KR20110025610A - 검사 및 측정 기구 및 획득 후 트리거 제어 및 프레젠테이션을 제공하기 위한 방법 - Google Patents
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Abstract
획득 후 트리거 제어부를 제공하기 위한 검사 및 측정 기구 및 방법, 및 디스플레이 상의 관련 파형의 프레젠테이션이 제공된다. 검사 중인 전기 신호는 샘플화되고 디지털화된 다음 데이터 레코드으로서 획득 메모리에 저장된다. 디스플레이 디바이스는 피검사 신호와 관련된 파형을 도출한다. 디지털 샘플의 획득이 중지된 후, 사용자는 트리거 레벨 제어와 같은 트리거 제어부를 사용하여 트리거 기준을 선택한다. 트리거 회로는 트리거 기준에 기초해서 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트를 검출하여 파형의 자동 조정을 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시킨다. 하나 이상의 구성 가능한 트리거 제어부를 사용하여 획득 후 트리거 이벤트 및 파형의 디스플레이를 조정한다. 데이터의 실시간 획득이 다시 시작되면, 획득 후 모드 동안 예비 검사될 때 실시간 파형이 새롭게 선택된 트리거 기준과 일치한다.
Description
본 발명은 검사 및 측정 기구에 관한 것이며, 특히 검사 및 측정 기구 및, 디스플레이 상에 관련 파형의 획득 후 트리거 제어 및 프레젠테이션을 제공하기 위한 방법에 관한 것이다.
현재의 디지털 오실로스코프는 테스트 중인 전기 신호를 획득하고 그 획득된 신호에 대응하는 디지털 데이터를 데이터 레코드으로서 저장할 수 있다. 이러한 오실로스코프를 사용하여 테스트 중인 전기 신호를 획득하면서 하나 이상의 파형을 디스플레이할 수 있다. 또한, 테스트 중인 전기 신호의 획득이 중단되었더라도 상기 데이터 레코드으로부터의 이전에 저장된 디지털 데이터를 오실로스코프의 디스플레이 상에 파형으로서 관찰할 수 있다. 종래의 오실로스코프는 디스플레이될 수 있는 시간 범위(amount of time)에 대응하는 상대적으로 작은 데이터 레코드를 획득하곤 한 데 반해, 메모리 속도, 메모리 용량 및 프로세서 속도의 영역에서의 이점이 향상됨에 따라 이러한 영역에서의 기능이 향상된 새로운 오실로스코프가 개발되었다. 최근의 디지털 오실로스코프는 상당히 큰 데이터 레코드를 저장할 수 있는데, 이것은 한 번에 알맞게 디스플레이될 수 있는 시간보다 더 오랜 시간 동안 디스플레이할 수 있다는 것을 의미한다.
대량의 데이터를 기록할 수 있게 됨에 따라, 사용자는 추가의 기능을 이용할 수 있다. 예를 들어, 최근의 오실로스코프에서는 사용자가 수평 제어 또는 수직 제어를 할 수 있어서 파형의 위치를 오실로스코프 상에서 변화시킬 수 있다. 또한, 일부의 오실로스코프에서는 특히 데이터 레코드가 획득된 후 사용자가 파형을 통해 "스크롤" 할 수 있다. 그렇지만, 데이터 레코드는 한 번에 디스플레이될 수 있는 시간보다 훨씬 더 많은 시간을 나타내기 때문에, 관심의 대상이 되는 사용자의 시간 간격은 전체 획득된 기록에 비해 짧을 수 있어서, 전체적인 데이터 레코드를 통한 스크롤링이 현실화될 수 있다. 이 때문에, 관심의 대상이 되는 시간을 찾아내어 분석하는 데 어려움이 있다. 게다가, 전체적인 기록은 디스플레이되고 있는 한 이벤트와는 상이한 관심의 대상이 되는 다른 이벤트를 포함할 수도 있다.
일부의 오실로스코프는 데이터 레코드에서 관심의 대상이 되는 이벤트를 플래그하기 위한 검색 특징을 제공한다. 그러나 메모리 성능의 급속한 발전으로, 데이터 레코드의 크기는 계속해서 확장하고 있어서, 이것은 종래의 검색 기술에 장애가 되거나 느리게 할 수 있다. 또한, 종래의 방식에서는, 표준 트리거 제어부를 사용하여 라이브 트리거 모드(live trigger mode)를 에뮬레이팅함으로서 직관적으로 제어되고 디스플레이되는 획득 후 획득 트리거 이벤트(post-acquisition trigger mode)를 제공하지 않는다.
본 발명의 실시예는 검사 및 측정 기구에서 구현되며, 상기 검사 및 측정 기구는, 예를 들어, 피검사 신호를 수신하는 입력 단자; 상기 입력 단자와 연결되어 있고 상기 피검사 신호를 수신하고 상기 검사 중신 신호부터 디지털 샘플을 생성하는 하나 이상의 아날로그/디지털 컨버터; 및 상기 피검사 신호의 상기 디지털 샘플을 데이터 레코드(data record)로서 저장하는 획득 메모리를 포함한다. 디스플레이 디바이스는 상기 피검사 신호와 관련된 하나 이상의 파형을 도출한다. 제1 트리거 회로는 상기 입력 단자에 접속된 입력부를 가지며, 제1 트리거 기준(first trigger criteria)에 기초해서 상기 피검사 신호에서 라이브 트리거 이벤트(live trigger event)를 검출하고 상기 파형의 자동 조정(automatic adjustment)을 상기 라이브 트리거 이벤트의 시간과 일치시킨다. 사용자는 입력 제어부를 사용하여 상기 피검사 신호의 획득을 중지시킬 수 있다. 제2 트리거 회로는, 제2 트리거 기준에 기초해서 상기 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트(post-acquisition trigger event)를 검출하고, 상기 하나 이상의 파형 중 하나의 파형의 자동 조정을 상기 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시킨다.
일부의 실시예는 검사 및 측정 기구 상에서 획득 후 트리거와 관련된 파형을 디스플레이하는 방법을 포함하며, 상기 방법은, 예를 들어, 획득 메모리에 데이터 레코드으로서 저장하기 위해 피검사 신호로부터 데이터를 획득하는 단계; 및 상기 데이터를 획득하는 동안 상기 피검사 신호와 관련된 파형을 디스플레이하는 단계를 포함한다. 상기 데이터 레코드의 획득이 중지된 후, 트리거 기준을 선택하도록 표준 트리거 제어부를 조정할 수 있다. 상기 트리거 기준에 기초해서 상기 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트를 검출하고, 상기 파형의 위치를 상기 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시키도록 자동으로 시프트한다.
다른 실시예는 검사 및 측정 기구를 포함하며, 상기 검사 및 측정 기구는, 예를 들어, 하나 이상의 대응하는 피검사 신호를 수신하는 하나 이상의 입력 단자; 상기 하나 이상의 피검사 신호의 상기 디지털 샘플을, 대응하는 하나 이상의 데이터 레코드(data record)로서 저장하는 하나 이상의 획득 메모리를 포함한다. 디스플레이 디바이스는 상기 하나 이상의 피검사 신호와 관련된 적어도 하나 이상의 파형을 도출한다. 아날로그 트리거 회로는, 상기 입력 단자에 접속된 입력부를 가지며, 제1 트리거 기준(first trigger criteria)에 기초해서 상기 피검사 신호에서 라이브 트리거 이벤트(live trigger event)를 검출하고, 상기 파형에 대한 자동 조정(automatic adjustment)을 상기 라이브 트리거 이벤트의 시간과 일치시킨다. 검사 및 측정 기구는 또한 상기 획득 메모리로부터 디지털 샘플을 수신하고 변환된 아날로그 신호를 생성하는 하나 이상의 아날로그/디지털 컨버터를 포함한다. 아날로그 트리거 회로는, 제2 트리거 기준에 기초해서 상기 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트(post-acquisition trigger event)를 검출하고, 상기 파형에 대한 자동 조정을 상기 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시킨다.
또 다른 예시적인 실시예에서, 검사 및 측정 기구는 피검사 신호를 수신하는 입력 단자, 상기 피검사 신호의 디지털 샘플을 데이터 레코드으로서 저장하는 획득 메모리, 상기 피검사 신호와 관련된 복수의 파형을 도출하는 디스플레이 디바이스, 제1 트리거 기준에 기초해서 피검사 신호에서 제1 트리거 이벤트를 검출하고 라이브 트리거 모드 동안 상기 복수의 파형 중 적어도 하나의 파형의 조정을 상기 제1 트리거 이벤트의 시간에 일치시키고, 제2 트리거 기준에 기초해서 상기 데이터 레코드에서 제2 트리거 이벤트를 검출하는 제2 검출기를 포함한다. 검사 및 측정 기구는 제1 트리거 기준 또는 제2 트리거 기준을 구성하는 제1 트리거 제어부 및 상기 제2 트리거 이벤트 및 파형을 디스플레이 디바이스 상에 디스플레이하도록 구성된 제2 트리거 제어부를 포함한다. 제1 트리거 제어부는 표준 트리거 제어부를 포함할 수 있고 제2 트리거 제어부는 획득 후 모드에서 특정한 트리거 제어부를 포함할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 획득 및 트리거 유닛, 제어기 및 디스플레이 유닛을 포함하는 검사 및 측정 기구에 대한 블록도이다.
도 2는 도 1의 획득 유닛, 제어기 및 디스플레이 유닛의 추가의 예시적 소자를 나타내는 블록도이다.
도 2a는 도 2의 트리거 제어부의 추가의 예시적인 소자를 나타내는 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 소정의 트리거 관련 관점과 관련된 파형을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따라 도 3의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따라 도 3의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따라 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 7은 획득 후 모드 동안 선택될 때 트리거-관련 관점과 관련된 파형을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯이다.
도 8은 도 1의 획득 후 트리거 회로의 추가의 예시적인 소자를 나타내는 블록도이다.
도 9는 다른 실시예에 따른 소정의 트리거 관련 관점과 관련된 실시간 획득 모드에서 하나 이상의 파형을 보여주는 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따라 도 9의 하나 이상의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따라 도 9의 하나 이상의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 12는 본 발명의 실시예에 따라 도 9의 하나 이상의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 13은 획득 후 모드 동안 선택될 때 트리거-관련 관점과 관련된 하나 이상의 파형을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯이다.
도 14는 도 8의 획득 후 트리거 회로에 포함된 메모리의 예시적인 구성을 나타내는 블록도이다.
도 15는 도 8의 획득 후 트리거 회로에 포함된 메모리의 다른 예시적인 구성을 나타내는 블록도이다.
도 16은 도 8의 획득 후 트리거 회로에 포함된 메모리의 또 다른 예시적인 구성 및 디스플레이의 칼럼과의 관계를 나타내는 블록도이다.
도 17 및 도 18은 본 발명의 실시예에 따라, 이전에 획득된 파형 및 관점과 연관된 관련 트리거를 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯이다.
도 19는 예시적 실시예에 따라, 획득 메모리, 아날로그 트리거 회로, 및 다양한 아날로그/디지털 컨버터 및 디지털/아날로그 컨버터를 포함하는 검사 및 측정 기구를 나타내는 블록도이다.
도 20은 예시적인 실시예에 따라 획득 후 트리거를 구성하고 대응하는 파형을 조정하기 위한 기술을 나타내는 흐름도이다.
도 2는 도 1의 획득 유닛, 제어기 및 디스플레이 유닛의 추가의 예시적 소자를 나타내는 블록도이다.
도 2a는 도 2의 트리거 제어부의 추가의 예시적인 소자를 나타내는 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 소정의 트리거 관련 관점과 관련된 파형을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따라 도 3의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따라 도 3의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따라 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 7은 획득 후 모드 동안 선택될 때 트리거-관련 관점과 관련된 파형을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯이다.
도 8은 도 1의 획득 후 트리거 회로의 추가의 예시적인 소자를 나타내는 블록도이다.
도 9는 다른 실시예에 따른 소정의 트리거 관련 관점과 관련된 실시간 획득 모드에서 하나 이상의 파형을 보여주는 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따라 도 9의 하나 이상의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따라 도 9의 하나 이상의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 12는 본 발명의 실시예에 따라 도 9의 하나 이상의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다.
도 13은 획득 후 모드 동안 선택될 때 트리거-관련 관점과 관련된 하나 이상의 파형을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯이다.
도 14는 도 8의 획득 후 트리거 회로에 포함된 메모리의 예시적인 구성을 나타내는 블록도이다.
도 15는 도 8의 획득 후 트리거 회로에 포함된 메모리의 다른 예시적인 구성을 나타내는 블록도이다.
도 16은 도 8의 획득 후 트리거 회로에 포함된 메모리의 또 다른 예시적인 구성 및 디스플레이의 칼럼과의 관계를 나타내는 블록도이다.
도 17 및 도 18은 본 발명의 실시예에 따라, 이전에 획득된 파형 및 관점과 연관된 관련 트리거를 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯이다.
도 19는 예시적 실시예에 따라, 획득 메모리, 아날로그 트리거 회로, 및 다양한 아날로그/디지털 컨버터 및 디지털/아날로그 컨버터를 포함하는 검사 및 측정 기구를 나타내는 블록도이다.
도 20은 예시적인 실시예에 따라 획득 후 트리거를 구성하고 대응하는 파형을 조정하기 위한 기술을 나타내는 흐름도이다.
실시예는 예를 들어 검사 및 측정 기구 및 디스플레이 상에 관련 파형의 획득 후 트리거 제어부 및 프레젠테이션을 제공하기 위한 방법에 관한 것이다. 특히, 일실시예에서, 검사 및 측정 기구는 획득 후 트리거 이벤트의 시간과 일치하도록 파형을 자동으로 조정할 수 있는 트리거 회로를 포함한다. 검사 및 측정 기구는 파형 데이터의 획득이 중지된 후 라이브 트리거 이벤트를 검출하기 위한 라이브 트리거 기준(live trigger criteria) 및 획득 후 트리거 이벤트를 검출하기 위한 획득 후 트리거 기준(post-acquisition trigger criteria)을 구성하는 트리거 제어부를 포함한다. 사용자는 획득 후 트리거 기준을 조정할 수 있고, 다음의 실시간 파형 획득이 어떻게 나타나는지를 예비 조사할 수 있다. 실시간 파형(들)의 획득이 다시 시작되면, 라이브 트리거 기준은 이전의 획득 후 트리거 기준과 일치한다.
예를 들어, 트리거 제어부는 라이브 트리거 이벤트 및 획득 후 트리거 이벤트와 관련된 트리거 포인트를 선택하는 트리거 레벨 제어를 포함한다. 파형 데이터의 획들이 중지된 후의 트리거 레벨 제어를 조정하면 이전에 획득된 데이터와 관련된 파형을 자동으로 조정할 수 있고, 이에 의해 획득 후 트리거 이벤트의 시간과 일치한다. 데이터의 실시간 획득이 재개되면, 실시간 파형(들)은 획득 후 모드 동안 예비 조사된 바대로 새롭게 선택된 트리거 기준과 일치할 수 있다.
또한, 획득 후 모드 동안, 사용자는 복수의 트리거 이벤트 또는 주어진 데이터 레코드과 관련된 파형을 동시에 관찰한 다음 범위 제어를 사용하여 디스플레이된 트리거 이벤트의 수 및/또는 디스플레이된 파형의 수를 점차 증가시키거나 감소시킴으로써 비정상적인 파형을 신속하게 찾아낸다. 이러한 관점 및 다른 관점에 대해 상세히 논의한다.
도 1은 예시적 실시예에 따라 획득 및 트리거 유닛(105), 제어기(130), 및 디스플레이 유닛(135)을 포함하는 검사 및 측정 기구(100)에 대한 블록도이다. 검사 및 측정 기구(100)는 예를 들어 디지털 오실로스코프일 수 있으며, 설명의 편의상 일반적으로 이와 같이 언급하지만, 이에 제한되지는 않는다. 오실로스코프(100)는 여기서 개시하는 바와 같은 다양한 실시예에서 사용하기에 적절한 복수의 채널 또는 입력을 가질 수 있다. 오실로스코프는 단일의 입력 단자(110)를 가질 수 있지만, 개시된 발명의 관점은 4개의 입력 또는 임의 개수의 입력을 가지는 오실로스코프에도 마찬가지로 적용 가능하다.
오실로스코프(100)의 획득 및 트리거 유닛(105)은 디지털 획득 메모리(115)를 포함할 수 있다. 획득 메모리(115)가 단일의 메모리를 나타낼 수 있는 단일의 블록으로 도시되어 있으나, 획득 메모리(115)는 복수의 이산 메모리를 포함할 수 있다는 것을 이해해야 한다. 그 시나리오에서, 각각의 이산 메모리는 다양한 입력(110)에 대해 개별적으로 동작할 수 있거나, 대안으로 이산 메모리는 하나 이상의 입력(110)에 대해 집합적으로 동작할 수도 있다. 예를 들어, 소정의 입력 단자(110)가 선택 해제될 때, 증가된 메모리 깊이(increased memory depth)를 나머지 선택된 입력(110)에 적용할 수 있다. 발명의 관점은 필터링되거나, 압축되거나, 필터링되지 않거나 또는 압축되지 않은 미가공 데이터(raw data)를 유지하는 데이터 레코드(117)을 고려한다는 것을 이해해야 한다. 또한, 하나의 데이터 레코드(117)을 도시하고 있으나, 하나 이상의 데이터 레코드(117)이 획득 메모리(115)에 저장될 수 있음은 물론이다.
획득 및 트리거 유닛(105)은 하나 이상의 아날로그/디지털 컨버터(ADC)(108) 및 라이브 트리거 회로(120)를 포함할 수 있다. 라이브 트리거 회로(120)는 ADC(108)의 뒤에, 예를 들어 하나 이상의 입력 단자(110)에 결합된 입력을 포함한다. 대안의 실시예는 ADC(108)의 앞에, 하나 이상의 입력 단자(110)에 결합된 라이브 트리거 회로(120)를 포함한다는 것을 이해해야 한다. 검사 중인 전기 신호는 하나 이상의 입력 단자(1100에 수신된다. 라이브 트리거 회로(120)는 사용자가 선택한 제1 트리거 기준에 기초해서 피검사 신호에서 라이브 트리거 이벤트를 검출할 수 있고, 라이브 트리거 이벤트의 시간과 일치하도록 파형을 자동으로 조정한다.
획득 및 트리거 유닛(105)은 획득 후 트리거 회로(125)를 더 포함할 수 있다. 트리거 회로(120 및 125)는 하드웨어, 소프트웨어, 또는 이것들의 임의의 조합으로 구현될 수 있다. 데이터의 획득이 중지된 후, 획득 후 트리거 회로(125)는 사용자가 선택한 제2 트리거 기준에 기초해서 데이터 레코드(117)에서 획득 후 트리거 이벤트를 검출할 수 있다. 획득 후 트리거 회로(125)에 의해, 획득 후 트리거 이벤트의 시간과 일치하도록 파형을 조정할 수 있다. 이러한 관점 또는 다른 관점의 획득 메모리 및 트리거 회로에 대해서는 상세히 후술한다.
라이브 트리거 회로(1200 및 획득 후 회로(125)는 두 개의 별개의 회로로 도시되어 있으나, 다양한 시간에 예를 들어 라이브 트리거 기능 및 획득 후 회로 기능의 양 기능을 수행하는 한 세트의 하드웨어로 구현될 수 있다. 대안으로, 라이브 트리거 회로(120) 및 획득 후 회로(125)는 서로 별개이며, 이것들 중 하나는 다른 하나와 유사한 회로를 포함할 수 있다.
획득 및 트리거 유닛(105)은 제어기(130)에 효과적으로 결합될 수 있다. 제어기(130)는 디스플레이 유닛(135)에 효과적으로 결합될 수 있으며, 디스플레이(135)에 의한 디스플레이를 위해 획득 및 트리거 유닛(105)이 제공한 샘플링된 데이터 스트림을 처리할 수 있다. 예를 들어, 오실로스코프(100)의 분할 당 원하는 시간 및 분할 디스플레이 파라미터당 볼트를 고려하면, 제어기(130)는 수정한 다음 획득된 샘플 데이터 스트림과 관련된 미가공 데이터를 렌더링하여 분할 당 원하는 시간 및 분할 파라미터당 볼트를 가지는 대응하는 파형 이미지를 생성할 수 있다.
도 2는 도 1의 획득 및 트리거 유닛(105), 제어기(1300, 및 디스플레이 유닛(135)의 추가적인 예시적 소자를 나타내는 블록도이다. 프로브(205)는 획득 및 트리거 유닛(205)의 다른 소자들과 효과적으로 관련되어 있다. 프로브(205)는 검사 중인 회로(도시되지 않음)로부터의 아날로그 전압 또는 전류 신호와 같은, 하나 이상의 전기 신호를 각각 검출하는 데 적절한 임의의 종래의 전압 또는 전류 프로브일 수 있다. 예를 들어, 프로브(205)는 무엇보다도 액티브 프로브 모델 넘버 P1075, TCP105와 같이, Tektronix®, Inc에 의해 제공될 수 있는데, 이것은 실시간 전기 신호 정보를 획득하는 데 사용될 수 있다. 프로브(205)의 출력 신호는 아날로그/디지털 컨버터(ADC)(208)로 전송되며, 이 컨버터(208)는 전기 신호를 샘플링하고 디지털화한다. 그 후, 디지털 샘플은 획득 메모리(115)에 데이터 레코드(117)으로서 최종 저장된다.
획득 및 트리거 유닛(105)은 제어기(130)에 효과적으로 결합된다. 제어기(130)는 예를 들어, 프로세서(210), 지지 회로(220), 입출력(I/O) 회로(215), 메모리, 및 트리거 제어부(230)를 포함할 수 있다. 이와 같이, 여기에서 설명된 프로세스 중 일부는 프로세서(210)에서 소프트웨어 프로세스로서 구현될 수 있고, 여기에서 설명된 프로세스 중 일부는 프로세서(210)와 협동해서 다양한 기능을 수행하는 회로로서, 예를 들어 하드웨어 내에 구현될 수 있다. 또한, 여기에서 설명된 프로세스 중 일부는 소프트웨어, 하드웨어, 펌웨어, 또는 다른 실행 또는 저장 수단의 조합으로서 구현될 수 있다. 획득 메모리(115)에 저장되어 있는 정보는 프로세서(210) 또는 획득 후 트리거 회로(125)에 전송될 수 있다. 또한, 프로세서(122)는 획득 메모리(115) 및 획득 후 트리거 회로(125)에 제어 정보를 전송할 수 있다.
I/O 회로(215)는 제어기(130)와 통신하는 다양한 소자들 간의 인터페이스를 형성할 수 있다. 예를 들어, I/O 회로(215)는 키패드, 포인팅 장치, 터치 스크린, 외부 PC, 또는 사용자 입출력을 제어기(130)에 제공하기에 적절한 그외 주변 장치와의 상호접속을 포함할 수 있다. 제어기(130)는 이러한 사용자 입력에 응답해서 획득 및 트리거 유닛(105)의 동작을 제어할 수 있고, 다양한 기능을 수행할 수 있는데, 특히 필터링이나 그외 압축 동작을 수행할 수 있으나, 여러 가능성 중에서도 데이터 획득 또는 프로세싱과 같은 동작도 포함한다.
메모리 디바이스(225)는 프로세서(210)와 효과적으로 관련되어 있다. 획득 메모리(115) 및 메모리 디바이스(225)는 다른 휘발성 메모리 중에서도 SRAM, DRAM과 같은 휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 이러한 메모리는 무엇보다도 디스크 드라이브 또는 테이프 매체와 같은 비휘발성 메모리, 또는 여러 가능성 중에서도 EPROM, EEPROM 또는 플래시 메모리와 같은 프로그래머블 메모리를 포함할 수 있다.
도 2의 제어기(130)는 본 발명의 실시예에 따라 다양한 제어 기능을 수행하도록 프로그램되어 있는 범용의 컴퓨터 또는 마이크로프로세서로서 도시되어 있으나, 실시예는 예를 들어 ASIC(application specific integrated circuit)과 같이 하드웨어로 구현될 수도 있다. 이와 같이, 여기서 설명된 바와 같은 제어기(130)는 하드웨어, 소프트웨어 또는 이것들의 조합으로 동등하게 수행될 수 있는 바대로 폭넓게 해석되도록 의도되어 있다.
신호 버퍼링 회로, 신호 컨디셔닝 회로, 디스플레이 드라이버 등과 같은 표준 신호 처리 구성요소(도시되지 않음)도 또한 여기에 설명된 다양한 인터페이스 기능을 가능하게 하는 요구에 따라 사용될 수 있다는 당업자면 이해할 수 있을 것이다. 예를 들어, ADC(208)는 검사 중인 전기 신호를, 제어기(130) 또는 디스플레이 유닛(135)의 처리 회로(240)에 의해 적절하게 처리될 수 있는 충분히 높은 레이트로 샘플링한다. 이와 관련해서, ADC(208)는 내부 샘플 클록 제너레이터(도시되지 않음)가 제공하는 샘플 클록에 따라 각각의 입력 전기 신호를 샘플링할 수 있으며, 상기 제너레이터는 예를 들어 지지 회로(220)의 일부가 될 수 있다.
제어기(130)는 파형 데이터를 디스플레이 유닛(135)에 제공한다. 디스플레이 유닛(135)은 처리 회로(240)를 포함한다. 디스플레이 유닛(135)은 디스플레이 디바이스(250) 상에 파형 데이터의 후속의 프레젠테이션을 위한 처리 회로(240)를 포함한다. 처리 회로(240)는 획득된 데이터 스트림이나 파형 데이터를, 비주얼 이미지를 제공하는 데 적절한 비디오 이미지 또는 비디오 신호로 변환하는 데 적절한 데이터 처리 회로(예를 들어, 비디오 프레임 메모리, 디스플레이 포매팅 및 드라이버 회로 등)를 포함할 수 있다. 처리 회로(240)는 디스플레이 유닛(135)에 포함되기도 하고 메모리 면에 배치될 수도 있는 메모리(245)와 인터페이싱되어 있으며, 여러 가능성 중에서도 비디오 이미지를 저장하도록 구성되어 있다. 처리 회로(240) 및/또는 메모리(245)는 디스플레이 디바이스(250)에 의해 사용되기에 적절한 출력 신호를 제공한다. I/O 회로(215) 또는 트리거 회로(230)를 통해 수신되는 사용자 입력은 예를 들어 자동 캘리브레이션 기능을 조정하거나, 처리 회로(240) 또는 디스플레이 디바이스(250)의 다른 동작 파라미터를 채택하는 데 사용될 수 있다. 디스플레이 디바이스(250)는 상세히 후술되는 바와 같이, 획득 후 모드에 있을 때 트리거 이벤트에 응답해서 비디오 이미지를 디스플레이하거나 파형을 시프트하거나 조정하도록 구성되어 있다.
라이브 트리거 회로(120)는 예를 들어, ADC(208)의 뒤에서 프로브(205)와 관련된 하나 이상의 라인에 접속된 입력을 포함한다. 대안의 실시예는 ADC(208)의 앞에서 프로브(205)와 관련된 하나 이상의 라인에 접속된 라이브 트리거 회로(120)를 포함한다는 것을 이해해야 한다. 라이브 트리거 회로는 트리거 제어부(230)를 사용하여 사용자가 선택한 미리 정해진 트리거 기준에 기초하여 피검사 신호에서 라이브 트리거 이벤트를 검출한다. 그 결과, 라이브 트리거 회로(120)에 의하면, 디스플레이 디바이스(250) 상에서 라이브 트리거 이벤트의 시간에 일치하도록 파형이 자동 조정된다.
역으로, 획득 후 트리거 회로(125)는 획득 메모리(115)에 효과적으로 접속되어 있어서, 검사 중인 전기 신호가 변환되고 ADC(208)를 사용하여 디지털화된 후 그리고 획득 기간이 중지된 후 데이터 레코드(117)의 디지털 샘플을 수신할 수 있다. 획득 후 트리거 회로(125)는 트리거 제어부(230)를 사용하여 사용자가 선택한 미리 정해진 트리거 기준에 기초해서 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트를 검출할 수 있다. 그 결과, 획득 후 트리거 회로(125)에 의하면, 디스플레이 디바이스(250) 상에서 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치하도록 파형이 자동 조정된다.
전술한 바와 같이, 라이브 트리거 회로(120) 및 획득 후 회로(125)는 두 개의 별개의 회로로 도시되어 있으나, 다양한 시간에, 예를 들어 라이브 트리거 기능 및 획득 후 회로 기능의 양 기능을 수행하는 한 세트의 하드웨어로 구현될 수 있다. 대안으로, 라이브 트리거 회로(120) 및 획득 후 회로(125)는 서로 별개이며, 이것들 중 하나는 다른 하나와 유사한 회로를 포함할 수 있다.
도 2a는 도 2의 트리거 회로(230)의 추가적인 예시적 소자를 나타내는 블록도이다. 표준 제어(232)는 표준 트리거 레벨 제어(235), 표준 슬로프 제어(237) 및/또는 그외 표준 제어(239)를 포함할 수 있다. 특정한 제어(252)는 다음의 제어(255), 제1 제어(257), 디스플레이-모든 제어(259), 이전 제어(261), 최종 제어(263), 디스플레이 N 제어(265), 이벤트 범위 제어(267), 파형 범위 제어(268), 및/또는 다른 특정한 제어(269)를 포함할 수 있다.
여기서 사용되는 "표준"이란 트리거 레벨 제어(235) 또는 슬로프 제어(237)와 같이, 일반적으로 오실로스코프의 숙련된 사용자에게 친숙한 물리적 제어의 한 형태이다. 표준 제어(232)는 노브(knob), 스위치, 액추에이터, 또는 임의의 다른 적절한 인터페이스를 포함할 수 있으나, "표준"은 제어(232)에 의해 수행되는 임의의 특별한 분류의 기능을 반드시 부여하는 것은 아니다. 환언하면, 하나의 시나리오에서, "표준" 제어(232)는 숙련된 사용자가 일반적으로 즉시 인식할 수 있는 기능을 수행하는 데 사용될 수 있거나, 대안으로 여기서 상세히 설명될 바와 같이, "표준" 제어는 획득 후 트리거 모드와 관련해서, 본 발명의 새로운 구현 또는 실시예와 결합하여 사용될 수 있다.
여기서 사용되는 바와 같은 "특정한(specific)"은 오실로스코프가 미리 정해진 모드에서 동작하는 동안 구체적으로 사용되는 물리적 제어의 한 형태를 말한다. 예를 들어, 특정한 제어(252)는 트리거 이벤트 또는 파형이 디스플레이 디바이스(250) 상에 디스플레이되는 방법을 더 정교하게 하거나 그렇지 않으면 구성하기 위해 획득 후 모드에서 사용될 수 있다. 특정한 제어(252)는 노브(knob), 스위치, 액추에이터, 또는 임의의 다른 적절한 인터페이스를 포함할 수 있다.
도 2a에 도시되어 있는 각각의 제어에 대한 상세한 동작 상의 특징에 대해 예를 들어 도 3 내지 도 15를 참조하여 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 소정의 트리거 관련 관점과 관련된 파형(306)을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯(306)이다. 예시적인 플롯(306)은 본 발명의 한 관점을 설명하기 위해 펄스식 파형을 도시하고 있지만, 본 발명의 관점은 이에 제한되지 않으며, 임의 개수의 가능한 파형의 타입 및 임의 개수의 동시에 디스플레이되는 파형을 포함할 수 있다. 실시간 획득 모드에서, 파형(306)은 전기 신호의 획득 및 샘플링이 진행되는 동안 지속적으로 도출된다. 각각의 파형(306)은 서로 유사하며, 예시적인 플롯(301) 상에 함께 도출할 때는, 실질적으로 단일의 파형(306)으로 나타나 있다. 대안의 실시예에서는, 디지털 오실로스코프(100)의 다양한 입력(110)을 통해 획득되어 동시에 디스플레이되는 복수의 상이한 타입의 파형(도시되지 않음)이 있을 수 있다.
파형(306)은 소정의 트리거 관련 관점과 관련되어 있다. 예를 들어, 라이브 트리거 기준은 사용자에 의해 구성될 수 있다. 이러한 예시적인 플롯에서, 라이브 트리거 기준은 트리거 포인트(311)를 포함하며, 이 트리거 포인트(311)의 위치는 그래픽 "T" 또는 그외 적절한 마커를 사용하여 디스플레이 상에 표시될 수 있다. 트리거 포인트(311)는 "타임 제로(time zero)" 그래픽 마커(312) 및 미리 정해진 트리거 레벨(316)과 관련되어 있다. 또한, 도 3에 도시된 파형(306)과 관련되어 있는 라이브 트리거 기준은 상승-에지 동작 모드(rising-edge operating mode)를 포함하며, 이에 의해 파형(306)의 상승-에지 상에서 트리거링된다. 라이브 트리거 기준에 의하면, 트리거 이벤트가 311에서 발생하고, 파형(306)은 적어도 트리거 이벤트(311)로부터 제시간에 전방으로 디스플레이된다. 환언하면, 파형(306)은 각각의 파형(306)이 디스플레이 상에 도출되는 곳에서 실시간으로 디스플레이되어 (라이브 트리거 기준에 의해 결정된) 트리거 이벤트(311)가 트리거 시간(312)에서 위치하게 된다.
사용자는 (도 2a의) 표준 트리거 제어부를 사용해서 라이브 트리거 기준을 구성할 수 있다. 예를 들어, 트리거 레벨 제어(235)는 트리거 레벨(316)을 조정하는 데 사용될 수 있다. 사용자가 레벨(316)과 같은 트리거 레벨을 결정하였다면, 트리거 포인트(311)가 선택되고 사용자는 슬로프 제어(237)를 사용하여 상승-에지 동작 모드를 선택할 수 있다. 그런 다음 파형은 라이브 트리거 기준에 자동으로 일치하게 될 것이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따라 도 3의 이전에 획득된 파형(들)(406)을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯(401)이다. 실시간 획득 모드가 중지되면, 디스플레이(401)는 새로운 파형이 도출되지 않은 것을 제외하곤, 처음에는 실시간 획득 모드와 관련된 디스플레이(301)와 실질적으로 동일하게 보일 것이다. 환언하면, 획득 후 모드에서, 사용자는 예를 들어 오실로스코프(100)의 입출력 회로(215)(도 2) 중 하나를 사용하여 데이터의 실시간 획득을 수동으로 중지한다. 예시적인 플롯(401)은 본 발명의 한 관점을 설명하기 위해 펄스식 파형을 도시하고 있으나, 본 발명의 관점은 이에 제한되지 않으며, 임의 개수의 가능한 파형의 타입 및 임의 개수의 동시에 디스플레이되는 파형을 포함할 수 있다.
획득 후 모드에서, 전기 신호의 획득이 중지되었다면, 파형(406)이 생성되고 (도 1 및 도 2의) 획득 메모리(115)에 저장되어 있는 데이터 레코드(117)으로부터 디지털 샘플을 사용하여 디스플레이된다. 환언하면, 파형(들)(406)과 관련된 오실로스코프(100)의 입력(또는 채널)은 실시간 모드에서는 더 이상 없으며, 오히려 획득 후 모드에서 있게 된다.
도 4에 도시된 바와 같이, 파형(들)(406)은 데이터 레코드(117)에 저장되어 있는 디지털 샘플 중 작은 부분만을 나타낸다. 파형(들)(406)에 도시된 정보의 양은 예를 들어 수직 제어 또는 수평 제어(도시되지 않음)를 사용하여 조정될 수 있다. 이와 같이 조정하면 파형(들)(406) 및 트리거 포인트(411)가 디스플레이(401)의 범위에 걸쳐 또는 디스플레이(401)의 에지를 넘어 "스크롤" 될 수 있거나 이동될 수 있다. 이러한 스크롤링은 트리거 기준 자체를 변화시키지는 않는다. 본 발명의 실시예를 도해하기 위해, 파형(들)(406)은 수평 제어 또는 수직 제어를 사용하여 이동되지 않을 것이며, 트리거 포인트(411)와 관련된 트리거 "타임 제로"(412)는 디스플레이(401) 상의 상부-중앙 또는 중앙 위치에서 실질적으로 유지될 것이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따라 이전에 획득된 파형(406 및 501)을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯(501)이다. 데이터의 획득이 중지되면, 그리고 이 경우에 트리거 레벨(516)이 약간 아래로 조정되도록 (도 2a의) 트리거 레벨 제어(235)를 조정하는 것과 같이, 또한 상승-에지 동작 모드로부터 하강-에지 동작 모드(falling-edge operating mode)로 슬로프 제어(237)를 조정하는 것과 같이 사용자가 표준 트리거 제어부(232)를 변경하면, 최종 획득된 파형(506)이 새로운 트리거 기준에 따라 디스플레이 상에 다시 도출되고, 이것은 이제 획득 후 트리거 기준에 대응한다.
환언하면, (도 1의) 획득 후 트리거 회로(125)는 이전의 트리거 포인트(411)에 가장 가까운 획득 후 하강 에지 트리거 이벤트(511)를 검출하고 최종 획득된 파형(506)을 조정하여 상기 선택된 하강 에지 트리거 이벤트(511)를 트리거 시간(412)에서 디스플레이한다. 예를 들어, 획득 후 트리거 회로(125)는 사용자가 선택한 획득 후 트리거 기준에 기초해서 데이터 레코드(117)에서 획득 후 하강 에지 트리거 이벤트(511)를 검출하고, 최종 획득된 파형(506)의 자동 조정(예를 들어, 시프팅)을 획득 후 트리거 이벤트(511)의 시간과 일치시킨다. 표준 트리거 제어부(232) 중 임의의 제어를 사용하여 획득 후 트리거 이벤트를 조정한다. 이렇게 함으로써, 획득 후 트리거 회로(125)는 데이터의 획득이 중지된 후, 하나 이상의 표준 트리거 제어부(232)를 사용함으로써, 최종 획득된 파형(506)을 새롭게 선택된 트리거 기준과 일치하도록 조정할 수 있다.
또한, 제어와 관련해서는, (도 2 및 도 2a의) 트리거 제어부(230)를 사용해서 라이브 트리거 이벤트 및 획득 후 트리거 이벤트 모두에 대한 트리거 기준을 구성한다. 트리거 제어부(230)는 전술한 바와 같이 표준 트리거 제어부를 포함할 수 있다. 표준 트리거 레벨 제어(235)는 트리거 이벤트가 발생될 포인트에서 파형에 대한 전압을 가변시킨다. 트리거 제어부(230)는 선택된 트리거 레벨에서 사용자가 상승-에지 동작 모드 또는 하강-에지 동작 모드를 선택할 수 있게 하는 슬로프 제어(237)와 같은 다른 제어를 포함할 수 있다.
트리거 레벨 제어(235)는 라이브 트리거 이벤트에 대한 하나의 트리거 포인트를 선택하고 획득 후 트리거 이벤트에 대한 다른 트리거 포인트를 선택하는 데 사용될 수 있다. 획득 후 모드에서, 획득 후 트리거 회로(125)는 표준 트리거 레벨 제어(235) 및 표준 슬로프 제어(237)와 같은, 트리거 제어부(230)를 사용해서 사용자에 의해 선택된 미리 정해진 트리거 기준에 기초해서 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트를 검출할 수 있다. 이 방법에서, 사용자는 자신이 가지고 있는 가장 친숙한 트리거 제어부를 사용하여 라이브 트리거 모드 및 획득 후 트리거 모드 모두에서, 즉 데이터의 획득이 중지된 후, 트리거링 동작을 수행할 수 있다.
이전에 획득된 파형(들)(406)은 획득 후 모드 동안 사용자가 제어를 조정할 때 바람직하게 제거되고, 최종 획득된 파형(506)은 획득 후 트리거 기준에 따라 디스플레이된다. 그럼에도, 대안의 실시예에서는, 여러 이유 중에서도, 이전에 획득된 파형(들)(406)이 디스플레이(501)에 남아서, 자동으로 조정된 최종 획득된 파형(506)과의 비교 또는 참조를 제공한다. 대안으로, 이전에 획득된 파형(406)은 흐릿해지거나, 전술한 바와 같이, 디스플레이(501)로부터 제거될 수 있다. 또한, 파형(506)을 "최종" 획득된 파형이라 칭할 수 있지만, 이전에 획득된 어떠한 파형도, "최종" 획득된 파형일 필요는 없는 파형(506)으로서 자동으로 또는 수동으로 선택될 수 있으며, 그런 다음 획득 후 트리거 기준에 기초해서 자동으로 조정될 수 있다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따라 이전에 획득된 파형(506)을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯(601)이다. 여기서, 사용자가 획득 후 트리거 기준을 선택하고 적용한 후에는 이전에 획득된 파형(들)(506)을 디스플레이하지 않으면서 최종 획득된 파형(506)을 디스플레이한다. 획득 후 트리거 회로(125)는 이전의 트리거 포인트(411)에 가장 가까운 획득 후 하강 에지 트리거 이벤트(511)를 발견하고, 획득 후 모드 또는 중지 모드에 있는 동안 그 최종 획득된 파형(506)이 다시 도출되거나 그렇지 않으면 재위치하게 하였다.
도 7은 획득 후 모드 동안 선택될 때 트리거-관련 관점과 관련된 파형(706)을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯(701)이다. 구체적으로, 획득 후 모드 동안 선택될 때의 트리거 기준, 예를 들어 트리거 포인트(511)가 실시간 획득 모드에서 파형(들)(706)에 대해 동작하는 것을 보여주고 있다. 환언하면, 사용자는 획득 후 트리거 기준이 파형(들)(706)과 같은 실시간 획득 파형 상에서 가지게 되는 효과를 예비 조사할 수 있다.
다양한 라이브 트리거 기준과 획득 후 트리거 기준 그리고 이러한 기준들이 어떻게 상관할 수 있는지를 더 이해하기 위해, 파형(들)(706)에 대해 동작하는 라이브 트리거는, 획득 후 모드 동안 사용자에 의해 선택되어 예비 조사된 획득 후 트리거 기준과 반드시 일치할 수 있는 것으로 상정한다. 또한, 사용자는 동일한 트리거 제어부를 사용하여, 라이브 트리거 기준 및 획득 후 트리거 기준 모두를 조정할 수 있다. 획득 후 트리거 기준에 대한 조정은 실시간 획득 트리거 기준을 자동으로 변경할 수 있다. 마찬가지로, 실시간 획득 트리거 기준에 대한 조정은 획득 후 트리거 기준을 자동으로 변경할 수 있다. 실시간 획득 트리거 기준 및 획득 후 트리거 기준을 조정하는 데 사용되는 트리거 제어부가 동일하지 않아도 되지만, 이러한 것은 디지털 오실로스코프(100)의 직관적 사용 편리성을 위해 바람직한 방법이다.
도 8은 도 1의 획득 후 트리거 회로(125)의 추가의 예시적인 소자를 나타내는 블록도이다. 예를 들어, 획득 후 트리거 회로(125)는 제1 메모리(705) 및 제2 메모리(710)를 포함할 수 있다. 설명의 목적을 위해 두 개의 메모리가 도시되어 있지만, 임의 개수의 메모리가 획득 후 트리거 회로에 포함될 수 있음은 물론이다. 도 8에 도시된 소자들 중 일부는 도 1을 참조하여 전술된 소자들에 대응하므로 이에 대해서는 반복 설명하지 않는다.
제1 메모리(705)는 이전의 트리거 포인트 직전의 트리거 포인트를 저장할 수 있고, 제2 메모리는 이전의 트리거 포인트 직후의 트리거 포인트를 저장할 수 있다. 비교기(715)는 이전의 트리거 포인트 직전의 트리거 포인트와 이전의 트리거 포인트를 비교할 수 있고, 이전의 트리거 포인트 직후의 트리거 포인트와 이전의 트리거 포인트를 비교할 수 있다. 이 기술에 대해서는 도 9 내지 도 13을 참조하여 상세히 후술할 것이다.
도 9는 다른 실시예에 따른 소정의 트리거 관련 관점과 관련된 실시간 획득 모드에서 하나 이상의 파형(805)을 보여주는 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯(800)이다. 본 발명의 한 관점을 설명하기 위해 예시적인 플롯(800)을 정현파로 도시하고 있으나, 본 발명의 관점은 이에 제한되지 않으며, 임의 개수의 가능한 파형의 타입 및 임의 개수의 동시에 디스플레이되는 파형을 포함할 수 있다. 실시간 획득 모드에서, 하나 이상의 파형(805)은 전기 신호의 획득 및 샘플링이 진행되는 동안 지속적으로 도출된다. 대안의 실시예에서, 디지털 오실로스코프(100)의 다양한 입력(110)을 통해 획득된 복수의 다양한 유형의 파형(도시되지 않음)일 수 있으며 동시에 디스플레이될 수 있다.
하나 이상의 파형(805)은 소정의 트리거 관련 관점과 연관되어 있다. 예를 들어, 라이브 트리거 기준을 사용자가 구성할 수 있다. 본 예시적인 플롯에서, 라이브 트리거 기준은 트리거 포인트(811)를 포함하며, 이 트리거 포인트의 위치는 그래픽 "T" 또는 그외 적절한 마커를 사용하여 디스플레이 상에 표시될 수 있다. 트리거 포인트(811)는 "타임 제로(time zero)" 마커(812) 및 미리 정해진 트리거 레벨(815)과 관련되어 있다. 또한, 도 9에 도시된 파형(805)과 관련되어 있는 라이브 트리거 기준은 상승-에지 동작 모드(rising-edge operating mode)를 포함하며, 이에 의해 하나 이상의 파형(805)의 상승-에지 상에서 트리거링된다. 라이브 트리거 기준에 의하면, 트리거 이벤트가 811에서 발생하고, 하나 이상의 파형(805)은 트리거 이벤트(811)로부터 제시간에 전방으로 디스플레이된다. 환언하면, 하나 이상의 파형(805)은 각각의 하나 이상의 파형(306)이 디스플레이 상에 도출되는 곳에서 실시간으로 디스플레이되어 (라이브 트리거 기준에 의해 결정된) 트리거 이벤트(811)가 트리거 시간(812)에서 위치하게 된다.
사용자는 (도 2의) 트리거 제어부(230)를 사용해서 라이브 트리거 기준을 구성할 수 있다. 예를 들어, 트리거 레벨 제어(235)를 사용하여 트리거 레벨(815)을 조정할 수 있다. 사용자가 레벨(815)과 같은 트리거 레벨을 결정하였다면, 트리거 포인트(811)가 선택되고 사용자는 슬로프 제어(237)를 사용하여 예를 들어 여기에 도시된 바와 같은 상승-에지 동작 모드를 선택할 수 있다. 그런 다음 파형은 라이브 트리거 기준에 자동으로 일치하게 될 것이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따라 하나 이상의 이전에 획득된 파형을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯(1000)이다. 실시간 획득 모드가 중지되면, 디스플레이(1000)는 새로운 파형이 도출되지 않은 것을 제외하곤, 처음에는 실시간 획득 모드와 관련된 디스플레이(800)와 실질적으로 동일하게 보일 것이다. 환언하면, 획득 후 모드에서, 사용자는 예를 들어 오실로스코프(100)의 입출력 회로(215)(도 2) 중 하나를 사용하여 데이터의 실시간 획득을 수동으로 중지한다. 예시적인 플롯(1000)은 본 발명의 한 관점을 설명하기 위해 정현파의 파형을 도시하고 있으나, 본 발명의 관점은 이에 제한되지 않으며, 임의 개수의 가능한 파형의 타입 및 임의 개수의 동시에 디스플레이되는 파형을 포함할 수 있다.
획득 후 모드에서, 전기 신호의 획득이 중지되었다면, 하나 이상의 파형(805)이 생성되고 (도 1 및 도 2의) 획득 메모리(115)에 저장되어 있는 데이터 레코드(117)으로부터 디지털 샘플을 사용하여 디스플레이된다. 환언하면, 하나 이상의 파형(805)과 관련된 오실로스코프(100)의 입력(또는 채널)은 실시간 모드에서는 더 이상 없으며, 오히려 획득 후 모드에서 있게 된다.
도 10에 도시된 바와 같이, 하나 이상의 파형(805)은 데이터 레코드(117)에 저장되어 있는 디지털 샘플 중 작은 부분만을 나타낸다. 라인(820 및 825)은 데이터 레코드가 디스플레이 상에 한 번에 디스플레이될 수 있는 관심의 대상이 되는 기간보다 훨씬 더 많은 시간을 나타낸다는 것을 의미한다. 하나 이상의 파형(805)에 도시된 정보의 양은 예를 들어 수직 제어 또는 수평 제어(도시되지 않음)를 사용하여 조정될 수 있다. 이와 같이 조정하면 하나 이상의 파형(805) 및 트리거 포인트(811)가 디스플레이(1000)의 범위에 걸쳐 또는 디스플레이(1000)의 에지를 넘어 "스크롤" 될 수 있거나 이동될 수 있다. 이러한 스크롤링은 트리거 기준 자체를 변화시키지는 않는다. 본 발명의 실시예를 도해하기 위해, 하나 이상의 파형(805)은 수평 제어 또는 수직 제어를 사용하여 이동되지 않을 것이며, 트리거 포인트(811)와 관련된 트리거 "타임 제로"(812)는 디스플레이(1000) 상의 상부-중앙 또는 중앙 위치에서 실질적으로 유지될 것이다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따라 하나 이상의 이전에 획득된 파형(805)을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯(1100)이다. 데이터의 획득이 중지되면, 그리고 이 경우에 트리거 레벨(915)이 아래로 조정되도록 (도 2a의) 트리거 레벨 제어(235)를 조정하는 것과 같이 사용자가 트리거 제어부를 변경하면, 획득 후 트리거 제어부 회로(125)는 다음의 획득 후 트리거 포인트를 자동으로 결정할 수 있다.
예를 들어, 이전의 트리거 이벤트(811)는 사용자가 선택한 이전의 트리거 포인트(811)와 관련되어 있다. 획득 후 트리거 회로(125)의 (도 7의) 제1 메모리(705)는 이전의 트리거 포인트(811)의 직전의 포인트인 트리거 포인트(830)를 저장할 수 있다. 획득 후 트리거 회로(125)의 제2 메모리(710)는 이전의 트리거 포인트(811)의 직후의 포인트인 트리거 포인트(835)를 저장할 수 있다. 획득 후 트리거 회로(125)의 비교기(715)는 이전의 트리거 포인트(811)의 직전의 트리거 포인트(830)와 이전의 트리거 포인트(811)를 비교할 수 있고, 이전의 트리거 포인트(811)의 직후의 트리거 포인트(835)와 이전의 트리거 포인트(811)를 비교할 수 있다. 이 방법에서, 비교기(715)는 이전의 트리거 포인트(811)에 가장 가까운 트리거 포인트를 새로운 트리거 포인트로서 선택할 수 있으며, 이 경우에는 트리거 포인트(830)이다. 더 명확하게 하기 위해, 포인트(830)와 포인트(811) 간의 거리가 포인트(835)와 포인트(811) 간의 거리보다 짧은 것으로 상정한다. 그러므로 트리거 포인트(830)는 새로운 트리거 포인트로서 자동으로 선택된다.
도 12는 본 발명의 실시예에 따라 하나 이상의 이전에 획득된 파형(805)을 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호에 대한 예시적인 플롯이다. 데이터의 획득이 중지되면, 그리고 이 경우에 (도 2a의) 트리거 레벨 제어(235)를 조정하는 것과 같이 사용자가 트리거 제어부를 변경하면, 하나 이상의 파형(805)이 새로운 트리거 기준에 따라 디스플레이 상에 재도출되고, 이것은 이제 획득 후 트리거 기준에 대응한다.
환언하면, (도 1의) 획득 후 트리거 회로(125)는 이전의 트리거 포인트(811)에 가장 가까운 획득 후 상승 에지 트리거 이벤트(830)를 검출하고 선택된 상승 에지 트리거 이벤트(911)가 트리거 시간(812)에서 디스플레이되도록 하나 이상의 파형(805)을 조정한다. 예를 들어, 획득 후 트리거 회로(125)는 사용자가 선택한 획득 후 트리거 기준에 기초해서 제1 메모리(705)에 저장되어 있는 획득 후 상승 에지 트리거 이벤트(830)를 검출하고, 하나 이상의 파형(506)의 자동 조정(예를 들어, 시프팅)을 획득 후 트리거 이벤트(911)의 시간과 일치시킨다.
더 구체적으로, 하나 이상의 파형(805)은 트리거 이벤트(911)는 사용자가 이전에 선택한 트리거 기준에 대응하도록 화살표(905)가 나타내는 것과 같이 그리고 획득 후 트리거 회로(125)의 비교기(715)를 사용하여 자동으로 인가된 것과 같이 시프트된다. 임의의 표준 트리거 레벨 제어(235)를 사용하여 획득 후 트리거 기준을 조정할 수 있다. 이렇게 함으로써, 획득 후 트리거 회로(125)는 데이터의 획득이 중지된 후, 하나 이상의 표준 트리거 제어부(230)를 사용함으로써, 하나 이상의 파형(805)을 새롭게 선택된 트리거 기준과 일치하도록 조정할 수 있다.
도 13은 획득 후 모드 동안 선택될 때 트리거-관련 관점과 관련된 하나 이상의 파형(805)을 보여주는 실시간 획득 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯(1300)이다. 구체적으로, 획득 후 모드 동안 선택될 때의 트리거 기준, 예를 들어 트리거 포인트(911)가 실시간 획득 모드에서 하나 이상의 파형(805)에 대해 동작하는 것을 보여주고 있다. 환언하면, 사용자는 획득 후 트리거 기준이 하나 이상의 파형(805)과 같은 실시간 획득 파형 상에서 가지게 되는 효과를 예비 조사할 수 있다.
다양한 라이브 트리거 기준과 획득 후 트리거 기준 그리고 이러한 기준들이 어떻게 상관할 수 있는지를 더 이해하기 위해, 하나 이상의 파형(805)에 대해 동작하는 라이브 트리거는, 획득 후 모드 동안 사용자에 의해 선택되어 예비 조사된 획득 후 트리거 기준과 반드시 일치하는 것으로 상정한다. 또한, 사용자는 동일한 트리거 제어부를 사용하여, 라이브 트리거 기준 및 획득 후 트리거 기준 모두를 조정할 수 있다. 획득 후 트리거 기준에 대한 조정은 실시간 획득 트리거 기준을 자동으로 변경할 수 있다. 마찬가지로, 실시간 획득 트리거 기준에 대한 조정은 획득 후 트리거 기준을 자동으로 변경할 수 있다. 실시간 획득 트리거 기준 및 획득 후 트리거 기준을 조정하는 데 사용되는 트리거 제어부가 동일하지 않아도 되지만, 이러한 것은 디지털 오실로스코프(100)의 직관적 사용 편리성을 위해 바람직한 방법이다.
도 14는 도 8의 획득 후 트리거 회로(125)에 포함될 수 있는 메모리(750)의 예시적인 구성을 나타내는 블록도이다. 메모리(750)는 트리거 이벤트 T를 통해, 트리거 이벤트 1, 트리거 이벤트 2, 트리거 이벤트 3 등과 같이, 이전에 획득된 데이터 레코드과 관련되어 있는 모든 획득 후 트리거 이벤트 T에 관한 정보를 저장할 수 있다. 정보는 획득 후 트리거 이벤트 각각의 시간 또는 장소를 포함할 수 있다.
도 15는 도 8의 획득 후 트리거 회로(125)에 포함될 수 있는 메모리(755)의 다른 예시적인 구성을 나타내는 블록도이다. 제한된 메모리 공간으로 인해, 일부의 경우에는, 트리거 이벤트의 일부만이 저장될 수 있다. 예를 들어, 메모리(755)는 트리거 이벤트 1, 트리거 이벤트 3, 트리거 이벤트 5 및 트리거 이벤트 N과 같이, 획득 후 이벤트의 일부에 관한 정보를 저장할 수 있다. 환언하면, 메모리(755)는 N개의 획득 후 트리거 이벤트에 관한 정보를 저장할 수 있으며, 여기서 N은 데이터 레코드과 관련된 획득 후 트리거 이벤트 T의 총수보다 작다. 정보는 획득 후 트리거 이벤트 각각의 시간 또는 장소를 포함할 수 있다.
도 16은 도 8의 획득 후 트리거 회로(125)에 포함될 수 있는 메모리(760)의 또 다른 예시적인 구성 및 디스플레이(1600)의 칼럼과의 관계를 나타내는 블록도이다. 메모리(760)는 디스플레이(1600)의 각각의 칼럼을 위한 하나의 메모리 위치를 가질 수 있다. 메모리 위치 C를 통하는 각각의 메모리 위치, 예를 들어, 메모리 위치 1, 메모리 위치 2, 메모리 위치 3 등은 칼럼 N을 통해 디스플레이(1600)의 칼럼 1, 칼럼 2, 칼럼 3 등과 같은 칼럼들 중 대응하는 칼럼과 관련되어 있다. 각각의 칼럼의 메모리 위치는 트리거 이벤트가 관련 칼럼의 시간 또는 장소에서 발생하였는지에 관한 정보를 저장할 수 있다. 본 실시예에서, 메모리(760)는 디스플레이 디바이스(250)와 관련된 디스플레이의 폭만큼 클 필요가 있다. 환언하면, 메모리 위치 대 칼럼 사이가 일대일 맵핑일 때, N의 값은 C의 값과 동일하다. "칼럼"의 폭은 픽셀보다 클 수도 있고 작을 수도 있다. 환언하면, 칼럼의 폭은 단일의 픽셀의 폭보다 작을 수 있거나, 대안으로 칼럼의 폭은 픽셀의 폭보다 크거나 같을 수 있다. 부분 맵핑의 보간을 사용하여 하나 이상의 메모리 위치를 각각의 칼럼에 맵핑하거나, 단일의 메모리 위치를 하나 이상의 칼럼에 맵핑할 수 있다.
도 17 및 도 18은 본 발명의 실시예에 따라, 이전에 획득된 파형(예를 들어, 1715, 1720 및 1725) 및 관점과 연관된 관련 트리거를 보여주는 획득 후 모드에서 샘플화된 전기 신호의 예시적인 플롯(1700 및 1800)이다. 이하, 도 17 및 도 18을 참조하여 설명한다.
라인 1750 및 라인 1760은 주어진 파형에 있어서, 데이터 레코드가 디스플레이 상에 한 번에 디스플레이될 수 있는 관심의 대상이 되는 기간보다 훨씬 더 많은 시간을 나타낸다는 것을 의미한다. 예시적인 플롯(1700 및 1800)은 본 발명의 한 관점을 설명하기 위해 정현파로 도시되어 있으나, 본 발명의 관점은 이에 제한되지 않으며, 임의 개수의 가능한 파형의 타입 및 임의 개수의 동시에 디스플레이되는 파형을 포함할 수 있다.
도 1의 트리거 회로(125)와 같은 트리거 회로는 전술한 바와 같이 트리거 기준에 기초해서 데이터 레코드에서 하나 이상의 획득 후 트리거 이벤트를 검출할 수 있다. 도 2의 디스플레이 디바이스(250)와 같은 디스플레이 디바이스는 도 17의 디스플레이(1700) 또는 도 18의 디스플레이(1800)와 같은, 디스플레이를 출력할 수 있다. 디스플레이 디바이스는 도 2a를 참조하여 전술한 바와 같이 표준 제어(232) 또는 특정한 제어(252)와 같은 하나 이상의 구성 가능한 트리거 제어부와 관련해서, 데이터 레코드과 관련된 하나 이상의 획득 후 트리거 이벤트 및 파형의 디스플레이를 조정할 수 있다.
하나의 트리거 이벤트보다 더 많은, 예를 들어 트리거 이벤트(1770, 1775, 또는 1780)가 파형(1715, 1720 및 1725)과 같은 동일한 데이터 레코드으로부터의 하나 이상의 파형과 동시에 디스플레이되도록 사용자가 트리거 제어부를 구성할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이-전체 제어(display-all control)(259)에 의하면, 데이터 레코드과 관련된 모든 획득 후 트리거 이벤트가 동시에 디스플레이될 수 있다. 대안으로, 디스플레이 N 제어(들)(265)에 의하면, 데이터 레코드과 관련된 N 개의 획득 후 트리거 이벤트가 동시에 디스플레이될 수 있다.
디스플레이 디바이스(250)는 디스플레이 디바이스의 상부 영역 또는 상부 중앙 영역 쪽에, 마커(1710)와 같은 그래픽 마커 및/또는 문자 T, 또는 그외 적절한 마커를 이용하여, 1770, 1775 또는 1780으로 도시된 바와 같이, 각각의 획득 후 트리거 이벤트를 표시할 수 있다. 그래픽 마커(1710)는 획득 후 트리거 이벤트(들)의 트리거 시간에 대응한다. 획득 후 트리거 이벤트의 하나 이상의 트리거 시간에 대응하는 하나 이상의 그래픽 마커가 있을 수 있으며, 이것들 중 어느 것이라도 동시에 디스플레이될 수 있다.
다른 예시적인 실시예에서는, 동시에 디스플레이될 데이터 레코드과 관련된 획득 후 트리거 이벤트(예를 들어, 1770, 1775 및 1780)의 수의 범위를 점차 조정하기 위해 이벤트 범위 제어(들)(267)를 구성할 수 있다. 대안으로, 파형 범위 제어(들)(268)는 동시에 디스플레이될 데이터 레코드과 관련된 파형(예를 들어, 1715, 1720 및 1725)의 수의 범위를 점차 조정하도록 구성될 수 있다. 이벤트 범위 제어(들)(267) 및 파형 범위 제어(들)(268)는 동일한 범위 제어(들) 내에서 하나가 될 수 있거나, 다른 제어가 될 수도 있다. 이러한 제어에 의해, 도 18에 도시된 바와 같이, 단일의 트리거 이벤트(1780)와 관련된 단일의 파형(1725)이 단지 디스플레이될 때까지 범위(들)는 감소되거나 증가되거나 또는 가변될 수 한다.
이 방법에서, 동일한 데이터 레코드 중에서 동시에 복수의 파형을 관찰한 다음 그 파형들을 관심의 대상이 되는 단일의 파형으로 좁게 함으로써, 1725와 같은 어떠한 이례적인 파형 또는 스파이크(spike)(1790)와 같이 파형의 이례적인 부분을 신속하게 발견하고 관찰할 수 있다. 환언하면, 사용자는 도 18에 도시된 바와 같이, 이례적인 파형(1725)이 단지 디스플레이될 때까지 범위를 감소시킴으로써 그 이례적인 파형(1725)을 신속하게 발견할 수 있다.
여기에서 사용되는 "이례적인"이란 사용자에 의해 변칙(anomaly)을 소유할 것으로 고려될 수 있거나 사용자에게 관심의 대상이 되는 파형의 어느 일부를 말한다. 펄스 폭에서의 이례적인 변동, 하강 시간(fall time), 언더슈트(undershoot), 스파이크, 런트(runt) 또는 임의의 다른 타입의 변칙적인 파형을 예로 들 수 있다. 파형(1725)은 단지, 하나 이상의 전술한 이례적인 관점을 가질 수 있는 파형을 나타낼 뿐이다.
1715, 1720 및 1725와 같은 파형은 동일한 데이터 레코드에서 나와서 동시에 디스플레이될 수 있다. 구성 가능한 트리거 제어부를 사용하여 파형이 디스플레이되는 방법을 조정할 수 있다. 예를 들어, (도 2a의) 다음의 제어(들)(255)에 의하면, 데이터 레코드과 관련되어 있는 다음의 획득 후 트리거 이벤트(1772)가 발견되어 디스플레이될 수 있다. 예를 들어, 다음의 제어(들)(255)에 의하면, 획득 후 트리거 이벤트(1772)가 디스플레이의 중앙 칼럼 쪽으로 디스플레이되도록 1715와 같은 파형이 자동으로 시프트될 수 있다. 대안으로, 다음의 제어(들)(255)에 의하면, 1715, 1720 및 1725와 같은 하나 이상의 파형이 다음의 획득 후 트리거 이벤트 쪽으로 자동으로 시프트될 수 있다.
마찬가지로, 이전의 제어(들)(261)에 의하면, 데이터 레코드과 관련된 이전의 획득 후 트리거 이벤트(1774)가 발견되어 디스플레이될 수 있다. 예를 들어, 이전의 제어(들)(261)에 의하면, 획득 후 트리거 이벤트(1774)가 디스플레이의 중앙 칼럼 쪽으로 디스플레이되도록 1715와 같은 파형이 자동으로 시프트된다. 대안으로, 이전의 제어(들)(261)에 의하면, 1715, 1720 및 1725와 같은 하나 이상의 파형이 이전의 획득 후 트리거 이벤트로 자동으로 시프트될 수 있다.
부가의 예로서, 최초의 제어(들)(257) 및 최종의 제어(들)(263)는 최초 및 최종의 이전의 획득 후 트리거 이벤트를 각각 발견하고 디스플레이할 수 있다. 다른 표준 제어(들)(239) 또는 특정한 제어(들)(269)를 사용하여 트리거 이벤트 또는 파형이 디스플레이되는 방법을 조작할 수 있다.
도 19는 예시적 실시예에 따라, 획득 메모리(1415), 아날로그 트리거 회로(1420), 및 다양한 아날로그/디지털 컨버터(1420) 및 디지털/아날로그 컨버터(ADC)(208)를 포함하는 검사 및 측정 기구를 나타내는 블록도이다. 획득 및 트리거 유닛(1405), 제어기(1430) 및 디스플레이 유닛(1435)의 이루어지는 구성성분 중 일부는 전술한 유사한 구성성분에 대응하므로 그에 대한 설명을 반복하지 않는다. 획득 메모리(1415)는 하나 이상의 디지털 데이터 샘플을 획득하고 획득한 샘플들을 적어도 하나의 데이터 레코드(1417)에 저장할 수 있다.
하나 이상의 ADC(208)는 입력 단자(들)(110)와 관련되어 있다. 하나 이상의 ADC(208)는 피검사 신호를 수신하고 그 피검사 신호로부터 디지털 샘플을 생성한 다음 그 디지털 샘플의 획득 메모리(1415)에 전달한다. 아날로그 트리거 회로(1420)는 입력 단자(들)(110)에 결합된 입력을 가지며, 제1 트리거 기준에 기초해서 피검사 신호에서 라이브 트리거 이벤트를 검출하여, 파형에 대한 자동 조정을 라이브 트리거 이벤트의 시간과 일치시킨다. 또한, 획득 및 트리거 유닛(1405)은 획득 메모리(1417)로부터 디지털 샘플을 수신하고 변환된 아날로그 신호를 생성하는 하나 이상의 DAC(1412)를 포함할 수 있으며, 상기 아날로그 신호는 획득 후 처리를 위해 아날로그 트리거 회로(1420)에 전송될 수 있다.
아날로그 트리거 회로(1420)는 변환된 아날로그 신호를 수신하고 제2 트리거 기준에 기초하여 데이터 레코드(1417)에서 획득 후 트리거 이벤트를 검출함으로써, 파형에 대한 자동 조정을 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시키도록 구성될 수 있다. 이 방법에서, 단일의 트리거 회로를 사용하여 라이브 트리거 이벤트뿐만 아니라 획득 후 트리거 이벤트를 검출하고 처리할 수 있다.
상세하게 설명된 바와 같은 유사한 트리거 제어부 및 동작을 사용하여 아날로그 트리거 회로(1420)를 제어함으로써 마찬가지의 결과를 달성할 수 있다. 간략화를 위해, 다양한 제어 및 동작에 대한 상세한 설명은 반복하지 않는다.
도 20은 예시적인 실시예에 따라 획득 후 트리거를 구성하고 대응하는 파형을 조정하기 위한 기술을 나타내는 흐름도이다. 과정은 도면 부호 1000에서 검사 중인 전기 신호로부터 데이터를 획득함으로써 시작할 수 있다. 그런 다음 흐름은 도면 부호 1005로 진행하여 도면 부호 1000에서의 검사 중인 전기 신호로부터 데이터를 획득한다. 그런 다음 흐름은 도면 부호 1005로 진행하여 라이브 트리거 이벤트를 검출하고 그에 따라 파형(들)을 조정한다. 도면 부호 1010에서, 데이터의 실시간 획득이 중지되었는지를 판정한다. 이 판정은 사용자 입력에 응답해서 이루어지거나, 자동으로 판정될 수 있다. 실시간 획득 모드가 중지되지 않았다면, 흐름은 'B'를 통하는 경로를 취하여 검사 중인 전기 신호로부터 데이터를 계속해서 획득한다.
그렇지 않으면, 오실로스코프는 획득 후 모드로 진행하고, 흐름은 사용자 입력에 기초하여 두 경로 1015 또는 1020 중 하나를 따라 진행한다. 사용자가 표준 트리거 제어부를 조정하여 1015에서 트리거 기준을 선택하는 경우, 흐름은 1030으로 진행하여 획득 후 트리거 이벤트가 검출되었는지에 대한 판정이 이루어진다. 검출되었다면, 흐름은 도면 부호 1035로 진행하고 파형의 위치는 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치하도록 자동으로 시프트된다. 그 후, 흐름은 도면 부호 1040으로 진행하여 데이터의 실시간 획득이 다시 시작되었는지에 대해 판정하고, 이 판정에 기초하여 경로 'A' 또는 'B' 중 하나가 취해질 수 있다. 실시간 획득이 다시 시작되지 않았다면, 흐름은 'A'를 통해 진행하고 사용자로부터의 입력을 대기하기 위해 되돌아간다. 이때, 사용자가 표준 트리거 제어부를 조정하여 도면 부호 1020에서 데이터 레코드에서 이벤트를 검색하는 경우, 흐름은 도면 부호 1040으로 진행하여, 데이터의 실시간 획득이 다시 시작되었는지에 대한 유사한 판정이 이루어진다.
본 발명의 실시예는 획득 메모리에 데이터 레코드으로서 저장하기 위해 피검사 신호로부터 데이터를 획득하고 이 데이터를 획득하는 동안 피검사 신호와 관련된 파형을 디스플레이하기 위한 방법을 포함한다. 데이터 레코드를 획득한 후, 사용자는 표준 트리거 제어부를 조정하여 트리거 기준을 선택할 수 있다. 트리거 회로는 트리거 기준에 기초하여 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트를 검출하고, 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치하도록 파형의 위치를 자동으로 시프트할 수 있다. 트리거 레벨 제어는 데이터를 선택하는 동안 제1 트리거 포인트를 선택하도록 조정될 수 있고, 데이터를 획득한 후 제2 트리거 포인트를 선택하도록 조정될 수 있다. 데이터를 획득한 후에 트리거 레벨 제어를 조정하는 단계는 획득 후 트리거 이벤트에 대한 제2 트리거 포인트를 선택하는 단계를 포함할 수 있다. 데이터의 실시간 획득이 재개되면, 이전에 선택된 획득 후 트리거 기준은 라이브 트리거 기준에 자동으로 적용될 수 있다.
본 발명의 특별한 실시예에 대해 서술하였으나, 본 발명의 원리는 이러한 실시예에 제한되지 않는다는 것에 유의해야 한다. 예를 들어, 전술한 획득 후 트리거 특징 외에, 표준 트리거 제어부를 사용함으로써, 트리거 회로는, 획득 후 모드 동안, 데이터 레코드에 저장될 때, 파형에서의 결함과 같은, 다른 유형의 이벤트를 검색할 수 있다. 이에 의해, 사용자는 자신에게 가장 친숙한 제어를 사용하여 데이터 레코드의 검색을 실행할 수 있다. 이하의 청구의 범위에서 설명된 바와 같이 본 발명의 원리를 벗어남이 없이 변형 및 수정이 이루어질 수 있다.
Claims (20)
- 검사 및 측정 기구에 있어서,
피검사 신호를 수신하는 입력 단자;
상기 입력 단자와 연결되어 있고 상기 피검사 신호를 수신하고 상기 검사 중신 신호부터 디지털 샘플을 생성하는 하나 이상의 아날로그/디지털 컨버터;
상기 피검사 신호의 상기 디지털 샘플을 데이터 레코드(data record)로서 저장하는 획득 메모리;
상기 피검사 신호와 관련된 하나 이상의 파형을 도출하는 디스플레이 디바이스;
상기 입력 단자에 접속된 입력부를 가지며, 제1 트리거 기준(first trigger criteria)에 기초해서 상기 피검사 신호에서 라이브 트리거 이벤트(live trigger event)를 검출하고 상기 파형의 자동 조정(automatic adjustment)을 상기 라이브 트리거 이벤트의 시간과 일치시키는 제1 트리거 회로;
상기 피검사 신호의 획득을 중지시키는 입력 제어부; 및
제2 트리거 기준에 기초해서 상기 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트(post-acquisition trigger event)를 검출하고, 상기 하나 이상의 파형 중 하나의 파형의 자동 조정을 상기 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시키는 제2 트리거 회로
를 포함하는 검사 및 측정 기구. - 제1항에 있어서,
상기 라이브 트리거 이벤트를 검출하기 위한 상기 제1 트리거 기준을 구성하고 상기 획득 후 트리거 이벤트를 검출하기 위한 상기 제2 트리거 기준을 구성하는 트리거 제어부를 더 포함하는 검사 및 측정 기구. - 제2항에 있어서,
상기 트리거 제어부는, 상기 라이브 트리거 이벤트에 대한 제1 트리거 포인트를 선택하고 상기 획득 후 트리거 이벤트에 대한 제2 트리거 포인트를 선택하는 트리거 레벨 제어를 포함하는, 검사 및 측정 기구. - 제3항에 있어서,
상기 제2 트리거 회로는 상기 디스플레이 디바이스 상의 상기 하나 이상의 파형 중 하나의 파형의 자동 조정을, 상기 트리거 레벨 제어의 조정에 응답해서, 상기 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시키도록 구성되어 있는, 검사 및 측정 기구. - 제1항에 있어서,
상기 제2 트리거 회로는 상기 데이터 레코드에서 이벤트를 검색하도록 구성되어 있는, 검사 및 측정 기구. - 제5항에 있어서,
상기 제2 트리거 회로는 트리거 레벨 제어의 조정에 응답해서 상기 데이터 레코드에서 이벤트를 검색하도록 구성되어 있는, 검사 및 측정 기구. - 제1항에 있어서,
상기 획득 후 트리거 이벤트는 이전의 트리거 포인트와 관련되어 있고,
상기 제2 트리거 회로는,
상기 이전의 트리거 포인트 직전의 트리거 포인트를 저장하는 제1 메모리; 및
상기 이전의 트리거 포인트 직후의 트리거 포인트를 저장하는 제2 메모리
를 포함하는, 검사 및 측정 기구. - 제7항에 있어서,
상기 이전의 트리거 포인트 직전의 트리거 포인트와 상기 이전의 트리거 포인트를 비교하고, 상기 이전의 트리거 포인트 직후의 트리거 포인트와 상기 이전의 트리거 포인트를 비교하는 비교기를 더 포함하는 검사 및 측정 기구. - 제8항에 있어서,
상기 비교기는 상기 이전의 트리거 포인트에 가장 가까운 트리거 포인트를 새로운 트리거 포인트로서 선택하도록 구성되어 있는, 검사 및 측정 기구. - 검사 및 측정 기구 상에서 획득 후 트리거와 관련된 파형을 디스플레이하는 방법에 있어서,
획득 메모리에 데이터 레코드으로서 저장하기 위해 피검사 신호로부터 데이터를 획득하는 단계;
상기 데이터를 획득하는 동안 상기 피검사 신호와 관련된 파형을 디스플레이하는 단계;
상기 데이터 레코드의 획득이 중지된 후, 트리거 기준을 선택하도록 표준 트리거 제어부를 조정하는 단계;
상기 트리거 기준에 기초해서 상기 데이터 레코드에서 획득 후 트리거 이벤트를 검출하는 단계; 및
상기 파형의 위치를 상기 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시키도록 자동으로 시프트하는 단계
를 포함하는 방법. - 제10항에 있어서,
상기 표준 트리거 제어부는 트리거 레벨 제어를 포함하고,
상기 데이터를 획득하는 동안 제1 트리거 포인트를 선택하도록 상기 트리거 레벨 제어를 조정하는 단계;
상기 데이터를 획득하는 동안 제2 트리거 포인트를 선택하도록 상기 트리거 레벨 제어를 조정하는 단계;
실시간 획득 모드에서 상기 피검사 신호의 획득을 다시 시작하는 단계; 및
상기 제2 트리거 포인트에 따라 상기 피검사 신호와 관련된 파형을 디스플레이하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제11항에 있어서,
상기 데이터를 획득하는 동안 상기 트리거 레벨 제어를 조정하는 단계는, 상기 획득 후 트리거 이벤트에 대한 제2 트리거 포인트를 선택하는 단계를 포함하는, 방법. - 제10항에 있어서,
상기 표준 트리거 제어부는 트리거 레벨 제어를 포함하고,
상기 트리거 레벨 제어의 조정에 응답해서 상기 데이터 레코드에서 이벤트를 검색하는 단계를 더 포함하는 방법. - 제10항에 있어서,
트리거 회로가 상기 트리거 기준에 기초해서 상기 데이터 레코드에서 상기 획득 후 트리거 이벤트를 검출하는 단계를 더 포함하는 방법. - 제14항에 있어서,
상기 획득 후 트리거 이벤트는 이전의 트리거 포인트와 관련되어 있고,
상기 트리거 회로의 제1 메모리에 상기 이전의 트리거 포인트 직전의 트리거 포인트를 저장하는 단계; 및
상기 트리거 회로의 제2 메모리에 상기 이전의 트리거 포인트 직후의 트리거 포인트를 저장하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제15항에 있어서,
상기 획득 후 트리거 이벤트는 이전의 트리거 포인트와 관련되어 있고,
상기 트리거 회로의 비교기가, 상기 이전의 트리거 포인트 직전의 트리거 포인트와 상기 이전의 트리거 포인트를 비교하고, 상기 이전의 트리거 포인트 직후의 트리거 포인트와 상기 이전의 트리거 포인트를 비교하는 단계를 더 포함하는 방법. - 제16항에 있어서,
상기 비교기가 상기 이전의 트리거 포인트에 가장 가까운 트리거 포인트를 새로운 트리거 포인트로서 선택하는 단계를 더 포함하는 방법. - 검사 및 측정 기구에 있어서,
하나 이상의 대응하는 검사 중인 신호를 수신하는 하나 이상의 입력 단자;
상기 하나 이상의 검사 중인 신호의 상기 디지털 샘플을, 대응하는 하나 이상의 데이터 기록(data record)으로서 저장하는 하나 이상의 획득 메모리;
상기 하나 이상의 검사 중인 신호와 관련된 적어도 하나 이상의 파형을 도출하는 디스플레이 디바이스;
상기 하나 이상의 입력 단자에 접속된 입력부를 가지며, 제1 트리거 기준(first trigger criteria)에 기초해서 상기 하나 이상의 검사 중인 신호에서 적어도 하나의 실시간 트리거 이벤트(live trigger event)를 검출하고, 상기 적어도 하나의 파형에 대한 자동 조정(automatic adjustment)을 상기 적어도 하나의 실시간 트리거 이벤트의 시간과 일치시키는 트리거 회로;
상기 검사 중인 신호의 획득을 중지시키는 입력 제어; 및
를 포함하고,
상기 트리거 회로는, 제2 트리거 기준에 기초해서 상기 하나 이상의 데이터 기록에서 적어도 하나의 획득 후 트리거 이벤트(post-acquisition trigger event)를 검출하고, 상기 적어도 하나의 파형의 자동 조정을 상기 적어도 하나의 획득 후 트리거 이벤트의 시간에 일치시키는, 검사 및 측정 기구. - 제18항에 있어서,
상기 적어도 하나의 실시간 트리거 이벤트를 검출하기 위한 상기 제1 트리거 기준을 구성하고 상기 적어도 하나의 획득 후 트리거 이벤트를 검출하기 위한 상기 제2 트리거 기준을 구성하는 트리거 제어를 더 포함하는 검사 및 측정 기구. - 제19항에 있어서,
상기 트리거 제어부는, 상기 적어도 하나의 라이브 트리거 이벤트에 대한 제1 트리거 포인트를 선택하고 상기 적어도 하나의 획득 후 트리거 이벤트에 대한 제2 트리거 포인트를 선택하는 트리거 레벨 제어부를 포함하는, 검사 및 측정 기구.
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