JPS58123470A - 受動部品の検査装置 - Google Patents
受動部品の検査装置Info
- Publication number
- JPS58123470A JPS58123470A JP57005419A JP541982A JPS58123470A JP S58123470 A JPS58123470 A JP S58123470A JP 57005419 A JP57005419 A JP 57005419A JP 541982 A JP541982 A JP 541982A JP S58123470 A JPS58123470 A JP S58123470A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- coil
- measured
- reference voltage
- waveform
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
不発明はコイル、コンデンサ、トランジスタ等の受動部
品の憤膏装賃に関する。
品の憤膏装賃に関する。
従来、儒えばモータ′、トランス、ソレノイド等電圧を
加えたときの電圧振動波形と、被測定物のコイルに基準
電圧を加えたときの電圧振動波形との電圧値、周波数、
波形の相違をオシロスコープ等の計測器を用いて比較判
定する方法がめる。しかし、この方法では、人間が直接
目で判断する友め誤差が生じ易く、かつ機械装置等に組
み込んだ状態での測定の目動化を図ることは困難でめっ
た。
加えたときの電圧振動波形と、被測定物のコイルに基準
電圧を加えたときの電圧振動波形との電圧値、周波数、
波形の相違をオシロスコープ等の計測器を用いて比較判
定する方法がめる。しかし、この方法では、人間が直接
目で判断する友め誤差が生じ易く、かつ機械装置等に組
み込んだ状態での測定の目動化を図ることは困難でめっ
た。
そこで、本発明は上記のよりな欠点を解決しよ、 つと
するもので、被測定コイルの電圧振動波形を予めデータ
メモーリに記憶させた良品コイルの基準電圧振動波形と
比較し、被測定コイルの電圧振動波形が基準電圧振動波
形の許容範囲にるるか否かを比較判別して被一定コイル
の良否全自動的に精度よく検査することを目的とじ几受
動部品の検査装置１？提供するにおる。
するもので、被測定コイルの電圧振動波形を予めデータ
メモーリに記憶させた良品コイルの基準電圧振動波形と
比較し、被測定コイルの電圧振動波形が基準電圧振動波
形の許容範囲にるるか否かを比較判別して被一定コイル
の良否全自動的に精度よく検査することを目的とじ几受
動部品の検査装置１？提供するにおる。
以下、本発明７図面の実施例に基づいてｉＩ２明すると
、第１図は本発明に係る検査装置のブロックダイヤグラ
ム、１ａ２図は検査峙の電圧振動波形図を示す。
、第１図は本発明に係る検査装置のブロックダイヤグラ
ム、１ａ２図は検査峙の電圧振動波形図を示す。
上記の図面において、１は高電圧発生回路で、２は護発
生回路１の高電圧をパルス化するスイッセット部で、以
後、受動部品はコイルとして説明゛ｒる。このコイルに
はコンデンサが並列に接続さＩしている。４は増巾回路
で、５はサンプルホールド回路、６はアナログデジタル
変換１１路、７はクロックパルス発生回路、８はトリガ
用基準電圧発生回路、９Ｆｉ上記増巾回路４の出力信号
が基準晰圧晃生回路で設定され友トリガレベルに達し九
とき出力する電圧判別回路で、後述するが第２図・／）
４に準電圧振動波形Ａと被測定コイルの電圧振動波形
Ｂとの間て位相ズレを起さないように同期をとるための
ものでめる。１０はフリップフロップｌＯ１略、１１は
測定開始スイッチ、１２と１３は高レベルト低レベルと
断面レベル（高インピーダンスの状態）との６種類の出
力金持つスリーステートバッファ回路、１４はデータメ
モリ回路、１５１１ Ｍ！格燻設定判別回路で、この設
定判別回路１５に第２図で示すように、良品ディルの基
準電圧振動波形Ａに対して、被測定コイルの電圧振動波
形Ｂが許容される上限と下限の電圧振動波形ＡＩ＋ ム
ユγ設定すると共に、被測定コイルの良否？判定するＩ
Ｉ山路でるる。１６は良品データ取込用の指示スイッチ
で、この指示スイッチ１６はＯＮのときにはスリーステ
ートバッファ回路１２をＯＮにして、良品コイルの基準
電圧波形をデータメモリ回路１４に記憶さぜる友め該メ
モリ回路１４全書込み状ｍＫ Ｌ、 父、 ＯＦ Ｆの
ときにはスリーステートバッファ回路１２１ｋＯＦＦに
してデータメそり回路１４會蒙出し状態にすると共に、
スリーステートバッファ（ロ）路１６′！７０ＭＫして
上記メモリ（ロ）路１４に記憶されている良品コイルの
基準電圧波形Ａヶ規格値設定判別回路１５に送出する。
生回路１の高電圧をパルス化するスイッセット部で、以
後、受動部品はコイルとして説明゛ｒる。このコイルに
はコンデンサが並列に接続さＩしている。４は増巾回路
で、５はサンプルホールド回路、６はアナログデジタル
変換１１路、７はクロックパルス発生回路、８はトリガ
用基準電圧発生回路、９Ｆｉ上記増巾回路４の出力信号
が基準晰圧晃生回路で設定され友トリガレベルに達し九
とき出力する電圧判別回路で、後述するが第２図・／）
４に準電圧振動波形Ａと被測定コイルの電圧振動波形
Ｂとの間て位相ズレを起さないように同期をとるための
ものでめる。１０はフリップフロップｌＯ１略、１１は
測定開始スイッチ、１２と１３は高レベルト低レベルと
断面レベル（高インピーダンスの状態）との６種類の出
力金持つスリーステートバッファ回路、１４はデータメ
モリ回路、１５１１ Ｍ！格燻設定判別回路で、この設
定判別回路１５に第２図で示すように、良品ディルの基
準電圧振動波形Ａに対して、被測定コイルの電圧振動波
形Ｂが許容される上限と下限の電圧振動波形ＡＩ＋ ム
ユγ設定すると共に、被測定コイルの良否？判定するＩ
Ｉ山路でるる。１６は良品データ取込用の指示スイッチ
で、この指示スイッチ１６はＯＮのときにはスリーステ
ートバッファ回路１２をＯＮにして、良品コイルの基準
電圧波形をデータメモリ回路１４に記憶さぜる友め該メ
モリ回路１４全書込み状ｍＫ Ｌ、 父、 ＯＦ Ｆの
ときにはスリーステートバッファ回路１２１ｋＯＦＦに
してデータメそり回路１４會蒙出し状態にすると共に、
スリーステートバッファ（ロ）路１６′！７０ＭＫして
上記メモリ（ロ）路１４に記憶されている良品コイルの
基準電圧波形Ａヶ規格値設定判別回路１５に送出する。
１７はアドレスカウンタ回路で、誼カウンタ回路１７の
出力は、データメモリ回路１４のアドレス備考及び、デ
ータ取込み完了信号として用いられる。
出力は、データメモリ回路１４のアドレス備考及び、デ
ータ取込み完了信号として用いられる。
１８はアンドゲート回路で、測定開始スイッチ１１のＯ
Ｋ状態と、電圧判別回路９がトリガ電圧を検知し危こと
によりフリップフロップ回路１ｏの出力がＯＮ状態とな
っｔときに出力が。Ｎ状態となる。１９は同じくアンド
ケート回路で、上記アンドゲート回路１８のＯＮＮ出色
、スイッチング回路２０時分割クロックパルスとにより
出力がＯＮして、アドレスカウンタ（ロ）路１７にアド
レスのカウントアツプを指示するものでめる０次に本発
明の作用について説明する。
Ｋ状態と、電圧判別回路９がトリガ電圧を検知し危こと
によりフリップフロップ回路１ｏの出力がＯＮ状態とな
っｔときに出力が。Ｎ状態となる。１９は同じくアンド
ケート回路で、上記アンドゲート回路１８のＯＮＮ出色
、スイッチング回路２０時分割クロックパルスとにより
出力がＯＮして、アドレスカウンタ（ロ）路１７にアド
レスのカウントアツプを指示するものでめる０次に本発
明の作用について説明する。
先ず、良品コイルの基準電圧振動波形管データメモリ回
路１４に記憶させる作用について述べる。
路１４に記憶させる作用について述べる。
細ち、良品コイル會セットｓ６にセットした後、良品デ
ータ取込指示スイッチ１６１ｚｏｂにしてデータメ七す
ｌ回路１４會書込み状態にすると共に、測定開始スイッ
チ１１（又は外部からの測定開始信号） ＠ Ｑ ）Ｉ
ν（し、スイッチング回路２によりパルス化さ几た高電
圧発生回路１の高電圧を良品コイルに印加すれば、該コ
イルの両端には基準電圧＆動波形ムが成起する。この振
動波形Ａは増巾回路４で増巾された後、サンプリングホ
ールド回路５ ｖｃ ｘ Ｆ）、３１１２図で示すよう
に１順次サンプリングさｆＬ、アナログデジタル変換１
路６に供給さ１する。そして、Ｆ記の変換回路６では、
一定時間母に出力さ几るクロックパルス発生回路７の出
方１４号に同期して基準電圧撮動波形Ａ會順次デジタル
変換シ、スリーステートバッファ回路１２を介してデー
タメモリ回路１４に書込んで記憶させる。
ータ取込指示スイッチ１６１ｚｏｂにしてデータメ七す
ｌ回路１４會書込み状態にすると共に、測定開始スイッ
チ１１（又は外部からの測定開始信号） ＠ Ｑ ）Ｉ
ν（し、スイッチング回路２によりパルス化さ几た高電
圧発生回路１の高電圧を良品コイルに印加すれば、該コ
イルの両端には基準電圧＆動波形ムが成起する。この振
動波形Ａは増巾回路４で増巾された後、サンプリングホ
ールド回路５ ｖｃ ｘ Ｆ）、３１１２図で示すよう
に１順次サンプリングさｆＬ、アナログデジタル変換１
路６に供給さ１する。そして、Ｆ記の変換回路６では、
一定時間母に出力さ几るクロックパルス発生回路７の出
方１４号に同期して基準電圧撮動波形Ａ會順次デジタル
変換シ、スリーステートバッファ回路１２を介してデー
タメモリ回路１４に書込んで記憶させる。
こ＼で、ｍ記の測定開始信号は、画定開始スイッナ１１
ｙｏｎ（、九後に発生する基準電圧波形Ａが、トリガ用
基準電圧発生回路８のトリガレベルを超えたときに電圧
判別回路９から出力さｎるトリガ信号が開始信号となる
。父、測定開始後、前記クロックパルス発生回路７の出
力信号は、アンドケート回路１９を通ってアドレスカウ
ンタ１７へも供給され、クロック毎にカウントすること
により、アドレスカウンタ回路１７の出力をデータメモ
リ測定完了＆にリセットされる。
ｙｏｎ（、九後に発生する基準電圧波形Ａが、トリガ用
基準電圧発生回路８のトリガレベルを超えたときに電圧
判別回路９から出力さｎるトリガ信号が開始信号となる
。父、測定開始後、前記クロックパルス発生回路７の出
力信号は、アンドケート回路１９を通ってアドレスカウ
ンタ１７へも供給され、クロック毎にカウントすること
により、アドレスカウンタ回路１７の出力をデータメモ
リ測定完了＆にリセットされる。
次に、被測定コイルの測定について説明する。
被測定フィルにコンデンサを並列接続してセット部３に
セットした後、良品データ取込指示スイッチ１６’１０
７Ｆし、データメモリ回路１４を績み出し状態にして、
該メモリ回路１４に記憶されている良品コイルの基準電
圧振動波形ムを１スリ一ステートバツフア回路１３Ｙｒ
介して、規格値設定判別回路１５に送出する。一方、被
測定コイルには、良品コイルの場合と同様に、高圧パル
スを印加して被測定コイルの電圧振動波形ＢＹ得、サン
プルホールド回路５、アナログ−デジタル変換回路６全
通して、ＩＩ久ディジタル変換し友後、規格値設定判定
回路に送出する。そして、第２図で示すすように、規格
値設定判定回路１５にνいて、被測定コイルの電圧振動
波形Ｂ會、良品コイルの基準電圧振動波形Ａとサンプル
毎に比較し、許容範囲の上限及び下限の電圧振動波形Ａ
Ｉ、ムλを越えた検出点の数會数え、その数が予め設定
され几数會嶋兄ないと１！は良品とし、越えたときけ不
良品と判定し、その判定信号により図示しない表示器に
良品、不良品Ｗ＝示するのである。
セットした後、良品データ取込指示スイッチ１６’１０
７Ｆし、データメモリ回路１４を績み出し状態にして、
該メモリ回路１４に記憶されている良品コイルの基準電
圧振動波形ムを１スリ一ステートバツフア回路１３Ｙｒ
介して、規格値設定判別回路１５に送出する。一方、被
測定コイルには、良品コイルの場合と同様に、高圧パル
スを印加して被測定コイルの電圧振動波形ＢＹ得、サン
プルホールド回路５、アナログ−デジタル変換回路６全
通して、ＩＩ久ディジタル変換し友後、規格値設定判定
回路に送出する。そして、第２図で示すすように、規格
値設定判定回路１５にνいて、被測定コイルの電圧振動
波形Ｂ會、良品コイルの基準電圧振動波形Ａとサンプル
毎に比較し、許容範囲の上限及び下限の電圧振動波形Ａ
Ｉ、ムλを越えた検出点の数會数え、その数が予め設定
され几数會嶋兄ないと１！は良品とし、越えたときけ不
良品と判定し、その判定信号により図示しない表示器に
良品、不良品Ｗ＝示するのである。
不発明に斜上のように、良品及び被測定対象の受動部品
に高圧パルスを印加して良品受動部品の基準電圧撮動波
形ム及び被測定受動部品の電圧感動波形Ｂｔ−得る回路
１，２．５と、上記の両電圧振動波形Ａ、Ｂｉサンプリ
ングしホールドするサンプルホールド（ロ）路５と、該
回路５でサンプリングさｎｆＦ−両電圧振動波形ム、Ｉ
ｎ−テジタル化する゛アナログーデジタル変換回路６と
、上記良品受動部品の基準電圧振動波形ム葡書き込み貯
与出すメモリ回路１２と、Ｅ記基準電圧＊ｍ波形Ａに対
して許容さｎる上限Ａ、及び下限ム１の巾を設定すると
共ＶＣ、該基準電圧撮動波形Ａの許容範囲ＡｌｎＡλ外
に破＋１１１２受動部品の電圧振動波形Ｂがどの程度出
ているか否かにより被測定受動部品の良否を判断するよ
うにした規格値設定判別回路１５とにより構成し友もの
である。従って、受動部品の品質検ｌＥｔ自動的に精度
よく行うことができると共に、測定の自動化を図ること
が可能となる。
に高圧パルスを印加して良品受動部品の基準電圧撮動波
形ム及び被測定受動部品の電圧感動波形Ｂｔ−得る回路
１，２．５と、上記の両電圧振動波形Ａ、Ｂｉサンプリ
ングしホールドするサンプルホールド（ロ）路５と、該
回路５でサンプリングさｎｆＦ−両電圧振動波形ム、Ｉ
ｎ−テジタル化する゛アナログーデジタル変換回路６と
、上記良品受動部品の基準電圧振動波形ム葡書き込み貯
与出すメモリ回路１２と、Ｅ記基準電圧＊ｍ波形Ａに対
して許容さｎる上限Ａ、及び下限ム１の巾を設定すると
共ＶＣ、該基準電圧撮動波形Ａの許容範囲ＡｌｎＡλ外
に破＋１１１２受動部品の電圧振動波形Ｂがどの程度出
ているか否かにより被測定受動部品の良否を判断するよ
うにした規格値設定判別回路１５とにより構成し友もの
である。従って、受動部品の品質検ｌＥｔ自動的に精度
よく行うことができると共に、測定の自動化を図ること
が可能となる。
第１図は本発明に係る検査装置のブロックダイヤグラム
、纂２図は検査時の波形チャートに示す。 １・・・高電圧発生回路、２・・・スイッチング回路、
６−・拳受動部品のセット部、５＠・・サンプルホール
ド回路、６・・・アナログ−デジタル変換回路、１４・
・・メモリ回路、１５・・・規格値設定判別回路、Ａ、
・・轡基準電圧振動波形、Ａｌ・・・上限、Ａ−・・下
限、Ｂ・・・電圧振動波形。 特許出願人 山 口 辛 雄 代理人弁績士 宮 文 弘井
、纂２図は検査時の波形チャートに示す。 １・・・高電圧発生回路、２・・・スイッチング回路、
６−・拳受動部品のセット部、５＠・・サンプルホール
ド回路、６・・・アナログ−デジタル変換回路、１４・
・・メモリ回路、１５・・・規格値設定判別回路、Ａ、
・・轡基準電圧振動波形、Ａｌ・・・上限、Ａ−・・下
限、Ｂ・・・電圧振動波形。 特許出願人 山 口 辛 雄 代理人弁績士 宮 文 弘井
Claims (1)
- 良品及び被側定対象の受動部品に高圧ノ（ルスを印加し
て良品受動部品の基準電圧振動波形及び被−］定受動部
品の電圧振動波形を得る回路と、上記の両電圧振動波形
をサンプリングしホールド回路と、該回路でサンプリン
グされた両電圧振動波形をデジタル化するアナログ−デ
ジタル変換回路とＬ記良品受動部品の基準電圧振動波形
を書き込み績み出すメモリ回路と、上記基準電圧振動波
形に対して許容される上限・及び下限の巾を設定すると
共に、該基準電圧振動波形の許容範囲外に被測定・受動
部品の電圧振動波形がどの程度出ているか否かにより骸
被測定の受動部品の要否を判断するように１．た規格値
設定判別回路とで構成し良ことを特徴とする受動部品の
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57005419A JPS58123470A (ja) | 1982-01-19 | 1982-01-19 | 受動部品の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57005419A JPS58123470A (ja) | 1982-01-19 | 1982-01-19 | 受動部品の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58123470A true JPS58123470A (ja) | 1983-07-22 |
Family
ID=11610630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57005419A Pending JPS58123470A (ja) | 1982-01-19 | 1982-01-19 | 受動部品の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58123470A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8579174B2 (en) | 2008-05-28 | 2013-11-12 | M.I.T. International Co., Ltd. | Tag attaching pin attaching apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49127579A (ja) * | 1973-04-06 | 1974-12-06 |
-
1982
- 1982-01-19 JP JP57005419A patent/JPS58123470A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49127579A (ja) * | 1973-04-06 | 1974-12-06 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8579174B2 (en) | 2008-05-28 | 2013-11-12 | M.I.T. International Co., Ltd. | Tag attaching pin attaching apparatus |
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