JPS6316695B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6316695B2 JPS6316695B2 JP1647881A JP1647881A JPS6316695B2 JP S6316695 B2 JPS6316695 B2 JP S6316695B2 JP 1647881 A JP1647881 A JP 1647881A JP 1647881 A JP1647881 A JP 1647881A JP S6316695 B2 JPS6316695 B2 JP S6316695B2
- Authority
- JP
- Japan
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- recording
- axis
- recorded
- plotter
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- Expired
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、軸目盛線の単位ブロツクを継続して
軸目盛線を記録し、軸目盛線を判定することによ
り記録装置のリニアリテイ、スパン等を検査す
る、記録装置の確度試験方法の改良に関するもの
である。
軸目盛線を記録し、軸目盛線を判定することによ
り記録装置のリニアリテイ、スパン等を検査す
る、記録装置の確度試験方法の改良に関するもの
である。
従来より、この種の試験方法はXYプロツタ、
XYアナログ記録装置等の試験に採用されている
が、この場合の軸目盛線は第1図のイに示すよう
なT字状の試験パターンを単位ブロツクとして第
1図のロに示すようにこれを連続的に記録したも
のである。T字状の試験パターンは図示のように
5単位の線分より構成されたものである。すなわ
ち、初めて線分1及び2で上側目盛を記録し、次
に線分3及び4で下側目盛を記録し、最後に線分
5で軸線を記録する。第1図は横軸に対する試験
パターンについて図示してあるが、縦軸に対して
はこれを90゜回転したパターンで同様の記録方法
によつて軸目盛線を描くことができる。
XYアナログ記録装置等の試験に採用されている
が、この場合の軸目盛線は第1図のイに示すよう
なT字状の試験パターンを単位ブロツクとして第
1図のロに示すようにこれを連続的に記録したも
のである。T字状の試験パターンは図示のように
5単位の線分より構成されたものである。すなわ
ち、初めて線分1及び2で上側目盛を記録し、次
に線分3及び4で下側目盛を記録し、最後に線分
5で軸線を記録する。第1図は横軸に対する試験
パターンについて図示してあるが、縦軸に対して
はこれを90゜回転したパターンで同様の記録方法
によつて軸目盛線を描くことができる。
しかしながら、このような試験パターン記録で
は上側と下側の目盛を同時に書いてしまうため、
リニアリテイとスパンのチエツクはできるけれど
もヒステリシスの検査はできなかつた。
は上側と下側の目盛を同時に書いてしまうため、
リニアリテイとスパンのチエツクはできるけれど
もヒステリシスの検査はできなかつた。
本発明の目的は、1つの軸目盛線を記録させる
のみでその記録線より、リニアリテイ、スパン及
びヒステリシスを共に検査することのできる、記
録装置の確度試験方法を提供することにある。
のみでその記録線より、リニアリテイ、スパン及
びヒステリシスを共に検査することのできる、記
録装置の確度試験方法を提供することにある。
以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。第
2図は本発明の方法を実施するための装置構成図
である。第2図において、10は軸目盛線信号を
発生する軸パターン発生器、20は被試験のXY
プロツタである。XYプロツタ20は入力信号に
応じて移動する記録ヘツド21により作図できる
ものである。軸パターン発生器10は、XYプロ
ツタ20上に第3図のイに示すようなL字状の記
録パターンが得られるような基本ブロツク信号を
発生するものであり、通常軸パターン発生用のプ
ログラムを格納したメモリおよびそのプログラム
を実行するためのマイクロコンピユータを用いて
このような基本ブロツク信号の発生を行つてい
る。
2図は本発明の方法を実施するための装置構成図
である。第2図において、10は軸目盛線信号を
発生する軸パターン発生器、20は被試験のXY
プロツタである。XYプロツタ20は入力信号に
応じて移動する記録ヘツド21により作図できる
ものである。軸パターン発生器10は、XYプロ
ツタ20上に第3図のイに示すようなL字状の記
録パターンが得られるような基本ブロツク信号を
発生するものであり、通常軸パターン発生用のプ
ログラムを格納したメモリおよびそのプログラム
を実行するためのマイクロコンピユータを用いて
このような基本ブロツク信号の発生を行つてい
る。
L字状の基本ブロツク信号は図示のように3単
位の線分21,22,23より構成される描画パ
ターンで、このような基本パターンはメモリ内に
テーブルとして予め用意されている。そしてマイ
クロコンピユータでは線分21,22,23に対
応するデータを順次発生する。更に詳しく述べれ
ば次の通りである。
位の線分21,22,23より構成される描画パ
ターンで、このような基本パターンはメモリ内に
テーブルとして予め用意されている。そしてマイ
クロコンピユータでは線分21,22,23に対
応するデータを順次発生する。更に詳しく述べれ
ば次の通りである。
まず線分21について、
XYプロツタの記録ヘツドを右方向(+X軸
方向)へ距離×1だけ移動させるに必要な信号
として+V×1を出力する(線分21の記録)。
方向)へ距離×1だけ移動させるに必要な信号
として+V×1を出力する(線分21の記録)。
次に線分22について
前記線分21の記録終端(右端)を新たな起
点とし、記録ヘツドを上方向(+Y軸方向)へ
距離y1だけ移動させるに必要な信号として+
Vy1を出力する(線分22の記録)。
点とし、記録ヘツドを上方向(+Y軸方向)へ
距離y1だけ移動させるに必要な信号として+
Vy1を出力する(線分22の記録)。
次に線分23について、
線分22の記憶終端(上端)を新たな起点と
し、記録ヘツドを下方向(−Y軸方向)へ距離
y1だけ移動させるに必要な信号として−Vy1を
出力する(線分23の記録)。
し、記録ヘツドを下方向(−Y軸方向)へ距離
y1だけ移動させるに必要な信号として−Vy1を
出力する(線分23の記録)。
このようにして3単位の線分21,22,23
からなる軸パターン信号を発生する。更にメモリ
には記録原点より前記軸パターンを何回記録させ
ればフルスパンとなるかが予め記憶されていて、
マイクロコンピユータにより軸パターン発生回数
が管理されるようになつている。
からなる軸パターン信号を発生する。更にメモリ
には記録原点より前記軸パターンを何回記録させ
ればフルスパンとなるかが予め記憶されていて、
マイクロコンピユータにより軸パターン発生回数
が管理されるようになつている。
また、メモリには第3図イに示すような基本ブ
ロツク(軸パターン)を90゜、180゜、−90゜回転した
形の軸パターンが用意されている。これらのパタ
ーンは−X軸方向、+Y軸方向および−Y軸方向
へ軸パターンを記録させる場合に用いられるパタ
ーンである。
ロツク(軸パターン)を90゜、180゜、−90゜回転した
形の軸パターンが用意されている。これらのパタ
ーンは−X軸方向、+Y軸方向および−Y軸方向
へ軸パターンを記録させる場合に用いられるパタ
ーンである。
このような構成において、X軸方向の軸目盛線
を記録させる場合を例にとつて(Y軸方向につい
ても同様な動作により軸目盛線を記録させること
ができる。)説明する。マイクロコンピユータの
管理により、まず往路においては第3図イに示す
基本ブロツク信号を規定の回数(記録幅がフルス
パンになるまで)だけ繰り返し発生させ、次に復
路においては第3図イの基本ブロツクを180゜回転
した形の基本ブロツクについて前記と同様に規定
の回数だけ繰り返し発生させる。
を記録させる場合を例にとつて(Y軸方向につい
ても同様な動作により軸目盛線を記録させること
ができる。)説明する。マイクロコンピユータの
管理により、まず往路においては第3図イに示す
基本ブロツク信号を規定の回数(記録幅がフルス
パンになるまで)だけ繰り返し発生させ、次に復
路においては第3図イの基本ブロツクを180゜回転
した形の基本ブロツクについて前記と同様に規定
の回数だけ繰り返し発生させる。
このような往復記録により例えば第3図ロに示
すような記録が得られ、この試験パターン記録波
形により、目盛線の間隔によつてリニアリテイ
を、全長によつてスパンをそれぞれ判定すること
ができ、更に往復路の目盛線のずれdによりヒス
テリシスを読み取ることができる。
すような記録が得られ、この試験パターン記録波
形により、目盛線の間隔によつてリニアリテイ
を、全長によつてスパンをそれぞれ判定すること
ができ、更に往復路の目盛線のずれdによりヒス
テリシスを読み取ることができる。
なお、実施例では被試験の記録装置としてXY
プロツタを例示したが、他の記録装置例えばアナ
ログXYレコーダも対象とすることができる。こ
の場合、軸パターン発生器10の出力はアナログ
出力とする。また、第3図ロに示す確度試験パタ
ーンは往復路において必ずしも線分21が重なる
ことを必然とするものではなく、往路と復路で線
分位置をずらせて並列的に試験パターンを記録さ
せてもよい。
プロツタを例示したが、他の記録装置例えばアナ
ログXYレコーダも対象とすることができる。こ
の場合、軸パターン発生器10の出力はアナログ
出力とする。また、第3図ロに示す確度試験パタ
ーンは往復路において必ずしも線分21が重なる
ことを必然とするものではなく、往路と復路で線
分位置をずらせて並列的に試験パターンを記録さ
せてもよい。
以上説明したように本発明の方法によれば、往
路と復路においてL字状の基本ブロツクの軸目盛
線を逆向きに記録させるので、1つの試験パター
ンで、リニアリテイ、スパン及びヒステリシスを
判定することができ、実用に供してその効果は大
きい。
路と復路においてL字状の基本ブロツクの軸目盛
線を逆向きに記録させるので、1つの試験パター
ンで、リニアリテイ、スパン及びヒステリシスを
判定することができ、実用に供してその効果は大
きい。
第1図は従来の試験パターンの説明図、第2図
は本発明の方法を実施するための装置の構成図、
第3図は本発明に係る試験パターンの説明図であ
る。 10……軸パターン発生器、20……XYプロ
ツタ、21……記録ヘツド。
は本発明の方法を実施するための装置の構成図、
第3図は本発明に係る試験パターンの説明図であ
る。 10……軸パターン発生器、20……XYプロ
ツタ、21……記録ヘツド。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 軸目盛線の単位ブロツクを繰り返し記録して
軸目盛線を描き、この軸目盛線に基づいてXYプ
ロツタの記録確度を判定する記録装置の確度試験
方法において、 XYプロツタの往路記録においてはL字状の基
本ブロツク信号を所定回数だけ連続的に供給して
XYプロツタ上にL字状軸目盛線の連続した軸目
盛線を記録させ、 次に復路記録においては前記L字状の基本ブロ
ツクを180゜回転した形のL字状の基本ブロツクの
信号を所定回数だけ連続的に供給してXYプロツ
タ上にL字状軸目盛線の連続した軸目盛線を記録
させ、 記録された往路と復路とで記録されたL字状軸
目盛線の判定に基づきXYプロツタのリニアリテ
イ、スパンおよびヒステリシスを求めることがで
きるようにした記録装置の確度試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1647881A JPS57131016A (en) | 1981-02-06 | 1981-02-06 | Testing method for precision of recorder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1647881A JPS57131016A (en) | 1981-02-06 | 1981-02-06 | Testing method for precision of recorder |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57131016A JPS57131016A (en) | 1982-08-13 |
JPS6316695B2 true JPS6316695B2 (ja) | 1988-04-11 |
Family
ID=11917383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1647881A Granted JPS57131016A (en) | 1981-02-06 | 1981-02-06 | Testing method for precision of recorder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS57131016A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3790734B2 (ja) | 2002-10-04 | 2006-06-28 | 松下電器産業株式会社 | 高周波装置、高周波増幅方法 |
JP5163577B2 (ja) | 2009-03-27 | 2013-03-13 | 富士通株式会社 | 増幅回路及び送受信機 |
-
1981
- 1981-02-06 JP JP1647881A patent/JPS57131016A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57131016A (en) | 1982-08-13 |
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