JPH07209378A

JPH07209378A - 試験装置

Info

Publication number: JPH07209378A
Application number: JP6006227A
Authority: JP
Inventors: Hidenori Morita; 英憲森田
Original assignee: Yokogawa Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 1994-01-25
Filing date: 1994-01-25
Publication date: 1995-08-11

Abstract

(57)【要約】【目的】モジュールコントローラとモジュールとの間
にモジュールバスを介在させ、モジュールコントローラ
が任意のモジュールを制御できるようにすることによっ
て、被試験対象に応じて最適な時間で試験が行える試験
装置を実現することを目的にする。【構成】本装置は、被試験対象に信号を出力する出力
部あるいは被試験対象からの信号を入力する入力部の少
なくとも１つを有する２以上のモジュールと、モジュー
ルが接続するモジュールバスと、このモジュールバスを
介して、モジュールの少なくとも１つを制御する２以上
のモジュールコントローラと、を有することを特徴とす
る装置である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被試験対象、例えばＩ
Ｃの試験を行う試験装置に関し、最適な時間で試験が行
える試験装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ＩＣ試験装置は被試験対象（以下ＤＵＴ
と略す）の所定の端子に各種信号を加え、そのときの所
定の端子における信号を測定して、その良否を判定・選
別するものである。この各種信号を出力し、また、信号
を測定する手段が計測モジュールである。従来のＩＣ試
験装置を図７に示す。１はテストヘッドで、ＤＵＴ（図
示せず）が搭載される。２はマルチプレクサで、テスト
ヘッド１に接続する。

【０００３】３１，３２は計測モジュールであるパーピ
ンＶＩモジュール（ＰＰＶＩ）で、マルチプレクサ２を
介してテストヘッド１に搭載されるＤＵＴの試験を行
う。ＰＰＶＩ３１，３２は、定電圧・定電流を発生で
き、電圧・電流が測定できる複数のモジュールを有し、
ＤＵＴのピンに１対１に接続できる。３３〜３５は計測
モジュールで、それぞれオーディオ信号を出力するオー
ディオソース（ＡＵＳ），オーディオ信号のピーク値，
実効値，平均値，歪値などを測定するオーディオメジャ
（ＡＵＭ），入力信号の周波数や周期などの時間関係を
測定するタイムメジャ（ＴＭ）で、マルチプレクサ２を
介してテストヘッド１に搭載されるＤＵＴの試験を行
う。また、３６は計測モジュールであるマイクロディジ
タルファンクションモジュール（ＭＤＦＣ）で、マルチ
プレクサ２を介してテストヘッド１に搭載されるＤＵＴ
の試験を行う。ＭＤＦＣ３６は、ＤＵＴにディジタル信
号を出力する出力部やＤＵＴからのディジタル信号を入
力し期待値と比較する入力部からなる複数モジュールを
有している。

【０００４】４１〜４３はモジュールコントローラ（以
下ＭＣと略す）で、計測モジュールの制御を行う。ＭＣ
４１はＰＰＶＩ３１，３２の制御を行う。そして、ＭＣ
４２は、ＡＵＳ３３，ＡＵＭ３４，ＴＭ３５の制御を行
う。また、ＭＣ４３はＭＤＦＣ３６の制御を行う。６は
テストシステムコントローラ（以下ＴＳＣと略す）で、
ハードディスクドライバＨＤＤやエンジニアリング・タ
ーミナルＥＴやプリンタなどが接続され、テストプログ
ラムに従ってシステムバス５を介してＭＣ４１〜４３の
制御を行う。

【０００５】このような装置の動作を以下で説明する。
ＴＳＣ６はテストプログラムに従ってシステムバス５を
介してＭＣ４１〜４３に試験情報を送り、ＭＣ４１〜４
３は試験情報に従って各計測モジュールの制御を行う。
そして、ある計測モジュール例えばＭＤＦＣ３６がマル
チプレクサ２を介してテストヘッド１に搭載されるＤＵ
Ｔにディジタル信号を印加する。別の計測モジュール例
えばＰＰＶＩ３１がＤＵＴからのアナログ信号をマルチ
プレクサ２を介して測定する。そして、ＭＣ４１は測定
結果を記憶する。ＴＳＣ６はＭＣ４１から測定結果を取
り出して、テストプログラムに記載されている所望の期
待値と比較し、ＤＵＴの良否の判定を行う。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】このような構成の場
合、ＭＣが制御を行う計測モジュールは決まっていて、
他の計測モジュールを制御できなかった。例えば、ある
ＤＵＴの試験を行うには、ＰＰＶＩ３１，３２，ＡＵＳ
３３，ＡＵＭ３４，ＴＭ３５，ＭＤＦＣ３６のすべての
計測モジュールが必要であるとする。そのため、ＭＣ４
１〜４３は計測モジュールを制御するためすべて使用さ
れることになる。

【０００７】また、別の機能を有するＤＵＴの試験を行
うには、ＰＰＶＩ３１，３２，ＡＵＭ３４が必要でその
他の測定モジュールは必要がないとする。このため、Ｍ
Ｃ４１，４２が使用されて、ＭＣ４３は使用されない状
態になる。このような場合、例えば、ＰＰＶＩ３１，３
２が５つずつモジュールを有していて、合わせて１０の
モジュールを設定しなければならないとき、ＭＣ４１は
モジュールを１つずつ設定していく。また、ＭＣ４２は
ＡＵＭ３４の設定を行う。このＡＵＭ３４の設定時間は
ＰＰＶＩの１つのモジュールの設定の３倍の時間を要す
る。つまり、早く設定が終了する。このとき、使用され
ていないＭＣ４３が使用できれば、ＰＰＶＩのモジュー
ルの設定を早く終了させることができる。しかし、ＭＣ
４３はＭＤＦＣ３６しか制御できない。

【０００８】要するに、ＭＣ４３がＰＰＶＩの制御を行
えば早く試験ができるが、ＭＣは決まった測定モジュー
ルしか制御できないため、被試験対象に応じて最適な時
間で試験が行えないという問題点があった。

【０００９】本発明の目的は、モジュールコントローラ
とモジュールとの間にモジュールバスを介在させ、モジ
ュールコントローラが任意のモジュールを制御できるよ
うにすることによって、被試験対象に応じて最適な時間
で試験が行える試験装置を実現することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は、被試験対象の
試験を行う試験装置において、前記被試験対象に信号を
出力する出力部あるいは被試験対象からの信号を入力す
る入力部の少なくとも１つを有する２以上のモジュール
と、前記モジュールが接続するモジュールバスと、この
モジュールバスを介して、前記モジュールの少なくとも
１つを制御する２以上のモジュールコントローラと、を
有することを特徴とするものである。

【００１１】また、テストプログラムとモジュールコン
トローラの実装数とに基づいて、モジュールコントロー
ラが制御するモジュールの割当情報をモジュールコント
ローラに与えるテストシステムコントローラを有し、モ
ジュールコントローラは割当情報に従ってモジュールを
制御することを特徴とするものである。

【００１２】

【作用】このような本発明では、モジュールコントロー
ラがバスを介してモジュールを制御する。また、テスト
システムコントローラは、テストプログラムとモジュー
ルコントローラの実装数とに基づいて、モジュールコン
トローラが制御するモジュールの割当情報をモジュール
コントローラに与える。そして、モジュールコントロー
ラは割当情報に従ってモジュールを制御する。

【００１３】

【実施例】以下図面を用いて本発明を説明する。図１は
本発明の一実施例を示した構成図である。図７と同一の
ものは同一符号を付す。図において、７１〜７６はそれ
ぞれ計測モジュールであるＰＰＶＩ，ＰＰＶＩ，ＡＵ
Ｓ，ＡＵＭ，ＴＭ，ＭＤＦＣである。８はモジュールバ
スで、ＰＰＶＩ７１，７２，ＡＵＳ７３，ＡＵＭ７４，
ＴＭ７５，ＭＤＦＣ７６に接続する。９１〜９３はＭＣ
で、モジュールバス８を介して、モジュールを制御す
る。そして、ＴＳＣ１０は、システムバス５を介して、
ＭＣ９１〜９３が制御するモジュールを割り当て、ＭＣ
９１〜９３の制御を行う。ここで、モジュールとは、Ｐ
ＰＶＩ７１，７２内のモジュール，ＡＵＳ７３，ＡＵＭ
７４，ＴＭ７５，ＭＤＦＣ７６内のモジュールを意味す
る。つまり、ＰＰＶＩとＭＤＦＣとはＤＵＴの多数のピ
ンに接続して試験ができるように複数のモジュールを有
する測定モジュールで、その他は、１つのモジュールで
構成される測定モジュールである。

【００１４】図１の装置の具体的構成を図２に示す。Ｍ
Ｃ９１において、９１０は確認手段で、計測モジュール
の種類と実装数とを確認し、共有メモリ９１１に書き込
む。そして、共有メモリ９１１には、ＴＳＣ１０により
ＭＣ９１〜９３の共有データが書き込まれる。ここで、
共有データとは、例えば、ＭＣが他のＭＣと同期して、
計測モジュールを制御するときに用いられるデータであ
る。９１２は制御手段で、ＴＳＣ１０によりメモリ９１
３に書き込まれたパラメータと命令コードとに基づい
て、ＴＳＣ１０により割り当てられたモジュールの設定
と制御とを行う。ＭＣ９２，９３において、それぞれ、
９２１，９３１は共有メモリで、共有メモリ９１１と同
一の内容が書き込まれる。９２２，９３２は制御手段
で、それぞれＴＳＣ１０によりメモリ９２３，９３３に
書き込まれたパラメータと命令コードとに基づいて、割
り当てられたモジュールの設定と制御とを行う。

【００１５】ＴＳＣ１０において、１１は確認手段で、
ＭＣの実装数を確認し、共有メモリ９１１に書き込まれ
た計測モジュールの種類と実装数とを取り込む。これら
の情報が実装情報である。１２は翻訳手段で、記憶部で
あるハードディスクドライブＨＤＤやエンジニアリング
・ターミナルＥＴなどからテストプログラムを受け取
り、ＴＳＣ１０やＭＣが動作するコードに翻訳する。つ
まり、命令コードとピン条件などの電圧，電流値などの
パラメータとに変換し、全体の制御を司る命令コードを
記憶部であるメモリ１３に格納する。１４は割当手段
で、テストプログラムと実装情報とに基づいてどのＭＣ
にどのモジュールを制御されるかを決め、各ＭＣが制御
するモジュールの割当情報と共有データとを共有メモリ
９１１〜９３１に格納すると共に、パラメータとＭＣ間
のモジュールの制御を司る命令コードとを各ＭＣのメモ
リに格納する。１５は制御手段で、メモリ１３に格納さ
れた命令コードに基づいてＭＣ９１〜９３の制御を行
う。

【００１６】このような装置の動作を以下で説明する。
まず、装置の立ち上げ時の動作を説明する。図３は図１
の装置の立ち上げ時の動作を示したフローチャートであ
る。図４は図１の装置のＭＣへのモジュールの割当動作
を説明する図である。図４において、ａはテストプログ
ラム、ｂ，ｃは、それぞれＰＰＶＩ，他の計測モジュー
ルのパラメータと命令コードとが設定されるＥＸ−テー
ブル、ｄ，ｅはそれぞれＰＰＶＩのモジュールであるピ
ン１〜４，５〜８のＥＸ−テーブルである。

【００１７】ＭＣ９１の確認手段９１０が計測モジュー
ルの種類と実装数とを確認し、共有メモリ９１１〜９３
１に書き込む。そして、ＴＳＣ１０の確認手段１１はＭ
Ｃの実装数を確認し、共有メモリ９１１に書き込まれた
計測モジュールの種類と実装数とを取り込む。翻訳手段
１２が計測モジュールの種類に従って、テストプログラ
ムを命令コードとパラメータとに翻訳する。つまり、図
４に示すようにテストプログラムａを計測モジュールに
対応するパラメータと命令コードとが設定されるＥＸ−
テーブルｂ，ｃを作成する。

【００１８】割当手段１４が、テストプログラムと実装
情報とに基づいて、どのＭＣがどのモジュールを制御す
るかの割当情報を作成する。そして、割当情報と共有デ
ータとを共有メモリ９１１〜９３１に書き込むと共に、
制御するモジュールのパラメータと命令コードとを各Ｍ
Ｃのメモリ９１３〜９３３に書き込む。例えば、図４に
示すようにＰＰＶＩのＥＸ−テーブルｂをＭＣに制御さ
せるモジュールに対応して分割する。つまり、ＭＣの制
御するＰＰＶＩのモジュールの数に従って、ピン１〜４
のＥＸ−テーブルｄ，ピン５〜８のＥＸ−テーブルｅと
いうように分割し、ＭＣのメモリに書き込む。そして、
ＭＣ９１〜９３の制御手段９１２〜９３２は割り当てら
れたモジュールの診断を行う。

【００１９】次に装置の操業時、つまり、ＤＵＴの試験
時の動作を説明する。図５は図１の装置の操業時の動作
を示したフローチャートである。制御手段１５はメモリ
１３から命令コードを読み出し、ＭＣに設定命令を与え
る。そして、設定命令を受けたＭＣは、共有メモリの割
当情報を読み出す。ＭＣは、メモリからパラメータと命
令コードとを読み出して、パラメータに従ってモジュー
ルの設定を行う。各ＭＣは、制御手段１５に設定が終了
したことを通知する。制御手段１５は命令コードにより
試験命令をＭＣに与える。ＭＣはモジュールにＤＵＴの
試験を行わさせる。そして、ＭＣは、試験結果により良
否の判定を行う。制御手段１５は、ＤＵＴの良否の総合
判断を行う。

【００２０】ここで、試験途中におけるＭＣ間のモジュ
ールの制御動作を以下に示す。図６はＭＣ間のモジュー
ルの制御動作を示したフローチャートである。例えば、
ＭＣ９１の制御手段９１２は、メモリ９１３に格納され
ている命令コードにより、ＭＣ９２の制御手段９２２に
システムバス５を介して、ＭＣ９２が制御するモジュー
ルの解放要求を行う。ＭＣ９２の制御手段９２２は制御
するモジュールの制御が終了した時点で、ＭＣ９２の制
御手段９２２はＭＣ９１の制御手段９１２に解放メッセ
ージを送る。その結果、ＭＣ９１の制御手段９１２は、
ＭＣ９２の制御するモジュールとＭＣ９１に割り当てら
れたモジュールの両方を制御してＤＵＴの試験を行う。
試験が終了した時点で、ＭＣ９１の制御手段９１２は、
ＭＣ９２の制御手段９２２に解放メッセージを送る。再
びＭＣ９２の制御手段９２２は、割り当てられたモジュ
ールの制御を行う。

【００２１】このようにＭＣとモジュールとをバスを介
して接続することにより、ＭＣは任意のモジュールを制
御することができる。すなわち、被試験対象に応じて、
ＭＣが制御するモジュールが設定できるので、最適な時
間で試験が行える。また、ＭＣ間で、同じモジュールを
制御できるので、複雑なＤＵＴの試験が行える。そし
て、ＭＣの数を可変にできるので、ユーザーのコスト要
求に応じて、装置が構成できる。

【００２２】

【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。モジュールコントローラとモジュールとをバスを介
して接続することにより、モジュールコントローラは任
意のモジュールを制御することができる。すなわち、被
試験対象に応じて、モジュールコントローラが制御する
モジュールが設定できるので、最適な時間で試験が行え
る。また、モジュールコントローラ間で、同じモジュー
ルを制御できるので、複雑な被試験対象の試験が行え
る。そして、モジュールコントローラの数を可変にでき
るので、ユーザーのコスト要求に応じて、装置が構成で
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。

【図２】図１の装置の具体的構成を示した図である。

【図３】図１の装置の立ち上げ時の動作を示したフロー
チャートである。

【図４】図１の装置のＭＣへのモジュールの割当動作を
説明する図である。

【図５】図１の装置の操業時の動作を示したフローチャ
ートである。

【図６】ＭＣ間のモジュールの制御動作を示したフロー
チャートである。

【図７】従来の試験装置の構成図である。

【符号の説明】

７１〜７６計測モジュール８モジュールバス９１〜９３モジュールコントローラ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被試験対象の試験を行う試験装置におい
て、前記被試験対象に信号を出力する出力部あるいは被試験
対象からの信号を入力する入力部の少なくとも１つを有
する２以上のモジュールと、前記モジュールが接続するモジュールバスと、このモジュールバスを介して、前記モジュールの少なく
とも１つを制御する２以上のモジュールコントローラ
と、を有することを特徴とする試験装置。
【請求項２】テストプログラムとモジュールコントロ
ーラの実装数とに基づいて、モジュールコントローラが
制御するモジュールの割当情報をモジュールコントロー
ラに与えるテストシステムコントローラを有し、モジュ
ールコントローラは割当情報に従ってモジュールを制御
することを特徴とする請求項１の試験装置。