JPH0587783A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPH0587783A JPH0587783A JP3274853A JP27485391A JPH0587783A JP H0587783 A JPH0587783 A JP H0587783A JP 3274853 A JP3274853 A JP 3274853A JP 27485391 A JP27485391 A JP 27485391A JP H0587783 A JPH0587783 A JP H0587783A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- echo
- memory
- comparator
- address
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
化ならびに量子化の後Aモードの2値濃淡画像として表
示し欠陥表示の改善を図る。 【構成】被検材内欠陥から反射された超音波アナログ信
号は標本化して欠陥データとなり,Yアドレスと順次レ
ベル比較して2値信号を得る。欠陥はこの2値信号に基
づきデイジタル表示器へ棒グラフ状の2値濃淡画像とし
てAモードにて表示される。欠陥エコー,底面エコー,
雑音などは鮮明に表示され,被検材内の欠陥位置の検
知,欠陥エコーと底面エコーの比較による欠陥評価なら
びに微小欠陥の検出が迅速且つ正確にできる。装置の小
型,軽量,低コストが実現できる。
Description
ら反射された超音波アナログ信号を標本化した後量子化
してAモードにて欠陥データのデイジタル表示をする超
音波探傷装置,特にデイジタル表示の改良に関する。
ー表示波形,Tは送信パルス,Fは欠陥エコー,Bは底
面エコーであり,超音波探傷装置にはプラズマパネルや
液晶デイスプレイなどのフラットデイスプレイにAモー
ド表示を行うデイジタル表示器が用いられる。被検材へ
向け放射された送信パルスTと被検材底面から反射され
た底面エコーBとの間に被検材内欠陥から反射された欠
陥エコーFならびにこの間に発生する雑音などが表示さ
れる。
Bは標本化周期毎に超音波伝搬方向に標本化され,その
標本値が量子化されて欠陥データとなる。欠陥データは
標本化周期の間隔にてデイジタル表示器の画素単位に表
示される。欠陥エコーがパルス状を呈しその持続時間が
小さくなって標本化周期に近づくと欠陥データ表示の画
素数は減少する。また雑音はその表示レベルの変動が顕
著である。更に被検材に対する探傷位置を変えると欠陥
エコーはそのレベルならびに波形が変わる。
音波探傷装置では,Aモード表示器は超音波伝搬方向を
X軸,信号レベルをY軸とした2次元画面にて構成さ
れ,表示されるパターンは文字,記号,図形などの静止
画像を対象としたものと異なり,被検材からの反射エコ
ーや雑音などの測定信号は絶えずそのレベルが変動する
動画像を対象としたものである。
Y軸方向には欠陥データレベルに基づく画素単位の輝点
よりなり,その包絡線から欠陥の位置ならびに大いさが
検出される。欠陥エコーがパルス状を呈しその持続時間
が標本化周期に接近したり,また微小欠陥などレベルが
小さいエコーはパターンを形成する画素数が少ないの
で,その包絡線から欠陥エコーの波形を正しく得ること
ができない。従ってこれら包絡線を用いての欠陥検出は
正しく行えない。
が困難で微小欠陥の検出ができない。更に表示パターン
を用いて被検材上の欠陥エコー発生位置の検知や欠陥エ
コーと底面エコーのレベルの割合による欠陥評価が迅速
且つ正確に行えない。
間の補間を行い高密度画像表示をすると,装置は小型,
軽量,低コストが実現できなくなり且つ計算時間が多く
なるので応答時間が増して実時間表示が行えないという
問題点があった。
なされたもので,欠陥は2値濃淡画像を用いて鮮明に表
示され,欠陥の発生位置の検知や欠陥レベルによる欠陥
の大きさの評価が迅速に行えて微小欠陥も容易に検出で
きる小型,軽量,低コストの超音波探傷装置を得ること
を目的とする。
傷装置は,標本化周期毎に標本値を量子化し欠陥データ
とするA−D変換回路と,欠陥データを格納するライン
メモリと,フレーム画像形成のためXアドレスとYアド
レスの指定ならびに書込みを指令するメモリ制御器と,
ラインメモリから読出した欠陥データの値とメモリ制御
器からのYアドレスの値とを逐次比較してその大きさを
判定する比較器と,メモリ制御器からの指令により標本
化周期方向をX軸,量子化方向をY軸として比較器出力
を所定アドレスへ順次格納し一画面分のフレーム画像を
形成するフレームメモリを設けたものである。
れた時系列の超音波アナログ信号は,標本化後量子化し
て欠陥データとなる。標本化周期毎の欠陥データの値は
デイジタル表示器におけるY軸方向のYアドレスの値と
比較して,欠陥データの値までは比較器出力は例えば
「1」となりそれ以外は「0」となって,「0」または
「1」の2値信号を出力する。X軸方向の所定範囲に亙
り上記標本化が行われ,標本化周期毎の比較器出力の2
値信号はフレームメモリ内のX軸,Y軸の所定アドレス
へ順次格納され,Aモード一画面分のフレーム画像が形
成される。
デイジタル表示器において,被検材内欠陥が棒グラフ状
の青,白などによる2値の濃淡画像としてAモードにて
表示される。欠陥エコー,底面エコー,雑音などは鮮明
に表示されて,被検材内の欠陥位置の検知,欠陥エコー
と底面エコーのレベル比較による欠陥評価ならびに微小
欠陥の検出が迅速且つ正確に行える。また装置は小型,
軽量,低コストにできる。
細に説明する。図1はこの発明の一実施例を示すブロッ
ク図,1はクロック回路,2は超音波のタイミング信号
を発生するタイミング回路,3はパルス回路,4は探触
子,5は被検材,6は時系列のアナログ信号を受信する
受信回路,7はサンプルホールド回路,8はA−D変換
回路,9はメモリへ格納するデータのアドレス指定なら
びにデータの書込,読出しを指令するメモリ制御器,1
0はラインメモリ,11は比較器,13は一画面分のフ
レーム画像を形成するフレームメモリ,14は駆動回
路,15はデイジタル型の表示器を示している。
おいては,クロック回路1からのクロックはタイミング
回路2にて超音波放射のタイミング信号と同期され,パ
ルス回路3を介して探触子4内の圧電振動子を付勢し,
被検材5へ向けて超音波パルスを放射する。被検材5内
の欠陥から反射された欠陥エコーは受信回路6を経てサ
ンプルホールド回路7にて標本化される。標本値はA−
D変換回路8にて量子化され,メモリ制御器9の指令に
よりいったんラインメモリ10へ格納される。ラインメ
モリ10から読出された欠陥データはメモリ制御器9か
らのYアドレスと共に比較器11へ加えられる。
一例,Xアドレス0において,ラインメモリ10から読
出された欠陥データは例えば2とする。このときYアド
レスは1から255まで変わり,欠陥データとYアドレ
スはYアドレスの凡ての範囲に亙り比較器11にて順次
比較されて,欠陥データの値>Yアドレスの値のとき
「1」,欠陥データの値<Yアドレスの値のとき「0」
を比較器11は出力する。
メモリ制御器9からの指定されたXアドレス,Yアドレ
スならびに書込指令WEによりフレームメモリ13の所
定位置へ格納される。つぎにXアドレス2についてライ
ンメモリ10から読出された欠陥データに同様の処理を
行なう。上記処理はX軸方向の標本化の凡ての範囲に亙
り逐次実行される。
ならびにYアドレスの凡ての範囲に亙り比較器11にて
実行された欠陥データの検出において,欠陥データの値
>Yアドレスの値のとき●にて示し2値信号として検出
され,上記結果は逐次フレームメモリ12へ格納され
る。図に示すとおり欠陥データは当該レベルまで検出結
果は常に「1」にて表示され,Aモード一画面分のフレ
ーム画像が形成される。フレームメモリ13から読出さ
れた2値信号は駆動回路14により表示器15へデイジ
タル表示される。
例,フレームメモリ13にて形成されたAモードのフレ
ーム画像は表示器15には欠陥エコーが青,白などの2
値の濃淡画像として棒グラフ状に表示される。上記表示
画像は被検材への超音波パルス放射に同期して書きかえ
られるので,欠陥表示はリアルタイムにて行える。
表示されるので,欠陥エコー,底面エコー,雑音などが
鮮明に表示されて,被検材5内の欠陥位置の検知,欠陥
エコーと底面エコーの比較による欠陥評価ならびに雑音
と識別された微小欠陥の検出などが迅速且つ正確に行え
る。上記のとおり簡易な方式にて実施できるので,装置
は小型,軽量,低コストにできる。
コーは量子化されて欠陥データとなりYアドレスとの比
較により2値信号を出力する比較器と,Aモード一画面
分の2値信号によるフレーム画像を形成するフレームメ
モリを設ける簡単な構造により,欠陥は棒グラフ状の2
値濃淡画像としてAモードにて鮮明に表示できる。被検
材内の欠陥位置の検知,欠陥エコーと底面エコーの比較
による欠陥評価ならびに微小欠陥の検出などが迅速且つ
正確にできる。装置は小型,軽量,低コストが図れると
いう効果がある。
Claims (2)
- 【請求項1】 被検材内に欠陥から反射された時系列の
超音波アナログ信号を離散的な時間にて標本化し且つ量
子化してデイジタル表示器へAモードにて表示する超音
波探傷装置において,標本化周期毎に標本値を量子化し
欠陥データとするA−D変換回路と,上記欠陥データを
格納するラインメモリと,フレーム画像形成のためXア
ドレスとYアドレスの指定ならびに書込みを指令するメ
モリ制御器と,上記ラインメモリから読出した欠陥デー
タの値と上記メモリ制御器からのYアドレスの値とを逐
次比較してその大きさを判定する比較器と,上記メモリ
制御器からの指令により標本化周期方向をX軸上記量子
化方向をY軸として比較器出力を所定アドレスへ順次格
納し一画面分のフレーム画像を形成するフレームメモリ
とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。 - 【請求項2】 比較器出力は2値信号である請求項1記
載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3274853A JP2980437B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3274853A JP2980437B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0587783A true JPH0587783A (ja) | 1993-04-06 |
JP2980437B2 JP2980437B2 (ja) | 1999-11-22 |
Family
ID=17547491
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3274853A Expired - Fee Related JP2980437B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2980437B2 (ja) |
-
1991
- 1991-09-26 JP JP3274853A patent/JP2980437B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2980437B2 (ja) | 1999-11-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6009755A (en) | Ultrasonic transceiver displaying modified B scope | |
US4953405A (en) | Ultrasonic measuring apparatus for measuring a predetermined boundary surface inside an object | |
US5042305A (en) | Ultrasonic flaw detecting system | |
US4862383A (en) | Ultrasonic inspection apparatus | |
US4172386A (en) | Video A-trace display system for ultrasonic diagnostic system | |
US6441775B1 (en) | Radar device, similar device, and received data write method | |
JP2980437B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
US4916535A (en) | Method of non-destructive quality inspection of materials and videomonitor realizing this method | |
JPH0580034A (ja) | 超音波探傷装置 | |
JP2931146B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
JP4646599B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
JPH11211706A (ja) | 扇形走査式超音波検査装置 | |
JPH116820A (ja) | 超音波探査映像方法 | |
JP2787265B2 (ja) | 超音波探傷方法およびその装置 | |
JP2931145B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
JPS58129248A (ja) | 超音波探傷画像表示装置 | |
JPH07225223A (ja) | 超音波探傷波形記録方法及びその装置 | |
JP2673030B2 (ja) | 超音波探傷器のゲート回路 | |
JPS6234101B2 (ja) | ||
JP3034732B2 (ja) | 金属薄板内部欠陥の2次元画像表示方法および装置 | |
JPS61266907A (ja) | 表面状態検出装置 | |
JPH0532724Y2 (ja) | ||
JPH11118776A (ja) | 扇形走査式超音波検査装置 | |
JPH05317314A (ja) | 超音波断層装置 | |
JP2824846B2 (ja) | 超音波測定方式 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080917 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080917 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090917 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090917 Year of fee payment: 10 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090917 Year of fee payment: 10 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090917 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100917 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110917 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |