JPH0532724Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0532724Y2
JPH0532724Y2 JP14534586U JP14534586U JPH0532724Y2 JP H0532724 Y2 JPH0532724 Y2 JP H0532724Y2 JP 14534586 U JP14534586 U JP 14534586U JP 14534586 U JP14534586 U JP 14534586U JP H0532724 Y2 JPH0532724 Y2 JP H0532724Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display
scope
image
measured
image data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP14534586U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6351208U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP14534586U priority Critical patent/JPH0532724Y2/ja
Publication of JPS6351208U publication Critical patent/JPS6351208U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0532724Y2 publication Critical patent/JPH0532724Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、表示器付きパルス反射形超音波厚さ
計に関する。
従来の技術 超音波厚さ計は、被測定物の厚さを測定して、
減摩耗、腐食等による異常値を発見することを目
的としている。
しかし、測定で得られた値が必ずしも被測定物
の厚さを正確に表示しているとは限らない。特に
測定で得られた厚さの値が所定の値以下である異
常値の場合、 (1) 被測定材の減摩耗や、腐食のためか、あるい
は、その他の原因、例えば、 (2) 探触子との接触状態が悪くて接触媒質の層ま
たは塗装膜で超音波が反射したためとか、 (3) 被測定材内部に存在する欠陥によつて超音波
が反射したためとか、 (4) 被測定材が極端に減肉されて当該超音波厚さ
計で保証した測定可能な最小の値以下になつ
て、真の厚さより厚く表示されているためと
か、 (5) あるいはまた、超音波厚さ計の測定システム
自体に異常が生じているためとか、 種々の要因がある。
これらの要因を識別するために受信部の増幅器
の出力(受信出力)の信号をAスコープ映像とし
て表示(Aスコープ表示)する機能を有する、表
示器付き超音波厚さ計が従来より用いられてき
た。
第1図は、このような従来の表示器付き超音波
厚さ計の一例の構成を示している。この表示器付
き超音波厚さ計による測定は、次の様にして行わ
れる。まず被測定材の測定箇所に接触媒質を介し
て探触子1を接触させる。次に、送信パルスによ
り探触子1を励振し、被測定材の内部に超音波パ
ルスを送信する。そして被測定材の内部に超音波
パルスを伝播した後、反射したパルスを探触子で
受けて電圧に変換し、超音波厚さ計本体2の受信
部で増幅する。零点は、超音波厚さ計本体2の中
の零点調整部で予め設定されている。また超音波
パルスが被測定材の内部を往復するのに要した時
間を、本体2の中の時間計測部で測定し、このパ
ルスの往復時間とあらかじめ設定した被測定材の
音速から、本体2の中の演算処理部で厚さ値を演
算して求める。この測定結果は、本体2の中のデ
ジタル表示器に表示される。但し、本体2の中の
受信部、零点調整部、時間計測部及び演算処理部
及びデジタル表示器は通常のものでよく、それら
の構成及び動作の詳細については説明を省略す
る。これと同時に、受信出力の信号は、制御部6
の制御下でA/Dコンバータ3によりデジタル形
式に変換されて画像メモリー5に一時的に記憶さ
れ、さらに表示用ドライバー7を介して表示器8
の画面上にAスコープ映像として表示される。こ
のAスコープ映像を判断してデジタル表示器に表
示された厚さ値の妥当性を確認することができ
る。
考案が解決しようとする問題点 しかし、このような従来の表示器付きパルス反
射形超音波厚さ計では、測定中の被測定物のAス
コープ映像が表示できるだけであつて、そのAス
コープ映像の判断には熟練した技術者を必要とす
るため、測定結果の信頼性は測定者の技術的熟練
度によつて大きく影響されるという問題があつ
た。
問題点を解決するための手段 本考案は、このような従来技術の問題点に着目
してなされたものであり、厚さの測定値が正常な
場合や異常な場合のAスコープ映像の例を1ない
し数画面分を参照用Aスコープ映像としてホール
ド画像メモリーに記憶して、その記憶された参照
用Aスコープ映像データを必要に応じてホールド
画像メモリーから読み出して表示器の画面上に表
示し、それと同時に、現在測定中の被測定物のA
スコープ映像をも表示器の画面上に表示するよう
に制御して、両表示を見比べて判断することによ
り上記問題点を解決するものである。
好適な実施例の説明 第2図は、本考案の好適な実施例である表示器
付きパルス反射形超音波厚さ計の構成を示してい
る。但し、第1図に示した従来の表示器付き超音
波厚さ計の場合と同一の構成要素には、同一の参
照番号を付してある。
本考案に従うこの超音波厚さ計による測定は、
次の様にして行われる。
まず、探触子1で被測定材からの超音波反射パ
ルスを受け、この反射パルス信号を超音波厚さ計
本体2の受信部で増幅し、さらにこの受信部から
の受信出力信号を、時系列クロツク4からのクロ
ツクパルスを利用して、超音波パルスの送信位置
または被測定材の表面位置に相当する時間から、
順次A/Dコンバータ3によつてデジタル変換す
る。そして被測定材のAスコープ映像は、1画面
分を1サイクルとして、このA/D変換が終了す
るまで画像メモリー5に一時的に記憶される。
制御部6は、超音波が被測定材の内部に伝播し
被測定材の底面で反射されて戻つてくるまでの数
マイクロ秒から数100マイクロ秒の間、A/Dコ
ンバーターの変換速度及び表示器の表示応答速度
の規格に適合して画像メモリー5から表示用ドラ
イバー7へのデータ転送が行われるように、それ
らの動作を制御する。この表示用ドライバー7
は、表示器8を駆動して画像メモリー5から読み
出した内容をその表示器8の画面上にAスコープ
映像として表示させる。
さらに、制御部6は、表示されたAスコープ映
像が、厚さ値の正常な場合または上記のような各
種の要因によつて異常な場合の典型であつて、参
照用Aスコープ映像としてホールド画像メモリー
9に記憶させたいという測定者の要求があれば、
これに応じて画像メモリー5に記憶されている当
該Aスコープ映像の内容を読み出してホールド画
像メモリー9に書き込むように制御する。さら
に、測定者が、参照用Aスコープ映像を、現在測
定中の被測定材のAスコープ映像と同時に見比べ
たい場合には、ホールド画像メモリー9から必要
な参照用Aスコープ映像を選択して読み出し、表
示用ドライバー7を介して表示器8の画面上に表
示するように制御を行う。
尚、現在測定中の被測定材のAスコープ映像の
表示と、参照用Aスコープ映像の表示とが表示画
面上で重なり合う場合には、例えば、波形の画素
をそのまま表示せず、画像の重なつた部分を反転
させ、いわゆる白抜きの表示をして波形の輪郭を
見えるようにする方法によれば、2次元的表示器
上でも両画像を容易に識別できる。この反転表示
法を第3A図ないし第3C図及び第4図を参照し
ながら説明する。第3A図は、厚さの正常な場合
(例えば第4図のAの位置で測定する場合)のA
スコープ映像の例を示す。ここで表示画面の横
(X)座標軸から波形の輪郭線までの画素はオン
(on)の状態で表示されている。この第3A図に
於いて、S,Bはそれぞれ被測定材のAの位置で
の上側の表面及び底面からのエコーを示す。ここ
では、この映像を、参照用Aスコープ映像として
ホールド画像メモリーに記憶する。第3B図は、
厚さの異常な場合(例えば第4図のBの位置のよ
うに被測定材が腐食して厚さが薄くなつた所を測
定する場合)のAスコープ映像を示す。この第3
B図では、受信エコー高さが第3A図の場合より
も低い場合を示している。この場合もX座標軸か
ら波形の輪郭線までの画素はオン状態で表示され
ている。尚、S′及びB′はそれぞれ被測定材のBの
位置の上側の表面及び底面からのエコーを示す。
そしてこれらの両Aスコープ映像を同時に表示器
の画面上に表示したところを第3C図に示す。こ
こで現在測定中の場合のAスコープ映像のS′及び
B′は高さ、位置が変化するものである。一方、
参照用Aスコープ映像は静止画像である。以下に
おいて制御部6の動作をより詳細に説明する。制
御部6は、第3A図の参照用Aスコープ映像とし
てホールド画像メモリー9から、第3B図の測定
中のAスコープ映像を画像メモリー5より読みこ
む。次に、この制御部6内の演算処理回路におい
て両方のAスコープ映像の画像データが、表示器
の同じX座標値に対して、ともに正のY座標値を
有するか否かを判定する。ともに正のY座標値を
有する場合に、それら二つのY座標値を比較し
て、小さい方のY座標値(それら二つのY座標値
が同じときにはそのY座標値)からX座標軸まで
の画素の画像データを反転する。そしてこの画像
データに基づき各X座標値について表示用ドライ
バー7を制御する。これにより両Aスコープ映像
の重なつた部分は、反転されて白抜きで表示され
ており両方の波形の輪郭が容易に分かるようにな
つている。
考案の効果 測定中の被測定材のAスコープ映像と参照用A
スコープ映像とを表示器に同時に表示して直接対
比観察できるため厚さの測定値が正常なことの確
認、及び異常な場合の要因についての判断が非常
に容易になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の表示器付きパルス反射形超音波
厚さ計の構成を示すブロツク線図であり、第2図
は本考案に従う表示器付きパルス反射形超音波厚
さ計の構成を示すブロツク線図であり、第3A図
は、参照用Aスコープ映像の一表示例を示す図で
あり、第3B図は、現在測定中のAスコープ映像
の一表示例を示す図であり、第3C図は、二つの
Aスコープ映像の表示が重なつた場合の反転表示
の一例であり、第4図は、被測定材の厚さが正常
な場合と異常な場合の測定状態を示す図である。 尚、図面において、1……探触子、2……超音
波厚さ計本体、3……A/Dコンバーター、4…
…時系列クロツク、5……画像メモリー、6……
制御部、7……表示用ドライバー、8……表示
器、9……ホールド画像メモリー、10……被測
定材。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 被測定材からの超音波反射パルスの少なくと
    も1画面の参照用Aスコープ画像データを記憶
    するホールド画像メモリーと、 前記の記憶された参照用Aスコープ映像から
    必要な種類の映像を選択し、その選択された参
    照用Aスコープ映像の波形画像データを前記ホ
    ールド画像メモリーから読み出して、厚さを測
    定中の被測定材からの超音波反射パルスのAス
    コープ映像と同時に、表示器の同一表示画面上
    に、前記の選択された参照用Aスコープ映像を
    表示するように、前記ホールド画像メモリーと
    表示用ドライバーとを制御する制御部と、を備
    え、 これにより前記の表示された2つのAスコー
    プ映像の波形を直接に表示器上で対比観察して
    厚さの測定値の妥当性を容易に判断できるよう
    にしたことを特徴とする表示器付き超音波厚さ
    計。 2 前記制御部は、前記表示器の表示画面上で、
    前記参照用Aスコープ映像の表示と、現在測定
    中の被測定材のAスコープ映像の表示とが重な
    るか否かを、両Aスコープ映像の画像データか
    ら判定し、重なる場合には、該重なる部分の画
    像データを反転させる演算処理回路を有し、こ
    れにより前記の重なる部分について反転表示を
    行わせるように前記表示用ドライバーを制御す
    る実用新案登録請求の範囲第1項に記載の表示
    器付き超音波厚さ計。
JP14534586U 1986-09-22 1986-09-22 Expired - Lifetime JPH0532724Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14534586U JPH0532724Y2 (ja) 1986-09-22 1986-09-22

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14534586U JPH0532724Y2 (ja) 1986-09-22 1986-09-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6351208U JPS6351208U (ja) 1988-04-06
JPH0532724Y2 true JPH0532724Y2 (ja) 1993-08-20

Family

ID=31056799

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14534586U Expired - Lifetime JPH0532724Y2 (ja) 1986-09-22 1986-09-22

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0532724Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5957425B2 (ja) * 2013-08-06 2016-07-27 株式会社Ihi検査計測 内部付着物の厚さ計測装置と方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6351208U (ja) 1988-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS627856B2 (ja)
JPH0414024B2 (ja)
JPH0532724Y2 (ja)
JPS6235618B2 (ja)
JPH02129544A (ja) 超音波探傷装置
JPS61172055A (ja) 配管内部検査装置
JPS63150664A (ja) 超音波探傷器の欠陥測定装置
JP2755651B2 (ja) 超音波探傷装置
JPH116820A (ja) 超音波探査映像方法
JPH1068716A (ja) 手動超音波探傷技量訓練装置
JP2816212B2 (ja) 超音波探傷法
JPH0373846A (ja) 超音波測定装置
JPH1073576A (ja) 板波超音波探傷装置
JP2824488B2 (ja) 超音波パルス反射法によるコンクリート構造物の版厚の測定方法
JPS6044618B2 (ja) 異種金属溶接部の超音波探傷方法およびその装置
JPS5837506B2 (ja) 超音波探傷装置
JPH0257969A (ja) 超音波探傷器の波形表示装置
RU2082161C1 (ru) Ультразвуковой эхоимпульсный толщиномер
JPH0257970A (ja) 超音波探傷器の波形表示装置
JPH0215025B2 (ja)
JPS5839288B2 (ja) 超音波式厚み計
SU1506476A1 (ru) Видеоконтрольное устройство дл дефектоскопии сварных соединений
JPS61266907A (ja) 表面状態検出装置
JPH05113378A (ja) グランドパツキンの接触状態測定装置
JPS6114510A (ja) 超音波厚さ計