JPH02306172A - 波形判定方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ディジタルオシロスコープ等の、入力信号の波形をサン
プリングして測定し該測定値が規格値の上限と下限の間
に在るか否かにより良否を判定する波形判定方式に関し
、 入力波形の測定の為のサンプリングの１つのサンプル時
点に多数の規格エリアが有る場合も、測定と判定に時間
が掛らない自動の波形判定方式を目的とし、 人力波形の判定の為の規格データを、予めアドレスとの
組で１ビット毎に符号で書込み記憶するビットマツプメ
モリに格納して置き、測定時に入力波形をサンプリング
した振幅データと時間をアドレスとしｊ亥ビットマツプ
メモリから規格データを続出し、読出したデータの符号
により入力波形の良否を判定するように構成する。

〔産業上の利用分野］ 本発明はディジタルオシロスコープ等の、入力信号の波
形を測定しその測定値が規格値に入っているか否かによ
り良否を判定する波形判定方式に関する。

〔従来の技術〕

従来の波形判定方式は、第３図のブロック図の如く、入
力信号の波形をサンプリング回路１八でタイミング回路
２Ａからの一定周期のサンプルパルスでサンプルし、サ
ンプル出力の各測定値を、比較器３Ａで規格値と比較し
、第４図（ａ）の如く、各測定値ｖＭが規格値の上限Ｖ
、と下限ｖＬの間に在る時は良と判定し、そうでない時
は不良と判定する構成であった。

（発明が解決しようとする課題〕 従来の波形判定方式は、上述の如くサンプル出力の各測
定値を、規格値と比較して良否を判定するが、入力信号
の波形を判定する規格エリアが、入力波形の測定の為の
サンプリングの１つのサンプル時点に多数あって、例え
ば第４図（ｂ）の説明図に示す如く、３個の上限値Ｖ　
Ｈｉと下限値ｖＬ五（ｉ・３）を持つ規格エリア■■■
が有るような場合は、測定は３回に分けて測定しなくて
はならず、良否の判定は夫々、数値計算をして行ってい
る。従って測定と判定に時間が掛り過ぎるという問題が
あった。

本発明は、入力信号波形の測定の為の１つのサンプル点
に、多数の規格エリアが有る場合でも、測定と判定に時
間が掛からない自動の波形判定方式の提供を課題とする
。

〔課題を解決するための手段］ この課題は、第１図に示す如く、入力信号波形の判定の
為の規格データを、予めアドレスとの組で１ビット毎に
例えば良エリアを符号“１″、不良エリアを“０”で符
号別で書込み記憶するビットマツプメモリ６に格納して
置き、測定時に、入力波形の振幅データと時間をアドレ
スとして該ビットマツプメモリから記憶データを読み出
し、読み出したデータの符号により入力波形の良否を判
定するように構成した本発明によって解決される。

本発明の波形判定方式の基本構成を示す第１図の原理図
において、 ｌは、入力波形を一定周期でサンプリングしたアナログ
の振幅値Ａを識別し、ディジタル符号化し振幅データＤ
を出力するＡ／Ｄ変換器である。

２は、時間ベースのアドレスカウンタ３の出力によって
一定周期のパルスを発生するタイミング回路であり、発
生したパルスをＡ／Ｄ変換器１へ供給して入力波形をサ
ンプリングする。

３は、入力信号波形をＡ／Ｄ変換器１でディジタル符号
に変換した振幅データＤの各時間のアドレスを発生する
アドレスカウンタである。

４は、Ａ／Ｄ変換器１からの振幅データＤとアドレスカ
ウンタ３からの時間アドレスとを一組として書き込まれ
記憶するデータメモリである。

５は、測定待合と書込時Ｗで、入力のアドレスを選択す
るアドレスセレクタであり、予め、書込時は、外部から
の波形判定の為の規格データの書込アドレス−を選択し
、測定時は、データメモリ４からの振幅データとアドレ
スカウンタ３からの時間のアドレスを選択しビットマツ
プメモリ６へ送出する。

６は、アドレスセレクタ５の出力をアドレスとして１ビ
ット毎にデータを書き込み／読み出すビットマツプメモ
リであって、９予め符号の“１”、“０”で良のエリア
と不良のエリアを区別して書込んだ入力信号の波形の規
格データを、測定時に読出す。

そしてビットマツプメモリ内に記憶する規格データは、
続出データの各点が良のエリアならば“ｌ”に、不良の
エリアならば“０″にセットして置く。

７は、測定時にビットマツプメモリ６から読出された１
ビット毎の規格データの符号“１”、“０”により、入
力波形の振幅データの続出データを１ビット毎に判定し
、全体波形の良否を判定する判定メモリであって、ビッ
トマツプメモリ６の全アドレスのデータの“１”８“０
”をラッチし最終結果を判定する。

８は、入力信号波形に同期してサンプリングする為にア
ドレスカウンタ３ヘスタート信号を送出するスタート検
出回路である。

〔作用〕

＾／Ｄ変換器ｌに入力されるアナログの波形信号Ａは、
アドレスカウンタ３によって動作するタイミング回路２
の出力パルスでサンプリングされ、Ａ／Ｄ変換器１で符
号化したディジタルの振幅データＤをデータメモリ４に
格納する。データメモリ４内の振幅データとアドレスカ
ウンタ３からの時間アドレスとを一組としてアドレスセ
レクタ５で選択しビットマツプメモリ６のアドレスとす
る。

そして予めビットマツプメモリ６に記憶しである規格デ
ータを読み出しその符号”ｉ”、’ｏ”によって良否を
判定する。ビットマツプメモリ６に記憶する規格データ
は、各アドレス点が良のエリアなら“１″に、不良なら
ば“０”にセットしておく。そして全アドレスのデータ
“１″′、“０”を判定メモリ７でラッチし、最終結果
を一度に判定する。この様に本発明の波形判定方式は、
入力波形の良否をビットマツプメモリ６内のビットデー
タの符号によって判定するため、同じ時間軸、即ち時間
アドレス上に多数の規格エリアが有る場合でも、読み出
して一度で判定することが出来るので問題は解決される
。

［実施例］ 第１図の原理図はその侭、本発明の実施例の波形判定方
式の構成を示し、その構成は既に説明した。そして第２
図はその動作を説明するための判定タイムチャートであ
る。

第５図の判定タイムチャートにおいて、（１）スタート
パルスで、アドレスセレクタ５に測定モードを選択させ
、データメモリ４から該メモリ内の振幅データ（７）（
４）電圧Ｖ　Ｘ（Ｄ　Ｖｏ、Ｖ＋、νＺ、　ｖｆｆ、　
Ｖ４．　ｖ。

−・・ＶＸ−Ｌ＋ｖＸとアドレスカウンタ３からの時間
アドレスの（３）タイム×のＯｌｌ、２．：３＋４．５
”−ｘ−Ｌｘとを一組として選択し、ビットマツプメモ
リ６のアドレスとする。そして予め、アドレスセレクタ
５を書込モードとし、ビットマツプメモリ６に符号“１
”、“０”により良エリアと不良エリアに分けて書き込
み、次に測定モードで、ビットマツプメモリ６に記憶し
である（５）規格データを読み出し、その（５）規格デ
ータの符号“１＃、“０”によって良、不良を判定する
。ビットマツプメモリ６に書込み記憶する（４）規格デ
ータは、各アドレス点が良のエリアなら“１”に、不良
ならば“Ｏ″にセットしておく。そして全アドレスのデ
ータ“１”、“０′″を判定メモリ７でラッチし、判定
メモリ７で最終結果を判定する。

この様に第１図の本発明の波形判定方式は、波形の良否
をビットマツプメモリ６内のビットデータの符号“１”
、“０”によって判定するため、同じ時間軸、即ち時間
アドレス上に多数の規格エリアが有る場合でも読み出し
て一度で判定することが出来るので問題は無い。

〔発明の効果〕

以上説明した如く、本発明によれば、入力波形の良否を
ビットマツプメモリ内のビットデータの符号によって判
定するため、同じ時間軸上に多数の規格エリアが有る場
合でも、一度で判定することが出来て、波形の測定およ
び波形の良否判定の時間を短縮する効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の波形判定方式の基本構成を示す原理図
、 第２図は第１図の波形判定方式の動作を説明するための
判定タイムチャート、 第３図は従来の波形判定方式のブロック図、第４図は従
来の波形判定方式の動作の説明図である。 図において、 １はＡ／Ｄ変換器、２はタイミング回路、３はアドレス
カウンタ、４はデータメモリ、５はアドレスセレクタ、
６はビットマツプメモリ、７は判定メモリ、８はスター
ト信号検出回路である。 −ヘ　　１１１区　　　Ｓ　　　　冨 ←−戦 一 師閣戸

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 入力信号の波形をサンプリングして測定し該測定値が規
   格値の上限と下限の間に在るか否かにより良否を判定す
   る波形判定方式において、 入力波形の判定の為の規格データを、予めアドレスとの
   組で１ビット毎に符号で書込み記憶するビットマップメ
   モリ（６）に格納して置き、測定時に入力波形をサンプ
   リングし符号化した振幅データと時間をアドレスとして
   該ビットマップメモリから規格データを読み出し、読み
   出したデータの符号により入力波形の良否を判定するよ
   うにしたことを特徴とする波形判定方式。