JPH01123530A - Ｄ／ａ変換器の単調増加特性測定装置 - Google Patents
Ｄ／ａ変換器の単調増加特性測定装置Info
- Publication number
- JPH01123530A JPH01123530A JP28145487A JP28145487A JPH01123530A JP H01123530 A JPH01123530 A JP H01123530A JP 28145487 A JP28145487 A JP 28145487A JP 28145487 A JP28145487 A JP 28145487A JP H01123530 A JPH01123530 A JP H01123530A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、Ｄ／Ａ変換器の単調増加特性測定装置に関す
る。
る。
従来のＤ／Ａ変換器の単調増加特性の測定方法を第３図
に示すブロック図、第４図のタイミングチャートを用い
て説明する。まず、単調増加特性を測定するＤ／Ａ変換
器３１の出力５２をディジタルデータ５１によって決め
る（８点）（通常最小出力値から）、その時のＤ／Ａ変
換器３１の出力５２を電圧計３２で測定し、記録計又は
パーソナルコンピュータなどのコントローラ３３を用い
て記録する（ｂ点）。次に、Ｄ／Ａ変換器３１の出力５
２を増加させるディジタルデータ５１を入力しく通常最
小ステップづつ）、再び出力５２を測定する（０点）。
に示すブロック図、第４図のタイミングチャートを用い
て説明する。まず、単調増加特性を測定するＤ／Ａ変換
器３１の出力５２をディジタルデータ５１によって決め
る（８点）（通常最小出力値から）、その時のＤ／Ａ変
換器３１の出力５２を電圧計３２で測定し、記録計又は
パーソナルコンピュータなどのコントローラ３３を用い
て記録する（ｂ点）。次に、Ｄ／Ａ変換器３１の出力５
２を増加させるディジタルデータ５１を入力しく通常最
小ステップづつ）、再び出力５２を測定する（０点）。
ここで、前に測定した値との比較を行ない、Ｄ／Ａ変換
器３１の出力が、増加しているか確認する。
器３１の出力が、増加しているか確認する。
この測定、及び、比較を、測定されるＤ／Ａ変換器の入
力ディジタルデータの最小点から最大点の全てについて
行ない、すべての点において、出力が増加していること
が確認されれば、このＤ／Ａ変換器は二車調増加特性が
保証されたことになる。もし仮に、被測定Ｄ／Ａ変換器
の出力が減少したとするとくｄ点）、その点にて、コン
トローラ又は記録計にて単調増加特性の不良が判定され
る。
力ディジタルデータの最小点から最大点の全てについて
行ない、すべての点において、出力が増加していること
が確認されれば、このＤ／Ａ変換器は二車調増加特性が
保証されたことになる。もし仮に、被測定Ｄ／Ａ変換器
の出力が減少したとするとくｄ点）、その点にて、コン
トローラ又は記録計にて単調増加特性の不良が判定され
る。
上述した従来の方法では、Ｄ／Ａ変換器の出力の測定に
電圧計を用いる必要があり、さらに出力の増加の確認に
は記録計又はコントローラー等を用いて前の値との比較
・演算等を行なわなければならない、つまり、測定のた
めに、電圧計や記録計、コントローラなどが必要となり
、測定システムとしてコストがかかってしまう、さらに
、測定そのものにも、電圧値の読み込みや、電圧差の演
算などに時間がかかり、量産などの選別工程に用いた場
合は、選別コストが上がってしまうという欠点がある。
電圧計を用いる必要があり、さらに出力の増加の確認に
は記録計又はコントローラー等を用いて前の値との比較
・演算等を行なわなければならない、つまり、測定のた
めに、電圧計や記録計、コントローラなどが必要となり
、測定システムとしてコストがかかってしまう、さらに
、測定そのものにも、電圧値の読み込みや、電圧差の演
算などに時間がかかり、量産などの選別工程に用いた場
合は、選別コストが上がってしまうという欠点がある。
本発明によるＤ／Ａ変換器の単調増加特性測定装置は、
単調増加するディジタル信号を受けアナログ信号を出力
するＤ／Ａ変換器の出力信号をサンプリングホールドす
るサンプリングホールド回路と、前記Ｄ／Ａ変換器の出
力信号と前記サンプリングホールド回路の出力信号とを
比較するコンパレータとを有する。
単調増加するディジタル信号を受けアナログ信号を出力
するＤ／Ａ変換器の出力信号をサンプリングホールドす
るサンプリングホールド回路と、前記Ｄ／Ａ変換器の出
力信号と前記サンプリングホールド回路の出力信号とを
比較するコンパレータとを有する。
〔実施例〕
次に本発明について図面を用いて説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図（
Ａ）、（Ｂ）は第１図の各部波形を示すタイミングチャ
ートである。単調増加するディジタルデータ１１を受け
たＤ／Ａ変換器ｌはアナログ信号１２をコンパレータ２
の一方の入力へ、およびサンプリングホールド回路３へ
入力する。Ｄ／Ａ変換器１の出力を受けたサンプリング
ホールド回路３は、ディジタルデータの変化ステップに
対応して入力されたサンプリングパルス１３によってサ
ンプリングホールドし、ホールド信号１４をコンパレー
タ２の他方の入力へ加える。
Ａ）、（Ｂ）は第１図の各部波形を示すタイミングチャ
ートである。単調増加するディジタルデータ１１を受け
たＤ／Ａ変換器ｌはアナログ信号１２をコンパレータ２
の一方の入力へ、およびサンプリングホールド回路３へ
入力する。Ｄ／Ａ変換器１の出力を受けたサンプリング
ホールド回路３は、ディジタルデータの変化ステップに
対応して入力されたサンプリングパルス１３によってサ
ンプリングホールドし、ホールド信号１４をコンパレー
タ２の他方の入力へ加える。
本発明による被測定Ｄ／Ａ変換器の単調増加特性の測定
方法について第２図（Ａ）を用いて説明する。まず、ａ
点にて被測定Ｄ／Ａ変換器１の出力１２をディジタルデ
ータ１１の入力により決定する。つづいて、ｂ点にてサ
ンプリングパルス１３によりＤ／Ａ変換器出力１２をサ
ンプル・ホールド回路３によりホールドする。この時点
では、Ｄ／Ａ変換器出力１２と、サンプル・ホールド回
路の出力１４は同じ値であり、コンパレータの出力は同
図に斜線にて示すように不定である。
方法について第２図（Ａ）を用いて説明する。まず、ａ
点にて被測定Ｄ／Ａ変換器１の出力１２をディジタルデ
ータ１１の入力により決定する。つづいて、ｂ点にてサ
ンプリングパルス１３によりＤ／Ａ変換器出力１２をサ
ンプル・ホールド回路３によりホールドする。この時点
では、Ｄ／Ａ変換器出力１２と、サンプル・ホールド回
路の出力１４は同じ値であり、コンパレータの出力は同
図に斜線にて示すように不定である。
さらに、０点にてＤ／Ａ変換器１の出力を増加させる（
通常Ｄ／Ａ変換器の最小ステップ）、ここで、もし測定
されるＤ／Ａ変換器１が正常のものであれば、０点で決
定されたＤ／Ａ変換器出力１２は、ｂ点でホールドされ
たサンプル・ホールド回路の出力１４よりも、必ず増加
しているはずである。つまり、コンパレータ出力１５は
レベル“Ｈｏとなる。もし、Ｄ／Ａ変換器の出力１２が
増加せず、減少した場合（第２図（Ｂ）、ｅ点）、コン
パレータ出力１５はレベル“Ｌ゛となる（ｇ点）。
通常Ｄ／Ａ変換器の最小ステップ）、ここで、もし測定
されるＤ／Ａ変換器１が正常のものであれば、０点で決
定されたＤ／Ａ変換器出力１２は、ｂ点でホールドされ
たサンプル・ホールド回路の出力１４よりも、必ず増加
しているはずである。つまり、コンパレータ出力１５は
レベル“Ｈｏとなる。もし、Ｄ／Ａ変換器の出力１２が
増加せず、減少した場合（第２図（Ｂ）、ｅ点）、コン
パレータ出力１５はレベル“Ｌ゛となる（ｇ点）。
ここで問題となるのは、ディジタルデータ１１により増
加させたはずのＤ／Ａ変換器１の出力１２が、前の値と
ほとんど変わらなかった場合である０本来ならば、不良
とするべきである。しかし、仮にコンパレータ出力１３
がレベル“Ｈｏ（増加したと判定）となったとしても、
単調増加特性という観点から見れば、減少さえしなけれ
ば、致命的な不良ではない、また、コンパレータに分解
能の高いものを用いれば、はとんどの場合、判定可能で
ある。この判定を、測定されるＤ／Ａ変換器の入力デー
タの最小点から最大点のすべてにおいて行ない、全出力
においてコンパレータ出力がレベル“Ｈｏを示すことを
確認すれば、被測定Ｄ／Ａ変換器の単調増加特性を保証
することができる。コンパレータ出力の判定は論理レベ
ル（°Ｈ°又は“Ｌ’ ）だけの判定ですみ、通常、電
圧の測定、演算に比べれば、論理レベルの判定は非常に
簡単でなおかつ高速にできる。また、サンプル・ホール
ド回路のサンプリング期間におけるコンパレータの出力
の不定期間も、マスクすることは容易であるので問題と
はならない。
加させたはずのＤ／Ａ変換器１の出力１２が、前の値と
ほとんど変わらなかった場合である０本来ならば、不良
とするべきである。しかし、仮にコンパレータ出力１３
がレベル“Ｈｏ（増加したと判定）となったとしても、
単調増加特性という観点から見れば、減少さえしなけれ
ば、致命的な不良ではない、また、コンパレータに分解
能の高いものを用いれば、はとんどの場合、判定可能で
ある。この判定を、測定されるＤ／Ａ変換器の入力デー
タの最小点から最大点のすべてにおいて行ない、全出力
においてコンパレータ出力がレベル“Ｈｏを示すことを
確認すれば、被測定Ｄ／Ａ変換器の単調増加特性を保証
することができる。コンパレータ出力の判定は論理レベ
ル（°Ｈ°又は“Ｌ’ ）だけの判定ですみ、通常、電
圧の測定、演算に比べれば、論理レベルの判定は非常に
簡単でなおかつ高速にできる。また、サンプル・ホール
ド回路のサンプリング期間におけるコンパレータの出力
の不定期間も、マスクすることは容易であるので問題と
はならない。
以上説明したように、本発明は、Ｄ／Ａ変換器の単調増
加特性の測定を、サンプル・ホールド回路、及び、コン
パレータを組み合わせ用いることにより、安価に、なお
かつ高速に行なうことを可能とするものである。
加特性の測定を、サンプル・ホールド回路、及び、コン
パレータを組み合わせ用いることにより、安価に、なお
かつ高速に行なうことを可能とするものである。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図（
Ａ）、（Ｂ）は第１図の各部波形を示すタイミングチャ
ート、第３図は従来の例を示すブロック図、第４図は第
３図のＤ／Ａ変換器出力の波形を示すタイミングチャー
トである。 １．３１はＤ／Ａ変換器、２はコンパレータ、３はサン
プリングホールド回路、３２は電圧計、３３は記録計又
はコントローラ。
Ａ）、（Ｂ）は第１図の各部波形を示すタイミングチャ
ート、第３図は従来の例を示すブロック図、第４図は第
３図のＤ／Ａ変換器出力の波形を示すタイミングチャー
トである。 １．３１はＤ／Ａ変換器、２はコンパレータ、３はサン
プリングホールド回路、３２は電圧計、３３は記録計又
はコントローラ。
Claims (1)
- 単調増加するディジタル信号を受けアナログ信号を出力
するＤ／Ａ変換器の出力信号をサンプリングホールドす
るサンプリングホールド回路と、前記Ｄ／Ａ変換器の出
力信号と前記サンプリングホールド回路の出力信号とを
比較するコンパレータとを有することを特徴とするＤ／
Ａ変換器の単調増加特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28145487A JPH01123530A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | Ｄ／ａ変換器の単調増加特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28145487A JPH01123530A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | Ｄ／ａ変換器の単調増加特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01123530A true JPH01123530A (ja) | 1989-05-16 |
Family
ID=17639408
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28145487A Pending JPH01123530A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | Ｄ／ａ変換器の単調増加特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01123530A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001029971A3 (en) * | 1999-10-15 | 2001-11-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Built-in self test for integrated digital-to-analog converters |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58172560A (ja) * | 1982-04-02 | 1983-10-11 | Fujitsu Ltd | Ｄ／ａコンバ−タの直線性測定方法 |
-
1987
- 1987-11-06 JP JP28145487A patent/JPH01123530A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58172560A (ja) * | 1982-04-02 | 1983-10-11 | Fujitsu Ltd | Ｄ／ａコンバ−タの直線性測定方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001029971A3 (en) * | 1999-10-15 | 2001-11-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Built-in self test for integrated digital-to-analog converters |
| US6320528B1 (en) | 1999-10-15 | 2001-11-20 | Koninklijke Philips Electronics Nv | Built-in self test for integrated digital-to-analog converters |
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