JPS58172560A - Ｄ／ａコンバ−タの直線性測定方法 - Google Patents
Ｄ／ａコンバ−タの直線性測定方法Info
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- JPS58172560A JPS58172560A JP5495482A JP5495482A JPS58172560A JP S58172560 A JPS58172560 A JP S58172560A JP 5495482 A JP5495482 A JP 5495482A JP 5495482 A JP5495482 A JP 5495482A JP S58172560 A JPS58172560 A JP S58172560A
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- converter
- clock
- differential amplifier
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
葎）発明の技術分野
本発明ＦｉＤ／Ａコンバータにおける直線性測定方法の
改良に関する。
改良に関する。
伽）技術の背景
情報処理システムは半導体技術特に集積化技術の発達に
伴い広い分野に普及して利用されるようになつ九。アナ
ログ情報を論理処理に適したディジタル情報に変換する
ためのＡ／Ｄ変換あるいはその逆のＤ／Ａ変換回路が９
例えば音声１１儂等におけるディジタル処理の要求に応
えて低コスト高精度の変換回路素子が数多く提供される
ようになった。本発明はこの領域におけるＤ／Ａコンバ
ータの直線性の測定方法に関するものである。
伴い広い分野に普及して利用されるようになつ九。アナ
ログ情報を論理処理に適したディジタル情報に変換する
ためのＡ／Ｄ変換あるいはその逆のＤ／Ａ変換回路が９
例えば音声１１儂等におけるディジタル処理の要求に応
えて低コスト高精度の変換回路素子が数多く提供される
ようになった。本発明はこの領域におけるＤ／Ａコンバ
ータの直線性の測定方法に関するものである。
（Ｃ）従来技術と問題点
第１図は従来におけるＤ／Ａコンバータの直線性測定方
法によるブロック図、第２図はその動作タイムチャート
を示す。
法によるブロック図、第２図はその動作タイムチャート
を示す。
図にシいて１は制＠部、２はクロ、り発生器、３は計数
器、４は被測定体のＤ／Ａコンバータ（ＤＵＴ）および
５は基準のＡ／Ｄコンバータでめる。
器、４は被測定体のＤ／Ａコンバータ（ＤＵＴ）および
５は基準のＡ／Ｄコンバータでめる。
制御部１よりクロック発生器２を介してクリヤ信号を発
生させ、計数器３こ＼ではＤ＄Ｔ４の入力に対応する２
進計数器３の出力をオール１０”また籾 はオール″１″に綻期設定する。オール゛０°に設定し
たときはＤＩＴ４の出力を＝（マイナス）フルスケール
電圧としてＡ／Ｄコンバータ５によりＡ／Ｄ変換して、
そのディジタル値を制御部１で読み取り記憶しておく。
生させ、計数器３こ＼ではＤ＄Ｔ４の入力に対応する２
進計数器３の出力をオール１０”また籾 はオール″１″に綻期設定する。オール゛０°に設定し
たときはＤＩＴ４の出力を＝（マイナス）フルスケール
電圧としてＡ／Ｄコンバータ５によりＡ／Ｄ変換して、
そのディジタル値を制御部１で読み取り記憶しておく。
次に制御部ｌよりクロ。
り発生器２を介してクロックパルスを発生させ計数器３
により加算を行い計数出力を１つ進める。
により加算を行い計数出力を１つ進める。
計数器３よりの計数出力ｔＤＩＴ４に入力してＤ／Ａ賛
換し更にＡ／Ｄコンバータ５により制御部１の変換命令
に従ってＡ／Ｄ変換し、そのディジタル値を制御部１で
読み取り別に記憶しておく、このように計数器３をオー
ル″０″に初期設定したと！はクロック発信器２からク
ロック信号を１ヶ発１：１ 信する都度計数器３は加算計数して計数出力をＤｙＩ３
に入力し、計数器３の出力がオール″１”になる迄逐一
加算してその計数出力をＤ７Ｔ４によりＤ／Ａ変換后更
にＡ／Ｄコンバータ５によるＡ／Ｄ変換して、そのディ
ジタル値を制御部１において順に記憶しておけば、その
記憶データから４ はＩＶＴｔの入力がオール″０”と１１′ｍの時にける
実際の出力値が得られるので、その理想直線からのはず
れが直線性誤差として示される。
換し更にＡ／Ｄコンバータ５により制御部１の変換命令
に従ってＡ／Ｄ変換し、そのディジタル値を制御部１で
読み取り別に記憶しておく、このように計数器３をオー
ル″０″に初期設定したと！はクロック発信器２からク
ロック信号を１ヶ発１：１ 信する都度計数器３は加算計数して計数出力をＤｙＩ３
に入力し、計数器３の出力がオール″１”になる迄逐一
加算してその計数出力をＤ７Ｔ４によりＤ／Ａ変換后更
にＡ／Ｄコンバータ５によるＡ／Ｄ変換して、そのディ
ジタル値を制御部１において順に記憶しておけば、その
記憶データから４ はＩＶＴｔの入力がオール″０”と１１′ｍの時にける
実際の出力値が得られるので、その理想直線からのはず
れが直線性誤差として示される。
尚計数器３の出力をオール″１”に初期設定したときは
クロック発信器２からのクロ、り信号毎に減算計数して
、計数出力をＤｐＴ４ Ｋ入力し計数器３の出力がオー
ル１０″になる迄同様の操作を順に続ければ順序は逆と
なるが同様の結果が得られる。通常アナログ値として取
扱う電圧は数十ボと低い場合はオール１″１″のフルス
ケールヲ１゜ポル） （Ｖ）とすればその最低単位とｙ
）は３９ｍＶとなるため雑音等の影響も少く、良い測定
結果が得られるが、 ＤＪ／Ｔ３０分解能が高くなると
次ビット、Ａ／Ｄコンバータ５の分解卵、精家とも１６
ビツトとすれば１２ビツトは即ち１／４０９６゜１６ビ
、トは即ち１／６５５３６であり、理想的にはけ前述と
同様にフルスケールＩＯＶとするとその値は２．４４
ｍＶと微小なためＡ／Ｄコンバータ５に０．１５ ｍＶ
の検出能力があっても雑音の影響を大きく受けて了い充
分な結果が得られない場合が存在する。
クロック発信器２からのクロ、り信号毎に減算計数して
、計数出力をＤｐＴ４ Ｋ入力し計数器３の出力がオー
ル１０″になる迄同様の操作を順に続ければ順序は逆と
なるが同様の結果が得られる。通常アナログ値として取
扱う電圧は数十ボと低い場合はオール１″１″のフルス
ケールヲ１゜ポル） （Ｖ）とすればその最低単位とｙ
）は３９ｍＶとなるため雑音等の影響も少く、良い測定
結果が得られるが、 ＤＪ／Ｔ３０分解能が高くなると
次ビット、Ａ／Ｄコンバータ５の分解卵、精家とも１６
ビツトとすれば１２ビツトは即ち１／４０９６゜１６ビ
、トは即ち１／６５５３６であり、理想的にはけ前述と
同様にフルスケールＩＯＶとするとその値は２．４４
ｍＶと微小なためＡ／Ｄコンバータ５に０．１５ ｍＶ
の検出能力があっても雑音の影響を大きく受けて了い充
分な結果が得られない場合が存在する。
（ｄ） 発明の目的
本発明は上記の欠点を除去し雑音の影響を受けることな
く、被測定体のＤ／Ａコンバータの直線性を測定する手
段を提供しようとするものである。
く、被測定体のＤ／Ａコンバータの直線性を測定する手
段を提供しようとするものである。
（ｅ） 発明の構成
そしてこの目的は本発明によるクロック信号を逐一積算
する計数器の計数出方を被測定体のＤ／Ａコンバータに
入力し、その変換出力を基準のＡ／Ｄ：＋７ ／＜ −
夕により逆変換して得たディジタル出力を処理して被測
定体の直線性の測定するシステムにおいて、該Ｄ／Ａコ
ンバータの変換出力を差動増幅器に入力すると共に、同
変換出力を別途備えたサンプルホールド回路に入力して
得る１クロック遅れの保持変換出力と比較して、１クロ
、り毎に１クロック変化分に和尚するアナログ出力の増
幅信号を得る手段を備えてなり、該増幅信号を前記Ａ／
Ｄコンバータに入力して１クロツク毎に得るディジタル
出力の積算値により被測定体のＤ／Ａコンバータにおけ
る出力直線性誤差測定結果を得ることを特徴とするＤ／
Ａコンバータの直線性測定方法を提供することによって
達成することが出来る。
する計数器の計数出方を被測定体のＤ／Ａコンバータに
入力し、その変換出力を基準のＡ／Ｄ：＋７ ／＜ −
夕により逆変換して得たディジタル出力を処理して被測
定体の直線性の測定するシステムにおいて、該Ｄ／Ａコ
ンバータの変換出力を差動増幅器に入力すると共に、同
変換出力を別途備えたサンプルホールド回路に入力して
得る１クロック遅れの保持変換出力と比較して、１クロ
、り毎に１クロック変化分に和尚するアナログ出力の増
幅信号を得る手段を備えてなり、該増幅信号を前記Ａ／
Ｄコンバータに入力して１クロツク毎に得るディジタル
出力の積算値により被測定体のＤ／Ａコンバータにおけ
る出力直線性誤差測定結果を得ることを特徴とするＤ／
Ａコンバータの直線性測定方法を提供することによって
達成することが出来る。
（「）発明の実施例
以下本発明の一実施例について図面を参照しつ＼説明す
る。第３図に本発明の一実施例におけるＤ／Ａコンバー
タの直線性測定方法によるブロック図、第４図にその動
作タイムチャートを示す。
る。第３図に本発明の一実施例におけるＤ／Ａコンバー
タの直線性測定方法によるブロック図、第４図にその動
作タイムチャートを示す。
第３図において１ａは制御部、２はクロック発生器、
３Ｆ′ｉ計数器、４は被測定体のＡ／Ｄコンパータ（
Ｄ＃Ｔ）、５はＡ／Ｄコンバータ、６はサンプルホール
ド回路および７は差動増幅器である。
３Ｆ′ｉ計数器、４は被測定体のＡ／Ｄコンパータ（
Ｄ＃Ｔ）、５はＡ／Ｄコンバータ、６はサンプルホール
ド回路および７は差動増幅器である。
制御部１ａ−Ａ／Ｄコンバータ５は制御部１ａが測定結
果の処理機症を異にする他は従来の各部に同様でありそ
の機能も同等である。
果の処理機症を異にする他は従来の各部に同様でありそ
の機能も同等である。
本発明の一実施例においても制御部ｌａＦ′ｉクロック
発生器２を経由してクリヤパルスを計数器３に送出しそ
の出力を例えばオール＠Ｏ″に初期設定する。次に制御
部１ａＶｉサンプルホールド命令をサンプルホールド回
路６へ送出する。この時点における差動増幅器７の出力
はＯｖがＡ／Ｄコンバータ５に送出されているが、制御
部１ａけＡ／Ｄコンバータ５へ変換命令ｔＱを送出して
Ａ／Ｄ変換を行わせてそのディジタル出力値Ｄｏを読み
取り−（マイナス）フルスケール電圧として記憶してお
く。次に制御部１ａよりクロック発生器２を介してクロ
、クパルスを発生させ、計数器３により加算を行い計数
出力を１ろ進める。計数器３よりの計数出力ｔＤｆＴ４
に入力してＤ／Ａ変換し差動増幅器７に入力するとこの
時点ではサンプルホールド回路６からは前のサンプル／
ホールド命令によるアナログ値を保っており差動増幅器
７の他の入力は０なのでその時の差動増幅器７の出力は
υ ＩＭＩＴ４ のはソＫＸＩＬＳＢとなる。
発生器２を経由してクリヤパルスを計数器３に送出しそ
の出力を例えばオール＠Ｏ″に初期設定する。次に制御
部１ａＶｉサンプルホールド命令をサンプルホールド回
路６へ送出する。この時点における差動増幅器７の出力
はＯｖがＡ／Ｄコンバータ５に送出されているが、制御
部１ａけＡ／Ｄコンバータ５へ変換命令ｔＱを送出して
Ａ／Ｄ変換を行わせてそのディジタル出力値Ｄｏを読み
取り−（マイナス）フルスケール電圧として記憶してお
く。次に制御部１ａよりクロック発生器２を介してクロ
、クパルスを発生させ、計数器３により加算を行い計数
出力を１ろ進める。計数器３よりの計数出力ｔＤｆＴ４
に入力してＤ／Ａ変換し差動増幅器７に入力するとこの
時点ではサンプルホールド回路６からは前のサンプル／
ホールド命令によるアナログ値を保っており差動増幅器
７の他の入力は０なのでその時の差動増幅器７の出力は
υ ＩＭＩＴ４ のはソＫＸＩＬＳＢとなる。
こ＼でＫけ差動増幅器の増幅利得である。制御部１ａは
差動増幅器７の出力を入力されるＡ／Ｄコンバータ５へ
変換命令を送出してディジタル出力値ＤＩを読み取る。
差動増幅器７の出力を入力されるＡ／Ｄコンバータ５へ
変換命令を送出してディジタル出力値ＤＩを読み取る。
？１ＩＩＩ夜部１ａは従来と異り、先に記憶したディジ
タル出力値Ｄｏに加えたＤＯ＋Ｄ１を記憶しておく。次
に制御部１ａはサンプル／ホールド命令をサンプルホー
ルド回路６に送出し。
タル出力値Ｄｏに加えたＤＯ＋Ｄ１を記憶しておく。次
に制御部１ａはサンプル／ホールド命令をサンプルホー
ルド回路６に送出し。
クロック発生器２をしてクロック信号を送出させて計数
器３は加算計数して計数出力をＤｔ！ＩＴ４に入力して
Ｄ／Ａ変換し、差動増幅器７に入力してＡ／Ｄコンバー
タ５で逆変換して得られたディジタル出力値Ｄ２を制御
部１ａにおいてＤＯ＋Ｄ１＋Ｄ２を記憶する。このよう
にすべての組合せについて順番に値を記憶していくと、
制御部１ａには従来４ と同様にその記憶データからはＤＩＴ＆の入力がオール
＠０”とｌ′の時に対応するＡ／Ｄコン器３の初期設定
をオール”１”として＋（プラス）フルスケールに設定
しオール″０”になる迄操作しても同一の結果が得られ
ることは従来と変りない。第４図に本発明の一実施例に
おける変換特性線図を示す。
器３は加算計数して計数出力をＤｔ！ＩＴ４に入力して
Ｄ／Ａ変換し、差動増幅器７に入力してＡ／Ｄコンバー
タ５で逆変換して得られたディジタル出力値Ｄ２を制御
部１ａにおいてＤＯ＋Ｄ１＋Ｄ２を記憶する。このよう
にすべての組合せについて順番に値を記憶していくと、
制御部１ａには従来４ と同様にその記憶データからはＤＩＴ＆の入力がオール
＠０”とｌ′の時に対応するＡ／Ｄコン器３の初期設定
をオール”１”として＋（プラス）フルスケールに設定
しオール″０”になる迄操作しても同一の結果が得られ
ることは従来と変りない。第４図に本発明の一実施例に
おける変換特性線図を示す。
（ｇ） 発明の詳細
な説明し九ように本発明によればＡ／Ｄコンバータに入
力されるクロ、り毎の信号は該クロックにおける変換電
圧と一つ遅れたサンプリングホールドによる保持変換電
圧の差電圧によるＤ／Ａコンバータの単位ステ、プが差
動増幅器でに倍されその電圧をＡ／Ｄ変換した上、ディ
ジタル出力値として制御部において積算するので２例え
ばに、＝１００〜１０００程度の一定に設定すれば殆ん
どノイズの影響が無視出来る。ｔｉ差動増幅器のクロッ
ク毎に得られる出力電圧ははｙ一定領域に限られるため
Ａ／Ｄ変換誤差があったとしても変化が少く、測定誤差
も１／Ｋに減少出来る上。
力されるクロ、り毎の信号は該クロックにおける変換電
圧と一つ遅れたサンプリングホールドによる保持変換電
圧の差電圧によるＤ／Ａコンバータの単位ステ、プが差
動増幅器でに倍されその電圧をＡ／Ｄ変換した上、ディ
ジタル出力値として制御部において積算するので２例え
ばに、＝１００〜１０００程度の一定に設定すれば殆ん
どノイズの影響が無視出来る。ｔｉ差動増幅器のクロッ
ク毎に得られる出力電圧ははｙ一定領域に限られるため
Ａ／Ｄ変換誤差があったとしても変化が少く、測定誤差
も１／Ｋに減少出来る上。
差動増幅器を用いることによりＤ／Ａコンバータおよび
サンプルホールド回路から入力される信号における共通
モード雑音も相殺除去されるので良好な結果が得られる
。
サンプルホールド回路から入力される信号における共通
モード雑音も相殺除去されるので良好な結果が得られる
。
同直線性誤差はフルスケールレンジまたは最低単位ピッ
）（ＬＳＢ）に対する割合で表現するので給体精度は必
要なく、測定時間中差動増幅器におけるドリフト／オフ
セットがＬＳＨに比較して充分小さければ差動増幅器の
利得は一定とする他は任意に設定出来るので贅単な測定
か可能とな氏
）（ＬＳＢ）に対する割合で表現するので給体精度は必
要なく、測定時間中差動増幅器におけるドリフト／オフ
セットがＬＳＨに比較して充分小さければ差動増幅器の
利得は一定とする他は任意に設定出来るので贅単な測定
か可能とな氏
第１図は従来におけるＤ／Ａコンバータの直線性測定方
法によるプロ、り図、第２図はその動作タイムチャート
、第３図は本発明の一実施例におけるＤ／Ａコンバータ
の直線性測定方法によるプロ、り図、第４図はその動作
タイムチャートおよび第５図はＤ／Ａコンバータの変換
特性線図である。図において１，１ａＦｉ制御部、２は
クロック発生器、３は計数器、４ｒｉ被試験体のＤ／Ａ
コンバーク（Ｄ＃Ｔ）、５は基準のＡ／Ｄコンバータ。 ６はサンプルホールド回路および７は差動増幅器である
。
法によるプロ、り図、第２図はその動作タイムチャート
、第３図は本発明の一実施例におけるＤ／Ａコンバータ
の直線性測定方法によるプロ、り図、第４図はその動作
タイムチャートおよび第５図はＤ／Ａコンバータの変換
特性線図である。図において１，１ａＦｉ制御部、２は
クロック発生器、３は計数器、４ｒｉ被試験体のＤ／Ａ
コンバーク（Ｄ＃Ｔ）、５は基準のＡ／Ｄコンバータ。 ６はサンプルホールド回路および７は差動増幅器である
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 クロ、り信号を逐一積算する計数器の計数出力を被測定
体のＤ／Ａコンバータに入力し、その変換出力を基準の
Ａ／Ｄコンバータにより逆変換して得たディジタル出力
を処理して被測定体の直線性を測定するシステムにおい
て、該Ｄ／Ａコンバータの変換出力を差動増幅器に入力
すると共に。 同変換出力を別途備えたサンプルホールド回路に入力し
て得る１クロ、り遅れの保持変換出力と比較して、１ク
ロツク毎に１クロック変化分に相当するアナログ出力の
増ｉ信号を得る手段を備えてなり、該増幅信号を前記Ａ
／Ｄコンバータに入力して１クロツク毎に得るデジタル
出力の積算値により被Ｉ１１定休のＤ／Ａコンバータに
おける出力直線性誤差測定結果を得ることを特徴とする
Ｄ／Ａ凸ンパータの直線性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5495482A JPS58172560A (ja) | 1982-04-02 | 1982-04-02 | Ｄ／ａコンバ−タの直線性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5495482A JPS58172560A (ja) | 1982-04-02 | 1982-04-02 | Ｄ／ａコンバ−タの直線性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58172560A true JPS58172560A (ja) | 1983-10-11 |
Family
ID=12985059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5495482A Pending JPS58172560A (ja) | 1982-04-02 | 1982-04-02 | Ｄ／ａコンバ−タの直線性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58172560A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60232721A (ja) * | 1984-05-02 | 1985-11-19 | Sony Tektronix Corp | デジタル・アナログ変換器用試験装置 |
| JPS61186867A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Ｄａｃ測定回路 |
| JPS62136129A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ａ／ｄコンバ−タの試験方法 |
| JPH01123530A (ja) * | 1987-11-06 | 1989-05-16 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Ｄ／ａ変換器の単調増加特性測定装置 |
| JPH0212075A (ja) * | 1988-03-31 | 1990-01-17 | Hewlett Packard Co <Hp> | インサーキット試験装置および方法 |
| JP2006266837A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Advantest Corp | 試験装置 |
| WO2020250309A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | 三菱電機株式会社 | 誤差検出回路 |
-
1982
- 1982-04-02 JP JP5495482A patent/JPS58172560A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60232721A (ja) * | 1984-05-02 | 1985-11-19 | Sony Tektronix Corp | デジタル・アナログ変換器用試験装置 |
| JPS61186867A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-20 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Ｄａｃ測定回路 |
| JPH0582780B2 (ja) * | 1985-02-14 | 1993-11-22 | Hewlett Packard Yokogawa | |
| JPS62136129A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ａ／ｄコンバ−タの試験方法 |
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| JPWO2020250309A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2021-11-25 | 三菱電機株式会社 | 誤差検出回路 |
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