JPS58129248A - 超音波探傷画像表示装置 - Google Patents

超音波探傷画像表示装置

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JPS58129248A
JPS58129248A JP57010059A JP1005982A JPS58129248A JP S58129248 A JPS58129248 A JP S58129248A JP 57010059 A JP57010059 A JP 57010059A JP 1005982 A JP1005982 A JP 1005982A JP S58129248 A JPS58129248 A JP S58129248A
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JP
Japan
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memory
digital
image
echo
ultrasonic
Prior art date
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Pending
Application number
JP57010059A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaru Tateyama
館山 優
「こしらえ」 美津男
Mitsuo Koshirae
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Engineering Co Ltd
Priority to JP57010059A priority Critical patent/JPS58129248A/ja
Publication of JPS58129248A publication Critical patent/JPS58129248A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/02854Length, thickness

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超音波探傷−像表示装置に係り、特に超音波エ
コー信号の評価に好適な一1象表示を行う超音波探傷I
ligI&表示装置に関する。
超音波探傷において、被検査体の欠陥による超音波の反
射エコーの評価を行う場合、基準レベルを設けて反射エ
コーのレベルを基準レベルと比較し、どのl1fOもの
かということで欠陥の評価を行なっている。このような
ものは、超音波探傷器を使用し九Aスコープ表示である
が、超音波探傷II!Il儂表示装置を用いる場合にも
、同様な評価法を用いることにより被検査体内の欠陥の
形状を表示し、その欠陥からの反射エコーのレベルがど
の程度のものか分る丸め、有効な方法である。
しかし、従来の断面像や平面像を表示する超音波探傷画
像表示装置の画像処理部は第1図に示し九構成を有して
おり、以下に述べるような欠点がある。従来のIm@処
理部では、直接アナログlji儂メモリーに超音波の反
射エコー信号を書込み、このアナログ画像メモリーに記
憶された信号は画像を得るための14度変調用信号とし
て使用される。
ま九、超音波の軌跡により、偏向@に2では、前記アナ
ログuij像メモリーのl111g1を読出し、表示器
3に断面像、又は平面像等の探傷画像を表示する。
なお符号4は制御回路である。
このように、断面像又は平面像等のli儂を形成記憶す
る部分にアナログ表示メモリ(蓄積管)1若しくは、そ
れと同等機能を有する装置を使用している丸め、探触子
の移動速fKより、前記アナログ表示メモリーへの書込
み速度が変わると、記憶される信号のレベルが同一でも
、書込みレベルが変化するので、表示する際K11度が
変化する。
即ち、従来の超音波探傷画像表示装置では、超音の 波探傷時に探触子移動速度の変化や被検査体の厚へ さ等により、アナログ−偉メモリーへの書込み速度が変
化するため、実際の超音波エコーのレベルに比例し良信
号が記憶されない、従って超音波エコー信号をあるレベ
ルにアナログlji像メモリlに記憶させるKは、同一
の探傷面を一定の時間、数回操作して、前記アナログ画
像メモリ1に誓込壕せる必要がめシ、断面像や平面像等
の探傷画像を表示!i3に表示させるためには、相当の
時間を要し、再現性に欠ける欠点があった。また、最大
エコーの確認も困難という欠点がら9、正確な反射エコ
ーの評価を行い得ない欠点があった。
本発明の目的は、上記の欠点を解消し、探傷画像の正確
な評価を行うことができる超音波探傷画像表示装置を提
供することにある。
本発明は、超音波探傷器からの超音波エコー信号をアナ
ログ−デジタル変換したものを一旦記憶するデジタルエ
コーメモリと、超音波の軌跡に従つ九デジタルのアドレ
スを作る偏向信号回路と、この偏向信号回路でのアト1
ノスに前記デジタルエコーメモリのデータを輝変信号と
して入力し、断面像中平面像等の探傷画像を作成及び記
憶するデジタル画像メモリとを備え、ま九、前記デジタ
ル画像メモリにデータを書込む時に、デジタル画像メモ
リの同一アドレス上で書込み済のデータと比較又は加算
して探傷画像を作成し読出すことにより、反射エコーの
評価に有効な探傷画像を表示することKより上記の目的
を達成する。
以下、本発明の一実施例を図面に従って説明する。
第2図は本発明の超音波探傷画像表示装置の一実施例を
示す全体構成図である。超音波探傷Wh3には探触子6
が接続され、との探触子6は被検査体7上を走査する。
前記超音波探傷器5Ka−像処理部8が接続され、この
画像処理部8には被検査体7上の位置検出器9の検出信
号が入力され、また、画像処理部°8の出力は表示器1
0に出力される。
探触子6は超音波探傷器5の駆動パルスにより、被検膏
体γ内に超音波を送信する。この超音波は被検査体7の
底面又は欠陥部で反射され、その反射波が探触子6で電
圧値に変換され、超音波探傷器5に送信される。この信
号によシ超音波探傷器5はAスフ−1表示を行う0画像
処理部8では、CのAスコープ信号と探触子6の位置を
検出する位置検出Wh9からの位置信号を入力し、断面
像又は平面像等の探傷画像を作成及び蓄積し、表示器1
0に表示する。
@3図は第2図に示し九lli儂処理部8の詳細を示す
構成図である。画像処理部は、偏向回路11、デジタル
m像メモリ12、切換回路13及びデジタルエコーメモ
リ14を有し、ま九これらを制御する制御回路15と、
デジタルm像メモリ12の出力を表示する表示器10と
を有している。
Aスコープ信号100は、アナログ・デジタル変換され
て、デジタル画像メモ算機4K 一旦記憶される。偏向
回路11は、制御回路15の制御により、超音波の軌跡
に従ったデジタルのアドレスを作る。このアドレスにデ
ジタルエコーメモリ14のデータを輝度信号として、デ
ジタル画像メモtJ 12に制御回路15の制御によシ
書込み、断面像又は平面像等の探傷ml儂を作成及び蓄
積する。
この蓄積したデータは、読出されて表示器10に表示さ
れる。デジタルエコーメモリ14に書込まダにより2′
″のレベルにデコードされ記憶される。
例えば、2ビツトのデコーダを使用すると0.1゜2.
3の4レベルにデコードされる。そこで、デジタルエコ
ーメモリ14とデジタル画像メモリ12との関に切換回
路13を設け、デジタル画像メモI712に断面像又は
平面像等の探傷−像を作成させる際に、デジタル1ii
i@メモリ12に蓄積させないで、デジタルエコーメモ
リ14からのレベル信号をそのまま譬込み、セして読出
すことによシ表示器10へ表示させる。
第4図(A)、(B)は、Aスコープ信号100を2ビ
ツトのデコーダにより4レベルに7’コードしたものを
、切換回路13にて切換表示する場合の動作状態を示し
九もので、図中Iはデジタルエコーメモリ、■はデジタ
ル画像メモリ(書込み済データ)、IIIはデジタル画
像メモリ(書込みデータ)を示している。
つまり、デジタルm像メモリ12に記憶されているレベ
ル信号を無視して、次の周期で新しいレベル信号を書込
むため、デジタル画像メモリ12のデータを読出すと、
各周期における液新のAスコープ信号100が各レベル
毎に表示されることになる。ま九、デジタル1iii@
メモリ12に記憶されているレベル信号だけを読出すこ
とくより、新しく入力されているレベル信号は無視され
るため、Aスコープ信号100を各レベル毎に保持して
表示することができる。
なお、第5図の上記実施例の動作タイムチャートに示す
如く、デジタルエコ−メモリ12VcAスコープ信号1
00を取込んで書込むタイミングと、デジタルエコーメ
モリ12へ書込むタイミングは、制御回路15により超
音波の送信と同期させ、且つ同期をずらして行われる。
第6図はデジタル画1象メモリ12のメモリマツプを示
しており、@7図はこのメモリマツプの偏向アドレスを
示している。
本実施例によれば、超音波探傷画像表示装置の探傷−面
を作成、蓄積する部分にデジタルIKJIl!メモリ1
2を使用し、超音波エコー信号をアナログデジタル変換
して記憶するデジタルエコーメモリ14のデータを輝度
信号として使用することにより、探触子6の走査速度に
よらず、超音波エコーの強度KEじたレベルの輝度で断
面像又は平面像等の探傷画像を表示し得る効果があり、
探傷−像の正確な評価を行うことができる。i九、常に
新しい周期毎のAスコープ信号100を表示するか、あ
る周期でのAスコープ信号100を保持して表示するか
の切換が切換回路13によシ行うことができる丸め、超
音波エコーの確認が容品となシ、1回の超音波の送受信
で十分な各レベルの輝度が得られ、再現性を向上させる
効果もある。
第8図は本発明の他の実施例の構成を示すブロック図で
ある。本実施例の第3図に示し九実施例とは異な8所は
、新たに比較回路16を設は死所にある。デジタル画像
メモリ12に蓄積済のレベル信号と、デジタルエコーメ
モリ14から新しく書込むレベル信号とを前記比較回路
16によシ同−アドレス上で比較し、大きいデータをデ
ジタル画像メモ!j12に再度書込んで、断面像又は平
面@等の探傷ai像を作成し、そのデータを読出すこと
により表示器10に探傷画像を表示するものセある。第
9図はAスコープ信号1014レベルにデコードしたも
のを、比較回路16にて比較表示する場合の動作状態を
示したものである。
本実施例も前実施例と同様の効果があるが、同一の探傷
面を探傷した際に1超音波工コー強度が違った場合でも
、超音波エコー強度の高いエコーのレベル?表示するこ
とができるため、超音波エコー強度の変化の激しい場合
等の蝋大エコーの確−を容易とする効果がおる。
第10図は本発明の爽に他の実施例の構成を示したブロ
ック図である0本実施例と第3図に示した実施例との異
なる所は、第3図で用い九切換回路13の代わシに加算
回路17を設けた所にある。
デジタル1lIIl像メモリ12に蓄積済のレベル信号
と・デジタルエコーメモリ14から新しく書込むデータ
とを、同一アドレス上で前記加算回路17にて加算し、
加算後のデータをデジタル画像メモリ12に再度蓄積し
、断面像又は平面1象等の探傷画傷m像として表示する
ものである。@11図はAスコープ信号100を4レベ
ルにデコードしたものを、加算回路17にて加算表示す
る場合の動作状態を示したものである。
本実施例もwcs図に示した実施例と同様の効果がある
が、籍にAスコープ1号のデータをレベル毎に全て表示
するため、超音波エコー強度の探傷画像上での比較及び
全体の超音波エコー強度毎のレベル表示で、各レベルの
分布の確認を容易とする効果がおる。
以上記述し九如く本発明の超音波探傷画像表示装置くよ
れば、探傷画像の正確な評価を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の超音波探傷画像表示装置の画像処理部の
構成例を示したブロック図、第2図は本発明の超音波“
探傷−儂表示装置の一実施例の全体構成を示したブロッ
ク図、第3図はIIz図で示し九l#J像処理部8の詳
細構成を示すブロック図、第4図は第3図で示される実
施例で行なわれる切換表示の動作説明図、@5図は第3
図で示し九実施例の動作タイムチャート図、第6図はデ
ジタル画像メモリ12のメモリマツプを示す説明図、第
7図は@6図のメモリマツプの偏向アドレスを示す説明
図、第8図は本発明の他の実施例の要部を示すブロック
図、第9図は第8図で示した実施例で行なわれる比較表
示の動作説明図、第10図は本発明の史に他の実施例の
要部を示すブロック図、第11図は第10図で示した実
施例で行なわれる加算表示の動作説明図である。 5・・・超音波探傷器、6・・・探触子、8・・・画1
象処理部、10・・・表示器、11・・・偏向回路、1
2・・・デジタルm(11メモリ、13・・・切換回路
、14・・・デジタルエコーメモリ、15・・・制御回
路、16・・・比較回路、)#11図 党2図 集う図 第牛図 憔8図 亭9図 )!//1Iro図 事11図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検査体を走査する探触子と、との探触子に超音波
    を送信し、且つ探触子からの反射波を受信する超音波探
    傷器と、この超音波探傷器からの超音波エコー信号と探
    触子の位置信号を検出する位置検出器からの位置信号と
    を入力して探傷−像を作成及び蓄積する画像処理部と、
    この画像処理部の出力信号によシ探傷画像を表示する表
    示器とを有する超音波探傷−像表示装置において、前F
    S画儂処理部は、超音波探傷器からの超音波エコー信号
    をアナログ・デジタル変換し、エコー高さに比例させて
    nビットのレベル毎に一旦記憶するデジタルエコーメモ
    リと、超音波の軌跡に従ったデジタルのアドレスを作る
    偏向信号回路と、前記偏向信号回路でのアドレスに前記
    デジタルエコーメモリのデータを輝度信号として入力し
    て超音波エコー高さのレベル毎に断面像又は平面儂等の
    探傷画像を作成及び記憶するデジタル画像メモリと、前
    記デジタルエコーメモリからのデータを次々にデジタル
    画イ象メモリに書込み、読出しするか、又は前記デジタ
    ル画像メモリに予め書込まれ九データを読出すかの両者
    を切換る切換回路とから構成したことを特徴とする超音
    波探傷−像表示装置。 画像メモリに書込まれているデータとを同一アドレス上
    でエコー高さのnビットのレベルで比較し、レベルの高
    いデータを再[前記デジタル画像メモリに書込む比較回
    路を前記IIi儂処通部に設け、富時エコー高さのレベ
    ルが高いデータを表示することを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の超音波探傷ii*表示装置。 3、前記デジタル画像メモリに新しく書込む前記デジタ
    ルエコーメモリのデータと、前記デジタル1mmメモリ
    に書込まれているデータとを同一アドレス上でエコー高
    さのnビットのレベルで加算し、加算後のデータを再度
    前記デジタル画偉メそりに書込む加算回路を前記画像処
    理部に設け、入力された超音波エコー信号を全て表示す
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の超音波
    探傷画1表示装置。
JP57010059A 1982-01-27 1982-01-27 超音波探傷画像表示装置 Pending JPS58129248A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02231561A (ja) * 1989-03-03 1990-09-13 Hitachi Constr Mach Co Ltd 超音波検査装置
JPH02281139A (ja) * 1989-04-24 1990-11-16 Hitachi Constr Mach Co Ltd 超音波検査装置

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