · 'ノッファ、 56 · · '電圧シフト回路、 58 · · 'デバイス試験用回路、 60· · '制御部、 62· · ·ロケーションセンス回路、 64· · '識別メモリ、 66 · · 'バッファ、 68 · · 'プルアップ抵抗、 70· · '診断用回路、 72 • · 'デバイスピン、 74· · '診断用ピン、 80· · '診断用デコーダ、 100· · '試験装置、 20 0· · ·電子デバイス

発明を実施するための最良の形態

[0018] 以下、発明の実施形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲に係る発明を限定するものではなぐまた実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らな!/、。

[0019] 図 1は、本発明の実施形態に係る試験装置 100の構成の一例を示す図である。試験装置 100は、例えば半導体チップ等の複数の電子デバイス（200— 1〜200— 8、以下 200と総称する）を試験する装置であって、制御部 60、バススィッチ部 18、複数のスロット（20— 1〜20— 64、以下 20と総称する）、複数のテストモジュール（50— 1 〜50— 64、以下 50と総称する）、及びデバイスインターフェース 30を備える。

[0020] 制御部 60は、電子デバイス 200を試験するために予め定められた試験プログラムに応じて、複数の制御信号をバススィッチ部 18に入力する。制御部 60は、システムコントローラ 10、コンフィグレーションメモリ 12、ハブ 14、及び複数のサイト（16— 1〜 16 -8,以下 16と総称する）を有する。

[0021] システムコントローラ 10は、試験プログラムに応じて試験装置 100の動作を制御する。即ち、試験プログラムに応じた制御信号を生成する。複数のサイト 16は、試験するべき複数の電子デバイス 200に対応して設けられ、対応する電子デバイス 200〖こ接続されるテストモジュール 50を制御し、当該テストモジュール 50と信号の授受を行う。ハブ 14は、システムコントローラ 10が生成した制御信号を、それぞれのサイト 16 に分配する。また、コンフィグレーションメモリ 12は、試験装置 100の設定を示すコンフィグレーシヨンファイルを予め格納する。ここで、コンフィグレーションファイルは、試験装置 100のユーザが予め格納するファイルであってよぐ試験装置 100の設定とは、例えばバススィッチ部 18の設定、使用するテストモジュール 50の情報、デバイスィンターフェース 30の設定、バススィッチ部 18の出力ポートがデバイスインターフエ一ス 30の!、ずれのコネクタと接続されるべきかを示す情報、それぞれのスロット 20に設置されるべきテストモジュール 50を識別するモジュール識別情報等である。

[0022] バススィッチ部 18は、複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替える。即ち、バススィッチ部 18は、それぞれのサイト 16に、いずれの出力ポートを割り当てるかを設定する。本例におけるバススィッチ部 18は一例として、サイト 16— 1に、出力ポート 1〜8を割り当て、サイト 16— 2に、出力ポート 9〜16を割り当て、以下同様にそれぞれのサイト 16に 8個のポートを割り当てる。制御部 60は、バススィッチ部 18を制御することにより、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する。

[0023] 複数のスロット 20は、テストモジュール 50が設置されるスロットであって、ノススイツチ部 18の複数の出力ポートに対応して設けられる。それぞれのテストモジュール 50 は、対応する電子デバイス 200と信号の授受を行うモジュールであり、電子デバイス 2 00を試験するためのそれぞれの機能毎に設けられる。例えばテストモジュール 50は、対応する電子デバイス 200に入力するべき入力信号を制御信号に基づいて生成し、対応する電子デバイス 200が出力する出力信号を受け取り、当該電子デバイス 20 0の良否を判定するモジュールであってよぐまた電子デバイス 200に電源電力を供給するモジュールであってもよい。またテストモジュール 50は、アナログ又はディジタルの信号の授受を電子デバイス 200と行うモジュールであってよぐ直流又は交流の信号の授受を電子デバイス 200と行うモジュールであってもよい。

[0024] デバイスインターフェース 30は、電子デバイス 200を載置するボードであって、電子デバイス 200とテストモジュール 50とを電気的に接続する。デバイスインターフェース 30は、複数の電子デバイス 200が接続される複数のコネクタが設けられるパフォーマンスボード 34と、複数のスロット 20を!、ずれのコネクタに接続するかを切り替えるスィツチ回路 32とを有する。パフォーマンスボード 34は、一般にロードボードと呼ばれる場合もある。

[0025] 本例における試験装置 100によれば、バススィッチ部 18を切り替えることにより、バススィッチ部 18の入力ポートと、出力ポート及びスロット 20とを任意に接続することができる。またスィッチ回路 32を切り替えることにより、ノススィッチ部 18の出力ポート及びスロット 20と、デバイスインターフェース 30のコネクタとを任意に接続することができる。スィッチ回路 32は、例えば複数のケーブルを有しており、ケーブルの配線を変更することによって、スロット 20と当該コネクタとの接続を変更してよい。なお、スィッチ回路 32を、テストフィクスチヤと呼ぶ場合もある。

[0026] 図 2は、パフォーマンスボード 34の構成の一例を示す図である。パフォーマンスボード 34は、複数のコネクタ（36— 1〜36— 64、以下 36と総称する）と、診断用デコーダ 38とを有する。複数のコネクタ 36は、スィッチ回路 32を介してテストモジュール 50 に接続され、当該テストモジュール 50と電子デバイス 200とを電気的に接続する。前述したように、スィッチ回路 32を設定することにより、任意のテストモジュール 50と、任意のコネクタ 36とを接続することができる。

[0027] 本例における試験装置 100は、電子デバイス 200を試験する試験モードと、バススイッチ部 18の出力ポートとコネクタ 36との接続関係を確認するための診断モードとを有する。試験モードで動作する場合、それぞれのテストモジュール 50は、対応するコネクタ 36を介して電子デバイス 200と信号の授受を行う。

[0028] 診断モードで動作する場合、試験装置 100は、所定のスロット 20に診断用のテストモジュール 50を設置し、診断用のテストモジュール 50は、それぞれのコネクタ 36から、スィッチ回路 32、他のテストモジュール 50、バススィッチ部 18の出力ポートの順に診断用の信号を伝送させる。制御部 60は、それぞれのコネクタ 36に供給した診断用信号が、他のテストモジュール 50のいずれに伝送されるかを検出し、スィッチ回路 32 の設定が、コンフィグレーションメモリ 12が格納したコンフィグレーションファイルと整合するかを確認する。即ち、制御部 60は、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタ 36に接続されているかの検出結果と、コンフィグレーションファイルとを比較することにより、複数の出力ポートと、複数のコネクタ 36とが正しく接続されている力否かを判定する。複数の出力ポートと複数のコネクタ 36とが正しく接続されていない場合、制御部 60は試験装置 100のユーザにその旨を通知する。

[0029] 診断用デコーダ 38は、診断用のテストモジュール 50が設置されたスロット 20から受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタ 36を介して、それぞれのテストモジュール 50に順次供給する。診断用のテストモジュール 50が設置されるスロット 20は予め定められており、本例においては、診断用のテストモジュール 50はスロット 20— 1に設置される。

[0030] そして、診断用デコーダ 38は、複数のコネクタ 36のうち、予め定められたコネクタ 3 6— 1を介してスロット 20— 1から受け取る診断用信号を、それぞれのテストモジユール 50に順番に供給する。ここで、試験装置 100が診断モードで動作する場合、制御部 60は、診断用のテストモジュール 50—1が設置されるべきスロット 20—1と、複数のコネクタ 36のうちの当該予め定められたコネクタ 36— 1とを接続するようにスィッチ回路 32を制御し、診断用のテストモジュール 50— 1に診断用信号を生成させるための制御信号を供給する。

[0031] 診断用のテストモジュール 50— 1は、与えられる制御信号に応じて、それぞれのコネクタ 36を指定する診断用信号を生成する。例えば診断用テストモジュール 50— 1 は、それぞれのコネクタ 36を 2進数で指定する複数ビットの診断用信号を生成する。診断用デコーダ 80は、 2進数の診断用信号を、当該 2進数で示されるビットのみが 1 となる複数ビットの診断用信号にデコードする。診断用デコーダ 80が出力する診断用信号のそれぞれのビットは、複数のコネクタ 36のいずれかに対応付けられており、当該診断用信号のそれぞれのビットは、対応するコネクタ 36を介してテストモジユール 50に供給される。例えば、診断用のテストモジュール 50—1は、 1ずつ増加する 2 進数の診断用信号を順次生成することにより、それぞれのテストモジュール 50に、所定の論理値を示す診断用信号を順次供給することができる。以下、一例として H論理の診断用信号を用いて説明する。 [0032] 図 3は、診断用のテストモジュール 50— 1の構成の一例を示す図である。診断用のテストモジュール 50—1は、診断用信号生成部 52、ノッファ 54、及び電圧シフト回路 56を有する。診断用信号生成部 52は、前述したように、バススィッチ部 18を介して制御部 60から与えられる制御信号に応じて診断用信号を生成する。

[0033] 例えば制御部 60は、それぞれのコネクタ 36を順次指定する複数の制御信号を、診断用信号生成部 52に順次供給し、診断用信号生成部 52は、それぞれの制御信号において指定されたコネクタ 36に対応する 2進数の診断用信号を順次生成する。バッファ 54は、診断用信号生成部 52と電圧シフト回路 56との間に設けられ、診断用信号生成部 52が生成した診断用信号を、コネクタ 36— 1を介して診断用デコーダ 38に供給する。また電圧シフト回路 56は、ノッファ 54が出力する診断用信号の電圧レべルを任意のレベルに調整する。

[0034] 図 4は、他のテストモジュール 50の構成の一例を示す図である。ここで、他のテストモジュール 50とは、診断用のテストモジュール 50— 1が設置されるべきスロット 20ではないスロット 20に設置されるテストモジュール 50である。

[0035] テストモジュール 50は、電子デバイス 200を試験するためのデバイス試験用回路 5 8と、 H論理を示す診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を制御部 60に出力する診断用回路 70とを有する。デバイス試験用回路 58は、試験装置 100が試験モードで動作する場合に制御部 60から与えられる制御信号により制御される。またデバイス試験用回路 58は、電子デバイス 200を試験した結果を、バススィッチ部 18を介して制御部 60に通知する。

[0036] 診断用回路 70は、 H論理を示す診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を制御部 60に出力する。本例において診断用回路 70は、当該所定の信号を、当該テストモジュール 50が設置されたスロット 20と対応する、バススィッチ部 18の出力ポート及び入力ポートを介して制御部 60に出力する。ここで、当該所定の信号とは、診断用信号であってもよい。また、診断用回路 70は、当該テストモジュール 50の情報を併せて制御部 60に出力してもよい。

[0037] 制御部 60は、診断用回路 70が出力する信号を、バススィッチ部 18のいずれの出力ポートを介して受け取ったかにより、制御信号により指定したコネクタ 36が、バススイッチ部 18のいずれの出力ポートと接続されているかを検出することができる。また制御部 60は、診断用回路 70が出力する信号を、バススィッチ部 18のいずれの入力ポートを介して受け取ったかにより、バススィッチ部 18の入力ポート、出力ポート、スロット 20、及びコネクタ 36の接続力コンフィグレーションファイルと整合するかを判定することができる。

[0038] 診断用回路 70は、プルアップ抵抗 68、ノッファ 66、ロケーションセンス回路 62、及び識別メモリ 64を有する。ノッファ 66は診断用信号をロケーションセンス回路 62に入力する。ロケーションセンス回路 62は、診断用信号が入力される入力端子 (Lo SE NSE1)を有し、当該入力端子に H論理が入力された場合に、制御部 60に所定の信号を出力する。

[0039] 識別メモリ 64は、当該テストモジュール 50の、モジュール識別情報、製造者識別情報、製造型番、製造番号等を格納する。診断用回路 70は、 H論理の診断用信号を受け取った場合に、これらのテストモジュール 50の情報を制御部 60に併せて出力する。この場合、制御部 60は、それぞれのスロット 20に設置されたテストモジュール 50 力受け取ったモジュール識別情報と、コンフィグレーションファイルにおける当該スロット 20に設置されるべきテストモジュール 50のモジュール識別情報とを比較し、それぞれのスロット 20に正し!/、テストモジュール 50が設置されて!、るか否かを更に判定することができる。

[0040] また、テストモジュール 50が複数のコネクタ 36と接続されている場合、ロケーションセンス回路 62は、当該複数のコネクタ 36と接続される複数の入力端子を有する。この場合、ロケーションセンス回路 62は、それぞれの入力端子に入力される信号毎に、所定の信号を出力することが好ましい。例えば、ロケーションセンス回路 62が 2つの入力端子（Loc_SENSEl、 LOC_SENSE2)を有している場合、ロケーションセンス回路 6 2は、入力端子 (Lo SENSE1)に入力された信号の論理値が Hである力否かを示す情報、及び入力端子 (LOC_SENSE2)に入力された信号の論理値が Hである力否かを示す情報を、制御部 60に通知することが好ましい。また、ロケーションセンス回路 6 2が複数の入力端子を有する場合にぉ、て、一のコネクタ 36と接続される場合には、当該コネクタ 36と接続されるロケーションセンス回路 62の入力端子以外の入力端子には、 L論理の信号が与えられる。

[0041] 図 5は、コネクタ 36の構成の一例を示す図である。コネクタ 36は、デバイス試験用回路 58と電子デバイス 200とを接続するためのデバイスピン 72、及び診断用回路 7 0と診断用デコーダ 38とを接続するための診断用ピン 74とを有する。このような構成により、電子デバイス 200を試験するために試験装置 100を設定した後、当該設定を変更せずに、試験装置 100が正しく設定された力否かを確認することができる。それぞれのコネクタ 36において、デバイスピン 72と診断用ピン 74とは、予め定められたピン配列で設けられていることが好ましい。また、診断用のテストモジュール 50— 1が接続されるコネクタ 36は、診断用ピン 74により、診断用デコーダ 38と診断用のテストモジュール 50— 1とを接続する。

[0042] 図 6は、コンフィグレーションファイルのデータ構造の一例を示す図である。図 6に示すように、コンフィグレーションメモリ 12は、スロット 20の識別番号（Slot)、それぞれのスロット 20に設置されるべきテストモジュール名 (Board Name)、それぞれのスロット 2 0にテストモジュール 50が設置されるかを示す存在情報（Existence)、当該テストモジユール 50の製造者識別情報 (Vendor ID)、当該テストモジュール 50の識別情報 (Mo dule ID)、当該テストモジュール 50が設置されるべき物理的な位置を示す物理番号（ Physical) ,当該テストモジュール 50の製造型番（Product ID)、当該テストモジュール 50の製造番号（Product S/N)、当該テストモジュール 50に接続されるべきバススイツチ部 18の入力ポート番号、当該テストモジュール 50に接続されるべきコネクタ 36の識別番号 (PB1、 PB2)、及び当該テストモジュール 50に接続されるべきノススィッチ部 18の出力ポート番号（Bus Port)を対応付けたコンフィグレーションファイルを予め格納する。

[0043] 図 7は、試験装置 100のコンフィグレーション方法の一例を示すフローチャートである。まず、電子デバイス 200を試験するためにスィッチ回路 32の設定を行い、当該設定を固定する。次に、当該設定が固定されたか否かを判定する（S300)。当該設定が固定されていない場合、フェイル処理（S304)を行い、コンフィグレーションを終了する。当該設定が固定されている場合、所定のスロット 20に、診断用のテストモジュール 50— 1が設置されて!ヽるかを判定する（S302)。 [0044] 診断用のテストモジュール 50—1が所定のスロット 20に設置されていない場合、フエイル処理（S304)を行い、コンフィグレーションを終了する。診断用のテストモジュール 50—1が所定のスロット 20に設置されている場合、コンフィグレーションファイルに設定されて、る物理番号の最大値 (Module_max)を取得する（S306)。

[0045] 次に、物理番号を 1から Modulejnaxまで変化させ、それぞれの物理番号に対応するコネクタ 36に、 H論理となる診断用信号を順次供給し、それぞれのテストモジユール 50に診断用信号を順次供給する (診断用信号供給ステップ S308)。

[0046] 次に、図 1から図 6において説明したように、それぞれのコネクタ 36を介した診断用信号が、いずれのテストモジュール 50に供給されたかを検出する (信号検出ステップ S310)。そして、信号検出ステップ S310における検出結果に基づいて、それぞれの出力ポートが、いずれのコネクタ 36に接続されているかを検出する (位置検出ステツプ S312)。 S310及び S312の処理 ίま、 S308にお!/、て、、ずれ力のコネクタ 36に診断用信号を供給する毎に、繰り返し行われてよい。

[0047] 図 8は、 S308、 S310、 S312の処理の詳細を説明するフローチャートである。まず、接続関係を診断するべきコネクタ 36を指定する（S314)。ここでは、コネクタ識別番号 l (PBJno=l)を指定する。

[0048] そして、指定したコネクタ 36に供給する診断用信号を、診断用のテストモジュール 5 0— 1に生成させる（S316)。コネクタ識別番号 1を指定した場合、例えばテストモジュール 50— 1は、 2進数で 1を示す診断用信号を生成する。

[0049] 次に、物理番号を指定する（S318)。ここでは、物理番号 1 (module_no=l)を指定する。そして、当該物理番号に対応するコネクタ 36の識別番号（PB_connector=PB_l)を、コンフィグレーションファイルから取得する（S320)。ここで、当該テストモジュール 5 0が複数のコネクタ 36と接続される場合、 S320においては、当該物理番号に対して複数のコネクタ識別番号が取得される（例えば、 PB_connector=PB_l and PB_2)。

[0050] 次に、 S314において指定したコネクタ識別番号（PB Jno)と、 S320において取得したコネクタ識別番号 (PB_cpnnector)とを比較する（S322)。 PB_cpnnector=PBJnoである場合、当該物理番号に対応するテストモジュール 50の診断用回路 70に H論理の診断用信号が供給されたかを検出する（S324)。当該テストモジュール 50の診断用回路 70に H論理の診断用信号が供給されたかは、例えば当該診断用回路 70から当該物理番号に対応するバススィッチ部 18の出力ポートに出力される信号に基づいて検出することができる。つまり、出力ポートに出力される信号に基づいて、診断用回路 70の入力端子 (Lo SENSE)に H論理の診断用信号が入力されたかを検出する。

[0051] PB_cpnnector=PBJnoである場合、スィッチ回路 32の設定が正しく行われていれば、当該物理番号に対応するテストモジュール 50に H論理の診断用信号が供給されるため、当該診断用回路 70に H論理の診断用信号が供給されたことを検出した場合、 Pass処理（S326)を行い、検出されなかった場合、 Fail処理（S330)を行う。

[0052] また、 S322にお!/、て PB_cpnnector=PB Jnoでな!/、場合、当該物理番号に対応するテストモジュール 50の診断用回路 70に H論理の診断用信号が供給されて、な、かを検出する（S324)。 PB_cpnnector=PB Jnoでない場合、スィッチ回路 32の設定が正しく行われてヽれば、当該物理番号に対応するテストモジュール 50には L論理の信号が供給されるため、当該診断用回路 70に H論理の診断用信号が供給されたことを検出した場合、 Fail処理 (S330)を行い、 L論理の信号が供給されたことを検出した場合、 Pass処理（S326)を行う。

[0053] そして、指定した物理番号が、 S306において所得した物理番号の最大値に 1を加えたものと等しいか否かを判定することにより、全ての物理番号を走査したかを判定し (S332)、未走査の物理番号が有る場合には、指定した当該物理番号に 1を加え（S 334)、 S320〜S332の処理を繰り返す。全ての物理番号を走査した場合には、指定したコネクタ識別番号が、既知のコネクタ数より大きくなつた力否かを判定することにより、全てのコネクタ 36に対して診断を行つたかを判定し (S336)、未診断のコネクタ 36が有る場合には、指定したコネクタ識別番号に 1をカ卩ぇ（S338)、 S316〜S336 の処理を繰り返す。全てのコネクタ 36に対して診断が終了した場合には、コンフイダレーシヨンの処理を終了する。

[0054] このような処理により、全てのコネクタ 36に対して、正しい出力ポートやスロット 20等と接続されてヽるかを診断することができる。

[0055] 以上、実施形態を用いて本発明を説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良をカロえることができる。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。

産業上の利用可能性

以上から明らかなように、本発明によれば、電子デバイスに接続されるコネクタと、テストモジュールが設置されるスロット等とが、正しく接続されてヽるかを診断することができる。また、それぞれのスロットに、正しいテストモジュールが設置されているかを診断することができる。

Claims

請求の範囲

[1] 電子デバイスを試験する試験装置であって、

複数の出力ポートを有し、入力される信号をいずれの前記出力ポートから出力するかを切り替え可能なノススィッチ部と、

前記電子デバイスを試験するための試験プログラムに応じた複数の制御信号を前記バススィッチ部に入力し、それぞれの前記制御信号を!、ずれの前記出力ポートから出力するかを制御する制御部と、

前記複数の出力ポートに対応して設けられ、前記電子デバイスに入力するべき入力信号を前記制御信号に基づいて生成し、前記電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、

前記電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタを有し、前記複数のスロットを、いずれの前記コネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフェースとを備え、

前記デバイスインターフェースは、診断用の前記テストモジュールが設置された前記スロットから受け取る診断用信号を、それぞれの前記コネクタを介して、それぞれの前記テストモジュールに順次供給する診断用デコーダを更に有し、

前記制御部は、それぞれの前記コネクタを介した前記診断用信号が、いずれの前記テストモジュールに供給されたかを検出し、当該検出結果に基づいてそれぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかを検出する、試験装置

[2] それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタと接続されるべきかを示すコンフィグレーシヨンファイルを予め格納するコンフィグレーションメモリを更に備え、前記制御部は、それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかの検出結果と、前記コンフィグレーションファイルとを比較することにより、前記複数の出力ポートと、前記複数のコネクタとが正しく接続されている力否かを判定する

請求項 1に記載の試験装置。

[3] それぞれの前記スロットに設けられ、前記診断用信号を受け取った場合に、所定の信号を前記制御部に出力する診断用回路を有する複数の前記テストモジュールを更に備える

請求項 1に記載の試験装置。

[4] 前記診断用回路は、前記所定の信号を、当該スロットと対応する前記出力ポートを介して前記制御部に出力し、

前記制御部は、いずれの前記出力ポートから前記所定の信号を受け取つたかに基づいて、それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかを検出する

請求項 3に記載の試験装置。

[5] 前記コンフィグレーションメモリは、それぞれの前記スロットに設置されるべき前記テストモジュールを識別するモジュール識別情報を更に示す前記コンフィグレーションファイルを格納し、

前記テストモジュールは、当該テストモジュールのモジュール識別情報を格納する識別メモリを更に有し、

前記診断用回路は、前記診断用信号を受け取った場合に、前記識別メモリに格納された前記モジュール識別情報を前記制御部に更に出力し、

前記制御部は、それぞれの前記スロットに設置された前記テストモジュール力受け取った前記モジュール識別情報と、当該スロットに設置されるべき前記テストモジュールの前記モジュール識別情報とを比較し、それぞれの前記スロットに正、前記テストモジュールが設置されているか否かを更に判定する

請求項 3に記載の試験装置。

[6] 前記テストモジュールは、前記制御信号に基づいて前記入力信号を生成するデバイス試験用回路を更に有し、

それぞれの前記コネクタは、

前記デバイス試験用回路と前記電子デバイスとを接続するデバイスピンと、前記診断用回路と前記診断用デコーダとを接続する診断用ピンと

を有する

請求項 3に記載の試験装置。

[7] 電子デバイスを試験する試験装置のコンフィグレーションを行うコンフィグレーション方法であって、

前記試験装置は、

前記コンフィグレーション方法は、

それぞれの前記コネクタを介してそれぞれの前記テストモジュールに、診断用信号を順次供給させる診断用信号供給ステップと、

それぞれの前記コネクタを介した前記診断用信号が、 V、ずれの前記テストモジユールに供給されたかを検出する信号検出ステップと、

検出結果に基づいて、それぞれの前記出力ポートが、いずれの前記コネクタに接続されているかを検出する位置検出ステップと

を備えるコンフィグレーション方法。

[8] 前記診断用信号供給ステップは、所定の前記スロットに配置された診断用の前記テストモジュールに、他の前記テストモジュールに供給する前記診断用信号を順次生成させる

請求項 7に記載のコンフィグレーション方法。

[9] 電子デバイスを試験する試験装置にお!ヽて、前記電子デバイスと前記試験装置本体とを接続するデバイスインターフェースであって、前記試験装置本体は、

前記複数の出力ポートに対応して設けられ、前記電子デバイスに入力するべき入力信号を前記制御信号に基づいて生成し、前記電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと

を備え、

前記デノイスインターフェースは、

前記電子デバイスと接続されるべき複数のコネクタと、

前記複数のスロットを、いずれの前記コネクタに接続するかを切り替えるスィッチ回路と、

診断用の前記テストモジュールが設置された前記スロットから受け取る診断用信号を、それぞれの前記コネクタを介して、それぞれの前記テストモジュールに順次供給する診断用デコーダと

を備える、

デノイスインターフェース。