JP4786091B2 - 試験測定方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に、試験測定方法に関し、特に、オシロスコープなどで取り込んだ長時間のデータ記録を処理する試験測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、オシロスコープが長時間の取込み(典型的には、8Mビットから64Mビット)を記録できることが知られている。しかし、残念なことに、長時間記録は、望ましい機能であるが、問題の種でもある。これまで、かかる長時間記録から、取込み信号内のあるポイント(信号のサンプル)に存在するかもしれいない現象を検索する簡単な方法がなかった。例えば、1秒当たり500ポイントの割合で表示された32Mビットの記録を視覚的に検索するには、17時間かかる。そこで、オシロスコープのユーザが、かかる長時間にわたって忍耐を維持できるかという疑問も生じる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
最新のオシロスコープのいくつかは、その筐体内にプリンタを具えており、オシロスコープのトレース(波形)及びデータをロール紙にプリントしている。上述の問題の解決方法として、長時間記録にわたる波形を単にプリントして、紙にプリントされたトレースを検査することが考えられる。しかし、計算によると、8Mビットの記録をプリントするには、数マイル(数キロ・メートル)に及ぶプリント紙が必要となる。
【0004】
したがって、本発明は、長期間にわたって記録された波形を簡単に観測するために、蓄積した波形を、入力波形と比較して試験測定を行う試験測定方法を提供するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、試験測定機器が取込んだ長時間記録データを処理する方法であって;各々が長時間記録データに沿った調整可能な相対位置に配置されると共に長時間記録データの一部を含ゲートであって、その内の1つが基準ゲートとなる複数の同じ幅のゲートを定めるステップと;複数の基準メモリの各々が複数のゲートの各々に対応しており、基準ゲートに対応する基準メモリの内容と別の基準メモリの内容とを演算して比較するための数式を入力するステップと;各ゲートに含まれる長時間記録データの部分を各基準メモリに蓄積する蓄積ステップと;基準ゲートに対応する基準メモリに蓄積された長時間記録データの部分と、基準ゲートに対応する基準メモリと別の基準メモリに蓄積された長時間記録データの部分との間で数式を実行して、違反があるかを検出する検出ステップと;複数のゲートの位置を自動的に移動させることにより長時間記録データを走査し、ゲートの位置の各移動において、長時間記録データの総てが処理されるまで蓄積ステップ及び検出ステップを繰り返しステップとを具えている。
【0006】
本発明の好適実施例によれば、ゲート比較器制御パネルにより、ユーザは、4つの異なるゲート領域を定義することができ、これらゲート領域は、生の波形(取り込んだままの波形)、計算で求めた波形、又は基準波形の内の任意の波形上に設定できる。各ゲートのメニューで各ゲートの位置を制御し、ゲート(ゲート制御)すべき信号のソース(信号源)を選択する。総てのゲートは、同じ幅でなければならない。高度なレベルでのアプリケーションでは、波形のゲートされた領域(ゲート領域として範囲指定された波形の部分)を基準メモリにコピーする。例えば、ゲート1を基準1とし、ゲート2を基準2とし、以下同様とする。ユーザが設定可能な許容値を用いて、複数のゲート波形(ゲートされた波形)の間の差が、違反となるポイントに達したか否かを判断する。マスタ(主)ゲート位置制御によって、総てのゲートを同じ量だけ移動できるので、これらゲート波形間の間隔を一定に維持できる。マスタ・ゲート幅制御により、総てのゲートの幅も制御できる。このように、所定パラメータは、アクティブ・ゲートの数、ゲートの位置、ゲートの幅及び許容値により決めることができる。ラン(実行)、ポーズ(一時停止)及びストップ(停止)メニュー項目を用いて、ゲートを付加する波形に対してゲートをどのように自動的に走査(移動)させるかを制御し、これらの間の間隔を一定に維持する。複数ゲートの信号の間の比較は、ポイント対ポイントに基づいて、即ち、ポイント(信号サンプル)毎に行う。
【0007】
【発明の実施の形態】
添付図を参照して、本発明の好適実施例を以下に説明する。かかる実施例において、ゲート比較器は、最新オシロスコープにおいて、WINDOWS(登録商標)などのオペレーティング・システム上で動作するJAVA(登録商標)アプリケーション・ソフトウェアにより実現している。すなわち、マイクロプロセッサとソフトウェアとにより、本発明の構成要件である比較手段や、入力手段、処理手段、警報発生手段を構成している。なお、これら手段の各々については、当業者には容易に実施できるので、各手段の具体的構成の説明は省略する。
【0008】
図2は、本発明を実施する試験測定機器であるオシロスコープの表示スクリーン100を示す図であり、このスクリーン100上では、波形表示領域110内に基準波形が表示され、制御領域115内にゲート比較器制御パネルが表示されている。制御領域115には、4つの選択可能なゲート制御部である基準ゲート(RefGate)、ゲート2(Gate2)、ゲート3(Gate3)及びゲート4(Gate4)が存在する。これらゲート制御部は、パラメータを入力する入力手段となる。ゲート1は、基準ゲートとみなせる。図2の制御パネル(ソフトウェアで実現した制御パネル)を用いて、基準ゲート(望むならば、他のゲートであるゲート2、ゲート3、ゲート4)の動作パラメータを設定する。よって、所定パラメータは、アクティブ・ゲートの数、ゲートの位置、ゲートの幅及び許容値により決定できる。図2の波形表示は、2つのゲートがアクティブ(活性化状態)で、ゲート1及びゲート2が基準波形R1及びR2を夫々発生していることを示している。他の表示については、本発明に関連したものは後述するが、その他については、省略する。なお、オシロスコープの表示スクリーンに表示を行うこと自体は従来技術であるので、その表示方法の説明を省略する。
【0009】
この制御スクリーンは、実行(走っている人間のアイコンで示す)140、停止(黒い矩形)145、一時停止(2個の矩形)150及びリセット155を「ソフト・キー」で実現し、標準のテープ・デッキ制御のように動作する「ロール・モード」を制御する。ロール・モード走査の速度選択を行うために、制御部160によりステップ・サイズ(移動のステップ量)を選択する。
【0010】
本明細書において、「ロール・モード」とは、蓄積された波形に対してゲートが移動することを意味する。各ゲートの大きさは、表示スクリーンの幅に合うようになっているので、取り込んだデータを表示するロール・モードと同じ方法で、波形がスクリーン上を水平に移動する。すなわち、2つの波形上にゲートを配置した後、比較を行いながら、両方のゲートは、両方の波形上を同期して進む。この方法によって、比較のための時間が、従来の17時間から分単位の時間に短縮できる。この場合、基準波形は、ゲートを基に基準メモリに蓄積された波形であり、データ取込み手段が取り込んだ第1チャネルの信号と時間方向に実時間で順次比較していく。
【0011】
図3は、ゲート比較器に関する効果を示す表示スクリーンの図である。図3では、2つの基準波形R1(波形表示領域の上の波形)及びR2(波形表示領域の下の波形)と、ゲート比較器領域の表示M1(矩形パルス状の表示)とを示している。ゲート比較器の機能がオン(動作状態)になると、総ての他のアクティブ・ゲート(即ち、オンになった他のゲート)内の信号値をゲート1内の信号の値からポイント毎に減算して差を求める。ゲートが信号に沿って時間的に移動する走査処理により、総てのゲートが一緒に信号に沿って移動し、これらゲート間の間隔を一定に維持する。
【0012】
比較手段(マイクロプロセッサ及びソフトウェア)により求めた差が、ユーザの設定可能な比較器許容値(許容誤差)よりも大きいと、違反が生じたことになる。警報発生手段が、ユーザにこの違反を知らせる。この警報発生手段もマイクロプロセッサ及びソフトウェアで実現できる。ゲートが自動的に走査(移動)している期間中に違反が生じると、走査状態が一時停止になり、違反を起こしたポイントがゲートの中心になるように、ゲートの位置が調整される。他の指示を用いて、違反が生じたことを示してもよい。
【0013】
測定値及び波形の数学処理に関連して、基準メモリ(後述する)に蓄積されたゲート領域の各値は、これに適用される測定値であってもよい。さらに、ゲート領域の各値は、波形の数式によって求めたものでもよい。この数式による機能は、図3のスクリーン表示の下側に示す。すなわち、この式は、
演算1=((Ref1-Ref2)>0.2)+((Ref1-Ref2)<-0.2)
であり、基準1と基準2の差が0.2よりも大きい場合と、この差が−0.2よりも小さい場合との論理和を表す。この条件が、ゲートとなり、このゲートの範囲外になると違反となる。
【0014】
図4は、4つのゲートを1つ以上の波形上でも定義できることを示す図である。この場合、2つのゲートの領域が各波形上に定義されている。この例において、定義されたゲート領域であるゲート1、ゲート2、ゲート3及びゲート4は、この特定ユーザが関心のあるだろう信号の異常を囲んでいる。各ゲートされた領域内のデータをオシロスコープ内の基準メモリにコピーする。ユーザは、各ゲートが存在する波形信号源を選択することもできる。再び図2を参照する。ユーザは、スライド制御器130や、ノブなどの他の手段によってカーソルを制御して、選択された波形上のゲートの水平位置を調整できる点に留意されたい。ユーザは、ゲート幅制御器により、ゲートの幅も制御できる。
【0015】
図5及び図6は、本発明により、ゲート領域が基準メモリにコピーされた後における図4のゲート領域を示す図である。データのゲート領域のみが基準メモリに蓄積されている点に留意されたい。この方法において、関心のあるデータのみが測定値又は数学演算に含まれるので、測定及び波形数学処理の効率が改善される。
【0016】
長時間のデータ記録を扱うユーザにとって、本発明が汎用的に使用できることに留意することは重要である。しかし、ディスク・ドライブを試験するエンジニアが必要性とすることを、本発明は直接的に満足させられる。例えば、ディスク・ドライブ試験エンジニアが、典型的には、既知の良好なPRML(Partial Response Maximum Likelihood)読出しチャネル信号を基準4用のメモリ・スロット(メモリ装置)に蓄積するとする。基準1は、基準ゲート用に使用するので、この目的のために、基準1を用いることは避けるべきである。基準4メモリ内の既知の良好なPRML信号にゲートを適用する(即ち、基準4メモリの信号を比較の際の基準として用いる)ことを望むならば、ゲート4の出力(ゲートで囲まれたデータ)が基準4メモリに通常は進んで、重ね書きされるので、前もって蓄積した基準データである良好なPRML信号がなくなってしまうので、ゲート4をオフにして、ゲート4で囲まれた新たなデータが基準として蓄積されないようにすべきである。つぎに、ゲート1の信号源(ソース)として基準4メモリに設定する(すなわち、基準4メモリの蓄積データを比較の基準とする)。また、ゲート2の信号源を、読出したチャネル信号(比較対象の信号)であるチャネル1(CH1)に設定する。
【0017】
トリガ機能を適切に設定し、基準4メモリに予め蓄積されているパターンと同じパターンをディスク・ドライブから読み出すと仮定する。基準4メモリに蓄積された基準データであるゲート1と、チャネル1のデータ(第1チャネルの信号)であるゲート2とが、比較用に適切に整列(位置決め)されるまで、ユーザは、これらゲートの位置を決めることができる、即ち、2つのゲート位置の相対位置を決定できる点に留意されたい。これら2つの波形を自動的に比較するために、ゲート比較器をオンにし、実行(ラン)ボタンを押す。よって、ゲート2が第1チャネルの信号を時間的に移動することにより、チャネル1の信号からゲート1の基準に対して違反となる部分を見つけることができる。よって、蓄積された基準波形を信号の部分と繰り返し比較し、基準波形を信号に沿って時間的に移動させることにより違反の1つを検出でき、この違反の1つが検出されると警報を発生することができる。ユーザは、データを走査して、総てのゲートのマスタ位置制御を同調させることにより、波形を視覚的に比較できる。さらに、ユーザは、ゲート1及びゲート2におけるゲートされたデータに対する測定を定義できる。
【0018】
全体としてみた場合、このゲート比較器は、ゲート制御及び機能の構造が独特である。従来のオシロスコープには、本明細書で記載するゲート比較器と呼ばれる単一の概念がなかった。かかる従来のオシロスコープは、数学処理により求めた波形を定義することにより、いくらかゲート的な機能を実現している。すなわち、ユーザが、ズーム(拡大/縮小)した波形を作成できる。各ズーム波形を波形数学スロット用メモリに蓄積すると、そのスロットのメモリを数学演算に使用することができない。その結果、4つのズーム波形が定義されると、これら波形を波形数学演算に用いることができない。この従来技術とは異なり、本発明は、数学機能を用いる能力を確保しながら、波形スロット・メモリと結びつけることなく、ゲート機能を使用できる。
【0019】
従来のオシロスコープにおいて、スクロール用に複数のゲートを互いにロックし、呼出されたゲート間の水平オフセットを依然維持するために、ユーザは、他のメニューを操作しなければならない。本発明は、単一のゲート比較器制御パネル上の必要な総ての制御をグループ化することにより、上述の問題を克服している。
【0020】
従来のいくつかのオシロスコープは、自動スクロールとして知られている機能を有する。自動スクロール機能により、ユーザは、データ記録の全体の長さをスクリーン上で自動的にスクロールして、単に視覚による比較を行える。ユーザは、スクロールの速度を調整することもできる。上述の如く、1秒当たり500ポイントの割合で表示するように、この自動スクロールを設定すると、32Mビットの記録の視覚検索では、17時間かかる。従来の長時間記録オシロスコープにおいては、本明細書で述べた如く、基準のズーム領域を「生の」波形と比較する自動手段がなかった点に留意することが重要である。すなわち、本発明の許容値(許容誤差)及び比較の特徴は、従来の長時間記憶オシロスコープには存在しなかった。
【0021】
他のゲート比較器制御スクリーン(入力手段)の表示を図7に示す。この制御スクロールの特徴は、次の通りである。各ゲート、即ち、ゲート1、ゲート2、ゲート3及びゲート4の各々に制御メニューが用意されている。各ゲート・メニューにより、ユーザは、そのゲートの波形信号源と、その波形のゲートの位置とを選択できる。さらに、各ゲートには、オン/オフ制御がある。また、この制御スクリーンは、実行(ラン)、一時停止、及び停止機能のソフト・キーも有する。これらソフト・キーは、標準テープ・デッキ制御器のように動作する「ロール・モード」を制御する。ロール・モード走査の速度選択も行え、この制御をステップ・サイズの選択により行う。
【0022】
ソフトウェア・トリガ・メニューがゲート比較器の一部を形成してもよい。この方法において、例えば、端で停止するように、ロール・モード・スクロールを設定してもよい。ラント・トリガ(2つのトリガ・レベルの内の一方を横切った後、他方のトリガ・レベルを横切ることなく、再び一方のトリガ・レベルを横切った時にトリガを発生)などの他の形式のソフトウェア・トリガ・モードは、ゲート比較器メニュー・システムに含ませることができる。
【0023】
図7の制御スクロールの上側に配置された制御に留意されたい。総てのゲートの設定に影響するマスタ制御がある。すなわち、マスタ・ゲート位置制御を調整することにより、総てのゲートが同じ量だけ移動する一方、これらゲートの間の間隔が一定に維持される。同様に、マスタ幅制御は、総てのゲートの幅を制御し、マスタ許容値(許容誤差)制御により、共通の許容値を総てのゲートに与える。
【0024】
図1は、本発明を実施するのに有用な最新デジタル・オシロスコープ600の簡略化したブロック図である。このオシロスコープ600は、被試験回路からの信号を受ける入力端子(第1チャネル)601を有する。フロント・エンド(入力部)には、トリガ回路605を有し、このトリガ回路605は、入力信号に応じてトリガ信号を発生し、取込みシステム(データ取込み手段)610に供給する。取り込みシステム610は、入力信号をデジタル化し、デジタル信号サンプルを連続的に取り込み、トリガ信号に応じて、これらデジタル信号サンプルを取込みメモリ615に蓄積する。取込みメモリ615は、信号サンプルをラスタライザ(ラスタ化回路)620に供給する。このラスタライザ(信号処理手段)620は、信号サンプルを処理し(即ち、時系列のサンプルを、ラスタ表示が行える形式に変換する)、ラスタ・メモリ622に蓄積して、ラスタ表示を行えるようにする。よりアナログ的な表示を行うために、ラスタ・コンバイナ(ラスタ表示に必要な信号を組み合わせる回路)625及びラスタ・メモリ630、635の構成を設けて、表示信号の自然な減衰(新たなサンプルと重ならない限り、表示輝度が順次減衰する)を可能にする。この構成による出力信号をオシロスコープの表示スクリーン(表示手段)640上に表示する。オシロスコープは、2個の制御器、即ち、処理制御器650及びシステム制御器660の制御によって動作する。システム制御器660は、基準メモリ670である基準1、基準2、基準3及び基準4とインタフェースされている。これら制御器が、上述の比較手段及び警報発生手段として機能する。
【0025】
動作において、ゲート内のデータは、ゲートがオンならば、各取込みの更新毎にオシロスコープの対応する基準メモリに移動する。例えば、ゲート1のデータが基準メモリ1に蓄積され、ゲート4のデータが基準4メモリに蓄積される。これは、上述の長時間記録オシロスコープの場合のように、利用可能な数学波形スロット・メモリを無駄にしない。さらに、各基準メモリは、完全な1組の測定値をオン(使用可能)にできる。これら測定値を数学演算に用いることができる。
【0026】
基準メモリ・スロットは、表示すべきデータを蓄積するのに容易な記憶場所以上の機能がある。ゲートの大きさをウィンドウにあわせるために、一方のゲートを、基準メモリの波形成分のスクリーン幅に自動的にズームする。ゲート自体が適度な長時間記録に設定されていると、基準波形内の異常を容易に識別することができないであろう。かかる場合、基準波形上にズーム・ボックスを設定し、効果的にズームを行なう。また、基準メモリ・スロットは、波形測定用のデータ又は波形数学アプリケーションのデータを分ける。さらに、望むならば、基準メモリの内容をデータ・ファイルにしてもよい。
【0027】
長時間記録の総てのオシロスコープで使用できる望ましい手段について上述した。この手段は、長時間記録データの分析を容易にし、且つ、容易に処理できる。
【0028】
本発明のゲート比較器は、Windows(登録商標)などのオペレーティング・システム上で動作するJAVA(登録商標)アプリケーション・ソフトウェアにて実現するのが望ましいと説明したが、本発明は、かかるソフトウェアに制限されるものではなく、上述の比較機能を実現するハードウェア回路も含むものである。
【0029】
本発明は、デジタル・データに制限されるものではなく、アナログ・データと共に用いても同様な効果を得られることが当業者には理解できよう。
【0030】
本明細書で用いた用語「ゲート」は、波形の一部に重ね合わせる視覚時間スロットのように、用語「ウィンドウ」と同義語である。
【0031】
本発明は、オシロスコープ以外にも、ロジック・アナライザやスペクトラム・アナライザなどの他の試験測定機器にも有用なことが理解できよう。
【0032】
【発明の効果】
上述の如く、本発明によれば、ゲートとして所定パラメータを決定し、このゲート内の基準波形を入力信号と比較する際、ゲートを時間的に移動させることにより基準波形を信号に沿って時間的に移動させながら比較を行う。この比較結果により違反を検出する。よって、長期間にわたって記録された波形から違反を見つけることが簡単にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を用いるのに適するオシロスコープの簡略化したブロック図である。
【図2】本発明を説明するために、2つの基準波形及びゲート比較制御パネルを表示する表示スクリーンの図である。
【図3】本発明を説明するために、2つのアクティブ・ゲート及び1つのゲート比較器の動作を示す表示スクリーンの図である。
【図4】本発明を説明するために、1つ以上の波形上に4つのゲートを定義できることを示す図である。
【図5】本発明を説明するために、4つのゲートを基準メモリにコピーした後に、図4のゲートされた領域を示す図である。
【図6】本発明を説明するために、4つのゲートを基準メモリにコピーした後に、図4のゲートされた領域を示す図である。
【図7】本発明を説明するために、ゲート比較器の制御スクリーンを示す図である。
【符号の説明】
100 オシロスコープの表示スクリーン
600 オシロスコープ
601 入力端子
605 トリガ回路
610 取込みシステム
615 取込みメモリ
620 ラスタライザ
622 メモリ
625 ラスタ・コンバイナ
630 ラスタ・メモリ
640 表示スクリーン
650 処理制御器
660 システム制御器
Claims (2)
- 試験測定機器が取込んだ長時間記録データを処理する方法であって、
各々が上記長時間記録データに沿った調整可能な相対位置に配置されると共に上記長時間記録データの一部を含むゲートであって、その内の1つが基準ゲートとなる複数の同じ幅のゲートを定めるステップと、
複数の基準メモリの各々が上記複数のゲートの各々に対応しており、上記基準ゲートに対応する上記基準メモリの内容と別の上記基準メモリの内容とを演算して比較するための数式を入力するステップと、
上記各ゲートに含まれる上記長時間記録データの部分を上記各基準メモリに蓄積する蓄積ステップと、
上記基準ゲートに対応する上記基準メモリに蓄積された上記長時間記録データの部分と、上記基準ゲートに対応する上記基準メモリと別の上記基準メモリに蓄積された上記長時間記録データの部分との間で上記数式を実行して、違反があるかを検出する検出ステップと、
上記複数のゲートの位置を自動的に移動させることにより上記長時間記録データを走査し、上記ゲートの位置の各移動において、上記長時間記録データの総てが処理されるまで上記蓄積ステップ及び上記検出ステップを繰り返すステップと
を具えた試験測定方法。 - 上記検出ステップにより上記違反が検出されたとき、上記走査を一時停止するステップと、
上記基準メモリに蓄積された上記長時間記録データの部分を表示するステップと
を更に具えたことを特徴とする請求項1の試験測定方法。
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SE537654C2 (sv) * | 2013-12-20 | 2015-09-22 | Freevalve Ab | Metod och positionssensorsammansättning för fastställande aven inbördes position mellan ett första objekt och ett andraobjekt |
US20150235394A1 (en) * | 2014-02-19 | 2015-08-20 | Mckesson Financial Holdings | Method And Apparatus For Displaying One Or More Waveforms |
US20150235395A1 (en) * | 2014-02-19 | 2015-08-20 | Mckesson Financial Holdings | Method And Apparatus For Displaying One Or More Waveforms |
US9646395B2 (en) | 2014-02-27 | 2017-05-09 | Change Healthcare Llc | Method and apparatus for comparing portions of a waveform |
JP2018112422A (ja) * | 2017-01-10 | 2018-07-19 | 横河電機株式会社 | 波形表示装置 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1347456A (en) * | 1972-01-31 | 1974-02-27 | British Aircraft Corp Ltd | Signal processing method and apparatus |
US4005477A (en) * | 1975-11-24 | 1977-01-25 | International Business Machines Corporation | Phase equalized readback apparatus and methods |
JPS5454682A (en) * | 1977-10-11 | 1979-05-01 | Iwatsu Electric Co Ltd | Waveform comparative display system |
US4510571A (en) * | 1981-10-08 | 1985-04-09 | Tektronix, Inc. | Waveform storage and display system |
DE3208744A1 (de) | 1982-03-11 | 1983-09-22 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Rohrcuvette fuer die atomabsorptionsspektrometrie |
US4809189A (en) * | 1986-10-09 | 1989-02-28 | Tektronix, Inc. | Equivalent time waveform data display |
JPH02130478A (ja) * | 1988-11-11 | 1990-05-18 | Yokogawa Electric Corp | 波形表示装置 |
US5371851A (en) * | 1989-04-26 | 1994-12-06 | Credence Systems Corporation | Graphical data base editor |
JP2860825B2 (ja) * | 1990-06-18 | 1999-02-24 | 日立建機株式会社 | 超音波測定装置 |
JPH06341931A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | 機器の運転状態監視装置 |
JP3281149B2 (ja) * | 1993-10-25 | 2002-05-13 | 日置電機株式会社 | 波形記録装置 |
US5530454A (en) | 1994-04-13 | 1996-06-25 | Tektronix, Inc. | Digital oscilloscope architecture for signal monitoring with enhanced duty cycle |
JPH08178690A (ja) * | 1994-12-26 | 1996-07-12 | Nissin Electric Co Ltd | データロギング装置 |
JPH08184613A (ja) * | 1994-12-27 | 1996-07-16 | Sony Tektronix Corp | 波形比較装置 |
JPH08184614A (ja) * | 1994-12-28 | 1996-07-16 | Sony Tektronix Corp | 波形蓄積装置 |
US6009523A (en) * | 1995-02-08 | 1999-12-28 | Sega Enterprises, Ltd. | Information processing apparatus with security checking function |
US5999163A (en) | 1996-11-01 | 1999-12-07 | Tektronix, Inc. | Digital oscilloscope with high live time recording of signal anomalies and method |
US6215697B1 (en) * | 1999-01-14 | 2001-04-10 | Macronix International Co., Ltd. | Multi-level memory cell device and method for self-converged programming |
JP2000241459A (ja) * | 1999-02-23 | 2000-09-08 | Yokogawa Electric Corp | 波形記録装置 |
US6728648B1 (en) * | 1999-09-24 | 2004-04-27 | Tektronix, Inc. | Test and measurement instrument having telecommunications mask testing capability with an autofit to mask feature |
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