JPS61201173A - 磁気デイスク特性測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、論理信号「１」及びｒＯＪを交互に記憶する
書込み処理が行なわれた磁気ディスクに所定アナログ・
レベル以上の論理信号が記憶されているかによって、磁
気ディスクの特性を測定する磁気ディスク特性測定装置
に関する。

〔従来の技術〕

ナログ・レベル以上で論理信号が記憶されているかを調
べる測定項目がある。この測定を行なうには、まず被測
定磁気ディスクに論理信号「１」及び「０」を交互に書
込み、次にこの磁気ディスクの記憶内容を順次読出す。

磁気ディスクが正常ならば、はぼ正弦波の所定振幅の読
出し信号が得られる。しかし、磁気ディスクに欠陥があ
ると、その欠陥部分に対応する読出し信号の振幅が所定
値以下になってしまう。この欠陥部分の位置を知る必要
がある。

この測定を行なう従来技術では、デジタル・オシロスコ
ープ、波形記憶装置等の測定器（入力信号をデジタル化
するＡ／Ｄ変換器、このＡ／Ｄ変換器のデジタル出力信
号を記憶するメモリ、メモリの記憶内容をアナログ化す
るＤ／Ａ変換器、Ｄ／Ａ変換器のアナログ出力信号を表
示する表示器を備えている）により被測定磁気ディスク
の読出し信号を表示器に表示して測定した。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述の従来技術においては、デジタル・オシロスコープ
等の高価な測定器が必要であるという欠点があった。ま
た、磁気ディスクの欠陥位置を調べるには、測定者が表
示器の表示波形の振幅の所定値以下の部分を探し、その
部分を時間軸から換算しなければならず面倒であった。

更に、磁気ディスク駆動装置の特性及び被測定磁気ディ
スクの特性により、この磁気ディスクの読出し信号の周
期が一定でない場合がある。この場合に正確に欠陥位置
を求めるには、読出し信号の周期の数を計数しなければ
ならず、上述の従来技術では測定が一層面倒であった。

このような場合、磁気ディスクの読出し信号をパルス化
してカウンタで計数することも考えられるが、欠陥位置
では読出し信号の振幅が小さ過ぎるか、まったくないの
で、パルス信号が発生せず、２番目以降の欠陥位置が求
められないという問題が生じる。

〔問題点を解決するだめの手段〕

本発明の磁気ディスク特性測定装置は、パルス信号を発
生するパルス発生器と、論理信号「１」及びｒＯＪを交
互に記憶する書込み処理が行なわれた磁気ディスクをパ
ルス信号に同期して読出す駆動装置上、この駆動装置の
読出し出力信号の最大値及び最小値包絡線電圧を検出す
る包絡線電圧検出器と、との包絡線電圧検出器の検出し
た最大値包絡線電圧及び最小値包路線電圧の少なくとも
一方が所定電圧範囲内のとき出力信号を発生する比較回
路と、この比較回路が出力信号を発生している期間、パ
ルス発生器からのパルス信号に応じたパルスを計数する
第１カウンタと、比較回路が出力信号を発生している期
間パルス発生器からのパルス信号を選択し、その他の期
間駆動装置の読出し出力信号に同期したパルス信号を選
択するスイッチ回路と、このスイッチ回路の出力パルス
信号を計数する第２カウンタとを具え、第１及び第２カ
ウンタの計数内容により磁気ディスクの特性を測定する
。

〔作用〕

本発明によれば、包絡線電圧検出器が論理信号「１」に
対応する最大値包絡線電圧及び論理信号「０」に対応す
る最小値包絡線電圧を検出する。

比較回路はこれら検出した最大値及び最小値包絡線電圧
が所定電圧範囲のとき、即ちこれら包絡線電圧が夫々の
所定電圧に達しない磁気ディスクの欠陥部分の読出し信
号のとき出力信号を発生する。

一方、そのときまで第２カウンタは駆動装置の読出し出
力信号に同期したパルス信号を計数しているので、磁気
ディスクの欠陥位置が正確に判る。

また、比較回路が出力信号を発生している期間、第１カ
ウンタは読出し動作に同期したパルス発生器からのパル
ス信号を計数するので、欠陥位置から読出せない論理信
号の数が判る。更だ、比較回路が出力信号を発生してい
る期間、第２カウンタはパルス発生器からのパルス信号
を計数するので、２番目以降の欠陥位置もほぼ正確に判
る。すなわち、駆動装置からの読出し信号に応じたパル
スを第１及び第２カウンタが常に計数するのが正確な測
定には望ましいが、本発明では駆動装置からの読出し信
号が異常な場合、測定が不能となるため、この場合のみ
パルス発生器からのパルス信号を代用して、より一層正
確な測定が行なえるようにしている。また、高価なデジ
タル・オシロスコープ等を使用しないので、構成が安価
となる。更Ｋ、包絡線電圧検出器の出力電圧は少なくと
も読出し信号の１サイクル中安定しているので、比較回
路に低速素子を利用できる。

〔実施例〕

第１図は本発明の好適な一実施例のブロック図である。

マイクロプロセッサ等の中央処理装置（ＣＰＵ）１２、
このＣＰＵ１２を制御するプログラムを記憶したＲＯＭ
１４、ＣＰＵ１２の一時記憶装置として働＜ＲＡＭ１６
は、バス（データ線、アドレス線、制御線を含む）１０
に接続され、第１図に示す装置の制御手段として作用す
る。キーボード１８は入力装置であり、表示器２０は測
定結果を表示するものであり、これらはバス１０に接続
される。

磁気ディスク駆動装置２２はバス１０からの制御信号及
びパルス発生器２４からのパルス信号Ｈに応じて、被測
定ディスクに試験信号を書込んだシ、書込まれた試験信
号を読出す装置である。包絡線電圧検出器２５は、駆動
装置２２からの読出し信号Ａの最大値包絡線電圧Ｂ及び
最小値包絡線電圧Ｃを検出する。この検出器２５の構成
は、例えば特開昭５８−９４１９８号公報又は特願昭５
９−２６５９６０号に開示されたものでよい。比較器２
６は最大値包絡線電圧Ｂが所定電圧ＶＨ以下でないか、
即ち論理「１」の振幅（正電圧）が小さ過ぎないかを判
断し、小さ過ぎる場合に出力パルスＤを発生する。一方
、比較器２８は最小値包絡線電圧Ｃが所定電圧ＶＬ以上
でないか、即ち論理ｒＯＪの振幅（負電圧）が小さ過ぎ
ないかを判断し、小さ過ぎる場合に出力パルスＥを発生
する。オア・ゲート３０は出力パルスＤ及びＥの少なく
とも一方が発生しているときに出力パルスＦを発生する
。よって、比較器２６．２８及びオア・ゲート３０は、
最大値及び最小値包絡線電圧の少なくとも一方が電圧Ｖ
Ｌ及びＶＨで決まる所定の異常電圧範囲内のとき出力信
号Ｆを発生する比較回路となる。

駆動装置２２からの読出し信号Ａはコンデンサ３２を介
して比較器３４に供給され、接地レベルと比較される。

よって、比較器３４の出力信号Ｇは読出し信号Ａのゼロ
クロスで変化するパルス信号である。アンド・ゲート３
６は、オア・ゲート３０の出力信号Ｆが発生している期
間、パルス発生器２４からのパルス信号Ｈを通過させる
。単安定マルチバイブレータ（モノマルチ）３８及び４
０はアンド・ゲート３６の出力パルスＩの立上シ及び立
下りにより夫々トリガされ、出力パルスエの　′半周期
以下のパルス幅の出力パルスを発生する。

これら出力パルスはオア・ゲート４２を介してカウンタ
４４のクロック端子Ｃに供給され、計数される。このカ
ウンタ４４はバス１０からの信号によりリセットされる
。

オア・ゲー）３０の出力信号Ｆに制御されるマルチプレ
クサ等のスイッチ回路４６は、出力信号Ｆが発生してい
る（論理「１」）とき比較器３４の出カバスルＧを選択
し、出力信号Ｆが発生していない（論理「０」）ときパ
ルス発生器２４からのパルス信号Ｈを選択する。カウン
タ４８はそのクロック端子Ｃにスイッチ回路４６の出力
パルスＪを受けてこれを計数すると共に、駆動装置２２
からのインデックス・パルス又はバス１０からの制御信
号によりリセットされる。このインデックス・パルスは
磁気ディスクの基準位置を示す信号である。ＲＡＭ等の
メモリ５０はアドレス端子Ａ及びデータ端子りに夫々カ
ウンタ４４及び４８の計数値を受ける。メモリ５０のア
ドレス端子Ａ及びデータ端子りはバス１０にも接続され
ている。異常が発生したときのみメモリ５０を書込みモ
ードとするため、オア・ゲート４２の出力信号を遅延５
２の遅延時間はカウンタ４４の伝搬遅延時間に対応し、
モノマルチ５４の出力パルス幅は読出し信号の半サイク
ル以下であるが、メモリ５０の書込み動作には充分な期
間である。

次に第２図の波形図を参照して第１図の動作を説明する
。まずキーボード１８を操作して、試験パターン信号を
被測定磁気ディスクに書込む命令を入力する。この命令
によシ、ＣＰＵ１２は駆動装置２２を制御し、パルス発
生器２４からのパルス信号Ｈに同期して、論理信号「１
」及び「０」が交互に繰返す試験パターン信号を磁気デ
ィスクに書込む。キーボード１８を介して測定命令が入
力されると、カウンタ４４及び４８をリセットすると共
に、駆動装置２２をパルス信号Ｈに同期した読出しモー
ドとして磁気ディスクの所望のトラックを読出す。駆動
装置２２の読出し信号Ａが第２図に示す如く、振幅が小
さくなり、なくなった後、再び元に戻る場合、包絡線電
圧Ｂ及びＣと所定室゛　　圧ＶＩ（及びＶＬとの関係は
第２図のようになる。なお、読出し信号Ａが上述の理由
によりパルス信号Ｈに完全に同期していない点に留意さ
れたい。比較器２６の出力パルスＤは最大値包絡線電圧
Ｂが異常の時点Ｔ１及び１４間で論理「１」となる。

一方、比較器２８の出力パルスＥは最小値包絡線電圧Ｃ
が異常の時点Ｔ２及び１３間で論理「１」となる。よっ
て、オア・ゲート３０は包絡線電圧Ｂ及びＣの少なくと
も一方が異常の時点Ｔ１及びＴ４で出力信号Ｆを発生す
る（論理「１」となる）。

時点Ｔ１以前において、スイッチ回路４６が比較器３４
の出力パルスＧを選択するので、カウンタ４８の計数値
はインデックス・パルスが発生してからの正確な位置を
読出し信号Ａに同期したパルスの数で表わす。一方、カ
ウンタ４４はリセットされたままである。読出し信号Ａ
が異常となる時点Ｔ１以後、スイッチ回路４６はパルス
信号Ｈを選択するので、カウンタ４８の計数値は現在の
読出し信号Ａの磁気ディスク上の疑似的な位置を示す。

しかし、パルス信号Ｈが読出し信号Ａにほぼ同期してい
るので、カウンタ４８が示す位置もほぼ正確である。一
方、アンド・ゲート３６はパルス信号Ｈを通過させるの
で、モノマルチ３８．４０及びオア・ゲート４２の作用
により、カウンタ４４は読出し信号Ａが異常期間の論理
「１」及び「０」の数を計数する。また、メモリ５０が
一時的に書込みモードになるので、メモリ５０のアドレ
ス１には磁気ディスクが最初に異常になった位置情報（
論理「］」又は「０」が記憶されている）が記憶され、
アドレス２には磁気ディスクの２番目の異常位置情報（
論理「０」又は「１」が記憶されている）が記憶される
。以下同様な動作を繰返す。

時点Ｔ４において、読出し信号Ａが正常に戻ると、スイ
ッチ回路４６はパルス信号Ｇを選択し、アンド・ゲート
３６は閉じる。よって、時点Ｔ１以前と同様な動作をす
る。ＣＰＵ１２が駆動装置２２からのインデックス・パ
ルスを監視し、磁気ディスクの被測定トラックの全記憶
内容を読出したことを検知すると、メモリ５０への記録
が終わる。

通常、メモリ５０は読出しモードにあるので、次にＣＰ
Ｕ１２はメモリ５０の内容を読出し、磁気ディスクのイ
ンデックス位置を基準とした欠陥位置を表示器２０に表
示する。

上述は本発明の好適な一実施例について説明したが、本
発明の要旨を逸脱することなく種々の変形及び変更が可
能である。例えば、アンド・ゲート３６の出力パルスを
カウンタ４４のクロック端子に直接供給してもよいし、
カウンタ４４及び４８の計数値をメモリ５０のデータ端
子及びアドレス端子に夫々供給してもよい。

〔発明の効果〕

上述の如く本発明によれば、デジタル・オシロスコープ
等の高価な測定器を使用しないので構成が安価となる。

また、磁気ディスクの読出し信号に応じたパルス信号を
計数しているので、最初の欠陥位置を正確に知ることが
できる。また、読出し信号が異常で読出し信号に応じた
パルス信号が得られないときは、読出し動作に用いるパ
ルス信号を引き続き計数するので、２番目以降の欠陥位
置もほぼ正確に知ることができる。更に包絡線電圧検出
器の出力信号は読出し信号の少なくとも１サイクル中安
定しているので、比較回路は安価な低速素子で構成でき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の好適な一実施例のブロック図、第２図
は第１図の動作を説明する波形図である。 図において、２２は駆動装置、２４はパルス発生器、２
５は包絡線電圧検出器、２６．２８及び３０は比較回路
、４４及び４８はカウンタ、４６はスイッチ回路である
。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. パルス信号を発生するパルス発生器と、論理信号「１」
   及び「０」を交互に記憶する書込み処理が行なわれた磁
   気ディスクを上記パルス信号に同期して読出す駆動装置
   と、該駆動装置の読出し出力信号の最大値及び最小値の
   包絡線電圧を検出する包絡線電圧検出器と、該包絡線電
   圧検出器の検出した最大値包絡線電圧及び最小値包絡線
   電圧の少なくとも一方が所定電圧範囲内のとき出力信号
   を発生する比較回路と、該比較回路が出力信号を発生し
   ている期間、上記パルス信号に応じたパルスを計数する
   第１カウンタと、上記比較回路が出力信号を発生してい
   る期間上記パルス信号を選択し、その他の期間上記駆動
   装置の読出し出力信号に同期したパルス信号を選択する
   スイッチ回路と、該スイッチ回路の出力パルス信号を計
   数する第２カウンタとを具え、上記第１及び第２カウン
   タの計数内容により上記磁気ディスクの特性を測定する
   ことを特徴とする磁気ディスク特性測定装置。