JPS62195520A - 波形記憶装置用波形判定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はデジタルウェーブメモリ、デジタルオシログラ
フ、波形記録計、ＦＦＴ（高速フリエ変換）アナライザ
などの波形記憶装置における波形判定方法に関する。

従来の技術 従来、製造ラインなどでは製品の良否を判別するために
波形の歪率や波高率などを測定する特性試験を行なって
いる。又、測定波形の判定にはサンプリング毎に、設定
した上限ないしは下限データとの比較を行なったり、基
準波形のデータとの差を演算したりする一般的に良く知
られた方法もある。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、そのような波形の判定方法では、通常、
時間軸入力に対してＹ軸方向の波高値等に対して判定基
準を設けるため、矩形波のような急激な変化を有する波
形に対しては時間軸方向の判定が十分に行なえず、これ
を実現しようとすると時間軸方向の高速データサンプリ
ング等が必要となり高価なものとなるなどの欠点を有し
ている。

本発明は、このような従来の問題点に着目してなされた
ものであり、波形記憶装置に入力などするＸ−Ｙ波形を
Ｘ軸、Ｙ輪画方向の判定を同時に可能とすることによっ
て、急激に変化するＸ−Ｙ波形に対しても精度の高い波
形判定方法を提供することを目的とする。

問題点を解決するための手段 上記目的を達成するための手段を、以下本発明の構成を
示す第１図を用いて説明する。この波形記憶装置用波形
判定方法では、自〜Ｐ５のステップを踏む。先ず自で、
Ｘ−Ｙ座標軸に対応して配列した記憶素子を用意する。

このような記憶素子を用いると、Ｘ−Ｙ座標軸を使って
表わされる波形データに対応する位置にある記憶素子を
その記憶場所として選択できる。Ｐ２で、基準波形のデ
ータをそれらの記憶素子に記憶する。Ｐ３で、設定され
た判定基準によりその基準波形のデータを起点として、
少なくともＸ−Ｙ座標軸の任意の一方向に判定基準範囲
のデータを作成し、記憶する。Ｐ４で、被測定波形のデ
ータを入力する。最後のＰ５で、被測定波形のデータを
判定基準範囲のデータと比較し、その適否を判定する。

作用 上記手段は次のように作用する。

Ｘ−Ｙ座標軸に対応して配列された記憶素子を用意する
Ｐｌに関しては、波形記憶装置に備えられているＲＡＭ
をそのような記憶素子としてそのまま用い、又は他のメ
モリを新たに加えるだけでＸ−Ｙ波形などをそのデータ
に対応する位置にあるメモリセルを指定して簡単に書き
込むことができるようになる。そこで、先ずＰ２で、そ
のようなＲＡＭに基準波形のデータを記憶すると、判定
に必要な基準データが確保される。Ｐ３で、設定された
判定基準によりその基準波形のデータを起点として、少
なくともＸ−Ｙ座標軸の任意の一方向に判定基準範囲の
データを作成する。そのため、基準波形のデータを起点
として、Ｘ−Ｙ座標軸のいずれの方向にも判定基準範囲
のデータを作成することが可能となる。結局、判定基準
範囲のデータは基準波形のデータを起点として、その１
方向から全方向（周囲）に亘って適宜作成することがで
きる。その判定基準範囲のデータを記憶した後、Ｐ４で
、被測定波形のデータを入力すると、判定に必要な対比
データが得られたことになる。最終のＰ５で、被測定波
形のデータを判定基準範囲のデータと比較し、判定する
と、被測定波形のデータと判定基準範囲のデータとの一
致を適、不一致を否と判断したり、逆に一致を否、不一
致を適と判断したりすることが可能となる。

実施例 以下、添附図面に基づいて、本発明の実施例を詳細に説
明する。

第２図は、本発明を適用した波形記憶装置の一例の概略
を示すブロック図である。図中、１０（１０ａ、１０ｂ
）はアナログデータをデジタルデータに変換するＡ／Ｄ
コンバータ例えば８ビットＡ／Ｄコンバータである。即
ち、Ｘ−Ｙ波形などのＸ−Ｙ座標軸を使って表わされる
アナログ入力は、そのＸ成分、Ｙ成分をそれぞれ対応す
るＡ／Ｄコンバータ１０でデジタル出力に変換される。

１２はマイクロコンピュータの中心となる周辺装置に対
する制御やデータなどの演算を行なうＣＰＵ（中央処理
装置）である。なお、このＣＰＵＩ２は固有の対応する
ＲＯＭ　（読出し専用メモリ〉、ＲＡＭ　（読出し書込
み可能メモリ）などを備えている。即ち、８ビットＣＰ
Ｕに対しては１ワード８ビット構成のＲＯＭ、ＲＡＭで
おる。１４（１４ａ、１４ｂ）はＸ−Ｙ波形などのデー
タを記憶するＲＡＭであり、マトリックス状に配列した
メモリセル（記憶素、子）アレイを有し、Ｘ−Ｙ座標軸
を使って表わされる波形データに対応する位置にあるメ
モリセルをその記憶場所として選択できるものである。

ここで、先ず、Ｘ−Ｙ波形の判定方法に簡単に触れてお
く。今、Ｘ−Ｙ波形（被測定波形）入力に対する分解能
を、仮にＸ軸、Ｙ軸共にＯ〜９の１０段階とする。する
と、Ｘ−Ｙ座標の全ての考えられる座標点は１００　（
”１ＯＸ１０）点となる。

そこで、この１００点に対応する１０Ｘ１０ビット＝１
００ビットのメモリを用意する。そして、第３図に示す
ようにＸ−Ｙ波形の適（ＯＫ＞と判定する範囲（判定基
準範囲）にある各メモリセル（１ビット）を全て“１゛
′とじ、他を“Ｏｔｐとする。なお、基準波形のデータ
の記憶から設定した判定基準範囲のデータの作成、記憶
に関しては後述する。いま、入力したＸ−Ｙ波形の１デ
ータが、Ｘ＝５、Ｙ＝６だとしたら、第３図に示された
ＲＡＭの（５，６）の座標に対応する１ビットを見る（
１ワード１ビット方式）。その際、その１ビットが“１
″だったら適（ＯＫ）、１（ＯＩＦだったら否（ＮＧ）
と判定する。

本発明の一実施例による波形記憶装置用波形判定方法を
ｉ体内に説明する。そこで前述したＲＡＭ１４には例え
ば１ワード１ビット方式で６４にビットの容聞のものを
用いる。なお、市販されている汎用の１６ビットＣＰＵ
では、アドレス１番地につき８ビットのデータ構成が多
いが、その内の１ビットだけを使って残りの７ビットは
空けておくものとする。結局、２５６Ｘ２５６ビットの
ＲＡＭ１４には、１ワード１ビット方式で６４にビット
のデータが記憶されることになる。第４図に示すように
ＲＡＭ１４ａには１００００番地〜１ＦＦＦＦ番地（１
６進数表示）を指定する。又同様に、ＲＡＭ１４ｂには
２００００番地〜２ＦＦＦＦ番地を指定する。なお、第
５図では、そのようなＲＡＭ１４ａとＸ−Ｙ座標軸との
関係を示している。

このようなＲＡＭ１４を用いてＸ＝Ｙ波形を判定するに
は、先ず判定に必要な基準データを確保しなければなら
ない。そのために、基準となるＸ−Ｙ波形（基準波形）
をＡＩＤコンバータ１０に入力する。その際、基準波形
のＸ軸データ（Ｘ入力）、Ｙ軸データ（Ｙ入力）はそれ
ぞれ対応するｘｌｙの各チャンネルを通りＡ／Ｄコンバ
ータ１０から読み込まれ、ＣＰｔＪ１２に統括されてＲ
ＡＭ１４ａに書き込まれて行く。なお、基準波形には正
常又は模範的な波形を用いる。そのようなＲＡＭ１４ａ
に対する書き込み動作は、１ワード１ビット方式とし、
サンプリング時間毎に、サンプリングデータに対応する
位置にあるメモリセルのレベルを０″から１″にして、
順次口き込みを続け、記憶すべきメモリセルに既にサン
プリングデータが入り１″となっている時にはそのまま
として書き込みを継続する。なお、本出願人は先に出願
した特願昭５７−１７８６３３号（波形記録装置）にお
いて、１ワード１ビット方式を詳述している。

次に、設定した判定基準範囲のデータを基準波形のデー
タに基づいて作成し、記憶する過程を説明する。第６図
は、１８Ｘ１８ビットのメモリに仮託して設定した判定
基準範囲のデータの一例を示す説明図でおり、基準波形
の各データの左右上下方向に１ビット分の判定基準範囲
のデータを加えたものである。図中、黒く塗り潰した各
ビットは基準波形のデータを示す′１″のビット、斜線
を引いた各ビットは演算で加えた判定基準範囲のデータ
を示す“１″のビット、他の各ビットはＯａｔのビット
を示している。実際には演算で加えた判定基準範囲のデ
ータは基準波形のデータ毎に、そのデータを起点として
、少なくともＸ−Ｙ座標軸の任意の一方向に、任意のマ
ージンで作成することができる。そのため、第７図に示
すように基準波形を示す１データ（１ビット）を起点と
して、Ｘ軸方向にはａ（左側マージン）、ｂ（右側マー
ジン）、Ｙ軸方向にはＣ（上側マージン）、ｄ（下側マ
ージン）の各マージンを判定基準として設定し、処理プ
ログラムにより基準波形の各データより判定基準範囲の
各データを演算により作成し、記憶することが可能であ
る。

そこで、第８図、第９図、第１０図及び第１１図に示し
た処理プログラムのフローチャートに基づいて、設定し
た判定基準範囲のデータの作成と書き込み動作とを説明
する。第８図に示された左側マージン用処理プログラム
は、Ｐｌｏ”Ｐ２Ｏのステップにより実行される。先ず
自０で、設定した左側マージンａがＯか判断する。ＹＥ
Ｓの場合には、直ちに次の右側マージン用処理プログラ
ムに入る。ＮＯの場合にはＰｌｌに移る。Ｐｌｌでは、
ＡＰを１００００に指定する。なお、ＡＰはアドレスポ
インタを示す変数名である。ＰＩ３では、指定された番
地の内容（ＡＰ）が１″であるか、判断する。Ｎｏの場
合にはＰＩ３で番地を増して上位番地に変えながら、Ｐ
２Ｏで最上位の１ＦＦＦＦ番地に達するまで、ＰＩ３で
、全番地の内容を繰り返して調べることになる。なお、
番地の内容がｔａ　１　ｐｐでおることは、その番地に
基準波形のデータが書き込まれて記憶されていることを
示している。ＹＥＳの場合Ｐ１３で、ｎ（変数）をａに
する。次にＰＩ３で、ＢＰをＡＰ−（１００ｘｎ）に指
定する。

なお、ＢＰはＡＰと同様な変数名である。自、で、その
ＢＰが１００００未満か、判断する。ＹＥＳの場合には
、ＰＩ３、自８で、ｎを減じてＱになるまで、ＢＰを調
べる。何故ならＢＰが１００００以上でなＣプれば、左
側マージンにおける判定基準範囲データを作成しても、
記憶させることができないからである。したがって、Ｎ
Ｏの場合にはＰ１Ｏで、（ＢＰ）と（ＡＰ）との論理和
を取り、ＢＰの内容として記憶させる。なお、（ＢＰ＞
はＢＰで指定した番地の内容、■は論理和を示す。とこ
ろが、この（ＢＰ＞は自２で、（ＡＰ）が“１″である
と、常に゛１パとなる。このため、ＰＩ３のステップは
省略してもよいが、無駄な処理を繰り返さないために設
けておくものである。なお、ＰＩ３のステップがある場
合には自らのステップはＣＢＰ＞＝１としてもよい。こ
のようにして、Ｐ１５がＮｏの場合には、更にＰ１□、
ＰｌＢで、ｎを減じなからｎがＯになるまで、左側マー
ジンにおける判定基準範囲のデータを繰り返し演算して
作成し、記憶させて行く。このようなデータの作成と記
憶とは、基準波形の各データ毎に、それらの各データを
起点として、ＰＩ３で番地を増して上位番地に変えなが
ら、Ｐ２Ｏで１　ＦＦＦＦ番地に達するまで繰り返され
ることになる。結局、設定された判定基準（左側マージ
ン）により、記憶されている基準となる波形データを起
点として、Ｘ−Ｙ座標軸の左側方向に、それらの基準と
なる波形データの全データを平行移動させると共に、基
準波形のデータを含むその平行移動範囲に含まれる全デ
ータをもって、被測定波形のために設定した判定基準範
囲とするものである。左側マージンにおける判定基準範
囲のデータの作成と記憶とが全て終了すると、Ｐ２Ｏで
、ＹＥＳの場合に当たり、次の処理プログラムに入る。

第９図に示された石側マージン用処理プログラムはＰ２
５〜Ｐ３５のステップにより実行される。この処理プロ
グラムの各ステップは、上述した左側マージン用のもの
といずれも順次対応する。ただ、マージンがｂとなり、
ＡＰによる指定が１　ＦＦＦＦより開始するため、判定
基準範囲のデータの作成と記憶とが、最上位番地（１Ｆ
ＦＦＦ番地）から最下位番地（１００００番地）に向か
い、かつ最左側性から最左側性に向って、各々実行され
ていく点が異なる。他は同様であり、Ｐ３５で、ＹＥＳ
の場合には次の処理プログラムに入る。

第１０図に示された上側マージン用処理プログラムはＰ
２Ｏ”Ｐ５１のステップにより実行される。

先ずＰ２Ｏで、設定した上側マージンＣがＯか、判断す
る。ＹＥＳの場合には、直ちに次の下側マージン用処理
プログラムに入る。Ｎｏの場合にはＰｄ２に移る。Ｐｄ
２では、ＡＰを１　ＦＦＦＦに指定する。Ｐｄ２では指
定された番地の内容（ＡＰ）が“１″であるか、判断す
る。Ｎｏの場合にはＰ２Ｏで、番地を減じて下位番地に
変えながら、Ｐ５１で、最下位の１００００番地に達す
るまで、Ｐｄ２で、全番地の内容を調べることになる。

なお、番地の内容が“１″でおることは、その番地に基
準波形のデータが、既に設定した左右マージンによる判
定基準範囲のデータが書き込まれて記憶されていること
を示しており、ＹＥＳの場合Ｐ４３で、ｎ（変数）をＣ
にする。次にＰｄ２で、ＡＰＬ　（変数）をＡＰとＯＦ
Ｆの論理積に定める。この処理により、ＡＰより下位の
８ビット分がそのまま残り、列を示すことになる。次に
Ｐ４５で、ＡＰＬ＋ｒｌがＯＦＦより大か、判定する。

ＹＥＳの場合には、最上位列を超えることになるため、
Ｐｄ２、Ｐｄ２で、ｎを減じてＯになるまで、ＡＰＬ＋
ｎを調べる。

何故ならＡＰＬ＋ｎが最上位列以下でなければ、上側マ
ージンにおける判定基準範囲のデータを作成しても、記
憶させることができないからである。

したがって、Ｎｏの場合にはＰｄ２で、ＢＰをＡＰ十ｎ
にする。次にＰ４７で、（ＡＰ）と（ＢＰ）の論理和を
とり、ＢＰの内容として記憶させる。このようにして、
Ｐ　がＮｏの場合には、更にＰ４Ｂ、Ｐ２Ｏで、ｎを減
じなからＯになるまで、上側マージンにおける判定基準
範囲のデータを繰り返し演算して作成し、記憶させて行
く。このようなデータの作成と記憶とは、既に記憶され
た基準波形と左右マージンによる判定基準範囲の各デー
タ毎に、それらの各データを起点として、Ｐ２Ｏで番地
を減らして下位番地に変えながら、Ｐ５１で１００００
番地に達するまで繰り返されることになる。結局、設定
された判定基準（上側マージン）により、記憶されてい
る基準となる波形データなどを起点として、Ｘ−Ｙ座標
軸の上側方向に、それらの基準となる波形データなどの
全データを平行移動させると共に、基準波形のデータな
どを含むその平行移動範囲に含まれる全データをもって
、被測定波形のために設定した判定基準範囲とするもの
である。上側マージンにおける判定基準範囲のデータの
作成と記憶とが全て終了すると、Ｐ５１で、ＹＥＳの場
合に当たり、次の処理プログラムに入る。

第１１図に示された下側マージン用処理プログラムはＰ
６１〜Ｐ７２のステップにより実行される。

この処理プログラムの各ステップは、上述した上側マー
ジン用のものといずれも順次対応する。ただ、マージン
がｄとなり、ＡＰにより指定が１００００番地より開始
するため、判定基準範囲のデータの作成と記憶とが、最
下位番地（１００００番地）から最上位番地（’ｌＦＦ
ＦＦ番地）に向かい、かつ最下側列から最上側列に向っ
て、各々実行されていく点が異なる。他は同様であり、
Ｐ７１で、ＹＥＳの場合には設定した判定基準範囲の全
データの作成と記憶とが全て終了する。なお、基準波形
のデータと後に演算によって加えた判定基準範囲のデー
タ間には差はなく、合せて設定した判定基準範囲のデー
タとなる。

次に被測定用のＸ−Ｙ波形をＡ／Ｄコンバータ１０から
入力し、基準波形と同様にＲＡＭ１４ｂに書ぎ込んで記
憶する。なお、上述した基準波形のデータなどを記憶さ
せるＲＡＭ１４ａとＲＡＭ１４ｂとは番地が異なるのみ
で、マトリックス状の構造は同一である。このようにし
て、判定に必要な対比データはそれぞれのＲＡＭ１４に
全て格納されたことになる。

次に、被測定波形の判定をする。第１２図は一括波形判
定用処理プログラムのフローチャートであり、Ｐ　７０
”　Ｐ　７Ｂのステップにより実行される。

先ずＰ７Ｏで、ＡＰを２００００．ＢＰを１００００に
指定する。なお、２００００番地はＲＡＭｌ４ｂの最下
位番地、１００００番地はＲＡＭ１４ａの最下位番地で
あり、両者はＸ−Ｙ座標軸の同一座標を占め、対応して
いる。Ｐ７１で、ＲＡＭ１４ｂの指定された番地の内容
（ＡＰ）が１″か、判断する。ＹＥＳの場合には更にＰ
７２で、ＲＡＭ１４ａの指定された番地の内容（ＢＰ＞
がパ１′′か、判断する。ＹＥＳの場合には、被測定波
形のデータは判定基準範囲に含まれていることになる。

そこで、Ｐ７３にてＡＰ、ＢＰ共に次の対応する上位番
地に変える。ＰＩ３で、ＡＰが２ＦＦＦＦを超えたか、
判断する。ＮＯの場合にはＰ７１に戻り、被測定波形と
判定基準範囲との判断を繰り返すことになる。なお、Ｐ
Ｉ３と同様なりＰに対する判断はＡＰとＢＰとが対応し
ているため必要ない。ＰＩ３で、ＹＥＳの場合は被測定
波形が記憶されているかぎり、その全データが判定基準
範囲に含まれていることになり、Ｐ７６へ行き、適（Ｏ
Ｋ）と判定する。Ｐ７１でＮｏの場合、その番地に被測
定波形のデータが存在しないのでＰ７３へ行く。次のＰ
Ｉ３でＹＥＳと判断されるまで、被測定波形のデータを
順次上位番地で繰り返して捜すことになる。

Ｐ７２でＮｏの場合には、被測定波形のデータが“１゛
′でおっても、対応する判定基準範囲のデータが′Ｏ″
となっている。すると、直ちに被測定波形は判定基準範
囲から離脱していることになり、Ｐ７５で否（ＮＧ）の
判定となる。このようにして、被測定波形のデータが１
ビットでも判定基準範囲から外れていればＮＧと判定さ
れることになる。

以下では、上述した実施例に関する各変形例を順次説明
する。

変形例１ 上記実施例では、１ワード１ビット方式によりＲＡＭ１
４を用いたが、当然１ワード複数ビット方式によりＲＡ
Ｍを用いることもできる。なお、第１３図では、１ワー
ド８ビット方式によるＲＡＭを示している。

変形例２ 上記実施例では、マトリックス状に配列したメモリセル
アレイを有するＲＡＭ１４を用い、Ｘ−Ｙ座標軸を使っ
て表わせる波形データと座標的にまったく対応する位置
にあるメモリセルをその記憶場所として選択したが、高
級プログラミング言語を使った場合には、配列（添字付
変数）を用いて波形データに対応する位置にあるメモリ
セルをその記憶場所として選択できる。

変形例３ 上記実施例では、基準波形や被測定波形を入力して、直
接マトリックス状に配列したメモリセルアレイを有する
ＲＡＭ１４へ書き込んでいたが、通常のデジタルウェー
ブメモリ式に、第１４図に示すように一旦時系列的に他
のＲＡＭ８０　（８０ａ、８０ｂ）に書き込み、それを
ＲＡＭ１４へ書ぎ直すこともできる。結局、最終的にＲ
ＡＭ１４へ記憶させればよいことになる。

変形例４ 上記実施例では、基準波形のデータをＡ／Ｄコンバータ
１０から入力していたが、そのようなＡ／Ｄコンバータ
を介さず外部のコンピュータなどからＣＰＵ１２に直接
供給したり、ＣＰＵ”１２の内部で算術的に計算して出
したり、更に手動で一点一点入力したりすることができ
る。又、判定基準範囲のデータの作成についても同様の
ことが言える。

変形例５ 上記実施例では、被測定波形のデータを全て入力し、Ｒ
ＡＭ１４ｂに記憶させた後に、全体を一括して順次判定
基準範囲のデータと比較していたが、被測定波形の各デ
ータの入力毎に、逐次判定基準範囲のデータとの比較を
繰り返して判定をすることもできる。第１５図は、逐次
波形判定用処理プログラムのフローチャートであり、Ｐ
９０〜Ｐ９８のステップにより実行される。先ずＰ２Ｏ
で、被測定波形のＸ成分はＸチャンネルより入れ、その
Ａ−Ｄ変換値をＣＰＵ内のレジスタのＸ（変数名）に記
憶する。なお、このＸはＯより始まる正数で必る。又、
Ｐ９１で、Ｙ成分をｙチャンネルより入れ、そのＡ−Ｄ
変換値をＣＰＵ内のレジスタのＹ（変数名）に記憶する
。なお、ＹもＸと同様の正数である。次にＰＯ２で、Ｘ
を上位方向へ８ビットシフトする。このシフトによりＸ
を２５６倍することになる。Ｐ９３で、２００００番地
から始まるＲＡＭに対し、Ａ（変数名）を２００００と
ＸとＹとの論理和に指定する。なお、Ａはデータを記憶
するアドレスポインタでおる。Ｐ９４で、その番地に“
１′′を書き込む。結局、上述したＰ９ｏ−ＰＯ２のス
テップは、２００００番地から始まるＲＡＭに対し、デ
ータに対応する番地をＰ９３のステップで算出するため
の準備ステップとなる。そのためにＰＯ２で、Ｘを上位
方向へ８ビットシフトするのは、Ｘを２５６倍すること
になり、そのＸはＹを含む行の直前までの行数を示して
いるので、それらの行数に含まれる番地数を算出するこ
ととなるのである。次に、既にＡと対応位置に記憶され
ている判定基準範囲のデータとの比較を行なうために、
ＰＯ２で、１００００番地から始まるＲＡＭのＢ（変数
名）を１００００とＸとＹとの論理和に指定する。Ｂは
Ａと同様なアドレスポインタである。Ｐ９６で、その番
地の内容（Ｂ）が１″か、判断する。ＹＥＳの場合には
Ｐ９７で、波形の判定がＧｏ（適）となり、次のデータ
判定へと移り、被測定波形の全データの判定を逐次同様
に繰り返すことになる。Ｎｏの場合にはＰ９８でＮＧと
判定され、次のデータ判定へと移る。なお、被測定波形
を記憶させる必要はなく、判定だけでよいならＰ９３、
Ｐ９４の各ステップと第２図のＲＡＭ１４ｂは必要ない
。

変形例６ 上記実施例では、被測定波形のデータが、判定基準範囲
のデータから外れた場合にＮＧとしたが、逆に判定基準
範囲に掛った場合にＮＧとすることもできる。

変形例７ 上記実施例では、Ｘ−Ｙ座標軸を使ってデータを表わし
たが、そのＸ軸（又はＹ軸）は時間（Ｔ＞軸とすること
もできる。その際には、第１６図に示すようにＸチャン
ネルのＡ−Ｄ変換値の代わりにタイマ１００を用いて時
間軸のデータを使うが、他は同様である。

変形例８ 上記実施例では、基準波形や被測定波形としてＸ−Ｙ波
形を用いたが、単なるＸ−Ｙ波形や時間軸波形ではなく
、ＦＦＴ（高速フリエ変換）などの演算結果の波形を用
いることもできる。なお、ＦＦＴでは波形を振幅と時間
から演算して、振幅（Ｙ軸）と周波数（Ｘ軸）とのデー
タに直すものでおる。

変形例９ 上記実施例では、被測定波形のデータが１点でも判定基
準範囲のデータから外れていると、ＮＧとしているが、
当然これを３点以上とか１０点以上とか、複数点外れた
場合に、ＮＧと判定することもできる。

発明の詳細 な説明した本発明によれば、波形記憶装置に入力などし
たＸ−Ｙ波形に対し、Ｘ軸、Ｙ軸筒方向の判定が同時に
可能であるため、Ｘ軸を時間軸データとすれば矩形波等
の急激な変化を有する波形の時間軸方向に対しても判定
を加えることが簡単にでき、精度の高い波形の判定が行
なえる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の構成を示すフローチャートである。 第２図は、本発明を適用した波形記憶装置の一例の概略
を示すブロック図である。 第３図は、本発明による判定基準範囲のデータを１０Ｘ
１０ビットのメモリに仮託して示す図である。 第４図は、本発明の一実施例による波形記憶装置用波形
判定方法に用いる１ワード１ビット方式によるＲＡＭを
示す図である。 第５図は、第４図に示したＲＡＭとＸ−Ｙ座標軸との関
係を示す図である。 第６図は、本発明による設定した判定基準範囲のデータ
を１８Ｘ１８ビットのメモリに仮託して示す図である。 第７図は、本発明の一実施例による波形記憶装置用波形
判定方法による各マージンの設定を示す図である。 第８図、第９図、第１０図及び第１１図は、第７図に示
した各マージンに対応する設定した判定基準範囲のデー
タ処理プログラムを示すフローチャートである。 第１２図は、本発明の一実施例による波形記憶装置用波
形判定方法による一括波形判定用処理プログラムのフロ
ーチャートである。 第１３図は、第４図に示したＲＡＭの変形例に当たる１
ワード８ビット方式によるＲＡＭを示す図である。 第１４図は、第２図に示した波形記憶装置の変形例に当
たる時系列的に書き込み可能な他のＲＡＭを備えた図で
ある。 第１５図は、第１２図に示したフローチャートの変形例
に当たる遂次波形判定用処理プログラムのフローチャー
トである。 第１６図は、第２図に示した波形記憶装置の変形例に当
たるＸチャンネルのＡ／Ｄコンバータに変えて、タイマ
を備えた図である。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）Ｘ−Ｙ座標軸に対応して配列された記憶素子に、
   先ず基準とする波形データをＸ−Ｙ座標にて記憶させ、
   次に設定された判定基準により上記波形データを起点と
   してＸ−Ｙ座標上に判定基準範囲を作成記憶させた後、
   被測定波形データを入力し、上記判定基準範囲とのデー
   タ比較により上記被測定波形を判定することを特徴とす
   る波形記憶装置用波形判定方法。
2. （２）設定された判定基準により記憶されている基準と
   なる波形データを起点として、Ｘ−Ｙ座標軸の少なくと
   も一方向に上記基準となる波形データの全データを平行
   移動させると共に、上記基準となる波形データを含みそ
   の平行移動範囲に含まれる全データをもつて被測定波形
   の判定基準範囲を作成することを特徴とする特許請求の
   範囲第１項記載の波形判定方法。
3. （３）ＲＡＭを、波形データに対応する位置にあるメモ
   リセル１ビットをその記憶場所として選択する１ワード
   １ビット方式として用いることを特徴とする特許請求の
   範囲第１項記載の波形判定方法。