CN117647722A - 服务器主板测试方法、装置以及治具 - Google Patents

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CN117647722A
CN117647722A CN202311785757.1A CN202311785757A CN117647722A CN 117647722 A CN117647722 A CN 117647722A CN 202311785757 A CN202311785757 A CN 202311785757A CN 117647722 A CN117647722 A CN 117647722A
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CN
China
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power brick
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tested
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林晓彬
冯学齐
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Guangdong Dongqin Technology Co ltd
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Guangdong Dongqin Technology Co ltd
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Abstract

本申请提供一种服务器主板测试方法、装置以及治具,服务器主板测试治具中包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;控制模块分别与电源砖模块以及连接模块连接;电源砖模块与连接模块连接;连接模块与至少一个待测试主板连接;该方法包括:通过控制模块根据待测试主板的数量确定电源砖数量M;并通过控制模块在电源砖模块中开启M个目标电源砖;通过控制模块基于连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;通过控制模块基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果。这样能够实现对一个或者多个服务器主板的快速产测,部署简单,无需部署整机测试环境,能够降低测试成本,提高测试设备利用率。

Description

服务器主板测试方法、装置以及治具
技术领域
本申请涉及服务器测试技术领域,尤其涉及一种服务器主板测试方法、装置以及治具。
背景技术
随着计算机技术的不断发展,服务器的类型和数量越来越多。为了确保服务器的稳定性以及可靠性,测试人员通常需要对服务器主板进行测试。
在相关技术中,在对服务器主板单板进行产测时,测试人员通常需要组装针对服务器主机整体的一整套测试环境,这种测试方式导致服务器主板测试的成本较高并且测试设备的利用率不高。
发明内容
本申请提供一种服务器主板测试方法、装置以及治具,能够降低服务器主板测试成本,并且提高服务器主板测试设备的利用率。
第一方面,本申请实施例提供一种服务器主板测试方法,应用于测试治具,所述测试治具包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;所述控制模块分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接;所述电源砖模块与所述连接模块连接;所述连接模块与至少一个待测试主板连接;所述方法包括:
通过所述控制模块根据所述待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数;
通过所述控制模块在所述电源砖模块中开启M个目标电源砖;
通过所述控制模块基于所述连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;
通过所述控制模块基于所述连接模块获取各个所述待测试主板对应的测试结果。
在一种可能的实施方式中,所述通过所述控制模块在所述电源砖模块中开启M个目标电源砖,包括:
确定所述电源砖模块中各个备选电源砖的历史工作时长;
按照历史工作时长从小到大的顺序对所述备选电源砖进行排序,并将前M个备选电源砖确定为所述目标电源砖;
在所述电源砖模块中开启M个所述目标电源砖。
在一种可能的实施方式中,所述在所述电源砖模块中开启M个所述目标电源砖,包括:
开启所述M个目标电源砖的使能开关;所述电源砖模块中的每个备选电源砖均连接有交流电源线缆;或者,
将所述M个目标电源砖与交流电源线缆连接;所述电源砖模块中的每个备选电源砖的使能开关均处于开启状态。
在一种可能的实施方式中,所述电源砖模块中每个电源砖对应有至少一个风扇;所述方法还包括:
获取所述目标电源砖的实时温度;
根据所述实时温度以及预设转速对应关系,将所述目标电源砖对应的至少一个目标风扇的转速调整为目标转速。
在一种可能的实施方式中,所述连接模块包括PSU连接器以及PSU线缆;所述PSU连接器通过所述PSU线缆与所述待测试主板连接;所述PSU连接器还连接有IO扩展器;所述通过所述控制模块基于所述连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式,包括:
根据所述IO扩展器,读取所述IO扩展器对应的待测试主板的主板标识;
控制所述待测试主板以及所述待测试主板对应的PSU连接器进入产测模式。
在一种可能的实施方式中,所述PSU连接器通过所述PSU线缆与所述待测试主板柔性连接。
在一种可能的实施方式中,所述方法还包括:
通过所述控制模块将所述测试结果存储至所述控制模块包括的寄存器中;
通过所述控制模块基于网络接口向产测服务器发送所述测试结果。
在一种可能的实施方式中,所述控制模块通过串行总线I2C分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接。
第三方面,本申请实施例提供一种服务器主板测试装置,应用于测试治具,所述测试治具包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;所述控制模块分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接;所述电源砖模块与所述连接模块连接;所述连接模块与至少一个待测试主板连接;所述装置包括:
第一确定模块,用于通过所述控制模块根据所述待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数;
开启模块,用于通过所述控制模块在所述电源砖模块中开启M个目标电源砖;
第二确定模块,用于通过所述控制模块基于所述连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;
获取模块,用于通过所述控制模块基于所述连接模块获取各个所述待测试主板对应的测试结果。
在一种可能的实施方式中,所述开启模块,具体用于:
确定所述电源砖模块中各个备选电源砖的历史工作时长;
按照历史工作时长从小到大的顺序对所述备选电源砖进行排序,并将前M个备选电源砖确定为所述目标电源砖;
在所述电源砖模块中开启M个所述目标电源砖。
在一种可能的实施方式中,所述开启模块,具体用于:
开启所述M个目标电源砖的使能开关;所述电源砖模块中的每个备选电源砖均连接有交流电源线缆;或者,
将所述M个目标电源砖与交流电源线缆连接;所述电源砖模块中的每个备选电源砖的使能开关均处于开启状态。
在一种可能的实施方式中,所述电源砖模块中每个电源砖对应有至少一个风扇;所述装置还用于:
获取所述目标电源砖的实时温度;
根据所述实时温度以及预设转速对应关系,将所述目标电源砖对应的至少一个目标风扇的转速调整为目标转速。
在一种可能的实施方式中,所述连接模块包括PSU连接器以及PSU线缆;所述PSU连接器通过所述PSU线缆与所述待测试主板连接;所述PSU连接器还连接有IO扩展器;所述第二确定模块,具体用于:
根据所述IO扩展器,读取所述IO扩展器对应的待测试主板的主板标识;
控制所述待测试主板以及所述待测试主板对应的PSU连接器进入产测模式。
在一种可能的实施方式中,所述PSU连接器通过所述PSU线缆与所述待测试主板柔性连接。
在一种可能的实施方式中,所述装置还用于:
通过所述控制模块将所述测试结果存储至所述控制模块包括的寄存器中;
通过所述控制模块基于网络接口向产测服务器发送所述测试结果。
在一种可能的实施方式中,所述控制模块通过串行总线I2C分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接。
第三方面,本申请实施例提供一种服务器主板测试治具,包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;所述控制模块分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接;所述电源砖模块与所述连接模块连接;所述连接模块与至少一个待测试主板连接;其中,
所述控制模块用于根据所述待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数;
所述控制模块用于在所述电源砖模块中开启M个目标电源砖;
所述控制模块用于基于所述连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;
所述控制模块用于基于所述连接模块获取各个所述待测试主板对应的测试结果。
本申请实施例提供的服务器主板测试方法、装置以及治具,服务器主板测试治具中包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;控制模块分别与电源砖模块以及连接模块连接;电源砖模块与连接模块连接;连接模块与至少一个待测试主板连接;测试治具通过控制模块根据待测试主板的数量确定电源砖数量M;并通过控制模块在电源砖模块中开启M个目标电源砖;通过控制模块基于连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;通过控制模块基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果。本申请中测试治具通过控制模块确定并开启M个目标电源砖进行上电产测,并基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果,能够实现对一个或者多个服务器主板的快速产测,部署简单,无需部署整机测试环境,能够降低测试成本,提高测试设备利用率。
附图说明
图1为本申请实施例提供的应用场景示意图;
图2为本申请实施例提供的一种服务器主板测试方法的流程示意图;
图3为本申请实施例提供的另一种服务器主板测试方法的流程示意图;
图4为本申请实施例提供的一种服务器主板测试治具连接模块的示意图;
图5为本申请实施例提供的一种服务器主板测试治具的示意图;
图6为本申请实施例提供的一种服务器主板测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本申请的技术方案,下面结合附图和实施例对本申请作进一步详细描述。应当理解的是,此处描述的具体实施例和附图仅仅用于解释本申请,而并非对本申请的限定。
需要说明的是,本申请所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等),均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据,并且相关数据的收集、使用和处理需要遵守相关法律法规和标准,并提供有相应的操作入口,供用户选择授权或者拒绝。
相关技术中,在对服务器主板进行测试时,测试人员通常需要组装整机环境,包括电源供应单元(Power Supply Unit,PSU)、机框以及线缆等。这样,针对服务器主板单板进行简单功能产测时,相关技术中需要组装一整套测试环境,导致服务器主板测试的成本较高并且测试设备的利用率不高。
为了解决上述问题,本申请提出了一种服务器主板测试治具,包括控制模块、电源砖模块以及连接模块,控制模块分别与电源砖模块以及连接模块连接;电源砖模块与连接模块连接;连接模块与至少一个待测试主板连接;测试治具通过控制模块根据待测试主板的数量确定电源砖数量M;并在电源砖模块中开启M个目标电源砖;基于连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式,然后在产测模式下基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果。这样,服务器主板测试治具能够实现对服务器主板单板的快速产测,部署简单,无需部署整个测试环境,能够降低测试成本,提高测试设备的利用率。
图1为本申请实施例提供的应用场景示意图。请参见图1,相关技术中在对服务器主板进行产测时,通常需要组装一整套整机测试环境,设备成本昂贵并且利用率不高。而在本申请实施例中,测试人员通过服务器主板测试治具对服务器主板进行产测,该测试治具仅包括控制模块、电源砖模块以及连接模块,部署简单,无需部署整机测试环境,能够降低测试设备成本,提高测试设备利用率。
以下通过具体实施例对本申请所示的方案进行详细说明。需要说明的是,以下几个实施例可以独立存在,也可以相互结合,对于相同或相似的内容,在不同的实施例中不再重复说明。
图2为本申请实施例提供的一种服务器主板测试方法的流程示意图。该服务器主板测试方法应用于测试治具,该测试治具包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;控制模块分别与电源砖模块以及连接模块连接;电源砖模块与连接模块连接;连接模块与至少一个待测试主板连接。
在本申请实施例中,测试治具可以是指服务器主板测试夹治具,也可以称为治具卡或者治具板等,能够实现对于一个或者多个服务器主板单板的功能产测。控制模块可以是指用于进行指令下发和测试结果收集的控制模块,其中该控制模块可以为处理器或者控制器等,其中具体可以包括寄存器等子单元模块,例如,该控制模块具体可以是指基板管理控制模块(Baseboard Management Controller,BMC)等,当然也可以为其他类型的控制模块,本申请实施例对于控制模块的具体类型不作限定,在后文中控制模块以BMC为例进行说明,在实际应用中可以基于实际需求灵活替换为其他类型的控制模块。控制模块可以与电源砖模块连接,这样控制模块可以接收电源砖模块的信号并向电源砖模块下发控制指令。控制模块同时可以与连接模块连接,用于启动产测并获取连接模块连接的待测试主板的各类测试信号。
电源砖模块可以用于进行供电,能够将交流电转换为直流电,为连接模块以及待测试主板供电。该待测试主板(Main Board,MB)可以是指需要进行产测的服务器主板单板或者裸板。电源砖模块中包括多个电源砖,每个电源砖可以分别与连接模块进行连接。连接模块可以是指用于连接电源砖模块、控制模块以及待测试主板的连接设备,连接模块可以与至少一个待测试主板连接,这样测试治具可以一次性对一个或者多个待测试主板进行产测。
请参见图2,该服务器主板测试方法可以包括:
S201、通过控制模块根据待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数。
本申请实施例中,电源砖数量可以是指需要开启供电的电源砖的数量,该电源砖数量可以用M表示,M为正整数,具体可以是1、2、3等。在将待测试主板与连接模块连接之后,服务器主板测试治具中的控制模块可以根据待测试主板的数量,确定出电源砖数量M,通常每个待测试主板需要一个电源砖为其供电,即电源砖数量M可以等于待测试主板的数量。
S202、通过控制模块在电源砖模块中开启M个目标电源砖。
本申请实施例中,目标电源砖可以是指在电源砖模块中选择的最终用于进行供电的电源砖。服务器主板测试治具中的控制模块在确定出产测所需要的电源砖数量M之后,可以在电源砖模块中包括的多个电源砖中确定出M个目标电源砖,具体可以基于电源砖的历史工作时长或者故障状态等确定,本申请实施例对此不作限定。之后,控制模块可以向电源砖模块发送控制信号,开启M个目标电源砖,为待测试主板供电,实现服务器主板裸板上电。
S203、通过控制模块基于连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式。
本申请实施例中,主板标识可以是指待测试主板对应的编号等标识信息,主板标识具有唯一性,即每个待测试主板对应一个唯一的主板标识。产测模式可以是指对服务器主板进行功能测试的模式。连接模块可以连接有输入输出扩展器(IO Expander),控制模块可以基于IO扩展器来确定各个待测试主板的主板标识,之后可以控制连接模块以及待测试主板进行产测模式,当然,控制模块也可以采用其他方式来确定待测试主板的主板标识,本申请实施例对此不作限定。
S204、通过控制模块基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果。
本申请实施例中,测试结果可以是指待测试主板的产测结果,其中可以包括有电源接通(Power Supply-ON,PSON)信号、电源良好(Power Good,PG)信号、在位信号以及告警信号等,当然,测试结果中还可以包括有其他信号,本申请实施例对此不作限定。具体的,在产测模式下,控制模块可以通过连接模块,获取各个待测试主板的测试结果,后续可以将该测试结果通过网络接口进行上报,完成针对待测试主板的测试过程。
本申请实施例提供的服务器主板测试方法,服务器主板测试治具中包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;控制模块分别与电源砖模块以及连接模块连接;电源砖模块与连接模块连接;连接模块与至少一个待测试主板连接;测试治具通过控制模块根据待测试主板的数量确定电源砖数量M;并通过控制模块在电源砖模块中开启M个目标电源砖;通过控制模块基于连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;通过控制模块基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果。本申请中测试治具通过控制模块确定并开启M个目标电源砖进行上电产测,并基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果,能够实现对一个或者多个服务器主板的快速产测,部署简单,无需部署整机测试环境,能够降低测试成本,提高测试设备利用率。
在上述实施例的基础上,图3为本申请实施例提供的另一种服务器主板测试方法的流程示意图。该服务器主板测试方法应用于测试治具,测试治具包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;控制模块分别与电源砖模块以及连接模块连接;电源砖模块与连接模块连接;连接模块与至少一个待测试主板连接。
请参见图3,该服务器主板测试方法可以包括:
S301、通过控制模块根据待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数。
本申请实施例中,服务器主板测试治具可以根据待测试主板的在位数量,确定出为待测试主板供电所需要的电源砖数量M。
S302、确定电源砖模块中各个备选电源砖的历史工作时长。
S303、按照历史工作时长从小到大的顺序对备选电源砖进行排序,并将前M个备选电源砖确定为目标电源砖。
本申请实施例中,备选电源砖可以是指电源砖模块中包括的多个电源砖。历史工作时长可以是指备选电源砖的历史工作总时长。对于电源砖模块中的各个备选电源砖,工作时长较长时会导致电源砖的寿命缩短,性能下降,为了避免工作时长较长的负面影响,控制模块可以基于各个备选电源砖的历史工作时长,按照历史工作时长从小到大的顺序对备选电源砖进行排序,并将次序在前M位的备选电源砖确定为目标电源砖,后续可以开启这M个备选电源砖进行供电。这样,控制模块基于备选电源砖的历史工作时长来确定目标电源砖,能够均衡各个备选电源砖的工作时间,避免出现某个电源砖工作时长较长的情况。
S304、在电源砖模块中开启M个目标电源砖。
本申请实施例中,控制模块在确定出M个目标电源砖之后,可以开启M个电源砖,具体可以开启目标电源砖的使能(Enable,EN)开关,也可以连接交流电源线缆等,本申请实施例对于目标电源砖的具体开启方式不作限定。
在一种可能的实时方式中,步骤S304具体可以通过如下方式实现:
开启M个目标电源砖的使能开关;电源砖模块中的每个备选电源砖均连接有交流电源线缆;或者,
将M个目标电源砖与交流电源线缆连接;电源砖模块中的每个备选电源砖的使能开关均处于开启状态。
本申请实施例中,电源砖模块的输入端可以连接有交流电源线缆(AC cable),例如具体可以为220伏(V)交流(AC)线缆等,电源砖模块中的备选电源砖能够将交流电转换为直流电(DC),例如将220V交流电转换为12V直流电等。使能开关可以是指备选电源砖对应的使能端开关。在服务器主板测试治具中,电源砖模块中的各个备选电源砖可以直接连接有交流电源线缆,控制模块通过各个备选电源砖的使能开关来控制备选电源砖的开启和关闭,在此基础上,控制模块可以通过开启M个目标电源砖的使能开关来启动目标电源砖进行供电。
此外,在服务器主板测试治具中,电源砖模块中的每个备选电源砖的使能开关可以均处于开启状态,控制模块可以通过是否连接交流电源线缆来控制备选电源砖的开启或者关闭,在此基础上,控制模块可以将M个目标电源砖与交流电源线缆连接以启动目标电源砖进行供电。当然,目标电源砖的也可以采用其他方式开启,本申请实施例对此不作限定。
S305、获取目标电源砖的实时温度;根据实时温度以及预设转速对应关系,将目标电源砖对应的至少一个目标风扇的转速调整为目标转速。
本申请实施例中,电源砖模块中每个电源砖均对应有至少一个风扇,该风扇可以基于直流电源运行。实时温度可以是指目标电源砖的当前温度,预设转速对应关系可以是指温度与转速之间的映射关系,例如可以是指各个温度区间对应的不同转速档位等。目标转速可以是指实时温度对应的转速。
本步骤中,测试治具的电源砖模块中,每个电源砖均对应有至少一个风扇。在目标电源砖供电的过程中,目标电源砖会持续发热,温度会存在一定的上升,控制模块可以获取目标电源砖的实时温度,基于该实时温度以及预设转速对应关系,确定出该实时温度对应的目标转速,之后可以将目标电源砖对应的至少一个目标风扇调整至目标转速。这样,控制模块可以根据电源砖的实时温度调整风扇转速,能够降低电源砖的温度,避免电源砖过热。
S306、根据IO扩展器,读取IO扩展器对应的待测试主板的主板标识;控制待测试主板以及待测试主板对应的PSU连接器进入产测模式。
本申请实施例中,连接模块包括PSU连接器以及PSU线缆;PSU连接器通过PSU线缆与待测试主板连接;PSU连接器还连接有IO扩展器。其中,PSU连接器可以是指PSU对应的金手指(connecting finger),用于连接待测试主板、电源砖模块以及控制模块,示例性地,该PSU连接器具体可以表示为CPRS PSU GF CONN等,其中CPRS具体是指通用冗余电源(CommonRedundant Power Supplies,CPRS)。每个PSU连接器可以通过PSU线缆与一个待测试主板进行连接。
PSU线缆可以是指用于连接PSU连接器以及待测试主板的线缆。在一种可能的实施方式中,PSU连接器通过PSU线缆与待测试主板柔性连接。这样,待测试主板通过PSU柔性线缆与PSU连接器连接,方便移动待测试主板,提高了待测试主板测试的灵活性。示例性地,图4为本申请实施例提供的一种服务器主板测试治具连接模块的示意图。如图4所示出的,连接模块包括PSU连机器401以及PSU线缆402。其中,PSU连接器401通过PSU线缆402与待测试主板线缆公端座子403连接,该待测试主板线缆公端座子403可以是金手指形态的,本申请实施例对此不作限定。这样,测试治具通过PSU线缆能够实现与待测试主板柔性连接,能够提高产测的灵活性。
本申请实施例中,连接模块中每个PSU连接器还可以连接有一个IO扩展器,基于IO扩展器中多位信号,控制模块可以读取多位信号,确定出该IO扩展器对应的待测试主板的主板标识。
S307、通过控制模块基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果。
在一种可能的实施方式中,控制模块通过串行总线I2C分别与电源砖模块以及连接模块连接。
本申请实施例中,测试治具中的控制模块具体可以通过双向二线制同步串行总线(Inter-Integrated Circuit,I2C)分别与电源砖模块以及连接模块连接,这样,控制模块可以接收电源砖模块的控制信号,也能够接收连接模块转发的待测试主板的产测信号等得到测试结果。当然,测试模块也可以采用其他总线进行信号传输,具体可以基于实际需求进行灵活设置,本申请实施例对此不作限定。
S308、通过控制模块将测试结果存储至控制模块包括的寄存器中;通过控制模块基于网络接口向产测服务器发送测试结果。
本申请实施例中,寄存器可以用于存储测试结果。网络接口可以是指网络管理接口,例如具体可以是指RJ45管理接口等。产测服务器可以用于接收、处理以及存储测试结果等。控制模块在获取到测试结果之后,可以通过I2C方式将测试结果写入给作为从设备(slave)的寄存器,然后测试治具控制模块可以通过网络接口将产测数据输出给交换机再发送给产测服务器,实现待测试主板测试结果的上报。
需要说明的是,在本申请的各个实施例中,各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各步骤的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
在上述实施例的基础上,图5为本申请实施例的一种测试治具的示意图。如图5所示出的,服务器主板测试治具包括控制模块501、电源砖模块502、连接模块503,连接模块503的一端连接有多个待测试主板504。具体的,测试治具中以模块化的方式配置多路相同的AC 220V转DC 12V的电源砖组成电源砖模块502。交流电源线缆可以根据待测试主板504的数量及总功耗选择接几根,也可以全部交流电源线缆均接上。连接模块503包括PSU连接器以及PSU线缆,在测试治具后端有多个PSU连接器,PSU连接器可以是金手指的形式,每个PSU连接器通过PSU线缆与待测试主板连接,这样一个测试治具板可以同时连接多个待测试主板上电产测。需要说明的是,图中的连接线分为虚线和实线,其中实线可以是指电源线,用于进行供电,虚线可以是指信号线,具体可以是指I2C总线等,本申请实施例对此不作限定。
采用上述测试治具的产测过程如下:
控制模块501依据待测试主板504的数量M选择开启对应M个目标电源砖,以输出直流电源,为了避免同一个电源砖工作时间过长,控制模块501可以统计均衡每个电源砖的历史工作时长,基于历史工作时长来确定目标电源砖。此外,每个电源砖旁边配置一个或者多个高转速风扇,所有电源砖及其对应风扇的I2C均连接至控制模块501,可以用于传输风扇使能信号、风扇转速(TACH)、风扇脉冲宽度调制(Pulse Width Modulation,PWM)等信号,同时也可以用于传输电源砖的使能信号、PG信号、在位信号、实时温度以及告警信号等。这样,控制模块501读取目标电源砖的实时温度,并调整对应的风扇转速,能够避免目标电源砖温度过高。
测试治具中每个PSU连接器(PSU GF CONN)都对应设置有一个IO扩展器,控制模块501通过I2C读取IO扩展器预先配置的待测试主板的主板标识,之后可以控制PSU连接器以及待测试主板进入产测模式。在产测模式下,控制模块501获取测试结果,并将测试结果写入至寄存器,之后通过网络管理口将测试结果输出给交换机再发送至产测服务器。
本申请实施例工,服务器测试治具基于电源砖模块中各个备选电源砖的历史工作时长来确定并开启目标电源砖,能够均衡各个电源砖的工作时长,避免同一个电源砖工作时长过长的问题;采用PSU连接器以及PSU线缆连接多个待测试主板同时进行产测,能够提高服务器主板测试的灵活性。本申请中基于测试治具对服务器主板进行产测,无需部署针对服务器主机整体的整套测试环境,降低了设备成本,同时也提高了设备利用率。
图6为本申请实施例提供的一种服务器主板测试装置的结构示意图。该服务器主板测试装置应用于测试治具,测试治具包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;控制模块分别与电源砖模块以及连接模块连接;电源砖模块与连接模块连接;连接模块与至少一个待测试主板连接。请参见图6,服务器主板测试装置60可以包括:
第一确定模块61,用于通过控制模块根据待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数;
开启模块62,用于通过控制模块在电源砖模块中开启M个目标电源砖;
第二确定模块63,用于通过控制模块基于连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;
获取模块64,用于通过控制模块基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果。
在一种可能的实施方式中,开启模块62,具体用于:
确定电源砖模块中各个备选电源砖的历史工作时长;
按照历史工作时长从小到大的顺序对备选电源砖进行排序,并将前M个备选电源砖确定为目标电源砖;
在电源砖模块中开启M个目标电源砖。
在一种可能的实施方式中,开启模块62,具体用于:
开启M个目标电源砖的使能开关;电源砖模块中的每个备选电源砖均连接有交流电源线缆;或者,
将M个目标电源砖与交流电源线缆连接;电源砖模块中的每个备选电源砖的使能开关均处于开启状态。
在一种可能的实施方式中,电源砖模块中每个电源砖对应有至少一个风扇;装置60还用于:
获取目标电源砖的实时温度;
根据实时温度以及预设转速对应关系,将目标电源砖对应的至少一个目标风扇的转速调整为目标转速。
在一种可能的实施方式中,连接模块包括PSU连接器以及PSU线缆;PSU连接器通过PSU线缆与待测试主板连接;PSU连接器还连接有IO扩展器;第二确定模块63,具体用于:
根据IO扩展器,读取IO扩展器对应的待测试主板的主板标识;
控制待测试主板以及待测试主板对应的PSU连接器进入产测模式。
在一种可能的实施方式中,PSU连接器通过PSU线缆与待测试主板柔性连接。
在一种可能的实施方式中,装置60还用于:
通过控制模块将测试结果存储至控制模块包括的寄存器中;
通过控制模块基于网络接口向产测服务器发送测试结果。
在一种可能的实施方式中,控制模块通过串行总线I2C分别与电源砖模块以及连接模块连接。
本申请实施例提供的服务器主板测试装置60可以执行上述方法实施例所示的技术方案,其实现原理以及有益效果类似,此处不再进行赘述。
本申请实施例还提供一种服务器主板测试治具,包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;控制模块分别与电源砖模块以及连接模块连接;电源砖模块与连接模块连接;连接模块与至少一个待测试主板连接;其中,
控制模块用于根据待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数;
控制模块用于在电源砖模块中开启M个目标电源砖;
控制模块用于基于连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;
控制模块用于基于连接模块获取各个待测试主板对应的测试结果。
本申请实施例提供的服务器主板测试治具可以执行上述方法实施例所示的技术方案,其实现原理以及有益效果类似,此处不再进行赘述。
本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,当计算机执行指令被处理器执行时用于实现上述服务器主板测试方法。
需要说明的是,本申请实施例中提及的处理器可以是中央处理器(CentralProcessing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital SignalProcessor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
应理解,本申请实施例中提及的存储器可以是易失性存储器或非易失性存储器,或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中,非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM,PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM,EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM,EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory,RAM),其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明,许多形式的RAM可用,例如静态随机存取存储器(Static RAM,SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic RAM,DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM,SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data RateSDRAM,DDR SDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM,ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synch Link DRAM,SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(DirectRam Bus RAM,DR RAM)。需要说明的是,当处理器为通用处理器、DSP、ASIC、FPGA或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件时,存储器(存储模块)集成在处理器中。应注意,本文描述的存储器旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
应理解,在本申请的各种实施例中,上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
本申请实施例是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理单元以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理单元执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
关于上述实施例中描述的各个装置、产品包含的各个模块/单元,其可以是软件模块/单元,也可以是硬件模块/单元,或者也可以部分是软件模块/单元,部分是硬件模块/单元。各个装置、产品可以应用于或者集成于芯片、芯片模组或终端设备中。示例性地,对于应用于或者集成于芯片的各个装置、产品,其包含的各个模块/芯片可以是都采用电路等硬件的方式实现,或者,至少部分模块/单元可以采用软件程序的方式实现,该软件程序运行于芯片内部集成的处理器,剩余的部分模块/单元可以采用电路等硬件方式实现。
在本申请中,术语“包括”及其变形可以指非限制性的包括;术语“或”及其变形可以指“和/或”。本申请中术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。本申请中,“多个”是指两个或两个以上。“和/或”,描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
以上仅是本申请的部分实施例,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应当视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种服务器主板测试方法,其特征在于,应用于测试治具,所述测试治具包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;所述控制模块分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接;所述电源砖模块与所述连接模块连接;所述连接模块与至少一个待测试主板连接;所述方法包括:
通过所述控制模块根据所述待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数;
通过所述控制模块在所述电源砖模块中开启M个目标电源砖;
通过所述控制模块基于所述连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;
通过所述控制模块基于所述连接模块获取各个所述待测试主板对应的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过所述控制模块在所述电源砖模块中开启M个目标电源砖,包括:
确定所述电源砖模块中各个备选电源砖的历史工作时长;
按照历史工作时长从小到大的顺序对所述备选电源砖进行排序,并将前M个备选电源砖确定为所述目标电源砖;
在所述电源砖模块中开启M个所述目标电源砖。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述电源砖模块中开启M个所述目标电源砖,包括:
开启所述M个目标电源砖的使能开关;所述电源砖模块中的每个备选电源砖均连接有交流电源线缆;或者,
将所述M个目标电源砖与交流电源线缆连接;所述电源砖模块中的每个备选电源砖的使能开关均处于开启状态。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电源砖模块中每个电源砖对应有至少一个风扇;所述方法还包括:
获取所述目标电源砖的实时温度;
根据所述实时温度以及预设转速对应关系,将所述目标电源砖对应的至少一个目标风扇的转速调整为目标转速。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述连接模块包括PSU连接器以及PSU线缆;所述PSU连接器通过所述PSU线缆与所述待测试主板连接;所述PSU连接器还连接有IO扩展器;所述通过所述控制模块基于所述连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式,包括:
根据所述IO扩展器,读取所述IO扩展器对应的待测试主板的主板标识;
控制所述待测试主板以及所述待测试主板对应的PSU连接器进入产测模式。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述PSU连接器通过所述PSU线缆与所述待测试主板柔性连接。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
通过所述控制模块将所述测试结果存储至所述控制模块包括的寄存器中;
通过所述控制模块基于网络接口向产测服务器发送所述测试结果。
8.根据权利要求1至7任一项所述的方法,其特征在于,所述控制模块通过串行总线I2C分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接。
9.一种服务器主板测试装置,其特征在于,应用于测试治具,所述测试治具包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;所述控制模块分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接;所述电源砖模块与所述连接模块连接;所述连接模块与至少一个待测试主板连接;所述装置包括:
第一确定模块,用于通过所述控制模块根据所述待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数;
开启模块,用于通过所述控制模块在所述电源砖模块中开启M个目标电源砖;
第二确定模块,用于通过所述控制模块基于所述连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;
获取模块,用于通过所述控制模块基于所述连接模块获取各个所述待测试主板对应的测试结果。
10.一种服务器主板测试治具,其特征在于,包括控制模块、电源砖模块以及连接模块;所述控制模块分别与所述电源砖模块以及所述连接模块连接;所述电源砖模块与所述连接模块连接;所述连接模块与至少一个待测试主板连接;其中,
所述控制模块用于根据所述待测试主板的数量确定电源砖数量M;其中M为正整数;
所述控制模块用于在所述电源砖模块中开启M个目标电源砖;
所述控制模块用于基于所述连接模块确定各个待测试主板的主板标识并进入产测模式;
所述控制模块用于基于所述连接模块获取各个所述待测试主板对应的测试结果。
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