KR102483371B1 - 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법 - Google Patents

전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102483371B1
KR102483371B1 KR1020220166159A KR20220166159A KR102483371B1 KR 102483371 B1 KR102483371 B1 KR 102483371B1 KR 1020220166159 A KR1020220166159 A KR 1020220166159A KR 20220166159 A KR20220166159 A KR 20220166159A KR 102483371 B1 KR102483371 B1 KR 102483371B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
instrument
extended
measurement
port
Prior art date
Application number
KR1020220166159A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102483371B9 (ko
Inventor
이재복
홍영표
박윤근
백창인
달 안
전흥구
손성호
김동민
Original Assignee
(주)이랑텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)이랑텍 filed Critical (주)이랑텍
Priority to KR1020220166159A priority Critical patent/KR102483371B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102483371B1 publication Critical patent/KR102483371B1/ko
Priority to PCT/KR2023/003342 priority patent/WO2024117390A1/ko
Publication of KR102483371B9 publication Critical patent/KR102483371B9/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/12—Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/002—Switches for altering the measuring range or for multitesters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공함으로써, 시험시료의 시험 비용 및 시간을 저감할 수 있고, 또한 시험계측기의 디스플레이 상의 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 시험 결과를 각각 디스플레이 하는 한편, 분할된 각 화면을 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이 상에 표시함으로써, 하나의 시험계측기로 다수의 사용자가 동시에 시험시료를 시험할 수 있는 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치는 시험계측기의 시험포트에 대해 확장 시험포트 중 어느 하나의 채널을 선택하여 스위칭하는 스위치, 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 시험시료의 측정 결과를 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 시험계측기, 상기 확장 시험포트로 시험시료에 대한 시험을 수행하고 그 결과를 디스플레이 하는 확장 계측단말, 및 상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어하는 제어기로 이루어진다.

Description

전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법{Expansion device for Electronic equipment test instrument and method thereof}
본 발명은 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법에 관한 것으로, 상세하게는, 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공하는 것이다.
통상적으로 RF 시스템을 생산하기 위해 여러 대의 계측기를 사용하고 이를 자동으로 운용하기도 한다. 자동시험장비(Automated Test Equipment; ATE)와 같은 자동화 시험장비는 다양한 종류의 회로 조립체로 이루어진 전자장비의 기능 및 성능을 운용자의 개입을 최소화하여 자동으로 시험하고, 내부 구성품 중 고장품목을 식별하는 장비이다.
이러한 자동화 시험장비는 다수의 장비가 하나의 ICA(Inter Connect Adapter)를 기준으로 내부 시험자원(계측기 등)과 전기적 인터페이스로 연결되어 순차적으로 시험을 진행하게 되며, 이로 인해 여러 시험대상을 동시에 시험하는 것을 불가능하다.
즉, 기존의 자동화 시험장비는 한번에 하나의 시험장치만 시험이 가능하기 때문에, 복잡한 전자장비의 경우에는 다양한 계측기가 요구되고 시험대상 입출력 포트가 많아 시험시간이 길게 소요되는 문제점이 있다.
또한, 기존의 자동화 시험장비는 특정 시험대상에 최적화하여 장비 개발이 이루어지기 때문에, 추가적인 시험대상을 위한 확장성이 부족한 문제점이 있어 이에 대한 연구가 지속되어 왔다.
그 일례로, 공개특허공보 제10-2010-0058149호에서는 계측기와 메인 컨트롤러 사이에 통신 프로토콜을 이용한 직접 통신을 하지 않고 메모리를 공유하는 병렬 방식의 통신을 수행함으로써, 통신시 소요되는 자원을 줄이고 데이터를 매우 빠르게 전송할 수 있으며, 특히 계측기 및 메인 컨트롤러의 CPU 자원을 다른 처리에 할당할 수 있는 모듈형 계측기 통합 시스템을 제안하였다.
그러나 이 경우에도 한번에 하나의 시험장치만 사용할 수 있어 시험 비용과 시간이 과다하게 소요되는 문제점이 있다.
공개특허공보 제10-2010-0058149호 (2010.06.18)
본 발명의 목적은, 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공함으로써, 시험시료의 시험 비용 및 시간을 저감할 수 있는 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명은 시험계측기의 디스플레이 상의 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 시험 결과를 각각 디스플레이 하는 한편, 분할된 각 화면을 대응하는 확장 계측단말의 개별 디스플레이 상에 표시함으로써, 하나의 시험계측기로 다수의 사용자가 동시에 시험시료를 시험할 수 있는 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법을 제공하는데 또 다른 목적이 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치는 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 시험계측기의 시험포트에 대해 확장 시험포트 중 어느 하나의 채널을 선택하여 스위칭하는 스위치; 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 시험시료의 측정 결과를 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 시험계측기; 상기 확장 시험포트로 시험시료에 대한 시험을 수행하고 그 결과를 디스플레이 하는 확장 계측단말; 및 상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어하는 제어기;를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 제어기는, 상기 확장 계측단말 중 적어도 어느 하나가 운용 되도록 상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 상기 확장 계측단말 중 어느 하나의 채널로 상기 시험계측기의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 상기 스위치를 스위칭할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 선택된 채널에 대해 상기 시험계측기의 파라미터를 설정하여 채널을 설정할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 상기 확장 계측단말에서 측정이 이루어지도록 상기 시험계측기의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어할 수 있다.
한편, 상기 제어기는, 상기 시험계측기의 화면을 전송받고 이를 분할해 대응하는 확장 계측단말로 분할된 화면을 재전송하여 상기 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이에 표시되도록 할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 상기 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖도록 할 수 있다.
한편, 상기 스위치는, 적어도 두 개의 포트로 이루어진 시험포트; 상기 시험포트를 2개로 분배하는 제1 레벨 분배기; 및 상기 제1 레벨 분배기의 출력을 2개로 재분배하여 4개의 확장 시험포트를 형성하는 제2 레벨 분배기;를 포함할 수 있다.
또한, 상기 시험포트와 상기 제1 레벨 분배기 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 상기 제1 레벨 분배기와 상기 제2 레벨 분배기 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 상기 제2 레벨 분배기와 상기 확장 시험포트 간의 모든 케이블도 서로 동일한 길이를 사용할 수 있다.
한편, 상기 제어기는, 시험포트와 다수의 상기 확장 시험포트 간 케이블이 서로 상이한 길이를 사용할 경우 상기 시험포트와 다수의 상기 확장 시험포트 간 특성이 동일하도록 상기 확장 시험포트 별 오차(이득과 위상의 차)를 보정하기 위한 소정의 캘리브레이션을 수행할 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 방법은 제어기가 확장 계측단말 중 어느 하나의 채널을 선택하여 시험계측기의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 스위치를 스위칭하는 스위치 제어 단계; 상기 제어기가 선택된 채널에 대해 시험계측기의 파라미터를 설정하여 채널을 설정하는 채널 설정 단계; 상기 확장 계측단말에서 측정이 이루어지도록 상기 제어기가 상기 시험계측기의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어하는 측정 단계; 및 상기 제어기가 상기 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖는 지연 단계;를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 시험계측기는, 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 화면에 서로 다른 특성을 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있을 수 있다.
이때, 상기 측정 단계에서, 상기 제어기는 상기 시험계측기의 화면을 전송받고 이를 분할해 대응하는 확장 계측단말로 분할된 화면을 재전송하여 상기 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이에 표시되도록 할 수 있다.
본 발명에 의한 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법은 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공함으로써, 시험시료의 시험 비용 및 시간을 저감할 수 있다.
또한, 본 발명에 의한 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법은 시험계측기의 디스플레이 상의 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 시험 결과를 각각 디스플레이 하는 한편, 분할된 각 화면을 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이 상에 표시함으로써, 하나의 시험계측기로 다수의 사용자가 동시에 시험시료를 시험할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치의 개략 구성도이다.
도 2는 도 1에서의 스위치를 상세히 나타낸 도면이다.
도 3은 도 1에서의 시험계측기의 디스플레이 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 측정 결과를 나타낸 화면이다.
도 4는 도 1의 제1 확장 계측단말 내지 제4 확장 계측단말의 디스플레이에 대응하는 해당 시험시료의 측정 결과를 나타낸 화면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 방법을 나타낸 순서도이다.
이하, 본 발명의 실시를 위한 구체적인 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 설명한다.
본 발명을 설명함에 있어서 제 1, 제 2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성요소들은 용어들에 의해 한정되지 않을 수 있다. 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소도 제 1 구성요소로 명명될 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 연결되어 있다거나 접속되어 있다고 언급되는 경우는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해될 수 있다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다.
본 명세서에서, 포함하다 또는 구비하다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것으로서, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해될 수 있다.
또한, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치의 개략 구성도이며, 도 2 내지 도 4는 도 1을 상세히 설명하기 위한 세부 도면 이다.
이하, 도 1 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치를 설명한다.
먼저, 도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치는 시험계측기의 시험포트에 대해 확장 시험포트 중 어느 하나의 채널을 선택하여 스위칭하는 스위치(200), 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 시험시료의 측정 결과를 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 시험계측기(100), 확장 시험포트로 시험시료(500)에 대한 시험을 수행하고 그 결과를 디스플레이 하는 확장 계측단말(400), 및 스위치(200), 시험계측기(100), 및 확장 계측단말(400)를 제어하는 제어기(300)로 이루어진다.
여기서, 제어기(300)는 확장 계측단말(400) 중 적어도 어느 하나가 운용 되도록 스위치(200), 시험계측기(100), 및 확장 계측단말(400)을 제어할 수 있다.
제어기(300)는 확장 계측단말(400) 중 어느 하나의 채널을 선택하여 시험계측기(100)의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 스위치(200)를 스위칭하고, 선택된 채널에 대해 시험계측기(100)의 파라미터를 설정하여 채널을 설정한다.
또한, 제어기(300)는 확장 계측단말(400)에서 측정할 수 있도록 시험계측기(100)로 측정시작 명령을 전송하고, 시험계측기(100)에 의한 측정이 끝나면 시험계측기(100)로 측정종료 명령을 전송하여 다른 채널을 통한 시험이 개시되기 전에 충분한 지연 시간을 갖도록 할 수 있다.
한편, 본 발명에서는 시험계측기(100)가 다수의 시험시료(500), 즉 제1 시험시료(510) 내지 제4 시험시료(540)를 동시에 측정할 수 있으며, 또한 하나의 화면에 서로 다른 특성을 동시에 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있다.
이때, 제어기(300)는 시험계측기(100)에 의해 시험시료(500)를 시험 시, 시험계측기(100)의 화면을 전송받고 이를 분할하여 시험시료(500)를 시험하고 있는 확장 계측단말(400)로 대응하는 분할 화면을 재전송하여 확장 계측단말(400)의 디스플레이에 표시되도록 할 수 있다.
상기한 제어기(300)가 시험계측기(100)의 화면을 분할하여 시험시료(500)를 시험하고 있는 확장 계측단말(400)로 재전송하여 표시되도록 하는 것에 대해서는 도 3 및 도 4 에서 상세히 설명한다.
도 2는 도 1의 스위치(200)를 상세히 나타낸 도면이다. 도 2에서 볼 수 있는 바와 같이, 본 발명의 스위치(200)는 적어도 두 개의 포트로 이루어진 시험포트(230), 시험포트(230)를 2개로 분배하는 제1 레벨 분배기(250), 및 제1 레벨 분배기(250)의 출력을 2개로 재분배하여 4개의 확장 시험포트(240)를 형성하는 제2 레벨 분배기(260)를 포함한다.
즉, 본 발명에서 시험포트(230)는 두개의 포트(A,B)로 이루어지며, 이때 4 곳의 사용자에게 시험계측기(100)를 사용할 수 있도록 확장하기 위해 시험포트(230)를 포트(A,B) 당 4분배를 한다.
이를 위해, 본 발명에서는 포트(A)를 4분배하는 제1 포트 분배기(210) 및 다른 하나의 포트(B)를 4분배하는 제2 포트 분배기(220)를 구비한다.
제1 포트 분배기(210)는 포트(A)를 4분배하기 위하여 제1 레벨 2분배기(211)를 사용하여 2분배를 수행하고, 제1 레벨 2분배기(211)의 출력에 대해 각각 제2 레벨 2분배기(212,213)를 사용하여 2분배를 수행하며, 이를 통해 포트(A)는 총 4분배된다.
이와 마찬가지로 제2 포트 분배기(220)도 포트(B)를 4분배하기 위하여 제1 레벨 2분배기(221)를 사용하여 2분배를 수행하고, 제1 레벨 2분배기(221)의 출력에 대해 각각 제2 레벨 2분배기(222,223)를 사용하여 2분배를 수행하며, 이를 통해 포트(B)는 총 4분배된다.
따라서, 제1 확장포트(241)는 제1 포트 분배기(210)의 최종 출력 중 어느 하나와 제2 포트 분배기(220)의 최종 출력 중 어느 하나로 이루어지고, 이와 마찬가지로 제2 확장포트(242) 내지 제4 확장포트(244)도 상술한 바와 동일한 방법으로 제1 포트 분배기(210)의 최종 출력 중 어느 하나와 제2 포트 분배기(220)의 최종 출력 중 어느 하나로 이루어진다.
한편, 본 발명에서는 시험포트(230)와 제1 레벨 분배기(250) 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 제1 레벨 분배기(250)와 제2 레벨 분배기(260) 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 제2 레벨 분배기(260)와 확장 시험포트(240) 간의 모든 케이블도 서로 동일한 길이를 사용함으로써, 확장 시험포트(240)의 모든 특성을 동일하게 할 수 있다.
즉, 시험포트(230)와 제1 레벨 분배기(250)인 제1 레벨 2분배기(211,221) 간 구성되는 두 개의 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 제1 레벨 분배기(250)인 제1 레벨 2분배기(211,221)와 제2 레벨 분배기(260)인 제2 레벨 2분배기(212,213,222,223) 간 구성되는 4개의 케이블도 서로 동일한 길이를 사용하고, 제2 레벨 분배기(260)인 제2 레벨 2분배기(212,213,222,223)와 확장 시험포트(240)인 제1 확장포트(241) 내지 제4 확장포트(244) 간 구성되는 8개의 케이블도 서로 동일한 길이를 사용함으로써, 모든 확장 시험포트(240)가 동일한 특성을 갖도록 할 수 있다.
한편, 구현예에 따라서 시험포트(230)와 다수의 상기 확장 시험포트(240) 간 케이블이 서로 상이한 길이를 사용할 수도 있으며, 이 경우 상기 시험포트(230)와 다수의 상기 확장 시험포트(240) 간 특성이 동일하도록 상기 확장 시험포트(240) 별 오차(이득과 위상의 차)를 보정하기 위한 소정의 캘리브레이션을 제어기(300)에서 수행할 수 있다.
일예로, 시험포트(230)와 제1 확장포트(241)까지 상이한 길이의 케이블을 사용하게 되어 시험포트(230)와 제1 확장포트(241)까지의 이득과 위상의 특성이 달라지더라도, 제어기(300)는 캘리브레이션을 수행하여 시험포트(230)와 제1 확장포트(241)까지의 이득과 위상의 특성이 시험포트(230)와 제2 확장포트(242)까지의 이득과 위상의 특성, 시험포트(230)와 제3 확장포트(243)까지의 이득과 위상의 특성, 및 시험포트(230)와 제4 확장포트(244)까지의 이득과 위상의 특성과 동일하게 되도록 할 수 있다.
도 3은 도 1의 시험계측기(100)에서 디스플레이 화면(110)을 분할하여 다수의 시험시료(500)에 대한 측정 결과를 나타내는 화면이다.
도 3에서 알 수 있는 바와 같이, 본 발명에서는 시험계측기(100)가 다수의 시험시료(500), 즉 제1 시험시료(510) 내지 제4 시험시료(540)를 동시에 측정할 수 있다.
또한, 시험계측기(100)는 하나의 화면에 서로 다른 특성 4개를 동시에 분할하여 표시할 수 있으며, 도 3은 그 일예로 제1 시험시료(510)를 측정하고 그 측정 결과를 4 분할된 화면의 우상단에 표시한 상태를 나타낸 것이다.
한편, 표시되는 특성데이터를 시험계측기(100)로 수신하기 위해 통상적으로 각 특성에 대해 프로토콜을 사용하게 되는데, 이러한 방식은 실시간으로 수행하기에는 속도가 느린 단점이 있다.
따라서, 본 발명에서는 제어기(300)가 시험계측기(100)에 대해 원격모니터링 기능을 사용해 시험계측기(100)의 화면(110)이 제어기(300)에 그대로 표시되게 하며, 이를 통해 본 발명은 별도의 프로토콜 없이 간단히 표시할 데이터를 실시간으로 획득할 수 있는 장점이 있다.
도 4는 도 1의 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)의 디스플레이에서 각각의 해당 시험시료(500)에 대한 측정 결과를 나타낸 화면이다.
도 4에서 볼 수 있는 바와 같이, 본 발명의 제어기(300)는 시험계측기(100)에서 획득한 화면을 4 분할하여 제1 확장 계측단말(410), 제2 확장 계측단말(420), 제3 확장 계측단말(430), 및 제4 확장 계측단말(440)에 해당되는 화면 데이터를 분할 전송한다.
따라서, 제1 확장 계측단말(410)의 제1 확장 계측단말 디스플레이(411), 제2 확장 계측단말(420)의 제2 확장 계측단말 디스플레이(421), 제3 확장 계측단말(430)의 제3 확장 계측단말 디스플레이(431), 및 제4 확장 계측단말(440)의 제4 확장 계측단말 디스플레이(441)에는, 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)에서 각각 측정하고 있는 시험시료(500)의 측정 결과가 서로 다르게 표시될 수 있다.
이를 통해, 본 발명은 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)이 각각 별도의 시험계측기를 사용하고 있는 것과 같은 효과를 얻을 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 방법을 나타낸 순서도이다.
도 5에서 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 전자장비용 시험계측기 확장 방법은 제어기(300)가 확장 계측단말(400) 중 어느 하나의 채널을 선택하여 시험계측기(100)의 시험포트가 확장 시험포트로 연결되도록 스위치(200)를 스위칭하는 스위치 제어 단계(S100), 제어기(300)가 선택된 채널에 대해 시험계측기(100)의 파라미터를 설정하여 채널을 설정하는 채널 설정 단계(S200), 확장 계측단말(400)에서 측정이 이루어지도록 제어기(300)가 시험계측기(100)의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어하는 측정 단계(S300), 및 제어기(300)가 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖는 지연 단계(S400)를 포함한다.
본 발명은 이를 통해 하나의 시험계측기(100)로 다수의 시험시료(500)를 동시에 측정할 수 있다.
이때, 시험계측기(100)는 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 특성을 동시에 분할해 표시하도록 이루어질 수 있으며, 또한 제어기(300)는 시험계측기(100)에 대해 원격모니터링 기능을 사용해 시험계측기(100)의 화면이 제어기(300)에 그대로 표시되게 함으로써, 별도의 프로토콜 없이 간단히 표시할 데이터를 실시간으로 획득할 수 있다.
또한, 본 발명의 제어기(300)는 시험계측기(100)에서 획득한 화면을 분할하여 제1 확장 계측단말(410), 제2 확장 계측단말(420), 제3 확장 계측단말(430), 및 제4 확장 계측단말(440)에 해당되는 화면 데이터를 분할 전송할 수 있다.
따라서, 제1 확장 계측단말(410)의 제1 확장 계측단말 디스플레이(411), 제2 확장 계측단말(420)의 제2 확장 계측단말 디스플레이(421), 제3 확장 계측단말(430)의 제3 확장 계측단말 디스플레이(431), 및 제4 확장 계측단말(440)의 제4 확장 계측단말 디스플레이(441)에는, 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)에서 각각 측정하고 있는 시험시료(500)들의 측정 결과가 표시될 수 있어, 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)마다 별도의 시험계측기를 사용하고 있는 것과 같은 효과를 얻을 수 있다.
이상과 같이 본 발명에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법은 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공함으로써, 시험시료의 시험 비용 및 시간을 저감할 수 있고, 또한 시험계측기의 디스플레이 상의 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 시험 결과를 각각 디스플레이 하는 한편, 분할된 각 화면을 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이 상에 표시함으로써, 하나의 시험계측기로 다수의 사용자가 동시에 시험시료를 시험할 수 있다.
상술한 것은 하나 이상의 실시예의 실례를 포함한다. 물론, 상술한 실시예들을 설명할 목적으로 컴포넌트들 또는 방법들의 가능한 모든 조합을 기술할 수 있는 것이 아니라, 당업자들은 다양한 실시예의 많은 추가 조합 및 치환할 수 있음을 인식할 수 있다. 따라서 설명한 실시예들은 첨부된 청구범위의 진의 및 범위 내에 있는 모든 대안, 변형 및 개조를 포함하는 것이다.

Claims (13)

  1. 시험계측기의 시험포트에 대해 확장 시험포트 중 어느 하나의 채널을 선택하여 스위칭하는 스위치;
    다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 시험시료의 측정 결과를 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 상기 시험계측기;
    상기 확장 시험포트로 상기 시험시료에 대한 시험을 수행하고 그 결과를 디스플레이 하는 확장 계측단말; 및
    상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어하는 제어기;를 포함하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 제어기는,
    상기 확장 계측단말 중 적어도 어느 하나가 운용 되도록 상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 제어기는,
    상기 확장 계측단말 중 어느 하나의 채널을 선택하여 상기 시험계측기의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 상기 스위치를 스위칭하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 제어기는,
    선택된 채널에 대해 상기 시험계측기의 파라미터를 설정하여 채널을 설정하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 제어기는,
    상기 확장 계측단말에서 측정이 이루어지도록 상기 시험계측기의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 제어기는,
    상기 시험계측기의 화면을 전송받고 이를 분할해 대응하는 확장 계측단말로 분할된 화면을 재전송하여 상기 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이에 표시되도록 하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  7. 제 5항에 있어서,
    상기 제어기는,
    상기 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 스위치는,
    적어도 두 개의 포트로 이루어진 시험포트;
    상기 시험포트를 2개로 분배하는 제1 레벨 분배기; 및
    상기 제1 레벨 분배기의 출력을 2개로 재분배하여 4개의 확장 시험포트를 형성하는 제2 레벨 분배기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 시험포트와 상기 제1 레벨 분배기 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 상기 제1 레벨 분배기와 상기 제2 레벨 분배기 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 상기 제2 레벨 분배기와 상기 확장 시험포트 간의 모든 케이블도 서로 동일한 길이를 사용하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  10. 제 8항에 있어서,
    상기 제어기는,
    상기 시험포트와 다수의 상기 확장 시험포트 간 케이블이 서로 상이한 길이를 사용할 경우 상기 시험포트와 다수의 상기 확장 시험포트 간 특성이 동일하도록 상기 확장 시험포트 별 오차(이득과 위상의 차)를 보정하기 위한 소정의 캘리브레이션을 수행하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
  11. 제어기가 확장 계측단말 중 어느 하나의 채널을 선택하여 시험계측기의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 스위치를 스위칭하는 스위치 제어 단계;
    상기 제어기가 선택된 채널에 대해 상기 시험계측기의 파라미터를 설정하여 채널을 설정하는 채널 설정 단계;
    상기 확장 계측단말에서 측정이 이루어지도록 상기 제어기가 상기 시험계측기의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어하는 측정 단계; 및
    상기 제어기가 상기 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖는 지연 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 방법.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 시험계측기는,
    다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 화면에 서로 다른 특성을 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 방법.
  13. 제 12항에 있어서,
    상기 측정 단계에서,
    상기 제어기는 상기 시험계측기의 화면을 전송받고 이를 분할해 대응하는 확장 계측단말로 분할된 화면을 재전송하여 상기 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이에 표시되도록 하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 방법.
KR1020220166159A 2022-12-01 2022-12-01 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법 KR102483371B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220166159A KR102483371B1 (ko) 2022-12-01 2022-12-01 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법
PCT/KR2023/003342 WO2024117390A1 (ko) 2022-12-01 2023-03-13 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220166159A KR102483371B1 (ko) 2022-12-01 2022-12-01 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR102483371B1 true KR102483371B1 (ko) 2022-12-30
KR102483371B9 KR102483371B9 (ko) 2024-02-08

Family

ID=84538914

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020220166159A KR102483371B1 (ko) 2022-12-01 2022-12-01 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR102483371B1 (ko)
WO (1) WO2024117390A1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024117390A1 (ko) * 2022-12-01 2024-06-06 (주)이랑텍 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법

Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5855764A (ja) * 1981-09-08 1983-04-02 グラマン・エアロスペ−ス・コ−ポレイシヨン プログラマブル信号解析器
KR19980078947A (ko) * 1997-04-30 1998-11-25 배순훈 기능 검사가 가능한 범용 계측기
JPH10333798A (ja) * 1997-05-27 1998-12-18 Hewlett Packard Co <Hp> 測定信号波形スケーリング・システムおよびその方法
JP2001526768A (ja) * 1995-02-22 2001-12-18 マイケル・ケイ・ウィリアムズ 信号波形解析のための方法及び装置
KR20070053274A (ko) * 2004-08-20 2007-05-23 주식회사 아도반테스토 시험 장치, 구성 방법, 및 디바이스 인터페이스
KR20100058149A (ko) 2008-11-24 2010-06-03 주식회사 에스에프에이 수직형 기판 이송장치
KR20110025610A (ko) * 2009-09-04 2011-03-10 텍트로닉스 인코포레이티드 검사 및 측정 기구 및 획득 후 트리거 제어 및 프레젠테이션을 제공하기 위한 방법
KR20130130985A (ko) * 2012-05-23 2013-12-03 에스케이플래닛 주식회사 사용자단말과 외부장치 간 연결 시스템 및 방법
JP2016035460A (ja) * 2014-08-04 2016-03-17 テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． 試験測定装置及び方法
JP2016061781A (ja) * 2014-09-12 2016-04-25 テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． 試験測定システム及び複数のオシロスコープを同期させる方法
KR20170099003A (ko) * 2016-02-22 2017-08-31 호남대학교 산학협력단 저전력 광역 통신망을 이용한 ａｍｉ 원격 모니터링 시스템
KR20170130250A (ko) * 2016-05-18 2017-11-28 (주) 에스에스피 반도체설비용 디스플레이의 인터페이스 자동 변환 방법
JP2018077212A (ja) * 2016-08-15 2018-05-17 テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． 試験測定システム及び判定帰還型イコライザを利用する方法
KR20180060675A (ko) * 2016-11-29 2018-06-07 국방과학연구소 전자장비 입출력신호 및 ｓｗ 성능 시험 장치 및 방법
KR20180084380A (ko) * 2017-01-17 2018-07-25 한국항공우주산업 주식회사 다중 시험대상체 동시시험을 위한 자동시험장비의 운용 시스템
KR20190009148A (ko) * 2017-07-18 2019-01-28 한화시스템 주식회사 분석 장치
KR20200055269A (ko) * 2018-11-13 2020-05-21 한국전기연구원 복수 신호의 위상차 측정 시스템 및 방법

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102483371B1 (ko) * 2022-12-01 2022-12-30 (주)이랑텍 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5855764A (ja) * 1981-09-08 1983-04-02 グラマン・エアロスペ−ス・コ−ポレイシヨン プログラマブル信号解析器
JP2001526768A (ja) * 1995-02-22 2001-12-18 マイケル・ケイ・ウィリアムズ 信号波形解析のための方法及び装置
KR19980078947A (ko) * 1997-04-30 1998-11-25 배순훈 기능 검사가 가능한 범용 계측기
JPH10333798A (ja) * 1997-05-27 1998-12-18 Hewlett Packard Co <Hp> 測定信号波形スケーリング・システムおよびその方法
KR20070053274A (ko) * 2004-08-20 2007-05-23 주식회사 아도반테스토 시험 장치, 구성 방법, 및 디바이스 인터페이스
KR20100058149A (ko) 2008-11-24 2010-06-03 주식회사 에스에프에이 수직형 기판 이송장치
KR20110025610A (ko) * 2009-09-04 2011-03-10 텍트로닉스 인코포레이티드 검사 및 측정 기구 및 획득 후 트리거 제어 및 프레젠테이션을 제공하기 위한 방법
KR20130130985A (ko) * 2012-05-23 2013-12-03 에스케이플래닛 주식회사 사용자단말과 외부장치 간 연결 시스템 및 방법
JP2016035460A (ja) * 2014-08-04 2016-03-17 テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． 試験測定装置及び方法
JP2016061781A (ja) * 2014-09-12 2016-04-25 テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． 試験測定システム及び複数のオシロスコープを同期させる方法
KR20170099003A (ko) * 2016-02-22 2017-08-31 호남대학교 산학협력단 저전력 광역 통신망을 이용한 ａｍｉ 원격 모니터링 시스템
KR20170130250A (ko) * 2016-05-18 2017-11-28 (주) 에스에스피 반도체설비용 디스플레이의 인터페이스 자동 변환 방법
JP2018077212A (ja) * 2016-08-15 2018-05-17 テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． 試験測定システム及び判定帰還型イコライザを利用する方法
KR20180060675A (ko) * 2016-11-29 2018-06-07 국방과학연구소 전자장비 입출력신호 및 ｓｗ 성능 시험 장치 및 방법
KR20180084380A (ko) * 2017-01-17 2018-07-25 한국항공우주산업 주식회사 다중 시험대상체 동시시험을 위한 자동시험장비의 운용 시스템
KR20190009148A (ko) * 2017-07-18 2019-01-28 한화시스템 주식회사 분석 장치
KR20200055269A (ko) * 2018-11-13 2020-05-21 한국전기연구원 복수 신호의 위상차 측정 시스템 및 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024117390A1 (ko) * 2022-12-01 2024-06-06 (주)이랑텍 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
WO2024117390A1 (ko) 2024-06-06
KR102483371B9 (ko) 2024-02-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102483371B1 (ko) 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법
US8185339B2 (en) Test method and program product used therefor
US20180059172A1 (en) Combining current sourced by channels of automatic test equipment
KR100280095B1 (ko) Ic시험장치
JP6192698B2 (ja) 較正ボード及びタイミング較正方法
CN100420956C (zh) 多个测试端口的快速校准方法
CN115112977A (zh) 多通道变频模块校测一体自动测试平台及测试方法
US6396285B1 (en) Method and apparatus for efficient measurement of reciprocal multiport devices in vector network analysis
US20080082877A1 (en) Integrated testing system for wireless and high frequency products and a testing method thereof
CN108319516B (zh) 一种测试系统及测试方法
US20230319610A1 (en) Measurement device and measurement method
KR20190009148A (ko) 분석 장치
US20180048535A1 (en) Network analyzer systems and methods for operating a network analyzer
US6356852B1 (en) Multi-port programmable tester
KR101802513B1 (ko) 컴퓨팅 장치 및 이를 구비한 전자 부품 분석 시스템
KR20070077553A (ko) 웨이퍼 검사장치의 멀티 테스트 구현시스템
JP5052905B2 (ja) 自動試験システム
US20040160231A1 (en) Capacitance measurement system
JP2012088069A (ja) 試験装置
JP7376554B2 (ja) 移動端末試験装置とそのパラメータ設定方法
US11187743B2 (en) Automated test equipment for combined signals
JP2005180946A (ja) 半導体試験装置及びその試験方法
KR100355774B1 (ko) 무선 이동 통신용 기지국의 성능 측정 방법
JP2023069405A (ja) 移動端末試験装置とそのポート接続方法
KR100931538B1 (ko) 과도현상 영향 분석 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A302 Request for accelerated examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
G170 Re-publication after modification of scope of protection [patent]