JP2980437B2 - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JP2980437B2 JP2980437B2 JP3274853A JP27485391A JP2980437B2 JP 2980437 B2 JP2980437 B2 JP 2980437B2 JP 3274853 A JP3274853 A JP 3274853A JP 27485391 A JP27485391 A JP 27485391A JP 2980437 B2 JP2980437 B2 JP 2980437B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は例えば被検材内欠陥か
ら反射された超音波アナログ信号を標本化した後量子化
してＡモードにて欠陥データのデイジタル表示をする超
音波探傷装置，特にデイジタル表示の改良に関する。
ら反射された超音波アナログ信号を標本化した後量子化
してＡモードにて欠陥データのデイジタル表示をする超
音波探傷装置，特にデイジタル表示の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５は従来の超音波探傷装置の欠陥エコ
ー表示波形，Ｔは送信パルス，Ｆは欠陥エコー，Ｂは底
面エコーであり，超音波探傷装置にはプラズマパネルや
液晶デイスプレイなどのフラットデイスプレイにＡモー
ド表示を行うデイジタル表示器が用いられる。被検材へ
向け放射された送信パルスＴと被検材底面から反射され
た底面エコーＢとの間に被検材内欠陥から反射された欠
陥エコーＦならびにこの間に発生する雑音などが表示さ
れる。
ー表示波形，Ｔは送信パルス，Ｆは欠陥エコー，Ｂは底
面エコーであり，超音波探傷装置にはプラズマパネルや
液晶デイスプレイなどのフラットデイスプレイにＡモー
ド表示を行うデイジタル表示器が用いられる。被検材へ
向け放射された送信パルスＴと被検材底面から反射され
た底面エコーＢとの間に被検材内欠陥から反射された欠
陥エコーＦならびにこの間に発生する雑音などが表示さ
れる。
【０００３】送信パルスＴ，欠陥エコーＦ，底面エコー
Ｂは標本化周期毎に超音波伝搬方向に標本化され，その
標本値が量子化されて欠陥データとなる。欠陥データは
標本化周期の間隔にてデイジタル表示器の画素単位に表
示される。欠陥エコーがパルス状を呈しその持続時間が
小さくなって標本化周期に近づくと欠陥データ表示の画
素数は減少する。また雑音はその表示レベルの変動が顕
著である。更に被検材に対する探傷位置を変えると欠陥
エコーはそのレベルならびに波形が変わる。
Ｂは標本化周期毎に超音波伝搬方向に標本化され，その
標本値が量子化されて欠陥データとなる。欠陥データは
標本化周期の間隔にてデイジタル表示器の画素単位に表
示される。欠陥エコーがパルス状を呈しその持続時間が
小さくなって標本化周期に近づくと欠陥データ表示の画
素数は減少する。また雑音はその表示レベルの変動が顕
著である。更に被検材に対する探傷位置を変えると欠陥
エコーはそのレベルならびに波形が変わる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の超
音波探傷装置では，Ａモード表示器は超音波伝搬方向を
Ｘ軸，信号レベルをＹ軸とした２次元画面にて構成さ
れ，表示されるパターンは文字，記号，図形などの静止
画像を対象としたものと異なり，被検材からの反射エコ
ーや雑音などの測定信号は絶えずそのレベルが変動する
動画像を対象としたものである。
音波探傷装置では，Ａモード表示器は超音波伝搬方向を
Ｘ軸，信号レベルをＹ軸とした２次元画面にて構成さ
れ，表示されるパターンは文字，記号，図形などの静止
画像を対象としたものと異なり，被検材からの反射エコ
ーや雑音などの測定信号は絶えずそのレベルが変動する
動画像を対象としたものである。
【０００５】表示パターンはＸ軸方向には標本化周期，
Ｙ軸方向には欠陥データレベルに基づく画素単位の輝点
よりなり，その包絡線から欠陥の位置ならびに大いさが
検出される。欠陥エコーがパルス状を呈しその持続時間
が標本化周期に接近したり，また微小欠陥などレベルが
小さいエコーはパターンを形成する画素数が少ないの
で，その包絡線から欠陥エコーの波形を正しく得ること
ができない。従ってこれら包絡線を用いての欠陥検出は
正しく行えない。
Ｙ軸方向には欠陥データレベルに基づく画素単位の輝点
よりなり，その包絡線から欠陥の位置ならびに大いさが
検出される。欠陥エコーがパルス状を呈しその持続時間
が標本化周期に接近したり，また微小欠陥などレベルが
小さいエコーはパターンを形成する画素数が少ないの
で，その包絡線から欠陥エコーの波形を正しく得ること
ができない。従ってこれら包絡線を用いての欠陥検出は
正しく行えない。
【０００６】また微小欠陥はレベルの低い雑音との識別
が困難で微小欠陥の検出ができない。更に表示パターン
を用いて被検材上の欠陥エコー発生位置の検知や欠陥エ
コーと底面エコーのレベルの割合による欠陥評価が迅速
且つ正確に行えない。
が困難で微小欠陥の検出ができない。更に表示パターン
を用いて被検材上の欠陥エコー発生位置の検知や欠陥エ
コーと底面エコーのレベルの割合による欠陥評価が迅速
且つ正確に行えない。
【０００７】表示器は画素密度を向上させるためデータ
間の補間を行い高密度画像表示をすると，装置は小型，
軽量，低コストが実現できなくなり且つ計算時間が多く
なるので応答時間が増して実時間表示が行えないという
問題点があった。
間の補間を行い高密度画像表示をすると，装置は小型，
軽量，低コストが実現できなくなり且つ計算時間が多く
なるので応答時間が増して実時間表示が行えないという
問題点があった。
【０００８】この発明はかかる問題点を解決するために
なされたもので，欠陥は２値濃淡画像を用いて鮮明に表
示され，欠陥の発生位置の検知や欠陥レベルによる欠陥
の大きさの評価が迅速に行えて微小欠陥も容易に検出で
きる小型，軽量，低コストの超音波探傷装置を得ること
を目的とする。
なされたもので，欠陥は２値濃淡画像を用いて鮮明に表
示され，欠陥の発生位置の検知や欠陥レベルによる欠陥
の大きさの評価が迅速に行えて微小欠陥も容易に検出で
きる小型，軽量，低コストの超音波探傷装置を得ること
を目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明に係る超音波探
傷装置は，標本化周期毎に標本値を量子化し欠陥データ
とするＡ−Ｄ変換回路と，欠陥データを格納するライン
メモリと，フレーム画像形成のためＸアドレスとＹアド
レスの指定ならびに書込みを指令するメモリ制御器と，
ラインメモリから読出した欠陥データの値とメモリ制御
器からのＹアドレスの値とを逐次比較してその大きさを
判定する比較器と，メモリ制御器からの指令により標本
化周期方向をＸ軸，量子化方向をＹ軸として比較器出力
を所定アドレスへ順次格納し一画面分のフレーム画像を
形成するフレームメモリを設けたものである。
傷装置は，標本化周期毎に標本値を量子化し欠陥データ
とするＡ−Ｄ変換回路と，欠陥データを格納するライン
メモリと，フレーム画像形成のためＸアドレスとＹアド
レスの指定ならびに書込みを指令するメモリ制御器と，
ラインメモリから読出した欠陥データの値とメモリ制御
器からのＹアドレスの値とを逐次比較してその大きさを
判定する比較器と，メモリ制御器からの指令により標本
化周期方向をＸ軸，量子化方向をＹ軸として比較器出力
を所定アドレスへ順次格納し一画面分のフレーム画像を
形成するフレームメモリを設けたものである。
【００１０】
【作用】この発明においては，被検材内欠陥から反射さ
れた時系列の超音波アナログ信号は，標本化後量子化し
て欠陥データとなる。標本化周期毎の欠陥データの値は
デイジタル表示器におけるＹ軸方向のＹアドレスの値と
比較して，欠陥データの値までは比較器出力は例えば
「１」となりそれ以外は「０」となって，「０」または
「１」の２値信号を出力する。Ｘ軸方向の所定範囲に亙
り上記標本化が行われ，標本化周期毎の比較器出力の２
値信号はフレームメモリ内のＸ軸，Ｙ軸の所定アドレス
へ順次格納され，Ａモード一画面分のフレーム画像が形
成される。
れた時系列の超音波アナログ信号は，標本化後量子化し
て欠陥データとなる。標本化周期毎の欠陥データの値は
デイジタル表示器におけるＹ軸方向のＹアドレスの値と
比較して，欠陥データの値までは比較器出力は例えば
「１」となりそれ以外は「０」となって，「０」または
「１」の２値信号を出力する。Ｘ軸方向の所定範囲に亙
り上記標本化が行われ，標本化周期毎の比較器出力の２
値信号はフレームメモリ内のＸ軸，Ｙ軸の所定アドレス
へ順次格納され，Ａモード一画面分のフレーム画像が形
成される。
【００１１】フレームメモリから読出された２値信号は
デイジタル表示器において，被検材内欠陥が棒グラフ状
の青，白などによる２値の濃淡画像としてＡモードにて
表示される。欠陥エコー，底面エコー，雑音などは鮮明
に表示されて，被検材内の欠陥位置の検知，欠陥エコー
と底面エコーのレベル比較による欠陥評価ならびに微小
欠陥の検出が迅速且つ正確に行える。また装置は小型，
軽量，低コストにできる。
デイジタル表示器において，被検材内欠陥が棒グラフ状
の青，白などによる２値の濃淡画像としてＡモードにて
表示される。欠陥エコー，底面エコー，雑音などは鮮明
に表示されて，被検材内の欠陥位置の検知，欠陥エコー
と底面エコーのレベル比較による欠陥評価ならびに微小
欠陥の検出が迅速且つ正確に行える。また装置は小型，
軽量，低コストにできる。
【００１２】
【実施例】この発明の一実施例を添付図面を参照して詳
細に説明する。図１はこの発明の一実施例を示すブロッ
ク図，１はクロック回路，２は超音波のタイミング信号
を発生するタイミング回路，３はパルス回路，４は探触
子，５は被検材，６は時系列のアナログ信号を受信する
受信回路，７はサンプルホールド回路，８はＡ−Ｄ変換
回路，９はメモリへ格納するデータのアドレス指定なら
びにデータの書込，読出しを指令するメモリ制御器，１
０はラインメモリ，１１は比較器，１３は一画面分のフ
レーム画像を形成するフレームメモリ，１４は駆動回
路，１５はデイジタル型の表示器を示している。
細に説明する。図１はこの発明の一実施例を示すブロッ
ク図，１はクロック回路，２は超音波のタイミング信号
を発生するタイミング回路，３はパルス回路，４は探触
子，５は被検材，６は時系列のアナログ信号を受信する
受信回路，７はサンプルホールド回路，８はＡ−Ｄ変換
回路，９はメモリへ格納するデータのアドレス指定なら
びにデータの書込，読出しを指令するメモリ制御器，１
０はラインメモリ，１１は比較器，１３は一画面分のフ
レーム画像を形成するフレームメモリ，１４は駆動回
路，１５はデイジタル型の表示器を示している。
【００１３】上記のように構成された超音波探傷装置に
おいては，クロック回路１からのクロックはタイミング
回路２にて超音波放射のタイミング信号と同期され，パ
ルス回路３を介して探触子４内の圧電振動子を付勢し，
被検材５へ向けて超音波パルスを放射する。被検材５内
の欠陥から反射された欠陥エコーは受信回路６を経てサ
ンプルホールド回路７にて標本化される。標本値はＡ−
Ｄ変換回路８にて量子化され，メモリ制御器９の指令に
よりいったんラインメモリ１０へ格納される。ラインメ
モリ１０から読出された欠陥データはメモリ制御器９か
らのＹアドレスと共に比較器１１へ加えられる。
おいては，クロック回路１からのクロックはタイミング
回路２にて超音波放射のタイミング信号と同期され，パ
ルス回路３を介して探触子４内の圧電振動子を付勢し，
被検材５へ向けて超音波パルスを放射する。被検材５内
の欠陥から反射された欠陥エコーは受信回路６を経てサ
ンプルホールド回路７にて標本化される。標本値はＡ−
Ｄ変換回路８にて量子化され，メモリ制御器９の指令に
よりいったんラインメモリ１０へ格納される。ラインメ
モリ１０から読出された欠陥データはメモリ制御器９か
らのＹアドレスと共に比較器１１へ加えられる。
【００１４】図２は比較器動作のタイミングチャートの
一例，Ｘアドレス０において，ラインメモリ１０から読
出された欠陥データは例えば２とする。このときＹアド
レスは１から２５５まで変わり，欠陥データとＹアドレ
スはＹアドレスの凡ての範囲に亙り比較器１１にて順次
比較されて，欠陥データの値＞Ｙアドレスの値のとき
「１」，欠陥データの値＜Ｙアドレスの値のとき「０」
を比較器１１は出力する。
一例，Ｘアドレス０において，ラインメモリ１０から読
出された欠陥データは例えば２とする。このときＹアド
レスは１から２５５まで変わり，欠陥データとＹアドレ
スはＹアドレスの凡ての範囲に亙り比較器１１にて順次
比較されて，欠陥データの値＞Ｙアドレスの値のとき
「１」，欠陥データの値＜Ｙアドレスの値のとき「０」
を比較器１１は出力する。
【００１５】当該出力はフレームメモリ１３へ加わり，
メモリ制御器９からの指定されたＸアドレス，Ｙアドレ
スならびに書込指令ＷEによりフレームメモリ１３の所
定位置へ格納される。つぎにＸアドレス２についてライ
ンメモリ１０から読出された欠陥データに同様の処理を
行なう。上記処理はＸ軸方向の標本化の凡ての範囲に亙
り逐次実行される。
メモリ制御器９からの指定されたＸアドレス，Ｙアドレ
スならびに書込指令ＷEによりフレームメモリ１３の所
定位置へ格納される。つぎにＸアドレス２についてライ
ンメモリ１０から読出された欠陥データに同様の処理を
行なう。上記処理はＸ軸方向の標本化の凡ての範囲に亙
り逐次実行される。
【００１６】図３は欠陥データ検出の一例，Ｘアドレス
ならびにＹアドレスの凡ての範囲に亙り比較器１１にて
実行された欠陥データの検出において，欠陥データの値
＞Ｙアドレスの値のとき●にて示し２値信号として検出
され，上記結果は逐次フレームメモリ１２へ格納され
る。図に示すとおり欠陥データは当該レベルまで検出結
果は常に「１」にて表示され，Ａモード一画面分のフレ
ーム画像が形成される。フレームメモリ１３から読出さ
れた２値信号は駆動回路１４により表示器１５へデイジ
タル表示される。
ならびにＹアドレスの凡ての範囲に亙り比較器１１にて
実行された欠陥データの検出において，欠陥データの値
＞Ｙアドレスの値のとき●にて示し２値信号として検出
され，上記結果は逐次フレームメモリ１２へ格納され
る。図に示すとおり欠陥データは当該レベルまで検出結
果は常に「１」にて表示され，Ａモード一画面分のフレ
ーム画像が形成される。フレームメモリ１３から読出さ
れた２値信号は駆動回路１４により表示器１５へデイジ
タル表示される。
【００１７】図４は表示器におけるデイジタル表示の一
例，フレームメモリ１３にて形成されたＡモードのフレ
ーム画像は表示器１５には欠陥エコーが青，白などの２
値の濃淡画像として棒グラフ状に表示される。上記表示
画像は被検材への超音波パルス放射に同期して書きかえ
られるので，欠陥表示はリアルタイムにて行える。
例，フレームメモリ１３にて形成されたＡモードのフレ
ーム画像は表示器１５には欠陥エコーが青，白などの２
値の濃淡画像として棒グラフ状に表示される。上記表示
画像は被検材への超音波パルス放射に同期して書きかえ
られるので，欠陥表示はリアルタイムにて行える。
【００１８】欠陥は棒グラフ状の２値の濃淡画像として
表示されるので，欠陥エコー，底面エコー，雑音などが
鮮明に表示されて，被検材５内の欠陥位置の検知，欠陥
エコーと底面エコーの比較による欠陥評価ならびに雑音
と識別された微小欠陥の検出などが迅速且つ正確に行え
る。上記のとおり簡易な方式にて実施できるので，装置
は小型，軽量，低コストにできる。
表示されるので，欠陥エコー，底面エコー，雑音などが
鮮明に表示されて，被検材５内の欠陥位置の検知，欠陥
エコーと底面エコーの比較による欠陥評価ならびに雑音
と識別された微小欠陥の検出などが迅速且つ正確に行え
る。上記のとおり簡易な方式にて実施できるので，装置
は小型，軽量，低コストにできる。
【００１９】
【発明の効果】この発明は以上説明したとおり，欠陥エ
コーは量子化されて欠陥データとなりＹアドレスとの比
較により２値信号を出力する比較器と，Ａモード一画面
分の２値信号によるフレーム画像を形成するフレームメ
モリを設ける簡単な構造により，欠陥は棒グラフ状の２
値濃淡画像としてＡモードにて鮮明に表示できる。被検
材内の欠陥位置の検知，欠陥エコーと底面エコーの比較
による欠陥評価ならびに微小欠陥の検出などが迅速且つ
正確にできる。装置は小型，軽量，低コストが図れると
いう効果がある。
コーは量子化されて欠陥データとなりＹアドレスとの比
較により２値信号を出力する比較器と，Ａモード一画面
分の２値信号によるフレーム画像を形成するフレームメ
モリを設ける簡単な構造により，欠陥は棒グラフ状の２
値濃淡画像としてＡモードにて鮮明に表示できる。被検
材内の欠陥位置の検知，欠陥エコーと底面エコーの比較
による欠陥評価ならびに微小欠陥の検出などが迅速且つ
正確にできる。装置は小型，軽量，低コストが図れると
いう効果がある。
【図１】この発明の一実施例を示すブロック図
【図２】比較器動作のタイミングチャートの一例
【図３】欠陥データ検出の一例
【図４】表示器におけるデイジタル表示の一例
【図５】従来の超音波探傷装置の欠陥エコー表示波形
８ Ａ−Ｄ変換器 ９ メモリ制御器 １０ ラインメモリ １１ 比較器 １３ フレームメモリ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 泉 東京都大田区南蒲田２丁目16番46号 株 式会社トキメック内 (72)発明者 斉藤 興二 東京都大田区南蒲田２丁目16番46号 株 式会社トキメック内 (56)参考文献 特開 平１−110264（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−236159（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−37256（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−209159（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−95353（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−87782（ＪＰ，Ａ) 実開 昭59−37561（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 29/00 - 29/28
Claims (2)
- 【請求項１】 被検材内に欠陥から反射された時系列の
超音波アナログ信号を離散的な時間にて標本化し且つ量
子化してデイジタル表示器へＡモードにて表示する超音
波探傷装置において，標本化周期毎に標本値を量子化し
欠陥データとするＡ−Ｄ変換回路と，上記欠陥データを
格納するラインメモリと，フレーム画像形成のためＸア
ドレスとＹアドレスの指定ならびに書込みを指令するメ
モリ制御器と，上記ラインメモリから読出した欠陥デー
タの値と上記メモリ制御器からのＹアドレスの値とを逐
次比較してその大きさを判定する比較器と，上記メモリ
制御器からの指令により標本化周期方向をＸ軸上記量子
化方向をＹ軸として比較器出力を所定アドレスへ順次格
納し一画面分のフレーム画像を形成するフレームメモリ
とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。 - 【請求項２】 比較器出力は２値信号である請求項１記
載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3274853A JP2980437B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3274853A JP2980437B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587783A JPH0587783A (ja) | 1993-04-06 |
| JP2980437B2 true JP2980437B2 (ja) | 1999-11-22 |
Family
ID=17547491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3274853A Expired - Fee Related JP2980437B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2980437B2 (ja) |
-
1991
- 1991-09-26 JP JP3274853A patent/JP2980437B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0587783A (ja) | 1993-04-06 |
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