JPH0550705B2 - - Google Patents
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- JPH0550705B2 JPH0550705B2 JP59221605A JP22160584A JPH0550705B2 JP H0550705 B2 JPH0550705 B2 JP H0550705B2 JP 59221605 A JP59221605 A JP 59221605A JP 22160584 A JP22160584 A JP 22160584A JP H0550705 B2 JPH0550705 B2 JP H0550705B2
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- JP
- Japan
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- gain control
- control signal
- transducers
- scanning
- sensitivity
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 21
- 239000011295 pitch Substances 0.000 claims description 17
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 12
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/40—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by amplitude filtering, e.g. by applying a threshold or by gain control
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/34—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/341—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor with time characteristics
- G01N29/343—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor with time characteristics pulse waves, e.g. particular sequence of pulses, bursts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/4463—Signal correction, e.g. distance amplitude correction [DAC], distance gain size [DGS], noise filtering
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、超音波の送、受信により被検体の検
査を行うための電子走査型の超音波診断装置に関
するものである。
査を行うための電子走査型の超音波診断装置に関
するものである。
従来例の構成とその問題点
一般的な電子走査型の超音波診断装置は、複数
個、例えば第１図ａに示すように64個の超音波振
動子P1〜P64を並列に配置した超音波探触子を用
い、各振動子の放射面が水中に置かれた反射物体
である被検体TGと平行になるようにし、先ず８
個の振動子P1〜P8を１単位として励振させ、次
に１個の振動子（ピツチＴ）分ずらして振動子
P2〜P9を１単位として励振させ、以下順次P3〜
P10，P4〜P11，P5〜P12……の各単位の振動子を
励振させて直線的に電子走査を行い、被検体TG
からの反射信号を受信するようになつている。第
１図ｂは、上記振動子の１単位を１振動子（ピツ
チＴ）分ずらすためのシフトパルスSFと、この
シフトパルスSFに同期して、振動子へ加える励
振パルスＤのタイミングと上記励振パルスＤによ
つて得られた被検体TGからの反射信号E1〜E57
を表わしている。ところで、第１図ａにおける振
動子P1〜P64の超音波放射面と被検体TGとの平
行条件により、各この走査ピツチで受信された反
射信号E1，E2，E3……E57の大きさはそれぞれ等
しいはずであるが、各振動子間の特性のバラツキ
により各走査ピツチ毎に受信感度差が生じ、超音
波画像を悪化させ、診断上、大きな問題となつて
いる。而して一般的な電子走査型探触子の超音波
振動子数は64個以上用いられており、各振動子に
ついてその特性の差を補正することはかなり大き
なものになるため、従来からこの特性の差を簡単
な手段により補正することができる装置が望まれ
ていた。
個、例えば第１図ａに示すように64個の超音波振
動子P1〜P64を並列に配置した超音波探触子を用
い、各振動子の放射面が水中に置かれた反射物体
である被検体TGと平行になるようにし、先ず８
個の振動子P1〜P8を１単位として励振させ、次
に１個の振動子（ピツチＴ）分ずらして振動子
P2〜P9を１単位として励振させ、以下順次P3〜
P10，P4〜P11，P5〜P12……の各単位の振動子を
励振させて直線的に電子走査を行い、被検体TG
からの反射信号を受信するようになつている。第
１図ｂは、上記振動子の１単位を１振動子（ピツ
チＴ）分ずらすためのシフトパルスSFと、この
シフトパルスSFに同期して、振動子へ加える励
振パルスＤのタイミングと上記励振パルスＤによ
つて得られた被検体TGからの反射信号E1〜E57
を表わしている。ところで、第１図ａにおける振
動子P1〜P64の超音波放射面と被検体TGとの平
行条件により、各この走査ピツチで受信された反
射信号E1，E2，E3……E57の大きさはそれぞれ等
しいはずであるが、各振動子間の特性のバラツキ
により各走査ピツチ毎に受信感度差が生じ、超音
波画像を悪化させ、診断上、大きな問題となつて
いる。而して一般的な電子走査型探触子の超音波
振動子数は64個以上用いられており、各振動子に
ついてその特性の差を補正することはかなり大き
なものになるため、従来からこの特性の差を簡単
な手段により補正することができる装置が望まれ
ていた。
発明の目的
本発明は、各振動子間の特性のバラツキを補正
することができ、感度むらのない画像を得ること
ができるようにした超音波診断装置を提供するこ
とを目的とする。
することができ、感度むらのない画像を得ること
ができるようにした超音波診断装置を提供するこ
とを目的とする。
発明の構成
本発明は、上記目的を達成するため、被検体に
超音波を送信し被検体からの反射信号を受信する
振動子を複数個配列し、これらの振動子のうち所
定個数の振動子を１単位として選択して振動子の
配列ピツチに相当する走査ピツチで直線的走査を
行う超音波探触子と、走査ピツチ毎に得られる被
検体からの反射信号により振動子間の感度差を認
知し、この感度差に基いた利得制御信号を走査ピ
ツチに対応して順次発生させる利得制御信号発生
器と、前記利得制御信号により走査ピツチ毎に振
動子の感度補正を行う利得制御増幅器とを備えた
ことを特徴とするものである。
超音波を送信し被検体からの反射信号を受信する
振動子を複数個配列し、これらの振動子のうち所
定個数の振動子を１単位として選択して振動子の
配列ピツチに相当する走査ピツチで直線的走査を
行う超音波探触子と、走査ピツチ毎に得られる被
検体からの反射信号により振動子間の感度差を認
知し、この感度差に基いた利得制御信号を走査ピ
ツチに対応して順次発生させる利得制御信号発生
器と、前記利得制御信号により走査ピツチ毎に振
動子の感度補正を行う利得制御増幅器とを備えた
ことを特徴とするものである。
実施例の説明
以下、本発明の一実施例を図面に基いて詳細に
説明する。第２図において、１はタイミング信号
を装置全体へ加えるためのタイミング信号発生回
路である。２はタイミング信号発生回路１から発
生する走査シフトパルスに同期して電子走査のコ
ントロールを行なうと共に、励振パルスを出力す
る送信部である。この送信部２から出力された励
振パルスは超音波振動子Ｐ（第１図ａ参照）が複
数個配列された超音波探触子３に加えられる。超
音波探触子３は送信部２からの励振パルスにより
超音波パルス放射面と平行にして水中に置かれた
反射物体である被検体４に超音波パルスを送信
し、また被検体４からの反射信号を受信する。超
音波探触子３により受信された反射信号は受信部
５で受信処理され、スイツチ６により利得制御信
号発生器７と利得制御増幅器８へ選択的に伝送さ
れる。ここで利得制御信号発生器７は、超音波探
触子３における各振動子の特性バラツキにより発
生する感度差を認知し、補正するための利得制御
信号作成を行うものである。従つて先ずスイツチ
６を接点Ａ側に切替え、受信部５から利得制御信
号発生器７に反射信号を送信し、この利得制御信
号発生器７により後述するように利得制御信号を
作成する。利得制御信号を作成した後、スイツチ
６を接点Ｂ側に切換え、受信部６を利得制御増幅
器８に接続し、診断用動作へ移る。即ち、利得制
御信号発生器７で作成された利得制御信号が利得
制御増幅器８へ加えられることにより感度補正が
行われる。この感度補正処理された反射信号は対
数増幅器９で圧縮され、検波回路１０で検波され
る。検波信号は、Ａ／Ｄ（アナログデジタル変換
器）１１よつてデジタル信号に変換され、記憶回
路１２に格納される。而して上記タイミング信号
発生回路１より発生するタイミング信号により記
憶装置１２からデジタル化された反射信号が読み
出され、Ｄ／Ａ（デジタルアナログ変換器）１３
により再びアナログ信号へ変換され、モニタ１４
に診断像が表示される。
説明する。第２図において、１はタイミング信号
を装置全体へ加えるためのタイミング信号発生回
路である。２はタイミング信号発生回路１から発
生する走査シフトパルスに同期して電子走査のコ
ントロールを行なうと共に、励振パルスを出力す
る送信部である。この送信部２から出力された励
振パルスは超音波振動子Ｐ（第１図ａ参照）が複
数個配列された超音波探触子３に加えられる。超
音波探触子３は送信部２からの励振パルスにより
超音波パルス放射面と平行にして水中に置かれた
反射物体である被検体４に超音波パルスを送信
し、また被検体４からの反射信号を受信する。超
音波探触子３により受信された反射信号は受信部
５で受信処理され、スイツチ６により利得制御信
号発生器７と利得制御増幅器８へ選択的に伝送さ
れる。ここで利得制御信号発生器７は、超音波探
触子３における各振動子の特性バラツキにより発
生する感度差を認知し、補正するための利得制御
信号作成を行うものである。従つて先ずスイツチ
６を接点Ａ側に切替え、受信部５から利得制御信
号発生器７に反射信号を送信し、この利得制御信
号発生器７により後述するように利得制御信号を
作成する。利得制御信号を作成した後、スイツチ
６を接点Ｂ側に切換え、受信部６を利得制御増幅
器８に接続し、診断用動作へ移る。即ち、利得制
御信号発生器７で作成された利得制御信号が利得
制御増幅器８へ加えられることにより感度補正が
行われる。この感度補正処理された反射信号は対
数増幅器９で圧縮され、検波回路１０で検波され
る。検波信号は、Ａ／Ｄ（アナログデジタル変換
器）１１よつてデジタル信号に変換され、記憶回
路１２に格納される。而して上記タイミング信号
発生回路１より発生するタイミング信号により記
憶装置１２からデジタル化された反射信号が読み
出され、Ｄ／Ａ（デジタルアナログ変換器）１３
により再びアナログ信号へ変換され、モニタ１４
に診断像が表示される。
上記利得制御信号発生器７の詳細は第３図に示
すように被検体４からの反射信号がゲートパルス
発生回路１５のタイミングゲートパルスより、ゲ
ート回路１６より第４図ａにE1〜E57で示すよう
な波形で取り出される。取り出された反射信号は
ピーク検波回路１７により検波され、第４図ａに
点線で示す波形が作成され、Ａ／Ｄ（アナログデ
ジタル変換器）１８でデジタル化される。なお、
反射信号の利得補正精度は、Ａ／Ｄ１８の分解能
（変換能力を示すビツト数）で決定されることは
言うまでもない。例えば検波された反射信号の大
きさ領域をダイナミツクレンジで表現すれば、６
ビツトで36dB、８ビツトで48dBの分解能力をも
つことになる。Ａ／Ｄ１８によりデジタル化され
た反射信号に基いて利得制御信号作成処理回路１
９により利得制御信号が作成され、この利得制御
信号は、記憶回路２０へ格納される。而して上記
のようにスイツチ６を接点Ｂ側に切替えて診断を
行う際、第４図ｂに示す各走査ピツチ時間T1，
T2……T57に対応した利得制御信号が順次読み出
され、Ｄ／Ａ（デジタルアナログ変換器）２１を
経て利得制御増幅器８へ入力されて感度差が補正
される。
すように被検体４からの反射信号がゲートパルス
発生回路１５のタイミングゲートパルスより、ゲ
ート回路１６より第４図ａにE1〜E57で示すよう
な波形で取り出される。取り出された反射信号は
ピーク検波回路１７により検波され、第４図ａに
点線で示す波形が作成され、Ａ／Ｄ（アナログデ
ジタル変換器）１８でデジタル化される。なお、
反射信号の利得補正精度は、Ａ／Ｄ１８の分解能
（変換能力を示すビツト数）で決定されることは
言うまでもない。例えば検波された反射信号の大
きさ領域をダイナミツクレンジで表現すれば、６
ビツトで36dB、８ビツトで48dBの分解能力をも
つことになる。Ａ／Ｄ１８によりデジタル化され
た反射信号に基いて利得制御信号作成処理回路１
９により利得制御信号が作成され、この利得制御
信号は、記憶回路２０へ格納される。而して上記
のようにスイツチ６を接点Ｂ側に切替えて診断を
行う際、第４図ｂに示す各走査ピツチ時間T1，
T2……T57に対応した利得制御信号が順次読み出
され、Ｄ／Ａ（デジタルアナログ変換器）２１を
経て利得制御増幅器８へ入力されて感度差が補正
される。
発明の効果
以上の説明より明らかなように本発明によれ
ば、超音波探触子の複数個の振動子を１単位と
し、所望の走査ピツチで被検体の直線的走査を行
うようにし、この超音波探触子からの反射信号に
より利得制御信号発生器で走査ピツチ間の振動子
の感度差を認知し、これに基いて利得制御信号を
発生させ、この利得制御信号により利得制御増幅
器で、感度補正を行なうようにしている。従つて
感合むらのない画像を提供することができる。
ば、超音波探触子の複数個の振動子を１単位と
し、所望の走査ピツチで被検体の直線的走査を行
うようにし、この超音波探触子からの反射信号に
より利得制御信号発生器で走査ピツチ間の振動子
の感度差を認知し、これに基いて利得制御信号を
発生させ、この利得制御信号により利得制御増幅
器で、感度補正を行なうようにしている。従つて
感合むらのない画像を提供することができる。
また、超音波探触子の振動子の感度差を認知
し、この認知した感度差に基づいた利得制御信号
によつて各振動子間の感度差のバラツキを補正す
るので、超音波探触子を交換、修理した場合など
振動子間の感度差が新たに生じる場合であつても
確実に感度差を補正することができる。
し、この認知した感度差に基づいた利得制御信号
によつて各振動子間の感度差のバラツキを補正す
るので、超音波探触子を交換、修理した場合など
振動子間の感度差が新たに生じる場合であつても
確実に感度差を補正することができる。
さらに、各振動子を順次切替えて走査し、個々
の振動子に対応したタイミングで利得制御信号を
発生させているために、各振動子毎に感度補正回
路を設けることなく確実に振動子間の感度差を補
正することができる。
の振動子に対応したタイミングで利得制御信号を
発生させているために、各振動子毎に感度補正回
路を設けることなく確実に振動子間の感度差を補
正することができる。
第１図ａは、一般的な電子走査方式の説明図、
第１図ｂはその走査方式における走査ピツチシフ
トパルスと励振パルス及び被検体からの反射信号
のタイミングチヤート、第２図は、本発明の超音
波診断装置の一実施例を示すブロツク図、第３図
は本発明に用いる利得制御信号発生器のブロツク
図、第４図ａ及びｂは、第３図に示す利得制御信
号発生器における出力波形図及びタイミングチヤ
ート図である。 １……タイミング信号発生回路、２……送信
部、３……超音波探触子、４……被検体（反射物
体）、５……受信部、６……スイツチ、７……利
得制御信号発生器、８……利得制御増幅器、９…
…対数増幅器、１０……検波回路、１１……Ａ／
Ｄ、１２……記憶回路、１３……Ｄ／Ａ、１４…
…モニタ、１５……ゲートパルス発生回路、１６
……ゲート回路、１７……ピーク検波回路、１８
……Ａ／Ｄ、１９……利得制御信号処理回路、２
０……記憶回路、２１……Ｄ／Ａ。
第１図ｂはその走査方式における走査ピツチシフ
トパルスと励振パルス及び被検体からの反射信号
のタイミングチヤート、第２図は、本発明の超音
波診断装置の一実施例を示すブロツク図、第３図
は本発明に用いる利得制御信号発生器のブロツク
図、第４図ａ及びｂは、第３図に示す利得制御信
号発生器における出力波形図及びタイミングチヤ
ート図である。 １……タイミング信号発生回路、２……送信
部、３……超音波探触子、４……被検体（反射物
体）、５……受信部、６……スイツチ、７……利
得制御信号発生器、８……利得制御増幅器、９…
…対数増幅器、１０……検波回路、１１……Ａ／
Ｄ、１２……記憶回路、１３……Ｄ／Ａ、１４…
…モニタ、１５……ゲートパルス発生回路、１６
……ゲート回路、１７……ピーク検波回路、１８
……Ａ／Ｄ、１９……利得制御信号処理回路、２
０……記憶回路、２１……Ｄ／Ａ。
Claims (1)
- １ 被検体に超音波を送信し被検体からの反射信
号を受信する振動子を複数個配列し、これらの振
動子のうち所定個数の振動子を１単位として選択
して振動子の配列ピツチに相当する走査ピツチで
直線的走査を行う超音波探触子と、走査ピツチ毎
に得られる被検体からの反射信号により振動子間
の感度差を認知し、この感度差に基いた利得制御
信号を走査ピツチに対応して順次発生させる利得
制御信号発生器と、前記利得制御信号により前記
走査ピツチ毎に振動子の感度補正を行う利得制御
増幅器とを備えたことを特徴とする超音波診断装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59221605A JPS6199862A (ja) | 1984-10-22 | 1984-10-22 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59221605A JPS6199862A (ja) | 1984-10-22 | 1984-10-22 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199862A JPS6199862A (ja) | 1986-05-17 |
| JPH0550705B2 true JPH0550705B2 (ja) | 1993-07-29 |
Family
ID=16769375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59221605A Granted JPS6199862A (ja) | 1984-10-22 | 1984-10-22 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6199862A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010058784A1 (ja) * | 2008-11-19 | 2010-05-27 | 住友金属工業株式会社 | 溶接部の超音波探傷方法及び装置 |
| JP5448030B2 (ja) * | 2008-11-19 | 2014-03-19 | 新日鐵住金株式会社 | 超音波探傷方法及び装置 |
| JP5409138B2 (ja) | 2009-06-19 | 2014-02-05 | キヤノン株式会社 | 電気機械変換装置、電気機械変換装置の感度ばらつき検出方法、及び補正方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57131057A (en) * | 1981-02-06 | 1982-08-13 | Toshiba Corp | Ultrasonic flaw detection equipment |
| JPS5843412B2 (ja) * | 1975-01-10 | 1983-09-27 | 日石三菱株式会社 | シンキコウブンシブツシツノ セイゾウホウホウ |
| JPS593351A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | Hitachi Ltd | 超音波探傷装置感度補正方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5843412U (ja) * | 1981-09-16 | 1983-03-23 | 株式会社 日立メディコ | 超音波送受波制御装置 |
-
1984
- 1984-10-22 JP JP59221605A patent/JPS6199862A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5843412B2 (ja) * | 1975-01-10 | 1983-09-27 | 日石三菱株式会社 | シンキコウブンシブツシツノ セイゾウホウホウ |
| JPS57131057A (en) * | 1981-02-06 | 1982-08-13 | Toshiba Corp | Ultrasonic flaw detection equipment |
| JPS593351A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | Hitachi Ltd | 超音波探傷装置感度補正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6199862A (ja) | 1986-05-17 |
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