JP4410919B2 - 電力ラインの電圧測定器 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は電力ラインの電圧測定器に関し、さらに詳しく言えば、1台の測定器で電力ラインの電圧波形とそれに含まれる突発的なインパルス波形とを同時に測定する測定技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
商用電力ラインの計測においては、まず、実効値などのパラメータを演算するうえで電圧測定が行なわれるが、同一電力ラインに例えば冷凍システムの圧縮機を駆動するモータなどの重い負荷が接続されている場合には、その負荷のオンオフによって髭状のインパルス波形が生ずるため、電源の品質を解析するうえで、そのインパルス波形を捕らえることも測定上重要なことである。
【0003】
測定された電圧は、まず、入力部のA/D変換回路によってディジタルに変換されるが、電圧波形の場合、そのサンプリング数は通常では1波あたり256もしくは512であるため、低速のA/D変換回路が用いられる。
【0004】
これに対して、インパルス波形は、その出現が不規則でしかもきわめて短時間であるため、通常の電圧測定の場合よりも、100〜200倍程度(例えば2MHz程度)の高速サンプリングが必要となる。このため、従来では低速用の測定器と高速用の測定器を2台用意して、電圧測定とインパルス測定を行なうようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、測定現場に2台の測定器を持ち込まなければならないという煩わしさがあった。また、2台の測定器を別々に動かしたのでは、電圧波形のどの部分でインパルス波形が乗っているのか判断することができないため、2台の測定器間で同期をとる必要があった。この同期調整には細心の注意を要し、手間のかかるものであった。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、1台の測定器で電力ラインの電圧波形とそれに含まれる突発的なインパルス波形とを同時に測定することができ、また、両波形の位置関係も正確に知ることができる。
【0007】
すなわち、本発明は、電力ラインの電圧波形と、同電圧波形に含まれる突発的なインパルス波形とを同時に測定する電力ラインの電圧測定器であって、上記電圧波形を低速のサンプリングクロックでA/D変換する低速A/D変換回路と、上記電圧波形を高速のサンプリングクロックでA/D変換する高速A/D変換回路と、上記各A/D変換回路の波形データを対比してインパルス波形を検出する制御部と、上記低速A/D変換回路の低速変換データが格納される第1メモリおよび上記高速A/D変換回路の高速変換データが格納される第2メモリとを含み、上記制御部は、少なくとも上記低速サンプリングクロックの単位時間間隔ごとに上記低速変換データと上記高速変換データとの差を絶対値として求め、その差があらかじめ設定されたトリガレベルを超えたときには、上記第2メモリにトリガをかけて、その時点から所定時間経過後に上記高速変換データの書き込みを停止させることを特徴としている。
【0009】
この場合、上記制御部は、上記低速サンプリングクロックの単位時間内は、そのときにサンプリングされた低速変換データを次の低速変換データが到来するまで維持し、その低速変換データと高速変換データとの差(絶対値)を上記高速サンプリングクロックごとにさらに求めるようにすることが好ましい。
【0010】
なお、インパルス波形の測定には高速のA/D変換回路を用いるため、そのデータ量が大量となることと、インパルス波形は頻繁に現れるものでなく、しかも出現が短期間であることから、上記高速変換データの上記第2メモリへの書き込みは、所定のメモリ領域を上書きしながら繰り返して使用するリングカウンタで行なうようにするとよい。
【0011】
【発明の実施の形態】
まず、図1を参照して、本発明の参考実施形態について説明する。この電力ラインの電圧測定器は、その基本的な構成として、低速A/D変換回路11および高速A/D変換回路12と、波形整形回路13と、制御部(コントローラ)14と、メモリ15とを備えている。
【0012】
低速A/D変換回路11は、その前段にノイズ除去用のローパスフィルタ111を含み、図示しない商用電源ラインから測定されたアナログの電圧波形を、その1波あたりのサンプリング数を256もしくは512としてディジタル変換する。この低速変換データは制御部14を介してメモリ15内の第1メモリ領域151に書き込まれる。
【0013】
高速A/D変換回路12は、低速A/D変換回路11と並行して、例えば2MHz程度の高速サンプリングクロックで上記電圧波形をディジタル変換する。この高速変換データも制御部14を介してメモリ15内の第2メモリ領域152に書き込まれるが、そのデータ書き込みはリングカウンタ153(図2参照)によって行なわれる。
【0014】
すなわち、高速変換データはデータ量が大量であり、また、インパルス波形は頻繁に現れるものでなく、しかも出現が短期間であることから、限られたメモリ領域を有効に使用するため、メモリが一杯になったら先頭アドレスに戻り、順次データを上書きして行きこれを繰り返す。トリガが発生したら、その時点から所定のアドレスまで書き込んだ後、書き込みを停止する。これにより、トリガ前後のインパルス波形が取り込まれる。
【0015】
波形整形回路13はローパスフィルタからなり、電圧波形の基本波についてクロックを生成する。この基本波クロックはゼロクロス検出用(同期制御用)として制御部14に与えられる。
【0016】
図2に示されているように、制御部14にはインパルス波形検出用の比較基準データ141が設定されているとともに、比較回路142が設けられている。比較基準データ141は、ともに同位相の上限正弦波および下限正弦波よりなる所定管理幅を有する1波形分データである。
【0017】
比較回路142は、高速A/D変換回路12より取り込まれる変換データと比較基準データ141の管理幅とを比較するが、その際、波形整形回路13より得られる上記基本波クロックを参照して、上記比較基準データと上記高速変換データとのゼロクロス点の位置合わせを行なう。このゼロクロス位置合わせは、基本波クロックの例えば1周期ごとに行なわれる。
【0018】
そして、高速サンプリングクロックの各サンプリング時点で両データの比較を行ない、高速変換データが比較基準データ141の管理幅から外れた際には、リングカウンタ153により、その時点から所定期間分の高速変換データを第2メモリ領域152に書き込む。これにより、1台の電圧測定器で、通常波形とインパルス波形を同時に測定でき、また、両波形の位置関係も正確に知ることができる。
【0019】
次に、図3および図4により、本発明の実施形態について説明する。この実施形態では、波形整形回路13は不要であり、上記参考実施形態と異なる方法によってインパルス波形を検出する。なお、この実施形態でも、低速および高速の各A/D変換回路11,12、制御部14およびリングカウンタ153を有するメモリ15は使用する。
【0020】
すなわち、この実施形態においては、図3に模式的に示されているように、高速A/D変換回路12により得られる高速波形W1と、低速A/D変換回路12により得られる低速波形W2の差を求め、その差の波形W3があらかじめ設定されているトリガレベルを超えた場合にインパルス波形ありとする。
【0021】
図4を参照して、実際に行なわれる高速波形W1と低速波形W2の差の求め方を説明する。高速変換データH(H1,H2,H3,…)の方が、低速変換データL(L1,L2,L3…)よりもデータ数が多いため、単純には差演算を行なうことができない。
【0022】
そこで、低速変換データLについては、例えば第1回目のサンプリングによる低速変換データがL1で、第2回目のサンプリングによる低速変換データがL2であるとすると、第2回目のサンプリングが行なわれるまでは、第1回目の低速変換データL1をそのまま維持して、高速変換データHとの差演算に利用する。
【0023】
例えば、低速A/D変換回路11のサンプリング期間内に、高速A/D変換回路12では5回のサンプリングが実行されたとすると、制御部14は、高速変換データが得られるごとに次の絶対値演算を行なって演算データCを得る。
【0024】
C1=|H1−L1|
C2=|H2−L1|
:
C5=|H5−L1|
C6=|H6−L2|
:
【0025】
そして、演算データC1,C2,…の内、一つでも所定のトリガレベルを超えた場合には、リングカウンタ153により、その時点から所定期間分の高速変換データを第2メモリ領域152に書き込む。これにより、上記第1実施形態と同じく、1台の電圧測定器で、通常波形とインパルス波形を同時に測定でき、また、両波形の位置関係も正確に知ることができる。
【0026】
なお、上記の演算例でC2〜C5はいわば仮想値であるが、インパルス波形は急峻に現れるため、低速変換データをL1に固定しても、インパルス波形の検出に支障は生じない。また、上記の演算例では、高速サンプリングごとに演算を行なっているが、低速サンプリングごと、すなわち低速変換データが得られるごとに高速変換データとの差演算を行なうようにしてもよい。
【0027】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、低速A/D変換回路から得られる低速変換データと、高速A/D変換回路から得られる高速変換データとの差によりインパルス波形を検出するようにしたことにより、1台の測定器で電力ラインの電圧波形とそれに含まれる突発的なインパルス波形とを同時に測定することができ、また、両波形の位置関係も正確に知ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の参考実施形態に係る電圧測定器の回路構成図。
【図2】上記参考実施形態における制御部の構成および動作説明用の模式図。
【図3】本発明によるインパルス波形の求め方を示した説明図。
【図4】上記インパルス波形の求め方の実際の演算手法を説明するための模式的な波形データ図。
Claims (3)
- 電力ラインの電圧波形と、同電圧波形に含まれる突発的なインパルス波形とを同時に測定する電力ラインの電圧測定器であって、
上記電圧波形を低速のサンプリングクロックでA/D変換する低速A/D変換回路と、上記電圧波形を高速のサンプリングクロックでA/D変換する高速A/D変換回路と、上記各A/D変換回路の波形データを対比してインパルス波形を検出する制御部と、上記低速A/D変換回路の低速変換データが格納される第1メモリおよび上記高速A/D変換回路の高速変換データが格納される第2メモリとを含み、
上記制御部は、少なくとも上記低速サンプリングクロックの単位時間間隔ごとに上記低速変換データと上記高速変換データとの差を絶対値として求め、その差があらかじめ設定されたトリガレベルを超えたときには、上記第2メモリにトリガをかけて、その時点から所定時間経過後に上記高速変換データの書き込みを停止させることを特徴とする電力ラインの電圧測定器。 - 上記制御部は、上記低速サンプリングクロックの単位時間内は、そのときにサンプリングされた低速変換データを次の低速変換データが到来するまで維持し、その低速変換データと高速変換データとの差(絶対値)を上記高速サンプリングクロックごとにさらに求めることを特徴とする請求項1に記載の電力ラインの電圧測定器。
- 上記高速変換データの上記第2メモリへの書き込みにリングカウンタが用いられることを特徴とする請求項1または2に記載の電力ラインの電圧測定器。
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