JP2931146B2 - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JP2931146B2 JP2931146B2 JP3274656A JP27465691A JP2931146B2 JP 2931146 B2 JP2931146 B2 JP 2931146B2 JP 3274656 A JP3274656 A JP 3274656A JP 27465691 A JP27465691 A JP 27465691A JP 2931146 B2 JP2931146 B2 JP 2931146B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- address
- defect
- value
- data
- comparator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は例えば被検材内欠陥か
ら反射された超音波アナログ信号を標本化し更に量子化
してＡモードにて欠陥データのデイジタル表示をする超
音波探傷装置，特に鋳造品や溶接材などの欠陥検出に用
いられるＭＡスコープに関する。
ら反射された超音波アナログ信号を標本化し更に量子化
してＡモードにて欠陥データのデイジタル表示をする超
音波探傷装置，特に鋳造品や溶接材などの欠陥検出に用
いられるＭＡスコープに関する。
【０００２】
【従来の技術】鋳造品は結晶組織が粗いので超音波の透
過性が悪くしかも微細な反射の林状エコーを発生する，
また突合せ溶接を施した溶接材からも余盛エコーが発生
する。従って鋳造品や溶接材などの被検材の欠陥検出に
は欠陥エコーと林状エコーや余盛エコーを識別するた
め，被検材上の複数個所における探傷用Ａスコープパタ
ーンを逐次重ね合わせるＭＡスコープ法が用いられてい
た。
過性が悪くしかも微細な反射の林状エコーを発生する，
また突合せ溶接を施した溶接材からも余盛エコーが発生
する。従って鋳造品や溶接材などの被検材の欠陥検出に
は欠陥エコーと林状エコーや余盛エコーを識別するた
め，被検材上の複数個所における探傷用Ａスコープパタ
ーンを逐次重ね合わせるＭＡスコープ法が用いられてい
た。
【０００３】図６は従来の超音波探傷における欠陥検出
の一例，図６ａは斜角探傷による欠陥検出の一例，４は
探触子，５は被検材，２０は欠陥である。例えば突合わ
せ溶接を施した溶接材の被検材５は突合わせ部分に余盛
を形成する。上記余盛内に欠陥２０があるとき，被検材
５上部を斜角探傷用の探触子４が前後走査して欠陥検出
を行うと，図示のとおり，探触子４は被検材５のＦ1と
Ｆ2位置において欠陥２０からの欠陥エコーが，また被
検材５のＢL，ＢU位置において余盛の下面ならびに上面
からの余盛エコーが得られる。
の一例，図６ａは斜角探傷による欠陥検出の一例，４は
探触子，５は被検材，２０は欠陥である。例えば突合わ
せ溶接を施した溶接材の被検材５は突合わせ部分に余盛
を形成する。上記余盛内に欠陥２０があるとき，被検材
５上部を斜角探傷用の探触子４が前後走査して欠陥検出
を行うと，図示のとおり，探触子４は被検材５のＦ1と
Ｆ2位置において欠陥２０からの欠陥エコーが，また被
検材５のＢL，ＢU位置において余盛の下面ならびに上面
からの余盛エコーが得られる。
【０００４】図６ｂは図６ａにおける探傷波形，探触子
４が被検材５上を前後走査して，被検材５上の複数個所
での探傷波形を重ね合わせてＭＡスコープのパターンを
得るために，蓄積形ＣＲＴやカメラの連続露出が利用さ
れている。図に示す探傷波形は探触子４の走査の過程に
おける波形を重ね合わせたＭＡスコープによる欠陥表示
の一例を示し，送信パルスＴ，欠陥エコーＦ1，２回反
射による欠陥エコーＦ2，下面余盛エコーＢL，上面余盛
エコーＢUなどが表示されている。
４が被検材５上を前後走査して，被検材５上の複数個所
での探傷波形を重ね合わせてＭＡスコープのパターンを
得るために，蓄積形ＣＲＴやカメラの連続露出が利用さ
れている。図に示す探傷波形は探触子４の走査の過程に
おける波形を重ね合わせたＭＡスコープによる欠陥表示
の一例を示し，送信パルスＴ，欠陥エコーＦ1，２回反
射による欠陥エコーＦ2，下面余盛エコーＢL，上面余盛
エコーＢUなどが表示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の超
音波探傷装置では，探触子４が鋳造品や溶接材などの被
検材５上を前後走査して，走査過程におけるそれぞれの
位置での探傷波形を重ね合わせると，溶接個所の上面と
下面の２つの余盛エコーの山や欠陥エコーがそれぞれ重
ね合わされてその形状が比較的明確に表示される。余盛
エコーはその発生位置を予め被検材５の端面などを基準
に校正しこれを用いると欠陥エコーと余盛エコーの識別
は容易にできる。
音波探傷装置では，探触子４が鋳造品や溶接材などの被
検材５上を前後走査して，走査過程におけるそれぞれの
位置での探傷波形を重ね合わせると，溶接個所の上面と
下面の２つの余盛エコーの山や欠陥エコーがそれぞれ重
ね合わされてその形状が比較的明確に表示される。余盛
エコーはその発生位置を予め被検材５の端面などを基準
に校正しこれを用いると欠陥エコーと余盛エコーの識別
は容易にできる。
【０００６】しかしＭＡスコープによる探傷波形を形成
させるために，蓄積形ＣＲＴを用いると装置はコストが
上昇し，外形寸法や重量が増加して取扱いが繁雑にな
る。
させるために，蓄積形ＣＲＴを用いると装置はコストが
上昇し，外形寸法や重量が増加して取扱いが繁雑にな
る。
【０００７】またカメラの連続露出を利用すると，本装
置のコストの上昇，外形寸法や重量の増加ならびに取扱
いが繁雑になり，更に撮影フィルムからのデータの再生
に時間を要しデータ入手が迅速に行えないという問題点
があった。
置のコストの上昇，外形寸法や重量の増加ならびに取扱
いが繁雑になり，更に撮影フィルムからのデータの再生
に時間を要しデータ入手が迅速に行えないという問題点
があった。
【０００８】この発明はかかる問題点を解決するために
なされたもので，鋳造品や溶接材などの欠陥検出におい
て林状エコーや余盛エコーなどの不要エコーと欠陥エコ
ーの識別が容易になり，欠陥検出が迅速且つ正確に行え
る小型，軽量，低コストの超音波探傷装置を得ることを
目的とする。
なされたもので，鋳造品や溶接材などの欠陥検出におい
て林状エコーや余盛エコーなどの不要エコーと欠陥エコ
ーの識別が容易になり，欠陥検出が迅速且つ正確に行え
る小型，軽量，低コストの超音波探傷装置を得ることを
目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明に係る超音波探
傷装置は、被検材上の複数箇所におけるそれぞれのＡモ
ード表示を重ね合わせて、欠陥エコーの深さを意味する
Ｘアドレスと欠陥エコーの振幅を意味するＹアドレスと
により二次元に欠陥エコーを表示するＭＡモード表示を
行うものにおいて、被検材上の各箇所から超音波パルス
放射後に時系列的に得られるアナログ受信信号を標本化
周期毎に離散的に標本化し且つ量子化して欠陥データを
出力するＡ−Ｄ変換回路と、逐次変化するＸアドレス値
と対応づけながら、上記欠陥データを時系列的に順次格
納するラインメモリと、フレーム画像のＹアドレス範囲
に亘って逐次変化するＹアドレス値を出力するメモリ制
御器と、ラインメモリに格納され各Ｘアドレス値に対応
づけられた欠陥データ毎に、該欠陥データの値と、上記
メモリ制御器から発生されＹアドレス範囲に亘って逐次
変化するＹアドレス値とを比較し、欠陥データの値がＹ
アドレス値よりも大きいときに所定出力を出力する比較
器と、ＸアドレスとＹアドレスを持ち１画面分のフレー
ム画像を形成するフレームメモリと、前記比較器から所
定出力が出力されたときのみに、そのときの欠陥データ
に対応づけられたＸアドレス値とメモリ制御器から出力
されたＹアドレス値にそれぞれ対応したフレームメモリ
のＸアドレスとＹアドレスに、比較器からの所定出力を
重ね書きする書込制御回路と、を備えたことを特徴とす
る。 また、前記比較器からの出力は２値信号であり、
フレームメモリには２値信号が格納されることとするこ
とができる。
傷装置は、被検材上の複数箇所におけるそれぞれのＡモ
ード表示を重ね合わせて、欠陥エコーの深さを意味する
Ｘアドレスと欠陥エコーの振幅を意味するＹアドレスと
により二次元に欠陥エコーを表示するＭＡモード表示を
行うものにおいて、被検材上の各箇所から超音波パルス
放射後に時系列的に得られるアナログ受信信号を標本化
周期毎に離散的に標本化し且つ量子化して欠陥データを
出力するＡ−Ｄ変換回路と、逐次変化するＸアドレス値
と対応づけながら、上記欠陥データを時系列的に順次格
納するラインメモリと、フレーム画像のＹアドレス範囲
に亘って逐次変化するＹアドレス値を出力するメモリ制
御器と、ラインメモリに格納され各Ｘアドレス値に対応
づけられた欠陥データ毎に、該欠陥データの値と、上記
メモリ制御器から発生されＹアドレス範囲に亘って逐次
変化するＹアドレス値とを比較し、欠陥データの値がＹ
アドレス値よりも大きいときに所定出力を出力する比較
器と、ＸアドレスとＹアドレスを持ち１画面分のフレー
ム画像を形成するフレームメモリと、前記比較器から所
定出力が出力されたときのみに、そのときの欠陥データ
に対応づけられたＸアドレス値とメモリ制御器から出力
されたＹアドレス値にそれぞれ対応したフレームメモリ
のＸアドレスとＹアドレスに、比較器からの所定出力を
重ね書きする書込制御回路と、を備えたことを特徴とす
る。 また、前記比較器からの出力は２値信号であり、
フレームメモリには２値信号が格納されることとするこ
とができる。
【００１０】
【作用】この発明においては、被検材内から反射された
アナログ受信信号は、標本化後量子化されて欠陥データ
になる。この欠陥データは、逐次変化するＸアドレス値
と対応づけられながら、ラインメモリに時系列的に順
次、格納される。ラインメモリに格納され各Ｘアドレス
値に対応づけられた欠陥データは、比較器において、メ
モリ制御器から発生されＹアドレス範囲に亘って逐次変
化するＹアドレス値と比較される。欠陥データの値がＹ
アドレス値よりも大きいときに所定出力が比較器より出
力される。比較器からの出力を2値信号とするときに
は、比較器出力は、Ｙアドレス値が欠陥データの値と等
しくなるまでは例えば「１」となり、それ以外は「０」
となる。比較器からの出力は、書込制御回路へと送られ
る。
アナログ受信信号は、標本化後量子化されて欠陥データ
になる。この欠陥データは、逐次変化するＸアドレス値
と対応づけられながら、ラインメモリに時系列的に順
次、格納される。ラインメモリに格納され各Ｘアドレス
値に対応づけられた欠陥データは、比較器において、メ
モリ制御器から発生されＹアドレス範囲に亘って逐次変
化するＹアドレス値と比較される。欠陥データの値がＹ
アドレス値よりも大きいときに所定出力が比較器より出
力される。比較器からの出力を2値信号とするときに
は、比較器出力は、Ｙアドレス値が欠陥データの値と等
しくなるまでは例えば「１」となり、それ以外は「０」
となる。比較器からの出力は、書込制御回路へと送られ
る。
【００１１】書込制御回路は、比較器出力が出力された
場合（２値出力の場合は「１」の場合）のみに、フレー
ムメモリのＸアドレスとＹアドレスに比較器出力を重ね
書きする。こうしてＡモード一画面分のフレーム画像が
形成され、以上の手順を被検材の各箇所において繰り返
すことにより、最大値が蓄積されＭＡモード表示が行わ
れる。
場合（２値出力の場合は「１」の場合）のみに、フレー
ムメモリのＸアドレスとＹアドレスに比較器出力を重ね
書きする。こうしてＡモード一画面分のフレーム画像が
形成され、以上の手順を被検材の各箇所において繰り返
すことにより、最大値が蓄積されＭＡモード表示が行わ
れる。
【００１２】鋳造品や溶接材などの欠陥検出において，
林状エコーや余盛エコーなどの不要エコーと欠陥エコー
はその形状や欠陥位置などが鮮明に表示されて識別が容
易になり，欠陥検出や欠陥評価が迅速に行える。また装
置は小型，軽量，低コストにできる。
林状エコーや余盛エコーなどの不要エコーと欠陥エコー
はその形状や欠陥位置などが鮮明に表示されて識別が容
易になり，欠陥検出や欠陥評価が迅速に行える。また装
置は小型，軽量，低コストにできる。
【００１３】
【実施例】この発明の一実施例を添付図面を参照して詳
細に説明する。図１はこの発明の一実施例を示すブロッ
ク図，１はクロック回路，２は超音波放射のタイミング
信号を発生するタイミング回路，３はパルス回路，４は
探触子，５は被検材，６は時系列のアナログ信号を受信
する受信回路，７はサンプルホールド回路，８はＡ−Ｄ
変換回路，９はメモリへ格納するデータのアドレス指定
ならびにデータの書込みを指令するメモリ制御器，１０
はラインメモリ，１１は比較器，１２は比較器１１出力
に応じて書込指令を出力する書込制御回路，１３は一画
面分のフレーム画像を形成するフレームメモリ，１４は
駆動回路，１５はデイジタル型の表示器を示している。
細に説明する。図１はこの発明の一実施例を示すブロッ
ク図，１はクロック回路，２は超音波放射のタイミング
信号を発生するタイミング回路，３はパルス回路，４は
探触子，５は被検材，６は時系列のアナログ信号を受信
する受信回路，７はサンプルホールド回路，８はＡ−Ｄ
変換回路，９はメモリへ格納するデータのアドレス指定
ならびにデータの書込みを指令するメモリ制御器，１０
はラインメモリ，１１は比較器，１２は比較器１１出力
に応じて書込指令を出力する書込制御回路，１３は一画
面分のフレーム画像を形成するフレームメモリ，１４は
駆動回路，１５はデイジタル型の表示器を示している。
【００１４】上記のように構成された超音波探傷装置に
おいては，クロック回路１からのクロックとタイミング
回路２による超音波放射のタイミング信号とは同期し，
パルス回路３を介して探触子４内の圧電振動子を付勢
し，被検材５へ向けて超音波パルスが放射される。被検
材５内の欠陥から反射された欠陥エコーは受信回路６を
経てサンプルホールド回路７にて標本化される。標本値
はＡ−Ｄ変換回路８にて量子化され，メモリ制御器９の
指令によりいったんラインメモリ１０へ格納される。ラ
インメモリ１０から読出された欠陥データはメモリ制御
器９からのＹアドレスと共に比較器１１へ加えられる。
おいては，クロック回路１からのクロックとタイミング
回路２による超音波放射のタイミング信号とは同期し，
パルス回路３を介して探触子４内の圧電振動子を付勢
し，被検材５へ向けて超音波パルスが放射される。被検
材５内の欠陥から反射された欠陥エコーは受信回路６を
経てサンプルホールド回路７にて標本化される。標本値
はＡ−Ｄ変換回路８にて量子化され，メモリ制御器９の
指令によりいったんラインメモリ１０へ格納される。ラ
インメモリ１０から読出された欠陥データはメモリ制御
器９からのＹアドレスと共に比較器１１へ加えられる。
【００１５】図２は比較器動作のタイミングチャートの
一例、Ｘアドレス０において、ラインメモリ１０から読
出された欠陥データは例えば２とする。このときメモリ
制御器９から発生されたＹアドレスは１から２５５まで
変わり、欠陥データとＹアドレスの凡ての範囲に亙り比
較器１１にて順次比較されて、欠陥データの値＞Ｙアド
レスの値のとき「１」、欠陥データの値≦Ｙアドレスの
値のとき「０」を比較器１１は出力する。
一例、Ｘアドレス０において、ラインメモリ１０から読
出された欠陥データは例えば２とする。このときメモリ
制御器９から発生されたＹアドレスは１から２５５まで
変わり、欠陥データとＹアドレスの凡ての範囲に亙り比
較器１１にて順次比較されて、欠陥データの値＞Ｙアド
レスの値のとき「１」、欠陥データの値≦Ｙアドレスの
値のとき「０」を比較器１１は出力する。
【００１６】当該出力はフレームメモリ１３とメモリ制
御器９からの書込指令が供給される書込制御回路１２へ
それぞれ加わり、書込制御回路１２は比較器１１出力が
「１」を呈するときのみ書込指令信号Ｗ Ｅ をフレームメ
モリ１３へ出力する。フレームメモリ１３においては書
込制御回路１２からの指令によりメモリ制御器９にて指
定されたＸアドレス、Ｙアドレスの格納データが更新さ
れ、比較器１１の出力である「１」に更新される。
御器９からの書込指令が供給される書込制御回路１２へ
それぞれ加わり、書込制御回路１２は比較器１１出力が
「１」を呈するときのみ書込指令信号Ｗ Ｅ をフレームメ
モリ１３へ出力する。フレームメモリ１３においては書
込制御回路１２からの指令によりメモリ制御器９にて指
定されたＸアドレス、Ｙアドレスの格納データが更新さ
れ、比較器１１の出力である「１」に更新される。
【００１７】つぎにＸアドレス１において，ラインメモ
リ１０から読出された欠陥データについて同様の処理が
行われる。
リ１０から読出された欠陥データについて同様の処理が
行われる。
【００１８】上記処理はＸ軸方向の標本化の凡ての範囲
に亙り逐次実行される。この処理は欠陥データが前回ま
での格納データより大きいデータのみ重ね書きを行な
い，小さいときは書き込みを行わないので最大値を保持
する作用がある。
に亙り逐次実行される。この処理は欠陥データが前回ま
での格納データより大きいデータのみ重ね書きを行な
い，小さいときは書き込みを行わないので最大値を保持
する作用がある。
【００１９】図３はフレームメモリ動作の一例であり、
図３ａは前回にメモリに格納されたデータを表す。この
例では、前回に、Ｘアドレス０で欠陥データ「５」、Ｘ
アドレス１で欠陥データ「３」が得られている。図７ａ
のタイミングチャートに示した比較器１１動作により、
Ｘアドレス０に対して、Ｙアドレスが４以下までは、欠
陥データの値がＹアドレス値よりも大きいので、フレー
ムメモリ１３には比較器１１出力であるデータ「１」が
格納されており、Ｙアドレスが４より大きいところで
は、比較器１１出力であるデータ「０」が格納されてい
る。また、同様に、Ｘアドレス１に対して、Ｙアドレス
が２以下までは、欠陥データの値がＹアドレス値よりも
大きいので、フレームメモリ１３には比較器１１出力で
あるデータ「１」が格納されており、Ｙアドレスが２よ
り大きいところでは、比較器１１出力であるデータ
「０」が格納されている。図３ｂと図３ｃは、探触子４
が被検材５上を走査したときの、Ｘアドレスが同一位置
における欠陥データ例を示し、図３ｂは欠陥データがＸ
アドレス０で「７」、Ｘアドレス１で「４」が得られた
場合、即ち前回より大きい欠陥データが得られた場合、
図３ｃは欠陥データがＸアドレス０で「４」、Ｘアドレ
ス１で「２」が得られた場合、即ち前回より小さい欠陥
データが得られた場合である。
図３ａは前回にメモリに格納されたデータを表す。この
例では、前回に、Ｘアドレス０で欠陥データ「５」、Ｘ
アドレス１で欠陥データ「３」が得られている。図７ａ
のタイミングチャートに示した比較器１１動作により、
Ｘアドレス０に対して、Ｙアドレスが４以下までは、欠
陥データの値がＹアドレス値よりも大きいので、フレー
ムメモリ１３には比較器１１出力であるデータ「１」が
格納されており、Ｙアドレスが４より大きいところで
は、比較器１１出力であるデータ「０」が格納されてい
る。また、同様に、Ｘアドレス１に対して、Ｙアドレス
が２以下までは、欠陥データの値がＹアドレス値よりも
大きいので、フレームメモリ１３には比較器１１出力で
あるデータ「１」が格納されており、Ｙアドレスが２よ
り大きいところでは、比較器１１出力であるデータ
「０」が格納されている。図３ｂと図３ｃは、探触子４
が被検材５上を走査したときの、Ｘアドレスが同一位置
における欠陥データ例を示し、図３ｂは欠陥データがＸ
アドレス０で「７」、Ｘアドレス１で「４」が得られた
場合、即ち前回より大きい欠陥データが得られた場合、
図３ｃは欠陥データがＸアドレス０で「４」、Ｘアドレ
ス１で「２」が得られた場合、即ち前回より小さい欠陥
データが得られた場合である。
【００２０】図３ｂの場合は、図７ｂのタイミングチャ
ートに示した比較器１１動作により、Ｘアドレス０に対
して、Ｙアドレスが６以下までは、欠陥データの値がＹ
アドレス値よりも大きいので、フレームメモリ１３は、
比較器１１出力であるデータ「１」に更新される。ま
た、Ｘアドレス１に対して、Ｙアドレス３以下までは、
欠陥データの値がＹアドレス値よりも大きいので、フレ
ームメモリ１３は、比較器１１出力であるデータ「１」
に更新される。このようにして、図３ｄのようにフレー
ムメモリ１３は、Ｘアドレス０において「５」から
「７」へ、またＸアドレス１において「３」から「４」
へそれぞれ更新されることになる。また、図３ｃの場合
は、図７ｃのタイミングチャートに示した比較器１１動
作により、Ｘアドレス０に対して、Ｙアドレスが３以下
までは、欠陥データの値がＹアドレス値よりも大きいの
で、フレームメモリ１３は、比較器１１出力であるデー
タ「１」に更新され、Ｙアドレスが３より大きいと、欠
陥データの値がＹアドレス値よりも小さくなるので、フ
レームメモリ１３のデータは更新されず、前回のデータ
が残る。また、Ｘアドレス１に対して、Ｙアドレス１以
下までは、欠陥データの値がＹアドレス値よりも大きい
ので、フレームメモリ１３は、比較器１１出力であるデ
ータ「１」に更新され、Ｙアドレスが１より大きいと、
欠陥データの値がＹアドレス値よりも小さくなるので、
フレームメモリ１３のデータは更新されず、前回のデー
タが残り、図３（ｅ）のようになる。こうして、図３ｂ
のように前回のデータよりも欠陥データが大きい場合に
は、そのデータに更新され、図３ｃのように前回のデー
タよりも欠陥データが小さい場合にはデータの更新は行
われず、結果的に１回目のデータが保持され、最大値が
残ることになる。
ートに示した比較器１１動作により、Ｘアドレス０に対
して、Ｙアドレスが６以下までは、欠陥データの値がＹ
アドレス値よりも大きいので、フレームメモリ１３は、
比較器１１出力であるデータ「１」に更新される。ま
た、Ｘアドレス１に対して、Ｙアドレス３以下までは、
欠陥データの値がＹアドレス値よりも大きいので、フレ
ームメモリ１３は、比較器１１出力であるデータ「１」
に更新される。このようにして、図３ｄのようにフレー
ムメモリ１３は、Ｘアドレス０において「５」から
「７」へ、またＸアドレス１において「３」から「４」
へそれぞれ更新されることになる。また、図３ｃの場合
は、図７ｃのタイミングチャートに示した比較器１１動
作により、Ｘアドレス０に対して、Ｙアドレスが３以下
までは、欠陥データの値がＹアドレス値よりも大きいの
で、フレームメモリ１３は、比較器１１出力であるデー
タ「１」に更新され、Ｙアドレスが３より大きいと、欠
陥データの値がＹアドレス値よりも小さくなるので、フ
レームメモリ１３のデータは更新されず、前回のデータ
が残る。また、Ｘアドレス１に対して、Ｙアドレス１以
下までは、欠陥データの値がＹアドレス値よりも大きい
ので、フレームメモリ１３は、比較器１１出力であるデ
ータ「１」に更新され、Ｙアドレスが１より大きいと、
欠陥データの値がＹアドレス値よりも小さくなるので、
フレームメモリ１３のデータは更新されず、前回のデー
タが残り、図３（ｅ）のようになる。こうして、図３ｂ
のように前回のデータよりも欠陥データが大きい場合に
は、そのデータに更新され、図３ｃのように前回のデー
タよりも欠陥データが小さい場合にはデータの更新は行
われず、結果的に１回目のデータが保持され、最大値が
残ることになる。
【００２１】図４は欠陥データ検出の一例，Ｘアドレス
の凡ての範囲に亙り比較器１１にて実行された欠陥デー
タの検出において，欠陥データの値＞Ｙアドレスの値の
とき●にて示し２値信号として検出され，図示のとおり
欠陥データは当該レベルまで常に「１」にて表示され
る。探触子４が被検材５上を走査してそれぞれの走査位
置における欠陥データを逐次フレームメモリへ加え，そ
れぞれのアドレスにおいて前回までの格納データより大
きなデータが加わったときのみデータが更新される。従
って欠陥データの最大値よりなるＡモード一画面分のフ
レーム画像が形成される。フレームメモリ１３から読出
された２値信号は駆動回路１４により表示器１５へデイ
ジタル表示される。
の凡ての範囲に亙り比較器１１にて実行された欠陥デー
タの検出において，欠陥データの値＞Ｙアドレスの値の
とき●にて示し２値信号として検出され，図示のとおり
欠陥データは当該レベルまで常に「１」にて表示され
る。探触子４が被検材５上を走査してそれぞれの走査位
置における欠陥データを逐次フレームメモリへ加え，そ
れぞれのアドレスにおいて前回までの格納データより大
きなデータが加わったときのみデータが更新される。従
って欠陥データの最大値よりなるＡモード一画面分のフ
レーム画像が形成される。フレームメモリ１３から読出
された２値信号は駆動回路１４により表示器１５へデイ
ジタル表示される。
【００２２】図５は表示器におけるデイジタル表示の一
例，フレームメモリ１３に形成されたＡモードのフレー
ム画像は，表示器１５には欠陥エコーは被検材５内から
の不要エコーとともにレベルの最大値が青，白などの２
値濃淡画像として棒グラフ状に表示される。即ちＭＡス
コープの表示が形成される。
例，フレームメモリ１３に形成されたＡモードのフレー
ム画像は，表示器１５には欠陥エコーは被検材５内から
の不要エコーとともにレベルの最大値が青，白などの２
値濃淡画像として棒グラフ状に表示される。即ちＭＡス
コープの表示が形成される。
【００２３】上記のとおり表示されるＭＡスコープを用
いた鋳造品や溶接材などの欠陥検出において，林状エコ
ーや余盛エコーなどの不要エコーと欠陥エコーの識別が
容易になり，欠陥エコーや底面エコーはその最大値が得
られるので両者のレベル比較による欠陥評価が正しく行
える。またＭＡスコープによる画像表示を得るには，付
属機器を設けることなく，フレームメモリ１３への欠陥
データの書込制御により行えるので，装置は小型，軽
量，低コストが実現できる。
いた鋳造品や溶接材などの欠陥検出において，林状エコ
ーや余盛エコーなどの不要エコーと欠陥エコーの識別が
容易になり，欠陥エコーや底面エコーはその最大値が得
られるので両者のレベル比較による欠陥評価が正しく行
える。またＭＡスコープによる画像表示を得るには，付
属機器を設けることなく，フレームメモリ１３への欠陥
データの書込制御により行えるので，装置は小型，軽
量，低コストが実現できる。
【００２４】
【発明の効果】この発明は以上説明したとおり、各Ｘア
ドレス値に対応づけられた欠陥データの値とメモリ制御
器から出力され逐次変化するＹアドレス値とを比較し、
欠陥データの値がＹアドレス値よりも大きいときに比較
器が所定出力を出力し、比較器出力が出力されたとき
に、そのときの欠陥データに対応づけられたＸアドレス
値とメモリ制御器から出力されたＹアドレス値にそれぞ
れ対応したフレームメモリのＸアドレスとＹアドレス
に、比較器からの所定出力を重ね書きすることで、結果
的に複数エコーの最大値が蓄積され表示されることとな
り、簡単にかつ鮮明にＭＡモードが実現できる。
ドレス値に対応づけられた欠陥データの値とメモリ制御
器から出力され逐次変化するＹアドレス値とを比較し、
欠陥データの値がＹアドレス値よりも大きいときに比較
器が所定出力を出力し、比較器出力が出力されたとき
に、そのときの欠陥データに対応づけられたＸアドレス
値とメモリ制御器から出力されたＹアドレス値にそれぞ
れ対応したフレームメモリのＸアドレスとＹアドレス
に、比較器からの所定出力を重ね書きすることで、結果
的に複数エコーの最大値が蓄積され表示されることとな
り、簡単にかつ鮮明にＭＡモードが実現できる。
【図１】この発明の一実施例を示すブロック図
【図２】比較器動作のタイミングチャートの一例
【図３】フレームメモリ動作の一例ａは前回までのメモ
リの格納データｂは欠陥データの例（前回より大きい場
合）ｃは欠陥データの例（前回より小さい場合）ｄ，ｅ
は更新後のメモリの格納データ
リの格納データｂは欠陥データの例（前回より大きい場
合）ｃは欠陥データの例（前回より小さい場合）ｄ，ｅ
は更新後のメモリの格納データ
【図４】欠陥データ検出の一例
【図５】表示器におけるデイジタル表示の一例
【図６】従来の超音波探傷における欠陥検出の一例ａは
斜角探傷による欠陥検出の一例ｂは図６ａにおける探傷
波形
斜角探傷による欠陥検出の一例ｂは図６ａにおける探傷
波形
【図７】
ａ，ｂ，ｃはそれぞれ図３ａ，ｂ，ｃにおける
比較器動作のタイミングチャート
比較器動作のタイミングチャート
８ Ａ−Ｄ変換器 ９ メモリ制御器 １０ ラインメモリ １１ 比較器 １２ 書込制御回路 １３ フレームメモリ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 泉 東京都大田区南蒲田２丁目16番46号 株 式会社トキメック内 (72)発明者 斉藤 興二 東京都大田区南蒲田２丁目16番46号 株 式会社トキメック内 (56)参考文献 特開 平３−209159（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−57969（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−173958（ＪＰ，Ａ) 実開 昭59−37561（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 29/00 - 29/28
Claims (2)
- 【請求項１】 被検材上の複数箇所におけるそれぞれの
Ａモード表示を重ね合わせて、欠陥エコーの深さを意味
するＸアドレスと欠陥エコーの振幅を意味するＹアドレ
スとにより二次元に欠陥エコーを表示するＭＡモード表
示を行う超音波探傷装置において、 被検材上の各箇所から超音波パルス放射後に時系列的に
得られるアナログ受信信号を標本化周期毎に離散的に標
本化し且つ量子化して欠陥データを出力するＡ−Ｄ変換
回路と、 逐次変化するＸアドレス値と対応づけながら、上記欠陥
データを時系列的に順次格納するラインメモリと、 フレーム画像のＹアドレス範囲に亘って逐次変化するＹ
アドレス値を出力するメモリ制御器と、 ラインメモリに格納され各Ｘアドレス値に対応づけられ
た欠陥データ毎に、該欠陥データの値と、上記メモリ制
御器から発生されＹアドレス範囲に亘って逐次変化する
Ｙアドレス値とを比較し、欠陥データの値がＹアドレス
値よりも大きいときに所定出力を出力する比較器と、 ＸアドレスとＹアドレスを持ち１画面分のフレーム画像
を形成するフレームメモリと、 前記比較器から所定出力が出力されたときのみに、その
ときの欠陥データに対応づけられたＸアドレス値とメモ
リ制御器から出力されたＹアドレス値にそれぞれ対応し
たフレームメモリのＸアドレスとＹアドレスに、比較器
からの所定出力を重ね書きする書込制御回路と、 を備えたことを特徴とする超音波探傷装置。 - 【請求項２】 前記比較器出力は２値信号であり、フレ
ームメモリには２値信号が格納される請求項１記載の超
音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3274656A JP2931146B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3274656A JP2931146B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587782A JPH0587782A (ja) | 1993-04-06 |
| JP2931146B2 true JP2931146B2 (ja) | 1999-08-09 |
Family
ID=17544731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3274656A Expired - Lifetime JP2931146B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2931146B2 (ja) |
-
1991
- 1991-09-26 JP JP3274656A patent/JP2931146B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0587782A (ja) | 1993-04-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2523101B2 (ja) | 音響画像形成システム及び方法 | |
| EP0065992B1 (en) | Stress distribution measuring instrument | |
| US5224481A (en) | Image displaying method and device for realizing same in an ultrasonic diagnostic apparatus | |
| US5042305A (en) | Ultrasonic flaw detecting system | |
| JP2010032434A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| US4172386A (en) | Video A-trace display system for ultrasonic diagnostic system | |
| JP2931146B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| US6441775B1 (en) | Radar device, similar device, and received data write method | |
| US5623100A (en) | Ultrasonic inspection and imaging intstrument | |
| EP0008010B1 (en) | Method of detecting flaws on surfaces | |
| US4916535A (en) | Method of non-destructive quality inspection of materials and videomonitor realizing this method | |
| JP2980437B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP2712495B2 (ja) | Ｘ線透視画像の欠陥補償装置 | |
| JPS5868674A (ja) | アナログ信号蓄積兼処理装置 | |
| JP2931145B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPH01286244A (ja) | 走査振動を補正する電子ビーム装置 | |
| JPH05164702A (ja) | 表面検査装置 | |
| JP3034732B2 (ja) | 金属薄板内部欠陥の２次元画像表示方法および装置 | |
| JP3154271B2 (ja) | 超音波探査映像装置の波形取得・表示方法 | |
| JPH0432626Y2 (ja) | ||
| SU1008779A1 (ru) | Устройство дл отображени дефектов исследуемого объекта на экране электронно-лучевой трубки /ЭЛТ/ | |
| JP2654554B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPH0550705B2 (ja) | ||
| JPH03152454A (ja) | 超音波測定装置 | |
| CN111929361A (zh) | 一种超声检测辅助记录方法 |