JPS6316695B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、軸目盛線の単位ブロツクを継続して
軸目盛線を記録し、軸目盛線を判定することによ
り記録装置のリニアリテイ、スパン等を検査す
る、記録装置の確度試験方法の改良に関するもの
である。

従来より、この種の試験方法はXYプロツタ、
XYアナログ記録装置等の試験に採用されている
が、この場合の軸目盛線は第１図のイに示すよう
なＴ字状の試験パターンを単位ブロツクとして第
１図のロに示すようにこれを連続的に記録したも
のである。Ｔ字状の試験パターンは図示のように
５単位の線分より構成されたものである。すなわ
ち、初めて線分１及び２で上側目盛を記録し、次
に線分３及び４で下側目盛を記録し、最後に線分
５で軸線を記録する。第１図は横軸に対する試験
パターンについて図示してあるが、縦軸に対して
はこれを90゜回転したパターンで同様の記録方法
によつて軸目盛線を描くことができる。

しかしながら、このような試験パターン記録で
は上側と下側の目盛を同時に書いてしまうため、
リニアリテイとスパンのチエツクはできるけれど
もヒステリシスの検査はできなかつた。

本発明の目的は、１つの軸目盛線を記録させる
のみでその記録線より、リニアリテイ、スパン及
びヒステリシスを共に検査することのできる、記
録装置の確度試験方法を提供することにある。

以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。第
２図は本発明の方法を実施するための装置構成図
である。第２図において、１０は軸目盛線信号を
発生する軸パターン発生器、２０は被試験のXY
プロツタである。XYプロツタ２０は入力信号に
応じて移動する記録ヘツド２１により作図できる
ものである。軸パターン発生器１０は、XYプロ
ツタ２０上に第３図のイに示すようなＬ字状の記
録パターンが得られるような基本ブロツク信号を
発生するものであり、通常軸パターン発生用のプ
ログラムを格納したメモリおよびそのプログラム
を実行するためのマイクロコンピユータを用いて
このような基本ブロツク信号の発生を行つてい
る。

Ｌ字状の基本ブロツク信号は図示のように３単
位の線分２１，２２，２３より構成される描画パ
ターンで、このような基本パターンはメモリ内に
テーブルとして予め用意されている。そしてマイ
クロコンピユータでは線分２１，２２，２３に対
応するデータを順次発生する。更に詳しく述べれ
ば次の通りである。

まず線分２１について、 XYプロツタの記録ヘツドを右方向（＋Ｘ軸
方向）へ距離×１だけ移動させるに必要な信号
として＋Ｖ×１を出力する（線分２１の記録）。

次に線分２２について 前記線分２１の記録終端（右端）を新たな起
点とし、記録ヘツドを上方向（＋Ｙ軸方向）へ
距離y1だけ移動させるに必要な信号として＋
Vy1を出力する（線分２２の記録）。

次に線分２３について、 線分２２の記憶終端（上端）を新たな起点と
し、記録ヘツドを下方向（−Ｙ軸方向）へ距離
y1だけ移動させるに必要な信号として−Vy1を
出力する（線分２３の記録）。

このようにして３単位の線分２１，２２，２３
からなる軸パターン信号を発生する。更にメモリ
には記録原点より前記軸パターンを何回記録させ
ればフルスパンとなるかが予め記憶されていて、
マイクロコンピユータにより軸パターン発生回数
が管理されるようになつている。

また、メモリには第３図イに示すような基本ブ
ロツク（軸パターン）を90゜、180゜、−90゜回転した
形の軸パターンが用意されている。これらのパタ
ーンは−Ｘ軸方向、＋Ｙ軸方向および−Ｙ軸方向
へ軸パターンを記録させる場合に用いられるパタ
ーンである。

このような構成において、Ｘ軸方向の軸目盛線
を記録させる場合を例にとつて（Ｙ軸方向につい
ても同様な動作により軸目盛線を記録させること
ができる。）説明する。マイクロコンピユータの
管理により、まず往路においては第３図イに示す
基本ブロツク信号を規定の回数（記録幅がフルス
パンになるまで）だけ繰り返し発生させ、次に復
路においては第３図イの基本ブロツクを180゜回転
した形の基本ブロツクについて前記と同様に規定
の回数だけ繰り返し発生させる。

このような往復記録により例えば第３図ロに示
すような記録が得られ、この試験パターン記録波
形により、目盛線の間隔によつてリニアリテイ
を、全長によつてスパンをそれぞれ判定すること
ができ、更に往復路の目盛線のずれｄによりヒス
テリシスを読み取ることができる。

なお、実施例では被試験の記録装置としてXY
プロツタを例示したが、他の記録装置例えばアナ
ログXYレコーダも対象とすることができる。こ
の場合、軸パターン発生器１０の出力はアナログ
出力とする。また、第３図ロに示す確度試験パタ
ーンは往復路において必ずしも線分２１が重なる
ことを必然とするものではなく、往路と復路で線
分位置をずらせて並列的に試験パターンを記録さ
せてもよい。

以上説明したように本発明の方法によれば、往
路と復路においてＬ字状の基本ブロツクの軸目盛
線を逆向きに記録させるので、１つの試験パター
ンで、リニアリテイ、スパン及びヒステリシスを
判定することができ、実用に供してその効果は大
きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の試験パターンの説明図、第２図
は本発明の方法を実施するための装置の構成図、
第３図は本発明に係る試験パターンの説明図であ
る。 １０……軸パターン発生器、２０……XYプロ
ツタ、２１……記録ヘツド。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 軸目盛線の単位ブロツクを繰り返し記録して
   軸目盛線を描き、この軸目盛線に基づいてXYプ
   ロツタの記録確度を判定する記録装置の確度試験
   方法において、 XYプロツタの往路記録においてはＬ字状の基
   本ブロツク信号を所定回数だけ連続的に供給して
   XYプロツタ上にＬ字状軸目盛線の連続した軸目
   盛線を記録させ、 次に復路記録においては前記Ｌ字状の基本ブロ
   ツクを180゜回転した形のＬ字状の基本ブロツクの
   信号を所定回数だけ連続的に供給してXYプロツ
   タ上にＬ字状軸目盛線の連続した軸目盛線を記録
   させ、 記録された往路と復路とで記録されたＬ字状軸
   目盛線の判定に基づきXYプロツタのリニアリテ
   イ、スパンおよびヒステリシスを求めることがで
   きるようにした記録装置の確度試験方法。