JPH02130478A - 波形表示装置 - Google Patents
波形表示装置Info
- Publication number
- JPH02130478A JPH02130478A JP28489588A JP28489588A JPH02130478A JP H02130478 A JPH02130478 A JP H02130478A JP 28489588 A JP28489588 A JP 28489588A JP 28489588 A JP28489588 A JP 28489588A JP H02130478 A JPH02130478 A JP H02130478A
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- JP
- Japan
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- data
- waveform
- reference pattern
- address
- memory
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- Pending
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、データメモリに格納された波形データを再生
表示する波形表示装置に関するものであり、詳しくは、
予め設定されたパターンの波形部分を表示する装置の改
良に関するものである。
表示する波形表示装置に関するものであり、詳しくは、
予め設定されたパターンの波形部分を表示する装置の改
良に関するものである。
〈従来の技術〉
例えば、デジタルオシロスコープは、第４図に示すよう
にアナログ入力信号ＡｌｒＬをＡ／Ｄ変換部１でデジタ
ル信号に変換した後波形データとして波形記憶部２に格
納し、これら波形記憶部２に格納された波形データをＣ
ＲＴなどの表示器を含む表示部３で表示するように構成
されている。
にアナログ入力信号ＡｌｒＬをＡ／Ｄ変換部１でデジタ
ル信号に変換した後波形データとして波形記憶部２に格
納し、これら波形記憶部２に格納された波形データをＣ
ＲＴなどの表示器を含む表示部３で表示するように構成
されている。
ところで、このような波形表示装置の一種に、例えば特
公昭６３−３０５８０号公報に開示されているように、
基準波形ど測定波形とを比較してその結果に応じて各種
の表示モードが得られるように構成されたものがある。
公昭６３−３０５８０号公報に開示されているように、
基準波形ど測定波形とを比較してその結果に応じて各種
の表示モードが得られるように構成されたものがある。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、このように構成された装置は、基本的には表示
画面単位でリアルタイム処理を行うものであり、表示処
理実行中はデータが取り込まれないことから、表示画面
単位よりも長い時間の連続測定を行う場合にはデータ欠
落を生じることになる。
画面単位でリアルタイム処理を行うものであり、表示処
理実行中はデータが取り込まれないことから、表示画面
単位よりも長い時間の連続測定を行う場合にはデータ欠
落を生じることになる。
本発明は、このような点に着目したものであり、その目
的は、表示画面単位よりも長い時間の連続測定にあたっ
てデータ欠落による不都合を生じない波形表示装置を提
供することにある。
的は、表示画面単位よりも長い時間の連続測定にあたっ
てデータ欠落による不都合を生じない波形表示装置を提
供することにある。
く課題を解決するための手段〉
本発明の波形表示装置は、
データメモリに格納された波形データを表示部に再生表
示する波形表示装置において、前記表示部に表示すべき
１フレームの波形パターンの基準パターンデータが格納
された基準パターンメモリと、 前記データメモリに格納された波形データを前記基準パ
ターンデータの長さを単位としてアドレスを先頭アドレ
スから１アドレスずつ変化させながら読み出し、基準パ
ターンデータと比較するパターン比較手段と、 基準パターンデータと一致した波形データを表示する表
示手段、 を設けたことを特徴とする。
示する波形表示装置において、前記表示部に表示すべき
１フレームの波形パターンの基準パターンデータが格納
された基準パターンメモリと、 前記データメモリに格納された波形データを前記基準パ
ターンデータの長さを単位としてアドレスを先頭アドレ
スから１アドレスずつ変化させながら読み出し、基準パ
ターンデータと比較するパターン比較手段と、 基準パターンデータと一致した波形データを表示する表
示手段、 を設けたことを特徴とする。
く作用〉
本発明における波形表示は、データメモリに予め格納さ
れた表示画面単位よりも長い時間の連続測定測定データ
を１アドレスずつずらせながら基準パターンデータと比
較して一致した部分の波形を表示しているので、従来の
リアルタイム測定のようなデータ欠落による不都合を生
じることはない。
れた表示画面単位よりも長い時間の連続測定測定データ
を１アドレスずつずらせながら基準パターンデータと比
較して一致した部分の波形を表示しているので、従来の
リアルタイム測定のようなデータ欠落による不都合を生
じることはない。
〈実施例〉
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す構成説明図であり、第
４図と同一部分には同一符号をつけている０図において
、４はキーボードであり、各種の測定条件、メモリ条件
１衷示条件などをマイクロプロセッサ５に設定する。マ
イクロプロセッサ５は装置全体の動作を制御する。６は
システムメモリとして用いるランダムアクセスメモリ、
７は制御プログラムが格納されたリードオンリメモリで
ある。８は表示部３に表示すべき１フレームの波形パタ
ーンの基準パターンデータが格納されたランダムアクセ
スメモリよりなる基準パターンメモリ、９はデータメモ
リ２から読み出される波形データと基準パターンデータ
な比較する比較器である。データメモリ２に予め格納さ
れている波形データは、マイクロプロセッサ５の制御に
従って、基準パターンデータの長さを単位としてアドレ
スを先頭アドレスから１アドレスずつ変化させながら読
み出される。比較器９は、一致するパターンを検出した
らその波形データを表示部３に転送するとともに、マイ
クロプロセッサ５にもそのアドレスを通知する。
４図と同一部分には同一符号をつけている０図において
、４はキーボードであり、各種の測定条件、メモリ条件
１衷示条件などをマイクロプロセッサ５に設定する。マ
イクロプロセッサ５は装置全体の動作を制御する。６は
システムメモリとして用いるランダムアクセスメモリ、
７は制御プログラムが格納されたリードオンリメモリで
ある。８は表示部３に表示すべき１フレームの波形パタ
ーンの基準パターンデータが格納されたランダムアクセ
スメモリよりなる基準パターンメモリ、９はデータメモ
リ２から読み出される波形データと基準パターンデータ
な比較する比較器である。データメモリ２に予め格納さ
れている波形データは、マイクロプロセッサ５の制御に
従って、基準パターンデータの長さを単位としてアドレ
スを先頭アドレスから１アドレスずつ変化させながら読
み出される。比較器９は、一致するパターンを検出した
らその波形データを表示部３に転送するとともに、マイ
クロプロセッサ５にもそのアドレスを通知する。
第２図は基準パターンメモリ８に予め格納される基準パ
ターンデータの説明図であり、（ａ）は基準波形の例を
示し、（ｂ）は領域指定の例を示している。基準波形の
場合には、基準波形の振幅に対して上下にΔａ、Δｂの
幅を付加した形状のパターンデータを格納する。これに
対し、領域指定の場合には、表示画面上の少なくとも１
個の検出領域をＡ／Ｄ変換器１のビット分解能による電
圧値および基準パターンの先頭からのアドレスで指定す
る領域データとして格納する。このようにして格納され
る領域データに基づいて、指定領域を通る（パス）波形
データを検出したり、指定領域を通らない（バイパス）
波形データを検出するように任意に設定することができ
る０本実施例では、３個の領域Ａ〜Ｃを指定して、領域
Ａ、Ｂはバス波形データを検出するように設定し、領域
Ｃはバイパス波形データを検出するように設定した例を
示している。
ターンデータの説明図であり、（ａ）は基準波形の例を
示し、（ｂ）は領域指定の例を示している。基準波形の
場合には、基準波形の振幅に対して上下にΔａ、Δｂの
幅を付加した形状のパターンデータを格納する。これに
対し、領域指定の場合には、表示画面上の少なくとも１
個の検出領域をＡ／Ｄ変換器１のビット分解能による電
圧値および基準パターンの先頭からのアドレスで指定す
る領域データとして格納する。このようにして格納され
る領域データに基づいて、指定領域を通る（パス）波形
データを検出したり、指定領域を通らない（バイパス）
波形データを検出するように任意に設定することができ
る０本実施例では、３個の領域Ａ〜Ｃを指定して、領域
Ａ、Ｂはバス波形データを検出するように設定し、領域
Ｃはバイパス波形データを検出するように設定した例を
示している。
第３図は、このような表示動作処理の流れを示す説明図
である。まず、（ａ）に示すように、データメモリ２に
格納されている波形データを先頭アドレスから基準パタ
ーンデータの長さ分だけ読み出して、読み出された波形
データと基準パターンデータとを比較する０両パターン
が一致した場合にはその波形データを表示部３に転送し
て表示するが、一致しなかった場合には（ｂ）（ｃ）に
示すようにデータメモリ２に格納されている波形データ
を基準パターンデータの長さを単位としてアドレスを先
頭アドレスから１アドレスずつ変化させながら読み出し
、両パターンが一致するまで逐次基準パターンデータと
比較する。そして、両パターンが一致した時点でその波
形データを表示部３に転送して表示する。
である。まず、（ａ）に示すように、データメモリ２に
格納されている波形データを先頭アドレスから基準パタ
ーンデータの長さ分だけ読み出して、読み出された波形
データと基準パターンデータとを比較する０両パターン
が一致した場合にはその波形データを表示部３に転送し
て表示するが、一致しなかった場合には（ｂ）（ｃ）に
示すようにデータメモリ２に格納されている波形データ
を基準パターンデータの長さを単位としてアドレスを先
頭アドレスから１アドレスずつ変化させながら読み出し
、両パターンが一致するまで逐次基準パターンデータと
比較する。そして、両パターンが一致した時点でその波
形データを表示部３に転送して表示する。
このように構成することにより、リアルタイム測定のよ
うな表示処理実行中におけるデータ取込の中断はなく、
表示画面単位よりも長い時間の連続測定におけるデータ
欠落を防止できる。
うな表示処理実行中におけるデータ取込の中断はなく、
表示画面単位よりも長い時間の連続測定におけるデータ
欠落を防止できる。
また、表示画面単位よりも長い時間の連続測定波形デー
タの中から所望の波形パターンを捜すのにあたって、こ
れら波形データを表示器上にスクロール表示させながら
目視で捜すよりも迅速かつ正確に検出できる。
タの中から所望の波形パターンを捜すのにあたって、こ
れら波形データを表示器上にスクロール表示させながら
目視で捜すよりも迅速かつ正確に検出できる。
なお、上記実施例では比較器を用いる例を示したが、マ
イクロプロセッサで比較を行うようにしてもよい。
イクロプロセッサで比較を行うようにしてもよい。
また、波形の比較は１波形に限るものではなく、同時に
複数の波形データを比較するようにしてもよい。
複数の波形データを比較するようにしてもよい。
また、比較すべき波形データはＡ／Ｄ変換器から出力さ
れるものだけではなく、演算処理が施された後の波形デ
ータであってもよい。
れるものだけではなく、演算処理が施された後の波形デ
ータであってもよい。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、表示画面単位よ
りも長い時間の連続測定にあたってデータ欠落による不
都合を生じない波形表示装置が実現でさ、実用上の効果
は大きい。
りも長い時間の連続測定にあたってデータ欠落による不
都合を生じない波形表示装置が実現でさ、実用上の効果
は大きい。
第１図は本発明の一実施例を示す構成説明図、第２図は
第１図で用いる基準パターンメモリの説明図、第３図は
第１図の動作の説明図、第４図は従来の装置の一例を示
す構成説明図である。 １・・・Ａ／Ｄ変換器、２・・・データメモリ、３・・
・表示部、５・・・マイクロプロセッサ、８・・・基準
パターンメモリ、９・・・表示器。 第 図 （ｂ） （バス） ｔｌｉ袋ｆらマ 第 図 （Ｑ＞ （ｂ） （Ｃ）
第１図で用いる基準パターンメモリの説明図、第３図は
第１図の動作の説明図、第４図は従来の装置の一例を示
す構成説明図である。 １・・・Ａ／Ｄ変換器、２・・・データメモリ、３・・
・表示部、５・・・マイクロプロセッサ、８・・・基準
パターンメモリ、９・・・表示器。 第 図 （ｂ） （バス） ｔｌｉ袋ｆらマ 第 図 （Ｑ＞ （ｂ） （Ｃ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 データメモリに格納された波形データを表示部に再生表
示する波形表示装置において、 前記表示部に表示すべき１フレームの波形パターンの基
準パターンデータが格納された基準パターンメモリと、 前記データメモリに格納された波形データを前記基準パ
ターンデータの長さを単位としてアドレスを先頭アドレ
スから１アドレスずつ変化させながら読み出し、基準パ
ターンデータと比較するパターン比較手段と、 基準パターンデータと一致した波形データを表示する表
示手段、 を設けたことを特徴とする波形表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28489588A JPH02130478A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | 波形表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28489588A JPH02130478A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | 波形表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02130478A true JPH02130478A (ja) | 1990-05-18 |
Family
ID=17684432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28489588A Pending JPH02130478A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | 波形表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02130478A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002221537A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-08-09 | Tektronix Inc | 試験測定機器及び試験測定方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5693051A (en) * | 1979-12-27 | 1981-07-28 | Iwatsu Electric Co Ltd | Signal observing apparatus |
| JPS62195520A (ja) * | 1986-02-24 | 1987-08-28 | Hioki Denki Kk | 波形記憶装置用波形判定方法 |
| JPS6330580A (ja) * | 1986-07-24 | 1988-02-09 | Yushiro Chem Ind Co Ltd | 床用つや出し剤 |
| JPS63148170A (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-21 | Nec Corp | ロジツクアナライザ |
| JPS63247667A (ja) * | 1987-04-02 | 1988-10-14 | Mitsubishi Electric Corp | ロジツクアナライザ |
-
1988
- 1988-11-11 JP JP28489588A patent/JPH02130478A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5693051A (en) * | 1979-12-27 | 1981-07-28 | Iwatsu Electric Co Ltd | Signal observing apparatus |
| JPS62195520A (ja) * | 1986-02-24 | 1987-08-28 | Hioki Denki Kk | 波形記憶装置用波形判定方法 |
| JPS6330580A (ja) * | 1986-07-24 | 1988-02-09 | Yushiro Chem Ind Co Ltd | 床用つや出し剤 |
| JPS63148170A (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-21 | Nec Corp | ロジツクアナライザ |
| JPS63247667A (ja) * | 1987-04-02 | 1988-10-14 | Mitsubishi Electric Corp | ロジツクアナライザ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002221537A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-08-09 | Tektronix Inc | 試験測定機器及び試験測定方法 |
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